IEC 61788-10:2006

Superconductivity - Part 10: Critical temperature measurement - Critical temperature of composite superconductors by a resistance method

This part of IEC 61788 specifies a test method for the resistive determination of the critical temperature of composite superconductors for industrial use. The composite superconductors covered in this standard include Cu/Nb-Ti, Cu/Cu-Ni/Nb-Ti and Cu-Ni/Nb-Ti composite superconductors, Cu/Nb3Sn and Cu/Nb3Al composite superconductors, and metal-sheathed MgB2 composite superconductors, and metal-stabilized Bi-system oxide superconductors and Yttrium- or rare-earth-based coated conductors that have a monolithic structure and a shape of round, flat or square wire containing mono- or multi-cores of superconductors.

Supraconductivité - Partie 10: Mesure de la température critique - Température critique des composites supraconducteurs par une méthode par résistance

La présente partie de la CEI 61788 décrit une méthode d'essai permettant de déterminer par résistivité la température critique des composites supraconducteurs pour utilisation industrielle. La présente norme couvre des composites supraconducteurs tels que les Cu/Nb-Ti, les Cu/Cu-Ni/Nb-Ti, les Cu-Ni/Nb-Ti, les Cu/Nb3Sn, les Cu/Nb3Al, les MgB2 à gaine métallique, les oxydes supraconducteurs à base Bi stabilisés au métal, ainsi que les conducteurs avec couche d'Yttrium ou de terre rare qui ont une structure monolithique et se présentent sous la forme de fils ronds ou de rubans plats ou carrés constitués de supraconducteurs monofilamentaires ou multifilamentaires.

General Information

• Status: Published
• Publication Date: 10-Aug-2006
• ICS: 01 - GENERALITIES. TERMINOLOGY. STANDARDIZATION. DOCUMENTATION
• ICS: 17.220.20 - Measurement of electrical and magnetic quantities
• ICS: 29.050 - Superconductivity and conducting materials
• Technical Committee: TC 90 - Superconductivity
• Drafting Committee: WG 11 - TC 90/WG 11
• Current Stage: PPUB - Publication issued
• Start Date: 15-Oct-2006
• Completion Date: 11-Aug-2006

Relations

• Revises: IEC 61788-10:2002 - Superconductivity - Part 10: Critical temperature measurement - Critical temperature of Nb-Ti, Nb3Sn, and Bi-system oxide composite superconductors by a resistance method
• Effective Date: 05-Sep-2023

Standards Content (Sample)

NORME CEI
INTERNATIONALE
IEC
61788-10
INTERNATIONAL
Deuxième édition
STANDARD
Second edition
2006-08
Supraconductivité –
Partie 10:
Mesure de la température critique –
Température critique des composites
supraconducteurs par une méthode
par résistance
Superconductivity –
Part 10:
Critical temperature measurement –
Critical temperature of composite
superconductors by a resistance method
Numéro de référence
Reference number
CEI/IEC 61788-10:2006
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ainsi que sur les corrigenda.
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NORME CEI
INTERNATIONALE
IEC
61788-10
INTERNATIONAL
Deuxième édition
STANDARD
Second edition
2006-08
Supraconductivité –
Partie 10:
Mesure de la température critique –
Température critique des composites
supraconducteurs par une méthode
par résistance
Superconductivity –
Part 10:
Critical temperature measurement –
Critical temperature of composite
superconductors by a resistance method
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CODE PRIX
N
PRICE CODE
Commission Electrotechnique Internationale
International Electrotechnical Commission
МеждународнаяЭлектротехническаяКомиссия
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– 2 – 61788-10  CEI:2006
SOMMAIRE
AVANT-PROPOS.4
INTRODUCTION.8

1 Domaine d’application .10
2 Références normatives.10
3 Termes et définitions .10
4 Détermination de la température critique .10
5 Exigences .12
6 Appareillage .12
7 Procédure de mesure .14
8 Détermination de T .18
c
9 Exactitude et stabilité .18
10 Rapport d’essai .18

Annexe A (informative) Informations supplémentaires relatives à la mesure de la
température critique.24

Figure 1 – Détermination de la température critique (T ) .20
c
Figure 2 – Courbes types de tension en fonction de la température pour le premier et
le second passage.22

61788-10  IEC:2006 – 3 –
CONTENTS
FOREWORD.5
INTRODUCTION.9

1 Scope.11
2 Normative references.11
3 Terms and definitions .11
4 Determination of critical temperature .11
5 Requirements.13
6 Apparatus.13
7 Measurement procedure.15
8 T determination.19
c
9 Accuracy and stability.19
10 Test report.19

Annex A (informative) Additional information relating to measurement of critical
temperature .25

Figure 1 – Determination of critical temperature (T ).21
c
Figure 2 – Typical voltage versus temperature curves for first and second runs .23

– 4 – 61788-10  CEI:2006
COMMISSION ÉLECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE
___________
SUPRACONDUCTIVITÉ –
Partie 10: Mesure de la température critique –
Température critique des composites supraconducteurs
par une méthode par résistance

AVANT-PROPOS
1) La Commission Electrotechnique Internationale (CEI) est une organisation mondiale de normalisation
composée de l'ensemble des comités électrotechniques nationaux (Comités nationaux de la CEI). La CEI a
pour objet de favoriser la coopération internationale pour toutes les questions de normalisation dans les
domaines de l'électricité et de l'électronique. A cet effet, la CEI – entre autres activités – publie des Normes
internationales, des Spécifications techniques, des Rapports techniques, des Spécifications accessibles au
public (PAS) et des Guides (ci-après dénommés "Publication(s) de la CEI"). Leur élaboration est confiée à des
comités d'études, aux travaux desquels tout Comité national intéressé par le sujet traité peut participer. Les
organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent
également aux travaux. La CEI collabore étroitement avec l'Organisation Internationale de Normalisation (ISO),
selon des conditions fixées par accord entre les deux organisations.
2) Les décisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques représentent, dans la mesure
du possible, un accord international sur les sujets étudiés, étant donné que les Comités nationaux de la CEI
intéressés sont représentés dans chaque comité d’études.
3) Les Publications de la CEI se présentent sous la forme de recommandations internationales et sont agréées
comme telles par les Comités nationaux de la CEI. Tous les efforts raisonnables sont entrepris afin que la CEI
s'assure de l'exactitude du contenu technique de ses publications; la CEI ne peut pas être tenue responsable
de l'éventuelle mauvaise utilisation ou interprétation qui en est faite par un quelconque utilisateur final.
4) Dans le but d'encourager l'uniformité internationale, les Comités nationaux de la CEI s'engagent, dans toute la
mesure possible, à appliquer de façon transparente les Publications de la CEI dans leurs publications
nationales et régionales. Toutes divergences entre toutes Publications de la CEI et toutes publications
nationales ou régionales correspondantes doivent être indiquées en termes clairs dans ces dernières.
5) La CEI n’a prévu aucune procédure de marquage valant indication d’approbation et n'engage pas sa
responsabilité pour les équipements déclarés conformes à une de ses Publications.
6) Tous les utilisateurs doivent s'assurer qu'ils sont en possession de la dernière édition de cette publication.
7) Aucune responsabilité ne doit être imputée à la CEI, à ses administrateurs, employés, auxiliaires ou
mandataires, y compris ses experts particuliers et les membres de ses comités d'études et des Comités
nationaux de la CEI, pour tout préjudice causé en cas de dommages corporels et matériels, ou de tout autre
dommage de quelque nature que ce soit, directe ou indirecte, ou pour supporter les coûts (y compris les frais
de justice) et les dépenses découlant de la publication ou de l'utilisation de cette Publication de la CEI ou de
toute autre Publication de la CEI, ou au crédit qui lui est accordé.
8) L'attention est attirée sur les références normatives citées dans cette publication. L'utilisation de publications
référencées est obligatoire pour une application correcte de la présente publication.
9) L’attention est attirée sur le fait que certains des éléments de la présente Publication de la CEI peuvent faire
l’objet de droits de propriété intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait être tenue pour
responsable de ne pas avoir identifié de tels droits de propriété et de ne pas avoir signalé leur existence.
La Norme internationale CEI 61788-10 a été établie par le comité d’études 90 de la CEI:
Supraconductivité.
Cette deuxième édition annule et remplace la première édition parue en 2002. Cette édition
constitue une révision technique. Les principaux changements introduits par cette nouvelle
édition consistent dans le fait qu’un plus grand nombre de composites supraconducteurs sont
couverts par cette norme, i.e. les composites supraconducteurs Cu/Nb Al et les MgB à gaine
3 2
métallique, et les conducteurs avec couche d’Yttrium ou de terre rare ont été ajoutés. De
plus, des modifications techniques ont été apportées aux dimensions de l’embase et à la
définition de la contrainte en flexion.
...