ISO 15932:2013

Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Vocabulary

ISO 15932:2013 defines terms used in the practice of AEM. It covers both general and specific concepts classified according to their hierarchy in a systematic order. It is applicable to all standardization documents relevant to the practice of AEM. In addition, some parts of this International Standard are applicable to those documents relevant to the practice of related fields (e.g. TEM, STEM, SEM, EPMA, EDX) for the definition of those terms common to them.

Analyse par microfaisceaux — Microscopie électronique analytique — Vocabulaire

L'ISO 15932:2013 définit les termes utilisés dans les applications de la microscopie électronique analytique (MEA). Elle couvre à la fois des concepts généraux et des concepts spécifiques, classés selon le rang hiérarchique qu'ils occupent dans un ordre systématique. L'ISO 15932:2013 s'applique à tous les documents de normalisation relatifs à la pratique de la MEA. En outre, certaines parties de l'ISO 15932:2013 sont applicables aux documents relatifs à la pratique de techniques apparentées (par exemple MET, MEBT, MEB, EPMA, EDX) pour la définition des termes communs à ces techniques.

General Information

• Status: Published
• Publication Date: 12-Dec-2013
• ICS: 01.040.37 - Image technology (Vocabularies)
• ICS: 37.020 - Optical equipment
• Technical Committee: ISO/TC 202/SC 1 - Terminology
• Drafting Committee: ISO/TC 202/SC 1 - Terminology
• Current Stage: 9060 - Close of review
• Start Date: 02-Sep-2029

Standards Content (Sample)

DRAFT INTERNATIONAL STANDARD ISO/DIS 15932
ISO/TC 202/SC 1 Secretariat: ANSI
Voting begins on Voting terminates on

2012-05-22 2012-10-22
INTERNATIONAL ORGANIZATION FOR STANDARDIZATION  •  МЕЖДУНАРОДНАЯ ОРГАНИЗАЦИЯ ПО СТАНДАРТИЗАЦИИ  •  ORGANISATION INTERNATIONALE DE NORMALISATION


Microbeam analysis — Analytical electron microscopy —
Vocabulary
Analyse par microfaisceaux — Microscopie électronique analytique — Vocabulaire
ICS 01.040.37; 37.020












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INTERNATIONAL STANDARDS MAY ON OCCASION HAVE TO BE CONSIDERED IN THE LIGHT OF THEIR POTENTIAL TO BECOME STANDARDS TO
WHICH REFERENCE MAY BE MADE IN NATIONAL REGULATIONS.
RECIPIENTS OF THIS DRAFT ARE INVITED TO SUBMIT, WITH THEIR COMMENTS, NOTIFICATION OF ANY RELEVANT PATENT RIGHTS OF WHICH
THEY ARE AWARE AND TO PROVIDE SUPPORTING DOCUMENTATION.
©  International Organization for Standardization, 2012

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ISO/DIS 15932

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ISO copyright office
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Tel. + 41 22 749 01 11
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ii © ISO 2012 – All rights reserved

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ISO/D,6 15932

Contents Page
Foreword . iv
Introduction . v
1 Scope . 1
2 Normative references . 1
3 Abbreviations . 1
4 Definitions of terms used in the physical basis of AEM . 2
5 Definitions of terms used in AEM instrumentation . 5
6 Definitions of terms used in specimen preparation of AEM . 10
7 Definitions of terms used in AEM image formation and processing . 11
8 Definitions of terms used in AEM image interpretation and analysis . 13
9 Definitions of terms used in the measurement and calibration of AEM image
magnification and resolution . 17
10 Definitions of terms used in electron diffraction in AEM . 18
Bibliography . 21


© ISO 2002 – All rights reserved iii

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ISO/DIS 15932

Foreword
ISO (the International Organization for Standardization) is a worldwide federation of national standards bodies
(ISO member bodies). The work of preparing International Standards is normally carried out through ISO
technical committees. Each member body int
...

INTERNATIONAL ISO
STANDARD 15932
First edition
2013-12-15
Microbeam analysis — Analytical
electron microscopy — Vocabulary
Analyse par microfaisceaux — Microscopie électronique analytique
— Vocabulaire
Reference number
ISO 15932:2013(E)
©
ISO 2013

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ISO 15932:2013(E)

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Published in Switzerland
ii © ISO 2013 – All rights reserved

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ISO 15932:2013(E)

Contents Page
Foreword .iv
Introduction .v
0 Scope . 1
1 Abbreviated terms . 1
2 Definitions of terms used in the physical basis of AEM . 2
3 Definitions of terms used in AEM instrumentation . 5
4 Definitions of terms used in specimen preparation of AEM .10
5 Definitions of terms used in AEM image formation and processing .11
6 Definitions of terms used in AEM image interpretation and analysis .13
7 Definitions of terms used in the measurement and calibration of AEM image magnification
and resolution .17
8 Definitions of terms used in electron diffraction in AEM .18
Bibliography .21
© ISO 2013 – All rights reserved iii

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ISO 15932:2013(E)

Foreword
ISO (the International Organization for Standardization) is a worldwide federation of national standards
bodies (ISO member bodies). The work of preparing International Standards is normally carried out
through ISO technical committees. Each member body interested in a subject for which a technical
committee has been established has the right to be represented on that committee. International
organizations, governmental and non-governmental, in liaison with ISO, also take part in the work.
ISO collaborates closely with the International Electrotechnical Commission (IEC) on all matters of
electrotechnical standardization.
The procedures used to develop this document and those intended for its further maintenance are
described in the ISO/IEC Directives, Part 1. In particular the different approval criteria needed for the
different types of ISO documents should be noted. This document was drafted in accordance with the
editorial rules of the ISO/IEC Directives, Part 2. www.iso.org/directives
Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this document may be the subject of
patent rights. ISO shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights. Details of
any patent rights identified during the development of the document will be in the Introduction and/or
on the ISO list of patent declarations received. www.iso.org/patents
Any trade name used in this document is information given for
...

NORME ISO
INTERNATIONALE 15932
Première édition
2013-12-15
Analyse par microfaisceaux —
Microscopie électronique analytique
— Vocabulaire
Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Vocabulary
Numéro de référence
ISO 15932:2013(F)
©
ISO 2013

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ISO 15932:2013(F)

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Droits de reproduction réservés. Sauf indication contraire, aucune partie de cette publication ne peut être reproduite ni utilisée
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Tel. + 41 22 749 01 11
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E-mail [e-mail]
Web www.iso.org
Version française parue en 2014
Publié en Suisse
ii © ISO 2013 – Tous droits réservés

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ISO 15932:2013(F)

Sommaire Page
Avant-propos .iv
Introduction .v
0 Domaine d’application . 1
1 Termes abrégés . 1
2 Définitions des termes utilisés dans les bases physiques de la MEA .2
3 Définitions de termes utilisés dans l’instrumentation de MEA . 6
4 Définitions des termes utilisés dans la préparation de l’échantillon en MEA .11
5 Définitions des termes utilisés dans la formation et le traitement des images en MEA .12
6 Définitions des termes utilisés dans l’interprétation et l’analyse des images en MEA .14
7 Définitions des termes utilisés pour le mesurage et l’étalonnage du grandissement et de la
résolution d’image MEA .18
8 Définitions des termes utilisés dans la diffraction des électrons en MEA .19
Bibliographie .22
© ISO 2013 – Tous droits réservés iii

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ISO 15932:2013(F)

Avant-propos
L’ISO (Organisation internationale de normalisation) est une fédération mondiale d’organismes
nationaux de normalisation (comités membres de l’ISO). L’élaboration des Normes internationales est
en général confiée aux comités techniques de l’ISO. Chaque comité membre intéressé par une étude
a le droit de faire partie du comité technique créé à cet effet. Les organisations internationales,
gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec l’ISO participent également aux travaux.
L’ISO collabore étroitement avec la Commission électrotechnique internationale (CEI) en ce qui concerne
la normalisation électrotechnique.
Les procédures utilisées pour élaborer le présent document et celles destinées à sa mise à jour sont
décrites dans les Directives ISO/CEI, Partie 1. Il convient, en particulier de prendre note des différents
critères d’approbation requis pour les différents types de documents ISO. Le présent document a été
rédigé conformément aux règles de rédaction données dans les Directives ISO/CEI, Partie 2 (voir www.
iso.org/directives).
L’attention est appelée sur le fait que certains des éléments du présent document peuvent faire l’objet de
droits de propriété intellectuelle ou de droits analogues. L’ISO ne saurait être tenue pour responsable
de ne pas avoir identifié de tels droits de propriété et averti de leur existence. Les détails concernant les
références aux droits de propriété intellectuelle ou autres droits analogues identifiés lors de l’élaboration
du document sont indiqués dans l’Introduction et/ou sur la
...