IEC TS 61967-3:2014
(Main)Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 3: Measurement of radiated emissions - Surface scan method
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 3: Measurement of radiated emissions - Surface scan method
IEC TS 61967-3:2014 provides a test procedure which defines an evaluation method for the near electric, magnetic or electromagnetic field components at or near the surface of an integrated circuit (IC). This diagnostic procedure is intended for IC architectural analysis such as floor planning and power distribution optimization. This test procedure is applicable to measurements on an IC mounted on any circuit board that is accessible to the scanning probe. In some cases it is useful to scan not only the IC but also its environment. For comparison of surface scan emissions between different ICs, the standardized test board defined in IEC 61967-1 should be used. This measurement method provides a mapping of the electric or magnetic near-field emissions over the IC. The resolution of the measurement is determined by the capability of the measurement probe and the precision of the probe-positioning system. This method is intended for use up to 6 GHz. Extending the upper limit of frequency is possible with existing probe technology but is beyond the scope of this specification. Measurements may be carried out in the frequency domain or in the time domain. This edition includes the following significant technical changes with respect to the previous edition:
a) Removal of: Clause 9.4 Data analysis and Annex D Analysing the data from near-field surface scanning;
b) Addition of: Introduction, Clause 9.4 Measurement data, Clause 9.5 Post-processing, Clause 9.6 Data exchange and Annex D Coordinate systems;
c) Expansion of: Clause 8.4 Test technique and Annex A Calibration of near-field probes.
Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques - Partie 3: Mesure des émissions rayonnées - Méthode de balayage en surface
L'IEC TS 61967-3:2014 fournit une procédure d'essai qui définit une méthode d'évaluation des composants de champs proches électriques, magnétiques ou électromagnétiques émis à la surface ou près de la surface d'un circuit intégré (CI). Cette procédure de diagnostic est destinée à l'analyse architecturale du CI telle que la gestion de couches et l'optimisation de la distribution de puissance. Cette procédure d'essai s'applique aux mesures effectuées sur un CI monté sur tout circuit imprimé accessible à la sonde de balayage. Il est dans certains cas utile de balayer l'environnement en plus du CI. Pour la comparaison des émissions de balayage en surface entre différents CI, il convient d'utiliser la carte d'essai normalisée définie dans l'IEC 61967-1. Cette méthode de mesure fournit un mapping des émissions de champs proches électriques ou magnétiques émis à la surface du CI. La résolution de la mesure est déterminée par l'aptitude de la sonde de mesure et la précision du système de positionnement de la sonde. Cette méthode est destinée à une utilisation jusqu'à 6 GHz. L'extension de la limite supérieure de la fréquence est possible avec la technologie actuelle en matière de sondes, mais cela n'entre pas dans le domaine d'application de la présente spécification. Les mesures peuvent être effectuées dans le domaine de fréquence ou le domaine temporel. Cette édition inclut les modifications techniques majeures suivantes par rapport à l'édition précédente:
a) Suppression de: l'Article 9.4 Analyse des données et à l'Annexe D Analyse des données à partir du balayage en surface de champ proche;
b) Addition de: l'Introduction, l'Article 9.4 Données de mesure, l'Article 9.5 Post-traitement, l'Article 9.6 Echange des données et à l'Annexe D Systèmes de coordonnées;
c) Développement de: l'Article 8.4 Technique d'essai et l'Annexe A Etalonnage des sondes de champs proches.
General Information
Standards Content (Sample)
IEC TS 61967-3
®
Edition 2.0 2014-08
TECHNICAL
SPECIFICATION
SPECIFICATION
TECHNIQUE
colour
inside
Integrated circuits – Measurement of electromagnetic emissions –
Part 3: Measurement of radiated emissions – Surface scan method
Circuits intégrés – Mesure des émissions électromagnétiques –
Partie 3: Mesure des émissions rayonnées – Méthode de balayage en surface
IEC TS 61967-3:2014-08(en-fr)
---------------------- Page: 1 ----------------------
THIS PUBLICATION IS COPYRIGHT PROTECTED
Copyright © 2014 IEC, Geneva, Switzerland
All rights reserved. Unless otherwise specified, no part of this publication may be reproduced or utilized in any form
or by any means, electronic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing from
either IEC or IEC's member National Committee in the country of the requester. If you have any questions about IEC
copyright or have an enquiry about obtaining additional rights to this publication, please contact the address below or
your local IEC member National Committee for further information.
Droits de reproduction réservés. Sauf indication contraire, aucune partie de cette publication ne peut être reproduite
ni utilisée sous quelque forme que ce soit et par aucun procédé, électronique ou mécanique, y compris la photocopie
et les microfilms, sans l'accord écrit de l'IEC ou du Comité national de l'IEC du pays du demandeur. Si vous avez des
questions sur le copyright de l'IEC ou si vous désirez obtenir des droits supplémentaires sur cette publication, utilisez
les coordonnées ci-après ou contactez le Comité national de l'IEC de votre pays de résidence.
IEC Central Office Tel.: +41 22 919 02 11
3, rue de Varembé Fax: +41 22 919 03 00
CH-1211 Geneva 20 info@iec.ch
Switzerland www.iec.ch
About the IEC
The International Electrotechnical Commission (IEC) is the leading global organization that prepares and publishes
International Standards for all electrical, electronic and related technologies.
About IEC publications
The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC. Please make sure that you have the
latest edition, a corrigenda or an amendment might have been published.
IEC Catalogue - webstore.iec.ch/catalogue Electropedia - www.electropedia.org
The stand-alone application for consulting the entire The world's leading online dictionary of electronic and
bibliographical information on IEC International Standards, electrical terms containing more than 30 000 terms and
Technical Specifications, Technical Reports and other definitions in English and French, with equivalent terms in 14
documents. Available for PC, Mac OS, Android Tablets and additional languages. Also known as the International
iPad. Electrotechnical Vocabulary (IEV) online.
IEC publications search - www.iec.ch/searchpub IEC Glossary - std.iec.ch/glossary
The advanced search enables to find IEC publications by a More than 55 000 electrotechnical terminology entries in
variety of criteria (reference number, text, technical English and French extracted from the Terms and Definitions
committee,…). It also gives information on projects, replaced clause of IEC publications issued since 2002. Some entries
and withdrawn publications. have been collected from earlier publications of IEC TC 37,
77, 86 and CISPR.
IEC Just Published - webstore.iec.ch/justpublished
Stay up to date on all new IEC publications. Just Published IEC Customer Service Centre - webstore.iec.ch/csc
details all new publications released. Available online and If you wish to give us your feedback on this publication or
also once a month by email. need further assistance, please contact the Customer Service
Centre: csc@iec.ch.
A propos de l'IEC
La Commission Electrotechnique Internationale (IEC) est la première organisation mondiale qui élabore et publie des
Normes internationales pour tout ce qui a trait à l'électricité, à l'électronique et aux technologies apparentées.
A propos des publications IEC
Le contenu technique des publications IEC est constamment revu. Veuillez vous assurer que vous possédez l’édition la
plus récente, un corrigendum ou amendement peut avoir été publié.
Catalogue IEC - webstore.iec.ch/catalogue Electropedia - www.electropedia.org
Application autonome pour consulter tous les renseignements
Le premier dictionnaire en ligne de termes électroniques et
bibliographiques sur les Normes internationales,
électriques. Il contient plus de 30 000 termes et définitions en
Spécifications techniques, Rapports techniques et autres
anglais et en français, ainsi que les termes équivalents dans
documents de l'IEC. Disponible pour PC, Mac OS, tablettes
14 langues additionnelles. Egalement appelé Vocabulaire
Android et iPad.
Electrotechnique International (IEV) en ligne.
Recherche de publications IEC - www.iec.ch/searchpub
Glossaire IEC - std.iec.ch/glossary
La recherche
...
Questions, Comments and Discussion
Ask us and Technical Secretary will try to provide an answer. You can facilitate discussion about the standard in here.