IEC 60749-7:2002/COR1:2003

Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases

Modification of the validity date: now put at 2007.

Corrigendum 1 - Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 7: Mesure de la teneur en humidité interne et analyse des autres gaz résiduels

Modification de la date de validité : fixée maintenant à 2007.

General Information

• Status: Published
• Publication Date: 11-Aug-2003
• ICS: 31.080.01 - Semiconductor devices in general
• Technical Committee: TC 47 - Semiconductor devices
• Current Stage: DELPUB - Deleted Publication
• Completion Date: 17-Jun-2011

Relations

• Corrects: IEC 60749-7:2002 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases
• Effective Date: 05-Sep-2023
• Revised: IEC 60749-7:2011 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases
• Effective Date: 05-Sep-2023

Standards Content (Sample)

CEI 60749-7 IEC 60749-7
(Première édition – 2002) (First edition – 2002)
DISPOSITIFS À SEMICONDUCTEURS – SEMICONDUCTOR DEVICES –
MÉTHODES D'ESSAIS MÉCANIQUES MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS –
ET CLIMATIQUES –
Partie 7: Mesure de la teneur en humidité interne Part 7: Internal moisture content measurement
et analyse des autres gaz résiduels and the analysis of other residual gases
CORRIGENDUM 1
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Le comité
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