IEC 61000-4-11:1994

Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4: Testing and measuring techniques - Section 11: Voltage dips, short interruptions and voltage variations immunity tests

This standard defines the immunity test methods and range of preferred test levels for electrical and electronic equipment connected to low voltage power supply networks for voltages dips, short interruptions, and voltage variations. It applies to electrical and electronic equipment having a rated input current not exceeding 16 A per phase. It does not apply to electrical and electronic equipment for connection to d.c. networks or 400 Hz a.c. networks.

Compatibilité électromagnétique (CEM) - Partie 4: Techniques d'essai et de mesure - Section 11: Essais d'immunité aux creux de tension, coupures brèves et variations de tension

Cette norme a pour but de définir les méthodes d'essai d'immunité et les gammes des niveaux d'essais conseillées pour les équipements électriques et électroniques connectés aux réseaux basse tension, en ce qui concerne les creux de tension et les coupures brèves et les variations de tension. Elle s'applique à des équipements électriques et électroniques dont le courant d'alimentation assigné ne dépasse pas 16 A par phase. Elle ne s'applique pas à des équipements électriques et électroniques raccordés à des réseaux de distribution à courant continu ou à courant alternatif à 400 Hz.

General Information

• Status: Published
• Publication Date: 27-Mar-2001
• ICS: 33.100.20 - Immunity
• Technical Committee: SC 77A - EMC - Low frequency phenomena
• Current Stage: DELPUB - Deleted Publication
• Completion Date: 24-Mar-2004

Relations

• Amended By: IEC 61000-4-11:1994/AMD1:2000 - Amendment 1 - Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4: Testing and measuring techniques - Section 11: Voltage dips, short interruptions and voltage variations immunity tests
• Effective Date: 05-Sep-2023
• Revised: IEC 61000-4-11:2004 - Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-11: Testing and measurement techniques - Voltage dips, short interruptions and voltage variations immunity tests
• Effective Date: 05-Sep-2023

Standards Content (Sample)

INTERNATIONAL IEC
STANDARD
61000-4-11
Edition 1.1
2001-03
Edition 1:1994 consolidated with amendment 1:2000
BASIC EMC PUBLICATION
Electromagnetic compatibility (EMC) –
Part 4-11:
Testing and measurement techniques –
Voltage dips, short interruptions and
voltage variations immunity tests
This English-language version is derived from the original
bilingual publication by leaving out all French-language
pages. Missing page numbers correspond to the French-
language pages.
Reference number
Publication numbering
As from 1 January 1997 all IEC publications are issued with a designation in the

60000 series. For example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1.

Consolidated editions
The IEC is now publishing consolidated versions of its publications. For example,

edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to the base publication, the base

publication incorporating amendment 1 and the base publication incorporating
amendments 1 and 2.
Further information on IEC publications
The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC,
thus ensuring that the content reflects current technology. Information relating to this
publication, including its validity, is available in the IEC Catalogue of publications
(see below) in addition to new editions, amendments and corrigenda. Information on
the subjects under consideration and work in progress undertaken by the technical
committee which has prepared this publication, as well as the list of publications
issued, is also available from the following:
• IEC Web Site (www.iec.ch)
• Catalogue of IEC publications
The on-line catalogue on the IEC web site (www.iec.ch/searchpub) enables you to
search by a variety of criteria including text searches, technical committees and
date of publication. On-line information is also available on recently issued
publications, withdrawn and replaced publications, as well as corrigenda.
• IEC Just Published
This summary of recently issued publications (www.iec.ch/online_news/ justpub) is
also available by email. Please contact the Customer Service Centre (see below)
for further information.
• Customer Service Centre
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INTERNATIONAL IEC
STANDARD
61000-4-11
Edition 1.1
2001-03
Edition 1:1994 consolidated with amendment 1:2000
BASIC EMC PUBLICATION
Electromagnetic compatibility (EMC) –
Part 4-11:
Testing and measurement techniques –
Voltage dips, short interruptions and
voltage variations immunity tests

 IEC 2001 Copyright - all rights reserved
No part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical,
including photocopying and microfilm, without permission in writing from the publisher.
International Electrotechnical Commission, 3, rue de Varembé, PO Box 131, CH-1211 Geneva 20, Switzerland
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Commission Electrotechnique Internationale
International Electrotechnical Commission
Международная Электротехническая Комиссия
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61000-4-11 © IEC:1994+A1:2000 – 3 –

CONTENTS
Page
FOREWORD.5

INTRODUCTION.9

Clause
1 Scope.11

2 Normative references .11

3 General .13
4 Definitions .13
5 Test levels.15
5.1 Voltage dips and short interruptions .15
5.2 Voltage variations (optional).17
6 Test instrumentation.19
6.1 Test generators .19
6.2 Current monitor's characteristics for measuring peak inrush current capability.21
6.3 Power source .23
7 Test set-up .23
8 Test procedures .23
8.1 Laboratory reference conditions .25
8.2 Execution of the test.25
9 Evaluation of test results .27
10 Test report.27
Annex A (normative) Test circuit details .31
Annex B (informative) Guide for the selection of test levels.35
Annex C (informative) Test instrumentation .37
Figure 1 – Voltage dips.29
Figure 2 – Voltage variation .29
Figure A.1 – Circuit for determining the inrush current drive capability of the short
interruptions generator.33
Figure A.2 – Circuit for determining the peak inrush current requirement of an EUT.33

Figure C.1 a – Schematic of test instrumentation for voltage dips and short
interruptions using variable transformers and switches .39
Figure C.1 b – Schematic of test instrumentation for voltage dips, short interruptions
and variations using power amplifier .39
Figure C.2 – Schematic of a simplified test instrumentation for voltage variations .41
Table 1 – Preferred test levels and durations for voltage dips and short interruptions .17
Table 2 – Timing of short-term supply voltage variations.17
Table B.1 .35

61000-4-11 © IEC:1994+A1:2000 – 5 –

INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION

____________
ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY (EMC) –

Part 4-11: Testing and measurement techniques –

Voltage dips, short interruptions and

voltage variations immunity tests

FOREWORD
1) The IEC (International Electrotechnical Commission) is a worldwide organization for standardization comprising
all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of the IEC is to promote
international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To
this end and in addition to other activities, the IEC publishes International Standards. Their preparation is
entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt with may
participate in this preparatory work. International, governmental and non-governmental organizations liaising
with the IEC also participate in this preparation. The IEC collaborates closely with the International
Organization for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by agreement between the
two organizations.
2) The formal decisions or agreements of the IEC on technical matters express, as nearly as possible, an
international consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representation
from all interested National Committees.
3) The documents produced have the form of recommendations for international use and are published in the form
of standards, technical specifications, technical reports or guides and they are accepted by the National
Committees in that sense.
4) In order to promote international unification, IEC National Committees undertake to apply IEC International
Standards transparently to the maximum extent possible in their national and regional standards. Any
divergence between the IEC Standard and the corresponding national or regional standard shall be clearly
indicated in the latter.
5) The IEC provides no marking procedure to indicate its approval and cannot be rendered responsible for any
equipment declared to be in conformity with one of its standards.
6) Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this International Standard may be the subject
of patent rights. The IEC shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights.
International Standard IEC 61000-4-11 has been prepared by sub-committee 77B: High-
frequency phenomena, of IEC technical committee 77: Electromagnetic compatibility.
It forms part 4-11 of IEC 61000. It has the status of a Basic EMC Publication in accordance
with IEC Guide 107.
This consolidated version of IEC 61000-4-11 is based on the first edition (1994) [documents
77B(CO)17 and 77B(CO)20] and its amendment 1 (2000) [documents 77B/291+293/FDIS
and 77B/298+300/RVD].
It bears the edition number 1.1.
A vertical line in the margin shows where the base publication has been modified by
amendment 1.
Annex A forms an integral part of this standard.
Annexes B and C are for information only.

61000-4-11 © IEC:1994+A1:2000 – 7 –

The committee has decided that the contents of the base publication and its amendment will
remain unchanged until 2002. At this date, the publication will be

• reconfirmed;
• withdrawn;
• replaced by a revised edition, or

• amended.
61000-4-11 © IEC:1994+A1:2000 – 9 –

INTRODUCTION
This section of part 4 belongs to the IEC 61000 series, Electromagnetic compatibility (EMC),
according to the following structure:

Part 1: General
General considerations (introduction, fundamental principles)

Definitions, terminology
Part 2: Environment
Description of the environment
Classification of the environment
Compatibility levels
Part 3: Limits
Emission limits
Immunity limits (in so far as they do not fall under the responsibility of the product
committees)
Part 4: Testing and measurement techniques
Measurement techniques
Testing techniques
Part 5: Installation and mitigation guidelines
Installation guidelines
Mitigation methods and devices
Part 9: Miscellaneous
Each part is further subdivided into sections which are to be published either as international
standards or as technical reports.
These standards and reports will be published in chronological order and numbered
accordingly.
This part is an international standard which gives immunity requirements and test procedures

related to voltage dips, short interruptions and voltage variations.

61000-4-11 © IEC:1994+A1:2000 – 11 –

ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY (EMC) –

Part 4-11: Testing and measurement techniques –

Voltage dips, short interruptions and

voltage variations immunity tests

1 Scope
This section of IEC 61000-4 defines the immunity test methods and range of preferred test
levels for electrical and electronic equipment connected to low-voltage power supply networks
for voltage dips, short interruptions, and voltage variations.
The standard applies to electrical and electronic equipment having a rated input current not
exceeding 16 A per phase.
It does not apply to electrical and electronic equipment for connection to d.c. networks or 400 Hz
a.c. networks. Tests for these networks will be covered by future IEC standards.
The object of this standard is to establish a common reference for evaluating the immunity of
electrical and electronic equipment when subjected to voltage dips, short interruptions, and
voltage variations.
2 Normative references
The following normative documents contain provisions which, through reference in this text,
constitute provisions of this section of IEC 61000-4. At the time of publication, the editions
indicated were valid. All normative documents are subject to revision, and parties to
agreements based on this section of IEC 61000-4 are encouraged to investigate the
possibility of applying the most recent editions of the normative documents indicated below.
Members of IEC and ISO maintain registers of currently valid International Standards.
IEV 60050(161):1990, International Electrotechnical Vocabulary (IEV) – Chapter 161: Electro-
magnetic compatibility
IEC 60068-1:1988, Environmental testing – Part 1: General and guidance
IEC 61000-2-1:1990, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 2: Environment – Section 1:

Description of the environment – Electromagnetic environment for low-frequency conducted
disturbances and signalling in public power supply systems
IEC 61000-2-2:1990, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 2: Environment – Section 2:
Compatibility levels for low-frequency conducted disturbances and signalling in public low-
voltage power supply systems
IEC 61000-4-1:1992, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4: Testing and measurement
techniques – Section 1: Overview of immunity tests – Basic EMC publication
...

NORME CEI
INTERNATIONALE
61000-4-11
Edition 1.1
2001-03
Edition 1:1994 consolidée par l'amendement 1:2000
PUBLICATION FONDAMENTALE EN CEM
Compatibilité électromagnétique (CEM) –
Partie 4-11:
Techniques d'essai et de mesure –
Essais d'immunité aux creux de tension,
coupures brèves et variations de tension
Cette version française découle de la publication d’origine
bilingue dont les pages anglaises ont été supprimées.
Les numéros de page manquants sont ceux des pages

supprimées.
Numéro de référence
CEI 61000-4-11:1994+A1:2000(F)

Numérotation des publications
Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI sont numérotées à partir de

60000. Ainsi, la CEI 34-1 devient la CEI 60034-1.

Editions consolidées
Les versions consolidées de certaines publications de la CEI incorporant les

amendements sont disponibles. Par exemple, les numéros d’édition 1.0, 1.1 et 1.2

indiquent respectivement la publication de base, la publication de base incorporant

l’amendement 1, et la publication de base incorporant les amendements 1 et 2

Informations supplémentaires sur les publications de la CEI
Le contenu technique des publications de la CEI est constamment revu par la CEI
afin qu'il reflète l'état actuel de la technique. Des renseignements relatifs à cette
publication, y compris sa validité, sont disponibles dans le Catalogue des
publications de la CEI (voir ci-dessous) en plus des nouvelles éditions, amende-
ments et corrigenda. Des informations sur les sujets à l’étude et l’avancement des
travaux entrepris par le comité d’études qui a élaboré cette publication, ainsi que la
liste des publications parues, sont également disponibles par l’intermédiaire de:
• Site web de la CEI (www.iec.ch)
• Catalogue des publications de la CEI
Le catalogue en ligne sur le site web de la CEI (www.iec.ch/searchpub) vous permet
de faire des recherches en utilisant de nombreux critères, comprenant des
recherches textuelles, par comité d’études ou date de publication. Des informations
en ligne sont également disponibles sur les nouvelles publications, les publications
remplacées ou retirées, ainsi que sur les corrigenda.
• IEC Just Published
Ce résumé des dernières publications parues (www.iec.ch/online_news/justpub)
est aussi disponible par courrier électronique. Veuillez prendre contact avec le
Service client (voir ci-dessous) pour plus d’informations.
• Service clients
Si vous avez des questions au sujet de cette publication ou avez besoin de
renseignements supplémentaires, prenez contact avec le Service clients:
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NORME CEI
INTERNATIONALE
61000-4-11
Edition 1.1
2001-03
Edition 1:1994 consolidée par l'amendement 1:2000
PUBLICATION FONDAMENTALE EN CEM
Compatibilité électromagnétique (CEM) –
Partie 4-11:
Techniques d'essai et de mesure –
Essais d'immunité aux creux de tension,
coupures brèves et variations de tension

 IEC 2001 Droits de reproduction réservés
Aucune partie de cette publication ne peut être reproduite ni utilisée sous quelque forme que ce soit et par aucun
procédé, électronique ou mécanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans l'accord écrit de l'éditeur.
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– 2 – 61000-4-11 © CEI:1994+A1:2000

SOMMAIRE
Pages
AVANT-PROPOS.4

INTRODUCTION.8

Articles
1 Domaine d'application .10

2 Références normatives.10

3 Généralités.12
4 Définitions .12
5 Niveaux d'essai .14
5.1 Creux de tension et coupures brèves d'alimentation .14
5.2 Variations de tension (essai optionnel) .16
6 Instrumentation d'essai.18
6.1 Générateurs d'essai .18
6.2 Caractéristiques du transformateur de mesure du pic de courant transitoire .20
6.3 Source de puissance .22
7 Installation d'essai.22
8 Procédures d'essai .22
8.1 Conditions de référence en laboratoire .24
8.2 Exécution de l'essai.24
9 Evaluation des résultats d’essai .26
10 Rapport d’essai .26
Annexe A (normative) Détails des circuits d'essais .30
Annexe B (informative) Guide pour la sélection des niveaux d'essai .34
Annexe C (informative) Instrumentation d'essai .36
Figure 1 – Creux de tension.28
Figure 2 – Variation de tension .28
Figure A.1 – Circuit pour la détermination de la capacité de production du courant
d'appel d'un générateur de coupure brève .32
Figure A.2 – Circuit pour la détermination du courant d'appel crête d'un matériel

en essai.32
Figure C.1 a – Schéma de principe de l'instrumentation d'essai pour creux de tension
et coupures brèves utilisant des transformateurs variables et des interrupteurs .38
Figure C.1 b – Schéma de principe de l'instrumentation d'essai pour les creux de
tension, les coupures brèves et les variations de tension utilisant un amplificateur
de puissance .38
Figure C.2 – Schéma de principe d'une instrumentation d'essai simplifiée pour
les variations de tension .40
Tableau 1 – Niveaux d'essais et durées conseillés pour les creux de tension et les
coupures brèves .16
Tableau 2 – Durées des variations à court terme de la tension d'alimentation.16
Tableau B.1 .34

– 4 – 61000-4-11 © CEI:1994+A1:2000

COMMISSION ÉLECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE

____________
COMPATIBILITÉ ÉLECTROMAGNÉTIQUE (CEM) –

Partie 4-11: Techniques d'essai et de mesure –

Essais d'immunité aux creux de tension,

coupures brèves et variations de tension

AVANT-PROPOS
1) La CEI (Commission Électrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de normalisation
composée de l'ensemble des comités électrotechniques nationaux (Comités nationaux de la CEI). La CEI a
pour objet de favoriser la coopération internationale pour toutes les questions de normalisation dans les
domaines de l'électricité et de l'électronique. A cet effet, la CEI, entre autres activités, publie des Normes
internationales. Leur élaboration est confiée à des comités d'études, aux travaux desquels tout Comité national
intéressé par le sujet traité peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non
gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent également aux travaux. La CEI collabore étroitement
avec l'Organisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixées par accord entre les
deux organisations.
2) Les décisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques représentent, dans la mesure
du possible, un accord international sur les sujets étudiés, étant donné que les Comités nationaux intéressés
sont représentés dans chaque comité d’études.
3) Les documents produits se présentent sous la forme de recommandations internationales. Ils sont publiés
comme normes, spécifications techniques, rapports techniques ou guides et agréés comme tels par les
Comités nationaux.
4) Dans le but d'encourager l'unification internationale, les Comités nationaux de la CEI s'engagent à appliquer de
façon transparente, dans toute la mesure possible, les Normes internationales de la CEI dans leurs normes
nationales et régionales. Toute divergence entre la norme de la CEI et la norme nationale ou régionale
correspondante doit être indiquée en termes clairs dans cette dernière.
5) La CEI n’a fixé aucune procédure concernant le marquage comme indication d’approbation et sa responsabilité
n’est pas engagée quand un matériel est déclaré conforme à l’une de ses normes.
6) L’attention est attirée sur le fait que certains des éléments de la présente Norme internationale peuvent faire
l’objet de droits de propriété intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait être tenue pour
responsable de ne pas avoir identifié de tels droits de propriété et de ne pas avoir signalé leur existence
La Norme internationale CEI 61000-4-11 a été établie par le sous-comité 77B: Phénomènes
haute fréquence, du comité d'études 77 de la CEI: Compatibilité électromagnétique.
Elle constitue la partie 4-11 de la CEI 61000. Cette norme a le statut de publication fonda-
mentale de CEM conformément au Guide 107 de la CEI.

La présente version consolidée de la CEI 61000-4-11 est issue de la première édition (1994)
[documents 77B(BC)17 et 77B(BC)20] et de son amendement 1 (2000) [documents
77B/291+293/FDIS et 77B/298+300/RVD].
Elle porte le numéro d'édition 1.1.
Une ligne verticale dans la marge indique où la publication de base a été modifiée par
l’amendement 1.
L'annexe A fait partie intégrante de cette norme.
Les annexes B et C sont données uniquement à titre d'information.

– 6 – 61000-4-11 © CEI:1994+A1:2000

Le comité a décidé que le contenu de la publication de base et de son amendement ne sera
pas modifié avant 2002. A cette date, la publication sera

• reconduite;
• supprimée;
• remplacée par une édition révisée, ou

• amendée.
– 8 – 61000-4-11 © CEI:1994+A1:2000

INTRODUCTION
La présente section de la partie 4 appartient à la série des normes CEI 61000, Compatibilité

électromagnétique (CEM), selon la structure suivante:

Partie 1: Généralités
Considérations générales (introduction, principes fondamentaux)

Définitions, terminologie
Partie 2: Environnement
Description de l'environnement
Classification de l'environnement
Niveaux de compatibilité
Partie 3: Limites
Limites d'émission
Limites d'immunité (dans la mesure où elles ne relèvent pas de la responsabilité des
comités de produit)
Partie 4: Techniques d'essais et de mesure
Techniques de mesure
Techniques d'essai
Partie 5: Directives d'installation et d'atténuation
Directives d'installation
Méthodes d'atténuation et équipements
Partie 9: Divers
Chaque partie est ensuite subdivisée en sections qui seront publiées soit comme normes
internationales, soit comme rapports techniques.
Ces normes et ces rapports seront publiés selon un ordre chronologique et numérotés de la
même façon.
La présente partie est une norme internationale qui donne les prescriptions d'immunité et les
procédures d'essais relatives aux creux de tension, coupures brèves et variations de tension.

– 10 – 61000-4-11 © CEI:1994+A1:2000

COMPATIBILITÉ ÉLECTROMAGNÉTIQUE (CEM) –

Partie 4-11: Techniques d'essai et de mesure –

Essais d'immunité aux creux de tension,

coupures brèves et variations de tension

1 Domaine d'application
La présente section de la CEI 61000-4 a pour but de définir les méthodes d'essai d'immunité
et les gammes des niveaux d'essais conseillées pour les matériels électriques et
électroniques connectés aux réseaux basse tension, en ce qui concerne les creux de tension,
les coupures brèves et les variations de tension.
La norme s'applique à des matériels électriques et électroniques dont le courant
d'alimentation assigné ne dépasse pas 16 A par phase.
Elle ne s'applique pas à des matériels électriques et électroniques raccordés à des réseaux
de distribution à courant continu ou à courant alternatif à 400 Hz. Les essais concernant ces
réseaux seront couverts par de futures normes CEI.
Le but de cette norme est d'établir une référence commune pour l'évaluation de l'immunité
des matériels électriques et électroniques lorsqu'ils sont soumis à des creux de tension, des
coupures brèves et des variations de tension.
2 Références normatives
Les documents normatifs suivants contiennent des dispositions qui, par suite de la référence
qui y est faite, constituent des dispositions valables pour la présente section de la CEI 61000-4.
Au moment de la publication, les éditions indiquées étaient en vigueur. Tout document normatif
est sujet à révision
...

NORME CEI
INTERNATIONALE
IEC
1000-4-11
INTERNATIONAL
Première édition
STANDARD
First edition
1994-06
Compatibilité électromagnétique (CEM) -
Partie 4:
Techniques d’essai et de mesure -
Section 11: Essais d’immunité aux creux de tension,
coupures brèves et variations de tension
Electromagnetic compatibility (EMC) -
Part 4:
Testing and measuring techniques -
Section 11: Voltage dips, short interruptions and
voltage variations immunity tests

Numéro de référence
Reference number
CEI/IEC 1000-4-11: 1994
NORME CEI
INTERNATIONALE IEC
1000-4-11
INTERNATIONAL
Première édition
STANDARD
First edition
1994-06
Compatibilité électromagnétique (CEM) -
Partie 4:
Techniques d’essai et de mesure -
Section 11: Essais d’immunité aux creux de tension,
coupures brèves et variations de tension
Electromagnetic compatibility (EMC) -
Part 4:
Testing and measuring techniques -
Section 11: Voltage dips, short interruptions and
voltage variations immunity tests

© CEI 1995   Droits de reproduction réservés — Copyright - all rights reserved
Aucune partie de cette publication ne peut être reproduite ni No part of this publication may be reproduced or utilized in
utilisée sous quelque forme que ce soit et par aucun pro- any form or by any means, electronic or mechanical,
cédé, électronique ou mécanique, y compris la photocopie et including photocopying and microfilm, without permission
les microfilms, sans l’accord écrit de l’éditeur. in writing from the publisher.
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Commission Electrotechnique Internationale CODE PRIX
International Electrotechnical Commission
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- 2 - 1000-4-11 © CEI:1994
SOMMAIRE
Pages
AVANT-PROPOS .  4

INTRODUCTION .  6

Articles
1  Domaine d’application . 8
2  Références normatives. 8
3  Généralités . 10
4  Définitions . 10
5  Niveaux d’essai . 12
5.1 Creux de tension et coupures brèves d’alimentation . 12
5.2 Variations de tension (essai optionnel) . 14
6  Instrumentation d’essai. 16
6.1 Générateurs d’essai. 16
6.1.1 Caractéristiques et performances du générateur. 18
6.1.2 Vérification des caractéristiques des générateurs de creux de tension,
de coupures brèves et de variation de tension. 18
6.2 Caractéristiques du transformateur de mesure du pic de courant transitoire . 20
6.3 Source de puissance . 20
7  Installation d’essai . 22
8  Procédures d’essai . 22
8.1 Conditions de référence en laboratoire. 24
8.1.1 Conditions climatiques . 24
8.1.2 Conditions électromagnétiques. 24
8.2 Exécution de l’essai .24

8.2.1  Creux et coupures brèves de la tension d’alimentation . 24
8.2.2  Variations de la tension d’alimentation (optionnel) . 24
9  Résultats et compte-rendu d’essais .26
Figures
1 Creux de tension . 28
2 Variation de tension . 28
Annexes
A Détails des circuits d’essais. 30
B Guide pour la sélection des niveaux d’essai . 34
C Instrumentation d’essai. 36

1000-4-11 © IEC:1994 - 3 -
CONTENTS
Page
FOREWORD .  5

INTRODUCTION .  7

Clause
1 Scope .  9
2 Normative references .  9
3 General . 11
4 Definitions . 11
5 Test levels . 13
5.1 Voltage dips and short interruptions . 13
5.2 Voltage variations (optional) . 15
6 Test instrumentation . 17
6.1 Test generators . 17
6.1.1  Characteristics and performance of the generator. 19
6.1.2  Verification of the characteristics of the voltage dips, short
interruptions and voltage variation generators . 19
6.2 Current monitor’s characteristics for measuring peak inrush current capability . 21
6.3 Power source . 21
7 Test set-up . 23
8 Test procedures. 23
8.1 Laboratory reference conditions . 25
8.1.1  Climatic conditions . 25
8.1.2  Electromagnetic conditions . 25
8.2 Execution of the test . 25

8.2.1  Voltage dips and short interruptions . 25
8.2.2  Voltage variations (optional) . 25
9 Test results and test report . 27
Figures
1 Voltage dips . 28
2 Voltage variation . 28
Annexes
A Test circuit details . 31
B Guide for the selection of test levels. 35
C Test instrumentation . 37

- 4 - 1000-4-11 © CEI:1994
COMMISSION ÉLECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE

________
COMPATIBILITÉ ÉLECTROMAGNÉTIQUE (CEM) -

Partie 4: Techniques d’essai et de mesure -

Section 11: Essais d’immunité aux creux de tension,

coupures brèves et variations de tension

AVANT-PROPOS
1) La CEI (Commission Electrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de normalisation composée de
l’ensemble des comités électrotechniques nationaux (Comités nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de favoriser la
coopération internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de l’électricité et de
l’électronique. A cet effet, la CEI, entre autres activités, publie des Normes internationales. Leur élaboration est confiée
à des comités d’études, aux travaux desquels tout Comité national intéressé par le sujet traité peut participer. Les
organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent
également aux travaux. La CEI collabore étroitement avec l’Organisation Internationale de Normalisation (ISO), selon
des conditions fixées par accord entre les deux organisations.
2) Les décisions ou accords officiels de la CEI en ce qui concerne les questions techniques, préparés par les comités
d’études où sont représentés tous les Comités nationaux s’intéressant à ces questions, expriment dans la plus grande
mesure possible un accord international sur les sujets examinés.
3) Ces décisions constituent des recommandations internationales publiées sous forme de normes, de rapports
techniques ou de guides et agréées comme telles par les Comités nationaux.
4) Dans le but d’encourager l’unification internationale, les Comités nationaux de la CEI s’engagent à appliquer de façon
transparente, dans toute la mesure possible, les Normes internationales de la CEI dans leurs normes nationales et
régionales. Toute divergence entre la norme de la CEI et la norme nationale ou régionale correspondante doit être
indiquée en termes clairs dans cette dernière.
La Norme internationale CEI 1000-4-11 a été établie par le sous-comité 77B: Phénomènes haute
fréquence, du comité d’études 77 de la CEI: Compatibilité électromagnétique.
Elle constitue la section 11 de la partie 4 de la CEI 1000. Cette norme a le statut de publication
fondamentale de CEM conformément au guide 107 de la CEI.
Le texte de cette norme est issu des documents suivants:

DIS Rapport de vote
77B(BC)17 77B(BC)20
Le rapport de vote indiqué dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant
abouti à l’approbation de cette norme.
L’annexe A fait partie intégrante de cette norme.
Les annexes B et C sont données uniquement à titre d’information.

1000-4-11 © IEC:1994 - 5 -
INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION

________
ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY (EMC) -

Part 4: Testing and measuring techniques -

Section 11: Voltage dips,
short interruptions and voltage variations immunity tests

FOREWORD
1) The IEC (International Electrotechnical Commission) is a worldwide organization for standardization comprising all
national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of the IEC is to promote international
cooperation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To this end and in
addition to other activities, the IEC publishes International Standards. Their preparation is entrusted to technical
committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt with may participate in this preparatory work.
International, governmental and non-governmental organizations liaising with the IEC also participate in this
preparation. The IEC collaborates closely with the International Organization for Standardization (ISO) in accordance
with conditions determined by agreement between the two organizations.
2) The formal decisions or agreements of the IEC on technical matters, prepared by technical committees on which all the
National Committees having a special interest therein are represented, express, as nearly as possible, an international
consensus of opinion on the subjects dealt with.
3) They have the form of recommendations for international use published in the form of standards, technical reports or
guides and they are accepted by the National Committees in that sense.
4) In order to promote international unification, IEC National Committees undertake to apply IEC International Standards
transparently to the maximum extent possible in their national and regional standards. Any divergence between the IEC
Standard and the corresponding national or regional standard shall be clearly indicated in the latter.
International Standard IEC 1000-4-11 has been prepared by sub-committee 77B: High-frequency
phenomena, of IEC technical committee 77: Electromagnetic compatibility.
It forms section 11 of part 4 of IEC 1000. It has the status of a Basic EMC Publication in
accordance with I
...

NORME CEI
INTERNATIONALE IEC
61000-4-11
INTERNATIONAL
Edition 1.1
STANDARD
2001-03
Edition 1:1994 consolidée par l'amendement 1:2000
Edition 1:1994 consolidated with amendment 1:2000
PUBLICATION FONDAMENTALE EN CEM
BASIC EMC PUBLICATION
Compatibilité électromagnétique (CEM) –
Partie 4-11:
Techniques d'essai et de mesure –
Essais d'immunité aux creux de tension,
coupures brèves et variations de tension
Electromagnetic compatibility (EMC) –
Part 4-11:
Testing and measurement techniques –
Voltage dips, short interruptions and
voltage variations immunity tests

Numéro de référence
Reference number
CEI/IEC 61000-4-11:1994+A1:2000

Numérotation des publications Publication numbering

Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI As from 1 January 1997 all IEC publications are

sont numérotées à partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1 issued with a designation in the 60000 series. For
devient la CEI 60034-1. example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1.

Editions consolidées Consolidated editions

Les versions consolidées de certaines publications de la The IEC is now publishing consolidated versions of its

CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par publications. For example, edition numbers 1.0, 1.1
exemple, les numéros d’édition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent and 1.2 refer, respectively, to the base publication,
respectivement la publication de base, la publication de the base publication incorporating amendment 1 and

base incorporant l’amendement 1, et la publication de the base publication incorporating amendments 1
base incorporant les amendements 1 et 2. and 2.
Informations supplémentaires Further information on IEC publications
sur les publications de la CEI
Le contenu technique des publications de la CEI est The technical content of IEC publications is kept
constamment revu par la CEI afin qu'il reflète l'état under constant review by the IEC, thus ensuring that
actuel de la technique. Des renseignements relatifs à the content reflects current technology. Information
cette publication, y compris sa validité, sont dispo- relating to this publication, including its validity, is
nibles dans le Catalogue des publications de la CEI available in the IEC Catalogue of publications
(voir ci-dessous) en plus des nouvelles éditions, (see below) in addition to new editions, amendments
amendements et corrigenda. Des informations sur les and corrigenda. Information on the subjects under
sujets à l’étude et l’avancement des travaux entrepris consideration and work in progress undertaken by the
par le comité d’études qui a élaboré cette publication, technical committee which has prepared this
ainsi que la liste des publications parues, sont publication, as well as the list of publications issued,
également disponibles par l’intermédiaire de: is also available from the following:
• Site web de la CEI (www.iec.ch) • IEC Web Site (www.iec.ch)
• Catalogue des publications de la CEI • Catalogue of IEC publications
Le catalogue en ligne sur le site web de la CEI The on-line catalogue on the IEC web site
(www.iec.ch/catlg-f.htm) vous permet de faire des (www.iec.ch/catlg-e.htm) enables you to search
recherches en utilisant de nombreux critères, by a variety of criteria including text searches,
comprenant des recherches textuelles, par comité technical committees and date of publication. On-
d’études ou date de publication. Des informations line information is also available on recently
en ligne sont également disponibles sur les issued publications, withdrawn and replaced
nouvelles publications, les publications rempla- publications, as well as corrigenda.
cées ou retirées, ainsi que sur les corrigenda.
• IEC Just Published
• IEC Just Published
Ce résumé des dernières publications parues
This summary of recently issued publications
(www.iec.ch/JP.htm) est aussi disponible par
(www.iec.ch/JP.htm) is also available by email.
courrier électronique. Veuillez prendre contact
Please contact the Customer Service Centre (see
avec le Service client (voir ci-dessous) pour plus
below) for further information.
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• Service clients
• Customer Service Centre
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publication or need further assistance, please
supplémentaires, prenez contact avec le Service
contact the Customer Service Centre:
clients:
Email: [e-mail]
Email: [e-mail]
Tél: [phone]
Tel: [phone]
Fax: [phone]
Fax: [phone]
.
NORME CEI
INTERNATIONALE IEC
61000-4-11
INTERNATIONAL
Edition 1.1
STANDARD
2001-03
Edition 1:1994 consolidée par l'amendement 1:2000
Edition 1:1994 consolidated with amendment 1:2000
PUBLICATION FONDAMENTALE EN CEM
BASIC EMC PUBLICATION
Compatibilité électromagnétique (CEM) –
Partie 4-11:
Techniques d'essai et de mesure –
Essais d'immunité aux creux de tension,
coupures brèves et variations de tension
Electromagnetic compatibility (EMC) –
Part 4-11:
Testing and measurement techniques –
Voltage dips, short interruptions and
voltage variations immunity tests

 IEC 2001 Droits de reproduction réservés  Copyright - all rights reserved
Aucune partie de cette publication ne peut être reproduite ni No part of this publication may be reproduced or utilized in
utilisée sous quelque forme que ce soit et par aucun procédé, any form or by any means, electronic or mechanical,
électronique ou mécanique, y compris la photocopie et les including photocopying and microfilm, without permission in
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Telefax: [phone] e-mail: [e-mail] IEC web site http://www.iec.ch
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Commission Electrotechnique Internationale
S
PRICE CODE
International Electrotechnical Commission
Pour prix, voir catalogue en vigueur
For price, see current catalogue

– 2 – 61000-4-11 © CEI:1994+A1:2000

SOMMAIRE
Pages
AVANT-PROPOS.4

INTRODUCTION.8

Articles
1 Domaine d'application .10

2 Références normatives.10

3 Généralités.12
4 Définitions .12
5 Niveaux d'essai .14
5.1 Creux de tension et coupures brèves d'alimentation .14
5.2 Variations de tension (essai optionnel) .16
6 Instrumentation d'essai.18
6.1 Générateurs d'essai .18
6.2 Caractéristiques du transformateur de mesure du pic de courant transitoire .20
6.3 Source de puissance .22
7 Installation d'essai.22
8 Procédures d'essai .22
8.1 Conditions de référence en laboratoire .24
8.2 Exécution de l'essai.24
9 Evaluation des résultats d’essai .26
10 Rapport d’essai .26
Annexe A (normative) Détails des circuits d'essais .30
Annexe B (informative) Guide pour la sélection des niveaux d'essai .34
Annexe C (informative) Instrumentation d'essai .36
Figure 1 – Creux de tension.28
Figure 2 – Variation de tension .28
Figure A.1 – Circuit pour la détermination de la capacité de production du courant
d'appel d'un générateur de coupure brève .32
Figure A.2 – Circuit pour la détermination du courant d'appel crête d'un matériel

en essai.32
Figure C.1 a – Schéma de principe de l'instrumentation d'essai pour creux de tension
et coupures brèves utilisant des transformateurs variables et des interrupteurs .38
Figure C.1 b – Schéma de principe de l'instrumentation d'essai pour les creux de
tension, les coupures brèves et les variations de tension utilisant un amplificateur
de puissance .38
Figure C.2 – Schéma de principe d'une instrumentation d'essai simplifiée pour
les variations de tension .40
Tableau 1 – Niveaux d'essais et durées conseillés pour les creux de tension et les
coupures brèves .16
Tableau 2 – Durées des variations à court terme de la tension d'alimentation.16
Tableau B.1 .34

61000-4-11 © IEC:1994+A1:2000 – 3 –

CONTENTS
Page
FOREWORD.5

INTRODUCTION.9

Clause
1 Scope.11

2 Normative references .11

3 General .13
4 Definitions .13
5 Test levels.15
5.1 Voltage dips and short interruptions .15
5.2 Voltage variations (optional).17
6 Test instrumentation.19
6.1 Test generators .19
6.2 Current monitor's characteristics for measuring peak inrush current capability.21
6.3 Power source .23
7 Test set-up .23
8 Test procedures .23
8.1 Laboratory reference conditions .25
8.2 Execution of the test.25
9 Evaluation of test results .27
10 Test report.27
Annex A (normative) Test circuit details .31
Annex B (informative) Guide for the selection of test levels.35
Annex C (informative) Test instrumentation .37
Figure 1 – Voltage dips.29
Figure 2 – Voltage variation .29
Figure A.1 – Circuit for determining the inrush current drive capability of the short
interruptions generator.33
Figure A.2 – Circuit for determining the peak inrush current requirement of an EUT.33

Figure C.1 a – Schematic of test instrumentation for voltage dips and short
interruptions using variable transformers and switches .39
Figure C.1 b – Schematic of test instrumentation for voltage dips, short interruptions
and variations using power amplifier .39
Figure C.2 – Schematic of a simplified test instrumentation for voltage variations .41
Table 1 – Preferred test levels and durations for voltage dips and short interruptions .17
Table 2 – Timing of short-term supply voltage variations.17
Table B.
...