IEC 61025:2006

Fault tree analysis (FTA)

Describes fault tree analysis and provides guidance on its application to perform an analysis, identifies appropriate assumptions, events and failure modes, and provides identification rules and symbols.

Analyse par arbre de panne (AAP)

Décrit l'analyse par arbre de panne et donne des lignes directrices sur son application indique la procédure à suivre pour effectuer une analyse en spécifiant les hypothèses voulues, les événements et les modes de défaillance et donne les règles de repérage et les symboles à utiliser.

General Information

• Status: Published
• Publication Date: 12-Dec-2006
• ICS: 01 - GENERALITIES. TERMINOLOGY. STANDARDIZATION. DOCUMENTATION
• ICS: 03.120.01 - Quality in general
• ICS: 03.120.99 - Other standards related to quality
• Technical Committee: TC 56 - Dependability
• Current Stage: PPUB - Publication issued
• Start Date: 28-Feb-2007
• Completion Date: 13-Dec-2006

Standards Content (Sample)

INTERNATIONAL IEC
STANDARD 61025
Second edition
2006-12
Fault tree analysis (FTA)
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Reference number
Publication numbering
As from 1 January 1997 all IEC publications are issued with a designation in the

60000 series. For example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1.

Consolidated editions
The IEC is now publishing consolidated versions of its publications. For example,

edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to the base publication, the

base publication incorporating amendment 1 and the base publication incorporating

amendments 1 and 2.
Further information on IEC publications
The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC,
thus ensuring that the content reflects current technology. Information relating to
this publication, including its validity, is available in the IEC Catalogue of
publications (see below) in addition to new editions, amendments and corrigenda.
Information on the subjects under consideration and work in progress undertaken
by the technical committee which has prepared this publication, as well as the list
of publications issued, is also available from the following:
• IEC Web Site (www.iec.ch)
• Catalogue of IEC publications
The on-line catalogue on the IEC web site (www.iec.ch/searchpub) enables you to
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and date of publication. On-line information is also available on recently issued
publications, withdrawn and replaced publications, as well as corrigenda.
• IEC Just Published
This summary of recently issued publications (www.iec.ch/online_news/ justpub)
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INTERNATIONAL IEC
STANDARD 61025
Second edition
2006-12
Fault tree analysis (FTA)
© IEC 2006 Copyright - all rights reserved
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including photocopying and microfilm, without permission in writing from the publisher.
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PRICE CODE
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61025 © IEC:2006 – 3 –
CONTENTS
FOREWORD.7

INTRODUCTION.11

1 Scope.13

2 Normative references .13

3 Terms and definitions .13

4 Symbols .19

5 General .21
5.1 Fault tree description and structure .21
5.2 Objectives .23
5.3 Applications.23
5.4 Combinations with other reliability analysis techniques.25
6 Development and evaluation .29
6.1 General considerations.29
6.2 Required system information .35
6.3 Fault tree graphical description and structure .37
7 Fault tree development and evaluation .39
7.1 General .39
7.2 Scope of analysis .39
7.3 System familiarization .39
7.4 Fault tree development.39
7.5 Fault tree construction.41
7.6 Failure rates in fault tree analysis.75
8 Identification and labelling in a fault tree .75
9 Report .77

Annex A (informative) Symbols .81
Annex B (informative) Detailed procedure for disjointing .95

Bibliography.103

Figure 1 – Explanation of terms used in fault tree analyses.19
Figure 2 – Fault tree representation of a series structure .45
Figure 3 – Fault tree representation of parallel, active redundancy .47
Figure 4 – En example of fault tree showing different gate types.51
Figure 5 – Rectangular gate and events representation .53
Figure 6 – An example fault tree containing a repeated and a transfer event .55
Figure 7 – Example showing common cause considerations in rectangular gate

representation.55
Figure 8 – Bridge circuit example to be analysed by a fault tree.63
Figure 9 – Fault tree representation of the bridge circuit .65
Figure 10 – Bridge system FTA, Esary-Proschan, no disjointing.69

61025 © IEC:2006 – 5 –
Figure 11 – Bridge system probability of failure calculated with rare-event

approximation .71

Figure 12 – Probability of occurrence of the top event with disjointing.73

Figure A.1 – Example of a PAND gate .93

Table A.1 – Frequently used symbols for a fault tree.81

Table A.2 – Common symbols for events and event description .87

Table A.3 – Static gates.89

Table A.4 – Dynamic gates .91

61025 © IEC:2006 – 7 –
INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION

____________
FAULT TREE ANALYSIS (FTA)
FOREWORD
1) The International Electrotechnical Commission (IEC) is a worldwide organization for standardization comprising

all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of IEC is to promote

international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To

this end and in addition to other activities, IEC publishes International Standards, Technical Specifications,
Technical Reports, Publicly Available Specifications (PAS) and Guides (hereafter referred to as “IEC
Publication(s)”). Their preparation is entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested
in the subject dealt with may participate in this preparatory work. International, governmental and non-
governmental organizations liaising with the IEC also participate in this preparation. IEC collaborates closely
with the International Organization for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by
agreement between the two organizations.
2) The formal decisions or agreements of IEC on technical matters express, as nearly as possible, an international
consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representation from all
interested IEC National Committees.
3) IEC Publications have the form of recommendations for international use and are accepted by IEC National
Committees in that sense. While all reasonable efforts are made to ensure that the technical content of IEC
Publications is accurate, IEC cannot be held responsible for the way in which they are used or for any
misinterpretation by any end user.
4) In order to promote international uniformity, IEC National Committees undertake to apply IEC Publications
transparently to the maximum extent possible in their national and regional publications. Any divergence
between any IEC Publication and the corresponding national or regional publication shall be clearly indicated in
the latter.
5) IEC provides no marking procedure to indicate its approval and cannot be rendered responsible for any
equipment declared to be in conformity with an IEC Publication.
6) All users should ensure that they have the latest edition of this publication.
7) No liability shall attach to IEC or its directors, employees, servants or agents including individual experts and
members of its technical committees and IEC National Committees for any personal injury, property damage or
other damage of any nature whatsoever, whether direct or indirect, or for costs (including legal fees) and
expenses arising out of the publication, use of, or reliance upon, this IEC Publication or any other IEC
Publications.
8) Attention is drawn to the Normative references cited in this publication. Use of the referenced publications is
indispensable for the correct application of this publication.
9) Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this IEC Publication may be the subject of
patent rights. IEC shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights.
International Standard IEC 61025 has been prepared by IEC technical committee 56:
Dependability.
The text of this standard is based on the following documents:

FDIS Report on voting
56/1142/FDIS 56/1162/RVD
Full information on the voting for the approval of this standard can be found in the report on
voting indicated in the above table.
This second edition cancels and replaces the first edition, published in 1990, and constitutes
a technical revision.
61025 © IEC:2006 – 9 –
The main changes with respect to the previous edition are as follows:

– added detailed explanations of fault tree methodologies

– added quantitative and reliability aspects of Fault Tree Analysis (FTA)

– expanded relationship with other dependability techniques

– added examples of analyses and methods explained in this standard

– updated symbols currently in use

Clause 7, dealing with analysis, has been revised to address traditional logic fault tree

analysis separately from the quantitative analysis that has been used for many years already,

for reliability improvement of products in their development stage.
Some material included previously in the body of this standard has been transferred to
Annexes A and B.
This publication has been drafted in accordance with the ISO/IEC Directives, Part 2.
The committee has decided that the contents of this publication will remain unchanged until
the maintenance result date indicated on the IEC web site under "http://webstore.iec.ch" in
the data related to the specific publication. At this date, the publication will be
• reconfirmed,
• withdrawn,
• replaced by a revised edition, or
• amended.
61025 © IEC:2006 – 11 –
INTRODUCTION
Fault tree analysis (FTA) is concerned with the identification and analysis of conditions and

factors that cause or may potentially cause or contribute to the occurrence of a defined top

event. With FTA this event is usually seizure or degradation of system perfomance, safety or

other important operational attributes, while with STA (success tree analysis) this event is the

attribute describing the success.

FTA is often applied to the safety analysis of systems (such as transportation systems, power

plants, or any other systems that might require evaluation of safety of their operation). Fault

tree analysis can be also used for availability and maintainability analysis. However, for

simplicity, in the rest of this standard the term “reliability” will be used to represent these
aspects of system performance.
This standard addresses two approaches to FTA. One is a qualitative approach, where the
probability of events and their
...

NORME CEI
INTERNATIONALE 61025
Deuxième édition
2006-12
Analyse par arbre de panne (AAP)

Cette version française découle de la publication d’origine
bilingue dont les pages anglaises ont été supprimées.
Les numéros de page manquants sont ceux des pages
supprimées.
Numéro de référence
CEI 61025:2006(F)
Numérotation des publications
Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI sont numérotées à partir de

60000. Ainsi, la CEI 34-1 devient la CEI 60034-1.

Editions consolidées
Les versions consolidées de certaines publications de la CEI incorporant les

amendements sont disponibles. Par exemple, les numéros d’édition 1.0, 1.1 et 1.2

indiquent respectivement la publication de base, la publication de base incorporant

l’amendement 1, et la publication de base incorporant les amendements 1 et 2

Informations supplémentaires sur les publications de la CEI
Le contenu technique des publications de la CEI est constamment revu par la CEI
afin qu'il reflète l'état actuel de la technique. Des renseignements relatifs à cette
publication, y compris sa validité, sont disponibles dans le Catalogue des
publications de la CEI (voir ci-dessous) en plus des nouvelles éditions, amende-
ments et corrigenda. Des informations sur les sujets à l’étude et l’avancement des
travaux entrepris par le comité d’études qui a élaboré cette publication, ainsi que la
liste des publications parues, sont également disponibles par l’intermédiaire de:
• Site web de la CEI (www.iec.ch)
• Catalogue des publications de la CEI
Le catalogue en ligne sur le site web de la CEI (www.iec.ch/searchpub) vous permet
de faire des recherches en utilisant de nombreux critères, comprenant des
recherches textuelles, par comité d’études ou date de publication. Des informations
en ligne sont également disponibles sur les nouvelles publications, les publications
remplacées ou retirées, ainsi que sur les corrigenda.
• IEC Just Published
Ce résumé des dernières publications parues (www.iec.ch/online_news/justpub)
est aussi disponible par courrier électronique. Veuillez prendre contact avec le
Service client (voir ci-dessous) pour plus d’informations.
• Service clients
Si vous avez des questions au sujet de cette publication ou avez besoin de
renseignements supplémentaires, prenez contact avec le Service clients:
Email: [e-mail]
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NORME CEI
INTERNATIONALE 61025
Deuxième édition
2006-12
Analyse par arbre de panne (AAP)

© IEC 2006 Droits de reproduction réservés
Aucune partie de cette publication ne peut être reproduite ni utilisée sous quelque forme que ce soit et par aucun
procédé, électronique ou mécanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans l'accord écrit de l'éditeur.
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International Electrotechnical Commission
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– 2 – 61025 © CEI:2006
SOMMAIRE
AVANT-PROPOS.6

INTRODUCTION.10

1 Domaine d'application .12

2 Références normatives.12

3 Termes et définitions .12

4 Symboles .18

5 Généralités.20
5.1 Structure et description de l’arbre de panne .20
5.2 Objectifs.22
5.3 Applications.22
5.4 Combinaisons avec d'autres techniques d'analyse de fiabilité .24
6 Développement et évaluation .28
6.1 Considérations générales.28
6.2 Information du système exigée .34
6.3 Structure et description graphique de l’arbre de panne.36
7 Elaboration et évaluation de l’arbre de panne.38
7.1 Généralités.38
7.2 Portée de l’analyse.38
7.3 Approfondissement de la connaissance du système .38
7.4 Elaboration de l’arbre de panne.38
7.5 Construction de l’arbre de panne.40
7.6 Taux de défaillance dans l’analyse de l’arbre de panne.74
8 Repères et étiquettes dans un arbre de panne .74
9 Rapport .76

Annexe A (informative) Symboles .80
Annexe B (informative) Procédure de disjonction détaillée.94

Bibliographie.102

Figure 1 – Explication des définitions utilisées dans les analyses par arbre de panne.18
Figure 2 – Représentation de l’arbre de panne d’une structure en série.44
Figure 3 – Représentation de l’arbre de panne de redondance parallèle, active .46
Figure 4 – Un exemple d'arbre de panne montrant différents types de porte .50
Figure 5 – Porte rectangulaire et représentation des événements .52
Figure 6 – Un exemple d’arbre de panne contenant un événement de transfert et un
événement répété .54
Figure 7 – Exemple présentant des indications se rapportant à une cause commune
dans une représentation de porte rectangulaire .54
Figure 8 – Exemple de circuit à embranchement à analyser par arbre de panne .62
Figure 9 – Représentation de l’arbre de panne du circuit à embranchement.64
Figure 10 – AAP Système à embranchement – Esary Proschan, pas de disjonction.68

– 4 – 61025 © CEI:2006
Figure 11 – Probabilité de défaillance du système à embranchement calculée avec une

approximation de l’événement rare .70

Figure 12 – Probabilité d’apparition de l’événement de tête avec disjonction .72

Figure A.1 – Exemple d’une porte PAND .92

Tableau A.1 – Symboles fréquemment utilisés pour un arbre de panne.80

Tableau A.2 – Symboles communs pour les événements et la description des événements.86

Tableau A.3 – Portes statiques .88

Tableau A.4 – Portes dynamiques.90

– 6 – 61025 © CEI:2006
COMMISSION ÉLECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE

____________
ANALYSE PAR ARBRE DE PANNE (AAP)

AVANT-PROPOS
1) La Commission Electrotechnique Internationale (CEI) est une organisation mondiale de normalisation

composée de l'ensemble des comités électrotechniques nationaux (Comités nationaux de la CEI). La CEI a

pour objet de favoriser la coopération internationale pour toutes les questions de normalisation dans les

domaines de l'électricité et de l'électronique. A cet effet, la CEI – entre autres activités – publie des Normes
internationales, des Spécifications techniques, des Rapports techniques, des Spécifications accessibles au
public (PAS) et des Guides (ci-après dénommés "Publication(s) de la CEI"). Leur élaboration est confiée à des
comités d'études, aux travaux desquels tout Comité national intéressé par le sujet traité peut participer. Les
organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent
également aux travaux. La CEI collabore étroitement avec l'Organisation Internationale de Normalisation (ISO),
selon des conditions fixées par accord entre les deux organisations.
2) Les décisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques représentent, dans la mesure
du possible, un accord international sur les sujets étudiés, étant donné que les Comités nationaux de la CEI
intéressés sont représentés dans chaque comité d’études.
3) Les Publications de la CEI se présentent sous la forme de recommandations internationales et sont agréées
comme telles par les Comités nationaux de la CEI. Tous les efforts raisonnables sont entrepris afin que la CEI
s'assure de l'exactitude du contenu technique de ses publications; la CEI ne peut pas être tenue responsable
de l'éventuelle mauvaise utilisation ou interprétation qui en est faite par un quelconque utilisateur final.
4) Dans le but d'encourager l'uniformité internationale, les Comités nationaux de la CEI s'engagent, dans toute la
mesure possible, à appliquer de façon transparente les Publications de la CEI dans leurs publications
nationales et régionales. Toutes divergences entre toutes Publications de la CEI et toutes publications
nationales ou régionales correspondantes doivent être indiquées en termes clairs dans ces dernières.
5) La CEI n’a prévu aucune procédure de marquage valant indication d’approbation et n'engage pas sa
responsabilité pour les équipements déclarés conformes à une de ses Publications.
6) Tous les utilisateurs doivent s'assurer qu'ils sont en possession de la dernière édition de cette publication.
7) Aucune responsabilité ne doit être imputée à la CEI, à ses administrateurs, employés, auxiliaires ou
mandataires, y compris ses experts particuliers et les membres de ses comités d'études et des Comités
nationaux de la CEI, pour tout préjudice causé en cas de dommages corporels et matériels, ou de tout autre
dommage de quelque nature que ce soit, directe ou indirecte, ou pour supporter les coûts (y compris les frais
de justice) et les dépenses découlant de la publication ou de l'utilisation de cette Publication de la CEI ou de
toute autre Publication de la CEI, ou au crédit qui lui est accordé.
8) L'attention est attirée sur les références normatives citées dans cette publication. L'utilisation de publications
référencées est obligatoire pour une application correcte de la présente publication.
9) L’attention est attirée sur le fait que certains des éléments de la présente Publication de la CEI peuvent faire
l’objet de droits de propriété intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait être tenue pour
responsable de ne pas avoir identifié de tels droits de propriété et de ne pas avoir signalé leur existence.
La Norme internationale CEI 61025 a été préparée par le comité d’études 56 de la CEI:
Sûreté de fonctionnement.
Le texte de la présente norme est issu des documents suivants:
FDIS Rapport de vote
56/1142/FDIS 56/1162/FDIS
Le rapport de vote indiqué dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant
abouti à l'approbation de cette norme.
Cette deuxième édition annule et remplace la première édition publiée en 1990. Elle constitue
une révision technique.
– 8 – 61025 © CEI:2006
Les principaux changements par rapport à l’édition précédente sont les suivants:

– ajout d’explications détaillées sur les méthodologies de l’arbre de panne

– ajout d’aspects quantitatifs et d’aspects de fiabilité sur l’Analyse par Arbre de Panne
(AAP)
– extension de la relation avec d’autres techniques de sûreté de fonctionnement

– ajout d’exemples d’analyses et de méthodes expliqués dans cette norme

– mise à jour des symboles couramment utilisés

L’Article 7 concernant les analyses a été modifié afin de traiter l’analyse par arbre de panne

logique traditionnelle séparément de l'analyse quantitative utilisée depuis de nombreuses
années, pour l'amélioration de la fiabilité des produits pendant leur développement.
Certaines parties intégrées précédemment dans le corps de cette norme, ont été transférées
aux Annexes A et B.
Cette publication a été rédigée selon les Directives ISO/CEI, Partie 2.
Le comité a décidé que le contenu de cette publication ne sera pas modifié avant la date de
maintenance indiquée sur le site web de la CEI sous «http://webstore.iec.ch» dans les
données relatives à la publication recherchée. A cette date, la publication sera
• reconduite;
• supprimée;
• remplacée par une édition révisée, ou
• amendée.
– 10 – 61025 © CEI:2006
INTRODUCTION
L’AAP sert à déterminer et à analyser les conditions et les facteurs qui produisent, peuvent

potentiellement produire ou contribuent à produire un événement indésirable défini. Pour

l’AAP, cet événement est généralement un
...

IEC 61025
Edition 2.0 2006-12
INTERNATIONAL
STANDARD
NORME
INTERNATIONALE
Fault tree analysis (FTA)
Analyse par arbre de panne (AAP)

All rights reserved. Unless otherwise specified, no part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by
any means, electronic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing from either IEC or
IEC's member National Committee in the country of the requester.
If you have any questions about IEC copyright or have an enquiry about obtaining additional rights to this publication,
please contact the address below or your local IEC member National Committee for further information.

Droits de reproduction réservés. Sauf indication contraire, aucune partie de cette publication ne peut être reproduite
ni utilisée sous quelque forme que ce soit et par aucun procédé, électronique ou mécanique, y compris la photocopie
et les microfilms, sans l'accord écrit de la CEI ou du Comité national de la CEI du pays du demandeur.
Si vous avez des questions sur le copyright de la CEI ou si vous désirez obtenir des droits supplémentaires sur cette
publication, utilisez les coordonnées ci-après ou contactez le Comité national de la CEI de votre pays de résidence.

IEC Central Office
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The International Electrotechnical Commission (IEC) is the leading global organization that prepares and publishes
International Standards for all electrical, electronic and related technologies.

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latest edition, a corrigenda or an amendment might have been published.
ƒ Catalogue of IEC publications: www.iec.ch/searchpub
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It also gives information on projects, withdrawn and replaced publications.
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on-line and also by email.
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in English and French, with equivalent terms in additional languages. Also known as the International Electrotechnical
Vocabulary online.
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A propos de la CEI
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normes internationales pour tout ce qui a trait à l'électricité, à l'électronique et aux technologies apparentées.

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publications parues. Disponible en-ligne et aussi par email.
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définitions en anglais et en français, ainsi que les termes équivalents dans les langues additionnelles. Egalement appelé
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Fault tree analysis (FTA)
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ELECTROTECHNICAL
COMMISSION
COMMISSION
ELECTROTECHNIQUE
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61025 © IEC:2006 –– 2 – 3 – 61025 © IEC:2006
CONTENTS
FOREWORD.4
INTRODUCTION.6

1 Scope.7
2 Normative references .7
3 Terms and definitions .7
4 Symbols .10
5 General .11
5.1 Fault tree description and structure .11
5.2 Objectives .12
5.3 Applications.12
5.4 Combinations with other reliability analysis techniques.13
6 Development and evaluation .15
6.1 General considerations.15
6.2 Required system information .18
6.3 Fault tree graphical description and structure .19
7 Fault tree development and evaluation .20
7.1 General .20
7.2 Scope of analysis .20
7.3 System familiarization .20
7.4 Fault tree development.20
7.5 Fault tree construction.21
7.6 Failure rates in fault tree analysis.38
8 Identification and labelling in a fault tree .38
9 Report .39

Annex A (informative) Symbols .41
Annex B (informative) Detailed procedure for disjointing .48

Bibliography.52

Figure 1 – Explanation of terms used in fault tree analyses.10
Figure 2 – Fault tree representation of a series structure .23
Figure 3 – Fault tree representation of parallel, active redundancy .24
Figure 4 – En example of fault tree showing different gate types.26
Figure 5 – Rectangular gate and events representation .27
Figure 6 – An example fault tree containing a repeated and a transfer event .28
Figure 7 – Example showing common cause considerations in rectangular gate
representation.28
Figure 8 – Bridge circuit example to be analysed by a fault tree.32
Figure 9 – Fault tree representation of the bridge circuit .33
Figure 10 – Bridge system FTA, Esary-Proschan, no disjointing.35

61025 © IEC:2006 61025 © IEC:2006 –– 3 – 5 –
Figure 11 – Bridge system probability of failure calculated with rare-event
approximation .36
Figure 12 – Probability of occurrence of the top event with disjointing.37
Figure A.1 – Example of a PAND gate .47

Table A.1 – Frequently used symbols for a fault tree.41
Table A.2 – Common symbols for events and event description .44
Table A.3 – Static gates.45
Table A.4 – Dynamic gates .46

61025 © IEC:2006 –– 4 – 7 – 61025 © IEC:2006
INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION
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FAULT TREE ANALYSIS (FTA)
FOREWORD
1) The International Electrotechnical Commission (IEC) is a worldwide organization for standardization comprising
all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of IEC is to promote
international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To
this end and in addition to other activities, IEC publishes International Standards, Technical Specifications,
Technical Reports, Publicly Available Specifications (PAS) and Guides (hereafter referred to as “IEC
Publication(s)”). Their preparation is entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested
in the subject dealt with may participate in this preparatory work. International, governmental and non-
governmental organizations liaising with the IEC also participate in this preparation. IEC collaborates closely
with the International Organization for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by
agreement between the two organizations.
2) The formal decisions or agreements of IEC on technical matters express, as nearly as possible, an international
consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representation from all
interested IEC National Committees.
3) IEC Publications have the form of recommendations for international use and are accepted by IEC National
Committees in that sense. While all reasonable efforts are made to ensure that the technical content of IEC
Publications is accurate, IEC cannot be held responsible for the way in which they are used or for any
misinterpretation by any end user.
4) In order to promote international uniformity, IEC National Committees undertake to apply IEC Publications
transparently to the maximum extent possible in their national and regional publications. Any divergence
between any IEC Publication and the corresponding national or regional publication shall be clearly indicated in
the latter.
5) IEC provides no marking procedure to indicate its approval and cannot be rendered responsible for any
equipment declared to be in conformity with an IEC Publication.
6) All users should ensure that they have the latest edition of this publication.
7) No liability shall attach to IEC or its directors, employees, servants or agents including individual experts and
members of its technical committees and IEC National Committees for any personal injury, property damage or
other damage of any nature whatsoever, whether direct or indirect, or for costs (including legal fees) and
expenses arising out of the publication, use of, or reliance upon, this IEC Publication or any other IEC
Publications.
8) Attention is drawn to the Normative references cited in this publication. Use of the referenced publications is
indispensable for the correct application of this publication.
9) Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this IEC Publication may be the subject of
patent rights. IEC shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights.
International Standard IEC 61025 has been prepared by IEC technical committee 56:
Dependability.
The text of this standard is based on the following documents:
FDIS Report on voting
56/1142/FDIS 56/1162/RVD
Full information on the voting for the approval of this standard can be found in the report on
voting indicated in the above table.
This second edition cancels and replaces the first edition, published in 1990, and constitutes
a technical revision.
61025 © IEC:2006 61025 © IEC:2006 –– 5 – 9 –
The main changes with respect to the previous edition are as follows:
– added detailed explanations of fault tree methodologies
– added quantitative and reliability aspects of Fault Tree Analysis (FTA)
– expanded relationship with other dependability techniques
– added examples of analyses and methods explained in this standard
– updated symbols c
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