IEC 61967-4:2002
(Main)Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 4: Measurement of conducted emissions, 1 ohm/150 ohm direct coupling method
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 4: Measurement of conducted emissions, 1 ohm/150 ohm direct coupling method
Specifies a method to measure the conducted electromagnetic emission of integrated circuits by direct RF current measurement with a 1 ohm resistive probe and RF voltage measurement using a 150 ohm coupling network. These methods guarantee a high degree of repeatability and correlation of measurements.
The contents of the corrigendum 1 of June 2017 have been included in this copy.
Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques, 150 kHz à 1 GHz - Partie 4 : Mesure des émissions conduites - Méthode par couplage direct 1 ohm/150 ohm
Spécifie une méthode de mesure de l'émission électromagnétique conduite des circuits intégrés par mesure directe des courants RF avec une sonde résistive de 1 ohm et mesure des tensions RF en utilisant un réseau de couplage de 150 ohm. Ces méthodes garantissent un degré élevé de répétabilité, ainsi que la corrélation des mesures.
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NORME CEI
INTERNATIONALE IEC
61967-4
INTERNATIONAL
Première édition
STANDARD
First edition
2002-04
Circuits intégrés – Mesure des émissions
électromagnétiques, 150 kHz à 1 GHz –
Partie 4:
Mesure des émissions conduites –
Méthode par couplage direct 1 ΩΩ/150 ΩΩ
ΩΩ ΩΩ
Integrated circuits – Measurement of
electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz –
Part 4:
Measurement of conducted emissions –
1 ΩΩΩΩ/150 ΩΩΩΩ direct coupling method
Numéro de référence
Reference number
CEI/IEC 61967-4:2002
Numérotation des publications Publication numbering
Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI As from 1 January 1997 all IEC publications are
sont numérotées à partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1 issued with a designation in the 60000 series. For
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Editions consolidées Consolidated editions
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respectivement la publication de base, la publication de the base publication incorporating amendment 1 and
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base incorporant les amendements 1 et 2. and 2.
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sur les publications de la CEI
Le contenu technique des publications de la CEI est The technical content of IEC publications is kept
constamment revu par la CEI afin qu'il reflète l'état under constant review by the IEC, thus ensuring that
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Fax: +41 22 919 03 00
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NORME CEI
INTERNATIONALE IEC
61967-4
INTERNATIONAL
Première édition
STANDARD
First edition
2002-04
Circuits intégrés – Mesure des émissions
électromagnétiques, 150 kHz à 1 GHz –
Partie 4:
Mesure des émissions conduites –
Méthode par couplage direct 1 ΩΩ/150 ΩΩ
ΩΩ ΩΩ
Integrated circuits – Measurement of
electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz –
Part 4:
Measurement of conducted emissions –
1 ΩΩΩΩ/150 ΩΩΩΩ direct coupling method
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Telephone: +41 22 919 02 11 Telefax: +41 22 919 03 00 E-mail: inmail@iec.ch Web: www.iec.ch
CODE PRIX
U
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Commission Electrotechnique Internationale
International Electrotechnical Commission
Международная Электротехническая Комиссия
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– 2 – 61967-4 CEI:2002
SOMMAIRE
AVANT-PROPOS .4
1 Domaine d’application.10
2 Références normatives .10
3 Définitions .10
4 Généralités.10
4.1 Principes de base de mesure.10
4.2 Mesure du courant RF .14
4.3 Mesure de la tension RF aux broches CI.14
4.4 Evaluation de la technique de mesure.14
5 Conditions d’essai.16
6 Appareillage d’essai.16
6.1 Spécification du récepteur d’essai.16
6.2 Spécification de la sonde de courant RF .16
6.3 Essai de la capacité de la sonde de courant RF .18
6.4 Spécification du réseau d’adaptation.18
7 Montage d’essai.18
7.1 Configuration générale d’essai.18
7.2 Disposition pour carte d’essai à circuit imprimé.20
8 Procédure d’essai .22
9 Rapport d’essai.22
Annexe A (normative) Procédure d’étalonnage de sonde .24
Annexe B (informative) Classification des niveaux des émissions conduites.30
B.1 Remarque d’introduction.30
B.2 Généralités.30
B.3 Définition des niveaux d’émission .30
B.4 Présentation des résultats .32
Annexe C (informative) Exemple de niveaux de référence pour applications automobiles.38
C.1 Remarque d’introduction.38
C.2 Généralités.38
C.3 Niveaux de référence.38
Annexe D (informative) Exigences CEM et méthode d’utilisation
des techniques de mesure CEM CI.42
D.1 Introduction .42
D.2 Utilisation des procédures de mesures CEM .42
D.3 Evaluation de l’influence des CI sur le comportement CEM des modules .44
Annexe E (informative) Exemple de montage d’essai comprenant une carte principale
d’essai CEM et une carte d’essai EME CI .46
E.1 Carte principale d’essai CEM .46
E.2 Carte d’essai EME CI.50
61967-4 IEC:2002 – 3 –
CONTENTS
FOREWORD.4
1 Scope.11
2 Normative references.11
3 Definitions .11
4 General .11
4.1 Measurement basics.11
4.2 RF current measurement .15
4.3 RF voltage measurement at IC pins .15
4.4 Assessment of the measurement technique .15
5 Test conditions .17
6 Test equipment.17
6.1 Test receiver specification .17
6.2 RF current probe specification .17
6.3 Test of the RF current probe capability.19
6.4 Matching network specification .19
7 Test set-up .19
7.1 General test configuration.19
7.2 Printed circuit test board layout.21
8 Test procedure .23
9 Test report.23
Annex A (normative) Probe calibration procedure .25
Annex B (informative) Classification of conducted emission levels .31
B.1 Introductory remark .31
B.2 General .31
B.3 Definition of emission levels.31
B.4 Presentation of results .33
Annex C (informative) Example of reference levels for automotive applications.39
C.1 Introductory remark .39
C.2 General .39
C.3 Reference levels.39
Annex D (informative) EMC requirements and how to use EMC IC measurement techniques.43
D.1 Introduction .43
D.2 Using EMC measurement procedures .43
D.3 Assessment of the IC influence to the EMC behaviour of the modules .45
Annex E (informative) Example of a test set-up consisting of an EMC main test board
and an EME IC test board .47
E.1 The EMC main test board .
...
NORME CEI
INTERNATIONALE
IEC
61967-4
INTERNATIONAL
Edition 1.1
STANDARD
2006-07
Edition 1:2002 consolidée par l'amendement 1:2006
Edition 1:2002 consolidated with amendment 1:2006
Circuits intégrés – Mesure des émissions
électromagnétiques, 150 kHz à 1 GHz –
Partie 4:
Mesure des émissions conduites –
Méthode par couplage direct 1 Ω/150 Ω
Integrated circuits – Measurement of
electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz –
Part 4:
Measurement of conducted emissions –
1 Ω/150 Ω direct coupling method
Numéro de référence
Reference number
CEI/IEC 61967-4:2002+A1:2006
Numérotation des publications Publication numbering
Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI As from 1 January 1997 all IEC publications are
sont numérotées à partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1 issued with a designation in the 60000 series. For
devient la CEI 60034-1. example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1.
Editions consolidées Consolidated editions
Les versions consolidées de certaines publications de la The IEC is now publishing consolidated versions of its
CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par publications. For example, edition numbers 1.0, 1.1
exemple, les numéros d’édition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent and 1.2 refer, respectively, to the base publication,
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INTERNATIONALE
IEC
61967-4
INTERNATIONAL
Edition 1.1
STANDARD
2006-07
Edition 1:2002 consolidée par l'amendement 1:2006
Edition 1:2002 consolidated with amendment 1:2006
Circuits intégrés – Mesure des émissions
électromagnétiques, 150 kHz à 1 GHz –
Partie 4:
Mesure des émissions conduites –
Méthode par couplage direct 1 Ω/150 Ω
Integrated circuits – Measurement of
electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz –
Part 4:
Measurement of conducted emissions –
1 Ω/150 Ω direct coupling method
IEC 2006 Droits de reproduction réservés Copyright - all rights reserved
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Commission Electrotechnique Internationale
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International Electrotechnical Commission
МеждународнаяЭлектротехническаяКомиссия
Pour prix, voir catalogue en vigueur
For price, see current catalogue
– 2 – 61967-4 CEI:2002+A1:2006
SOMMAIRE
AVANT-PROPOS .6
1 Domaine d’application.10
2 Références normatives.10
3 Définitions.12
4 Généralités.12
4.1 Principes de base de mesure.12
4.2 Mesure du courant RF .14
4.3 Mesure de la tension RF aux broches CI.14
4.4 Evaluation de la technique de mesure.16
5 Conditions d’essai.16
6 Appareillage d’essai.16
6.1 Spécification du récepteur d’essai.16
6.2 Spécification de la sonde de courant RF .16
6.3 Essai de la capacité de la sonde de courant RF .18
6.4 Spécification du réseau d’adaptation.18
7 Montage d’essai.20
7.1 Configuration générale d’essai.20
7.2 Disposition pour carte d’essai à circuit imprimé.20
8 Procédure d’essai .22
9 Rapport d’essai.22
Annexe A (normative) Procédure d’étalonnage de sonde .24
Annexe B (informative) Classification des niveaux des émissions conduites.30
B.1 Remarque d’introduction.30
B.2 Généralités.30
B.3 Définition des niveaux d’émission .30
B.4 Présentation des résultats .32
Annexe C (informative) Exemple de niveaux de référence pour applications automobiles.38
C.1 Remarque d’introduction.38
C.2 Généralités.38
C.3 Niveaux de référence.38
Annexe D (informative) Exigences CEM et méthode d’utilisation
des techniques de mesure CEM CI.42
D.1 Introduction.42
D.2 Utilisation des procédures de mesures CEM .42
D.3 Evaluation de l’influence des CI sur le comportement CEM des modules .44
Annexe E (informative) Exemple de montage d’essai comprenant une carte principale
d’essai CEM et une carte d’essai EME CI .46
E.1 Carte principale d’essai CEM .46
E.2 Carte d’essai EME CI.50
Annexe F (informative) Réseaux de couplage directs 150 Ω pour mesures d’émission
en mode commun des CI de transfert de données en mode différentiel et circuits
analogues .58
F.1 Réseau de couplage direct de base .58
F.2 Exemple d’une alternative de réseau de couplage en mode commun
pour CAN ou LVDS haute vitesse ou RS485 ou systèmes analogues.60
61967-4 IEC:2002+A1:2006 – 3 –
CONTENTS
FOREWORD.7
1 Scope.11
2 Normative references.11
3 Definitions.13
4 General.13
4.1 Measurement basics.13
4.2 RF current measurement .15
4.3 RF voltage measurement at IC pins .15
4.4 Assessment of the measurement technique .17
5 Test conditions .17
6 Test equipment.17
6.1 Test receiver specification .17
6.2 RF current probe specification .17
6.3 Test of the RF current probe capability.19
6.4 Matching network specification .19
7 Test set-up.21
7.1 General test configuration.21
7.2 Printed circuit test board layout.21
8 Test procedure.23
9 Test report.23
Annex A (normative) Probe calibration procedure .25
Annex B (informative) Classification of conducted emission levels .31
B.1 Introductory remark.31
B.2 General.31
B.3 Definition of emission levels.31
B.4 Presentation of results .33
Annex C (informative) Example of reference levels for automotive applications.39
C.1 Introductory remark.
...
Questions, Comments and Discussion
Ask us and Technical Secretary will try to provide an answer. You can facilitate discussion about the standard in here.