IEC 61000-4-11:2004
(Main)Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-11: Testing and measurement techniques - Voltage dips, short interruptions and voltage variations immunity tests
Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-11: Testing and measurement techniques - Voltage dips, short interruptions and voltage variations immunity tests
This part of IEC 61000 defines the immunity test methods and range of preferred test levels for electrical and electronic equipment connected to low-voltage power supply networks for voltage dips, short interruptions, and voltage variations. This standard applies to electrical and electronic equipment having a rated input current not exceeding 16 A per phase, for connection to 50 Hz or 60 Hz a.c. networks. It does not apply to electrical and electronic equipment for connection to 400 Hz a.c. networks. Tests for these networks will be covered by future IEC standards. The object of this standard is to establish a common reference for evaluating the immunity of electrical and electronic equipment when subjected to voltage dips, short interruptions and voltage variations. This second edition cancels and replaces the first edition published in 1994 and its amendment 1 (2000). This second edition constitutes a technical revision in which 1) preferred test values and durations have been added for the different environment classes; 2) the tests for the three-phase systems have been specified. It has the status of a Basic EMC Publication in accordance with IEC Guide 107. The contents of the interpretation sheet 1 of August 2010 have been included in this copy.
Compatibilité électromagnétique (CEM) - Partie 4-11: Techniques d'essai et de mesure - Essais d'immunité aux creux de tension, coupures brèves et variations de tension
La présente partie de la CEI 61000 définit les méthodes d'essai d'immunité ainsi que la gamme des niveaux d'essais préférés pour les matériels électriques et électroniques connectés à des réseaux d'alimentation basse tension pour les creux de tension, les coupures brèves et les variations de tension. La présente norme s'applique aux matériels électriques et électroniques dont le courant nominal d'entrée ne dépasse pas 16 A par phase et destinés à être reliés à des réseaux électriques alternatifs de 50 Hz ou 60 Hz. Elle ne s'applique pas aux matériels électriques et électroniques destinés à être reliés à des réseaux électriques à courant alternatif de 400 Hz. Les essais pour ces réseaux seront traités dans des normes CEI à venir. Le but de cette norme est d'établir une référence commune pour l'évaluation de l'immunité fonctionnelle des matériels électriques et électroniques soumis à des creux de tension, à des coupures brèves et à des variations de tension. Cette deuxième édition annule et remplace la première édition parue en 1994 et son amendement 1 (2000). Cette deuxième édition constitue une révision technique dans laquelle 1) des durées et niveaux d'essai préférés pour les différentes classes d'environnement ont été ajoutées ; 2) les essais pour les systèmes triphasés ont été précisés. Elle a le statut de publication fondamentale en CEM conformément au Guide 107 de la CEI. Le contenu de la feuille d'interprétation 1 d'août 2010 a été pris en considération dans cet exemplaire.
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Relations
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INTERNATIONAL IEC
STANDARD 61000-4-11
Second edition
2004-03
BASIC EMC PUBLICATION
Electromagnetic compatibility (EMC) –
Part 4-11:
Testing and measurement techniques –
Voltage dips, short interruptions and
voltage variations immunity tests
This English-language version is derived from the original
bilingual publication by leaving out all French-language
pages. Missing page numbers correspond to the French-
language pages.
Reference number
Publication numbering
As from 1 January 1997 all IEC publications are issued with a designation in the
60000 series. For example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1.
Consolidated editions
The IEC is now publishing consolidated versions of its publications. For example,
edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to the base publication, the
base publication incorporating amendment 1 and the base publication incorporating
amendments 1 and 2.
Further information on IEC publications
The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC,
thus ensuring that the content reflects current technology. Information relating to
this publication, including its validity, is available in the IEC Catalogue of
publications (see below) in addition to new editions, amendments and corrigenda.
Information on the subjects under consideration and work in progress undertaken
by the technical committee which has prepared this publication, as well as the list
of publications issued, is also available from the following:
• IEC Web Site (www.iec.ch)
• Catalogue of IEC publications
The on-line catalogue on the IEC web site (http://www.iec.ch/searchpub/cur_fut.htm)
enables you to search by a variety of criteria including text searches, technical
committees and date of publication. On-line information is also available on
recently issued publications, withdrawn and replaced publications, as well as
corrigenda.
• IEC Just Published
This summary of recently issued publications (http://www.iec.ch/online_news/
justpub/jp_entry.htm) is also available by email. Please contact the Customer
Service Centre (see below) for further information.
• Customer Service Centre
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please contact the Customer Service Centre:
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INTERNATIONAL IEC
STANDARD 61000-4-11
Second edition
2004-03
BASIC EMC PUBLICATION
Electromagnetic compatibility (EMC) –
Part 4-11:
Testing and measurement techniques –
Voltage dips, short interruptions and
voltage variations immunity tests
IEC 2004 Copyright - all rights reserved
No part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical,
including photocopying and microfilm, without permission in writing from the publisher.
International Electrotechnical Commission, 3, rue de Varembé, PO Box 131, CH-1211 Geneva 20, Switzerland
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PRICE CODE
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Commission Electrotechnique Internationale
International Electrotechnical Commission
Международная Электротехническая Комиссия
For price, see current catalogue
61000-4-11 IEC:2004 – 3 –
CONTENTS
FOREWORD.5
INTRODUCTION.9
1 Scope.11
2 Normative references.11
3 Terms and definitions .11
4 General.15
5 Test levels.15
6 Test instrumentation.23
7 Test set-up.27
8 Test procedures.29
9 Evaluation of test results.33
10 Test report.35
Annex A (normative) Test circuit details.37
Annex B (informative) Electromagnetic environment classes.43
Annex C (informative) Test instrumentation .45
Bibliography .51
Figure 1 – Voltage dip - Examples .21
Figure 2 – Short interruption.21
Figure 3 – Voltage variation.23
Figure 4 – Phase-to-neutral and phase-to-phase testing on three-phase systems.33
Figure A.1 – Circuit for determining the inrush current drive capability of the short
interruptions generator .39
Figure A.2 – Circuit for determining the peak inrush current requirement of an EUT .41
Figure C.1 – Schematics of test instrumentation for voltage dips, short interruptions
and voltage variations .47
Figure C.2 – Schematic of test instrumentation for three-phase voltage dips, short
interruptions and voltage variations using power amplifier.49
Table 1 – Preferred test level and durations for voltage dips .17
Table 2 – Preferred test level and durations for short interruptions.17
Table 3 – Timing of short-term supply voltage variations.19
Table 4 – Generator specifications .25
61000-4-11 IEC:2004 – 5 –
INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION
____________
ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY (EMC) –
Part 4-11: Testing and measurement techniques –
Voltage dips, short interruptions and
voltage variations immunity tests
FOREWORD
1) The International Electrotechnical Commission (IEC) is a worldwide organization for standardization comprising
all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of IEC is to promote
international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To
this end and in addition to other activities, IEC publishes International Standards, Technical Specifications,
Technical Reports, Publicly Available Specifications (PAS) and Guides (hereafter referred to as “IEC
Publication(s)”). Their preparation is entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested
in the subject dealt with may participate in this preparatory work. International, governmental and non-
governmental organizations liaising with the IEC also participate in this preparation. IEC collaborates closely
with the International Organization for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by
agreement between the two organizations.
2) The formal decisions or agreements of IEC on technical matters express, as nearly as possible, an international
consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representation from all
interested IEC National Committees.
3) IEC Publications have the form of recommendations for international use and are accepted by IEC National
Committees in that sense. While all reasonable efforts are made to ensure that the technical content of IEC
Publications is accurate, IEC cannot be held responsible for the way in which they are used or for any
misinterpretation by any end user.
4) In order to promote international uniformity, IEC National Committees undertake to apply IEC Publications
transparently to the maximum extent possible in their national and regional publications. Any divergence
between any IEC Publication and the corresponding national or regional publication shall be clearly indicated in
the latter.
5) IEC provides no marking procedure to indicate its approval and cannot be rendered responsible for any
equipment declared to be in conformity with an IEC Publication.
6) All users should ensure that they have the latest edition of this publication.
7) No liability shall attach to IEC or its directors, employees, servants or agents including individual experts and
members of its technical committees and IEC National Committees for any personal injury, property damage or
other damage of any nature whatsoever, whether direct or indirect, or for costs (including legal fees) and
expenses arising out of the publication, use of, or reliance upon, this IEC Publication or any other IEC
Publications.
8) Attention is drawn to the Normative references cited in this publication. Use of the referenced publications is
indispensable for the correct application of this publication.
9) Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this IEC Publication may be the subject of
patent rights. IEC shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights.
International Standard IEC 61000-4-11 has been prepared by subcommittee 77A: Low
frequency phenomena, of IEC technical committee 77: Electromagnetic compatibility.
This second edition cancels and replaces the first edition published in 1994 and its amendment
1 (2000). This second edition constitutes a technical revision in which
1) preferred test values and durations have been added for the different environment classes;
2) the tests for the three-phase systems have been specified.
It forms part 4-11 of IEC 61000. It has the status of a Basic EMC Publication in accordance
with IEC Guide 107.
61000-4-11 IEC:2004 – 7 –
The text of this standard is based on the following documents:
FDIS Report on voting
77A/452/FDIS 77A/455/RVD
Full information on the voting for the approval of this standard can be found in the report on
voting indicated in the above table.
This publication has been drafted in accordance with the ISO/IEC Directives, Part 2.
The committee has decided that the contents of this publication will remain unchanged until
2008. At this date, the publication will be
• reconfirmed;
• withdrawn;
• replaced by a revised edition, or
• amended.
61000-4-11 IEC:2004 – 9 –
INTRODUCTION
IEC 61000 is published in separate parts according to the following structure:
Part 1: General
General considerations (introduction, fundamental principles)
Definitions, terminology
Part 2: Environment
Description of the environment
Classification of the environment
Compatibility levels
Part 3: Limits
Emission limits
Immunity limits (in so far as they do not fall under the responsibility of the product
committees)
Part 4: Testing and measurement techniques
Measurement techniques
Testing techniques
Part 5: Installation and mitigation guidelines
Installation guidelines
Mitigation methods and devices
Part 6: Generic standards
Part 9: Miscellaneous
Each part is further subdivided into several parts, published either as International Standards
or as technical specifications or technical reports, some of which have already been published
as sections. Others will be published with the part number followed by a dash and a second
number identifying the subdivision (example: 61000-6-1).
61000-4-11 IEC:2004 – 11 –
ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY (EMC) –
Part 4-11: Testing and measurement techniques –
Voltage dips, short interruptions and
voltage variations immunity tests
1 Scope
This part of IEC 61000 defines the immunity test methods and range of preferred test levels
for electrical and electronic equipment connected to low-voltage power supply networks for
voltage dips, short interruptions, and voltage variations.
This standard applies to electrical and electronic equipment having a rated input current not
exceeding 16 A per phase, for connection to 50 Hz or 60 Hz a.c. networks.
It does not apply to electrical and electronic equipment for connection to 400 Hz a.c. networks.
Tests for these networks will be covered by future IEC standards.
The object of this standard is to establish a common reference for evaluating the immunity of
electrical and electronic equipment when subjected to voltage dips, short interruptions and
voltage variations.
NOTE Voltage fluctuation immunity tests are covered by IEC 61000-4-14.
The test method documented in this part of IEC 61000 describes a consistent method to
assess the immunity of equipment or a system against a defined phenomenon. As described in
IEC Guide 107, this is a basic EMC publication for use by product committees of the IEC. As
also stated in Guide 107, the IEC product committees are responsible for determining whether
this immunity test standard should be applied or not, and, if applied, they are responsible for
defining the appropriate test leve
...
NORME CEI
INTERNATIONALE 61000-4-11
Deuxième édition
2004-03
PUBLICATION FONDAMENTALE EN CEM
Compatibilité électromagnétique (CEM) –
Partie 4-11:
Techniques d'essai et de mesure –
Essais d’immunité aux creux de tension,
coupures brèves et variations de tension
Cette version française découle de la publication d’origine
bilingue dont les pages anglaises ont été supprimées.
Les numéros de page manquants sont ceux des pages
supprimées.
Numéro de référence
CEI 61000-4-11:2004(F)
Numérotation des publications
Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI sont numérotées à partir de
60000. Ainsi, la CEI 34-1 devient la CEI 60034-1.
Editions consolidées
Les versions consolidées de certaines publications de la CEI incorporant les
amendements sont disponibles. Par exemple, les numéros d’édition 1.0, 1.1 et 1.2
indiquent respectivement la publication de base, la publication de base incorporant
l’amendement 1, et la publication de base incorporant les amendements 1 et 2
Informations supplémentaires sur les publications de la CEI
Le contenu technique des publications de la CEI est constamment revu par la CEI
afin qu'il reflète l'état actuel de la technique. Des renseignements relatifs à cette
publication, y compris sa validité, sont disponibles dans le Catalogue des
publications de la CEI (voir ci-dessous) en plus des nouvelles éditions, amende-
ments et corrigenda. Des informations sur les sujets à l’étude et l’avancement des
travaux entrepris par le comité d’études qui a élaboré cette publication, ainsi que la
liste des publications parues, sont également disponibles par l’intermédiaire de:
• Site web de la CEI (www.iec.ch)
• Catalogue des publications de la CEI
Le catalogue en ligne sur le site web de la CEI (www.iec.ch/searchpub) vous permet
de faire des recherches en utilisant de nombreux critères, comprenant des
recherches textuelles, par comité d’études ou date de publication. Des informations
en ligne sont également disponibles sur les nouvelles publications, les publications
remplacées ou retirées, ainsi que sur les corrigenda.
• IEC Just Published
Ce résumé des dernières publications parues (www.iec.ch/online_news/justpub)
est aussi disponible par courrier électronique. Veuillez prendre contact avec le
Service client (voir ci-dessous) pour plus d’informations.
• Service clients
Si vous avez des questions au sujet de cette publication ou avez besoin de
renseignements supplémentaires, prenez contact avec le Service clients:
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Tél: +41 22 919 02 11
Fax: +41 22 919 03 00
NORME CEI
INTERNATIONALE 61000-4-11
Deuxième édition
2004-03
PUBLICATION FONDAMENTALE EN CEM
Compatibilité électromagnétique (CEM) –
Partie 4-11:
Techniques d'essai et de mesure –
Essais d’immunité aux creux de tension,
coupures brèves et variations de tension
IEC 2004 Droits de reproduction réservés
Aucune partie de cette publication ne peut être reproduite ni utilisée sous quelque forme que ce soit et par aucun
procédé, électronique ou mécanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans l'accord écrit de l'éditeur.
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CODE PRIX
U
Commission Electrotechnique Internationale
International Electrotechnical Commission
Международная Электротехническая Комиссия
Pour prix, voir catalogue en vigueur
– 2 – 61000-4-11 CEI:2004
SOMMAIRE
AVANT-PROPOS .4
INTRODUCTION.8
1 Domaine d’application.10
2 Références normatives.10
3 Termes et définitions .10
4 Généralités.14
5 Niveaux d'essai.14
6 Instruments d'essai.22
7 Montage d'essai.26
8 Procédures d'essai.28
9 Evaluation des résultats d'essai .32
10 Rapport d'essai.34
Annexe A (normative) Détails sur les circuits d’essai .36
Annexe B (informative) Classes d'environnement électromagnétique .42
Annexe C (informative) Instruments d’essai.44
Bibliographie .50
Figure 1 – Creux de tension - Exemples .20
Figure 2 – Coupure brève.20
Figure 3 – Variation de tension.22
Figure 4 – Essai phase neutre et phase phase des systèmes triphasés.32
Figure A.1 – Circuit utilisé pour déterminer le courant d’appel crête du générateur
de coupures brèves.38
Figure A.2 – Circuit utilisé pour déterminer les conditions requises sur la valeur crête
du courant d’appel d’un EST .40
Figure C.1 – Schémas des instruments d’essai pour les creux de tension, les coupures
brèves et les variations de tension.46
Figure C.2 – Schéma des instruments d’essai pour les creux de tension, les coupures
brèves et les variations de tension triphasés à l’aide d’un amplificateur de puissance .48
Tableau 1 – Durées et niveaux d’essai préférés pour les creux de tension .16
Tableau 2 – Durées et niveaux d’essai préférés pour les coupures brèves .16
Tableau 3 – Durée des variations de tension d’alimentation à court terme.18
Tableau 4 – Spécifications du générateur .24
– 4 – 61000-4-11 CEI:2004
COMMISSION ÉLECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE
___________
COMPATIBILITÉ ÉLECTROMAGNÉTIQUE (CEM) –
Partie 4-11: Techniques d'essai et de mesure –
Essais d'immunité aux creux de tension,
coupures brèves et variations de tension
AVANT-PROPOS
1) La Commission Electrotechnique Internationale (CEI) est une organisation mondiale de normalisation composée
de l'ensemble des comités électrotechniques nationaux (Comités nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de
favoriser la coopération internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de
l'électricité et de l'électronique. A cet effet, la CEI – entre autres activités – publie des Normes internationales,
des Spécifications techniques, des Rapports techniques, des Spécifications accessibles au public (PAS) et des
Guides (ci-après dénommés "Publication(s) de la CEI"). Leur élaboration est confiée à des comités d'études,
aux travaux desquels tout Comité national intéressé par le sujet traité peut participer. Les organisations
internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent également aux
travaux. La CEI collabore étroitement avec l'Organisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des
conditions fixées par accord entre les deux organisations.
2) Les décisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques représentent, dans la mesure
du possible, un accord international sur les sujets étudiés, étant donné que les Comités nationaux de la CEI
intéressés sont représentés dans chaque comité d’études.
3) Les Publications de la CEI se présentent sous la forme de recommandations internationales et sont agréées
comme telles par les Comités nationaux de la CEI. Tous les efforts raisonnables sont entrepris afin que la CEI
s'assure de l'exactitude du contenu technique de ses publications; la CEI ne peut pas être tenue responsable de
l'éventuelle mauvaise utilisation ou interprétation qui en est faite par un quelconque utilisateur final.
4) Dans le but d'encourager l'uniformité internationale, les Comités nationaux de la CEI s'engagent, dans toute la
mesure possible, à appliquer de façon transparente les Publications de la CEI dans leurs publications
nationales et régionales. Toutes divergences entre toutes Publications de la CEI et toutes publications
nationales ou régionales correspondantes doivent être indiquées en termes clairs dans ces dernières.
5) La CEI n’a prévu aucune procédure de marquage valant indication d’approbation et n'engage pas sa
responsabilité pour les équipements déclarés conformes à une de ses Publications.
6) Tous les utilisateurs doivent s'assurer qu'ils sont en possession de la dernière édition de cette publication.
7) Aucune responsabilité ne doit être imputée à la CEI, à ses administrateurs, employés, auxiliaires ou
mandataires, y compris ses experts particuliers et les membres de ses comités d'études et des Comités
nationaux de la CEI, pour tout préjudice causé en cas de dommages corporels et matériels, ou de tout autre
dommage de quelque nature que ce soit, directe ou indirecte, ou pour supporter les coûts (y compris les frais
de justice) et les dépenses découlant de la publication ou de l'utilisation de cette Publication de la CEI ou de
toute autre Publication de la CEI, ou au crédit qui lui est accordé.
8) L'attention est attirée sur les références normatives citées dans cette publication. L'utilisation de publications
référencées est obligatoire pour une application correcte de la présente publication.
9) L’attention est attirée sur le fait que certains des éléments de la présente Publication de la CEI peuvent faire
l’objet de droits de propriété intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait être tenue pour
responsable de ne pas avoir identifié de tels droits de propriété et de ne pas avoir signalé leur existence.
La Norme internationale CEI 61000-4-11 a été établie par le sous-comité 77A: Phénomènes
basse fréquence, du comité d'études 77 de la CEI: Compatibilité électromagnétique.
Cette deuxième édition annule et remplace la première édition parue en 1994 et son
amendement 1 (2000). Cette deuxième édition constitue une révision technique dans laquelle
1) des durées et niveaux d'essai préférés pour les différentes classes d'environnement ont
été ajoutées ;
2) les essais pour les systèmes triphasés ont été précisés.
Elle constitue la partie 4-11 de la CEI 61000. Elle a le statut de publication fondamentale en
CEM conformément au Guide 107 de la CEI.
– 6 – 61000-4-11 CEI:2004
Le texte de cette norme est issu des documents suivants:
FDIS Rapport de vote
77A/452/FDIS 77A/455/RVD
Le rapport de vote indiqué dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant
abouti à l'approbation de cette norme.
Cette publication a été rédigée selon les Directives ISO/CEI, Partie 2.
Le comité a décidé que le contenu de cette publication ne sera pas modifié avant 2008. A cette
date, la publication sera:
• reconduite;
• supprimée;
• remplacée par une édition révisée, ou
• amendée.
– 8 – 61000-4-11 CEI:2004
INTRODUCTION
La CEI 61000 est publiée sous forme de plusieurs parties, conformément à la structure
suivante:
Partie 1: Généralités
Considérations générales (introduction, principes fondamentaux)
Définitions, terminologie
Partie 2: Environnement
Description de l'environnement
Classification de l'environnement
Niveaux de compatibilité
Partie 3: Limites
Limites d'émissions
Limites d'immunité (dans la mesure où elles ne relèvent pas de la responsabilité des
comités de produits)
Partie 4: Techniques d'essai et de mesure
Techniques de mesure
Techniques d'essai
Partie 5: Directives d'installation et d'atténuation
Directives d'installation
Méthodes et dispositifs d'atténuation
Partie 6: Normes génériques
Partie 9: Divers
Chaque partie est à son tour subdivisée en plusieurs parties, publiées soit comme Normes
internationales, soit comme spécifications techniques ou rapports techniques, dont certaines
ont déjà été publiées en tant que sections. D’autres seront publiées sous le numéro de la
partie, suivi d’un tiret et complété d’un second chiffre identifiant la subdivision (exemple:
61000-6-1).
– 10 – 61000-4-11 CEI:2004
COMPATIBILITÉ ÉLECTROMAGNÉTIQUE (CEM) –
Partie 4-11: Techniques d'essai et de mesure –
Essais d'immunité aux creux de tension,
coupures brèves et variations de tension
1 Domaine d’application
La présente partie de la CEI 61000 définit les méthodes d'essai d'immunité ainsi que la
gamme des niveaux d'essais préférés pour les matériels électriques et électroniques
connectés à des réseaux d'alimentation basse tension pour les creux de tension, les
coupures brèves et les variations de tension.
La présente norme s’applique aux matériels électriques et électroniques dont le courant
n
...
IEC 61000-4-11
Edition 2.0 2004-03
INTERNATIONAL
STANDARD
NORME
INTERNATIONALE
BASIC EMC PUBLICATION
PUBLICATION FONDAMENTALE EN CEM
Electromagnetic compatibility (EMC) –
Part 4-11: Testing and measurement techniques – Voltage dips, short
interruptions and voltage variations immunity tests
Compatibilité électromagnétique (CEM) –
Partie 4-11: Techniques d'essai et de mesure – Essais d'immunité aux creux
de tension, coupures brèves et variations de tension
All rights reserved. Unless otherwise specified, no part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by
any means, electronic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing from either IEC or
IEC's member National Committee in the country of the requester.
If you have any questions about IEC copyright or have an enquiry about obtaining additional rights to this publication,
please contact the address below or your local IEC member National Committee for further information.
Droits de reproduction réservés. Sauf indication contraire, aucune partie de cette publication ne peut être reproduite
ni utilisée sous quelque forme que ce soit et par aucun procédé, électronique ou mécanique, y compris la photocopie
et les microfilms, sans l'accord écrit de la CEI ou du Comité national de la CEI du pays du demandeur.
Si vous avez des questions sur le copyright de la CEI ou si vous désirez obtenir des droits supplémentaires sur cette
publication, utilisez les coordonnées ci-après ou contactez le Comité national de la CEI de votre pays de résidence.
IEC Central Office
3, rue de Varembé
CH-1211 Geneva 20
Switzerland
Email: inmail@iec.ch
Web: www.iec.ch
About the IEC
The International Electrotechnical Commission (IEC) is the leading global organization that prepares and publishes
International Standards for all electrical, electronic and related technologies.
About IEC publications
The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC. Please make sure that you have the
latest edition, a corrigenda or an amendment might have been published.
ƒ Catalogue of IEC publications: www.iec.ch/searchpub
The IEC on-line Catalogue enables you to search by a variety of criteria (reference number, text, technical committee,…).
It also gives information on projects, withdrawn and replaced publications.
ƒ IEC Just Published: www.iec.ch/online_news/justpub
Stay up to date on all new IEC publications. Just Published details twice a month all new publications released. Available
on-line and also by email.
ƒ Electropedia: www.electropedia.org
The world's leading online dictionary of electronic and electrical terms containing more than 20 000 terms and definitions
in English and French, with equivalent terms in additional languages. Also known as the International Electrotechnical
Vocabulary online.
ƒ Customer Service Centre: www.iec.ch/webstore/custserv
If you wish to give us your feedback on this publication or need further assistance, please visit the Customer Service
Centre FAQ or contact us:
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Fax: +41 22 919 03 00
A propos de la CEI
La Commission Electrotechnique Internationale (CEI) est la première organisation mondiale qui élabore et publie des
normes internationales pour tout ce qui a trait à l'électricité, à l'électronique et aux technologies apparentées.
A propos des publications CEI
Le contenu technique des publications de la CEI est constamment revu. Veuillez vous assurer que vous possédez
l’édition la plus récente, un corrigendum ou amendement peut avoir été publié.
ƒ Catalogue des publications de la CEI: www.iec.ch/searchpub/cur_fut-f.htm
Le Catalogue en-ligne de la CEI vous permet d’effectuer des recherches en utilisant différents critères (numéro de référence,
texte, comité d’études,…). Il donne aussi des informations sur les projets et les publications retirées ou remplacées.
ƒ Just Published CEI: www.iec.ch/online_news/justpub
Restez informé sur les nouvelles publications de la CEI. Just Published détaille deux fois par mois les nouvelles
publications parues. Disponible en-ligne et aussi par email.
ƒ Electropedia: www.electropedia.org
Le premier dictionnaire en ligne au monde de termes électroniques et électriques. Il contient plus de 20 000 termes et
définitions en anglais et en français, ainsi que les termes équivalents dans les langues additionnelles. Egalement appelé
Vocabulaire Electrotechnique International en ligne.
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IEC 61000-4-11
Edition 2.0 2004-03
INTERNATIONAL
STANDARD
NORME
INTERNATIONALE
BASIC EMC PUBLICATION
PUBLICATION FONDAMENTALE EN CEM
Electromagnetic compatibility (EMC) –
Part 4-11: Testing and measurement techniques – Voltage dips, short
interruptions and voltage variations immunity tests
Compatibilité électromagnétique (CEM) –
Partie 4-11: Techniques d'essai et de mesure – Essais d'immunité aux creux
de tension, coupures brèves et variations de tension
INTERNATIONAL
ELECTROTECHNICAL
COMMISSION
COMMISSION
ELECTROTECHNIQUE
PRICE CODE
INTERNATIONALE
U
CODE PRIX
ICS 33.100.20 ISBN 2-8318-7449-1
– 1 –
SC 77A/Publication 61000-4-11 (2004), Second edition/I-SH 01
ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY (EMC) –
Part 4-11: Testing and measurement techniques –
Voltage dips, short interruptions and voltage variations immunity tests
INTERPRETATION SHEET 1
This interpretation sheet has been prepared by subcommittee 77A: Low frequency
phenomena, of IEC technical committee 77: Electromagnetic compatibility.
The text of this interpretation sheet is based on the following documents:
ISH Report on voting
77A/726/ISH 77A/731/RVD
Full information on the voting for the approval of this interpretation sheet can be found in the
report on voting indicated in the above table.
___________
Interpretation of the rise-time and fall-time requirements during EUT testing in IEC
61000-4-11:2004: Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4-11: Testing and
measurement techniques – Voltage dips, short interruptions and voltage variations
immunity tests.
1) In IEC 61000-4-11:2004, Table 4 does not apply to EUT (equipment under test) testing.
Table 4 is for generator calibration and design only.
2) With reference to Table 1 and Table 2, there is no requirement in 61000-4-11:2004 for
rise-time and fall-time when testing EUT; therefore, it is not necessary to measure these
parameters during tests.
3) With reference to Table 4, all of the requirements apply to design and calibration of the
generator. The requirements of Table 4 only apply when the load is a non-inductive 100 Ω
resistor. The requirements of Table 4 do not apply during EUT testing.
August 2010 ICS 33.100.20 French text overleaf
61000-4-11 IEC:2004 – 3 – – 2 – 61000-4-11 © IEC:2004
CONTENTS
FOREWORD.3
INTRODUCTION.5
1 Scope.6
2 Normative references.6
3 Terms and definitions .6
4 General.8
5 Test levels.8
6 Test instrumentation.12
7 Test set-up.14
8 Test procedures.15
9 Evaluation of test results.17
10 Test report.18
Annex A (normative) Test circuit details.19
Annex B (informative) Electromagnetic environment classes.22
Annex C (informative) Test instrumentation .23
Bibliography .26
Figure 1 – Voltage dip - Examples .11
Figure 2 – Short interruption.11
Figure 3 – Voltage variation.12
Figure 4 – Phase-to-neutral and phase-to-phase testing on three-phase systems.17
Figure A.1 – Circuit for determining the inrush current drive capability of the short
interruptions generator .20
Figure A.2 – Circuit for determining the peak inrush current requirement of an EUT .21
Figure C.1 – Schematics of test instrumentation for voltage dips, short interruptions
and voltage variations .24
Figure C.2 – Schematic of test instrumentation for three-phase voltage dips, short
interruptions and voltage variations using power amplifier.25
Table 1 – Preferred test level and durations for voltage dips .9
Table 2 – Preferred test level and durations for short interruptions.9
Table 3 – Timing of short-term supply voltage variations.10
Table 4 – Generator specifications .13
61000-4-11 © IEC:2004 61000-4-11 IEC:2004 – 5 – – 3 –
INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION
____________
ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY (EMC) –
Part 4-11: Testing and measurement techniques –
Voltage dips, short interruptions and
voltage variations immunity tests
FOREWORD
1) The International Electrotechnical Commission (IEC) is a worldwide organization for standardization comprising
all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of IEC is to promote
international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To
this end and in addition to other activities, IEC publishes International Standards, Technical Specifications,
Technical Reports, Publicly Available Specifications (PAS) and Guides (hereafter referred to as “IEC
Publication(s)”). Their preparation is entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested
in the subject dealt with may participate in this preparatory work. International, governmental and non-
governmental organizations liaising with the IEC also participate in this preparation. IEC collaborates closely
with the International Organization for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by
agreement between the two organizations.
2) The formal decisions or agreements of IEC on technical matters express, as nearly as possible, an international
consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representation from all
interested IEC National Committees.
3) IEC Publications have the form of recommendations for international use and are accepted by IEC National
Committees in that sense. While all reasonable efforts are made to ensure that the technical content of IEC
Publications is accurate, IEC cannot be held responsible for the way in which they are used or for any
misinterpretation by any end user.
4) In order to promote international uniformity, IEC National Committees undertake to apply IEC Publications
transparently to the maximum extent possible in their national and regional publications. Any divergence
between any IEC Publication and the corresponding national or regional publication shall be clearly indicated in
the latter.
5) IEC provides no marking procedure to indicate its approval and cannot be rendered responsible for any
equipment declared to be in conformity with an IEC Publication.
6) All users should ensure that they have the latest edition of this publication.
7) No liability shall attach to IEC or its directors, employees, servants or agents including individual experts and
members of its technical committees and IEC National Committees for any personal injury, property damage or
other damage of any nature whatsoever, whether direct or indirect, or for costs (including legal fees) and
expenses arising out of the publication, use of, or reliance upon, this IEC Publication or any other IEC
Publications.
8) Attention is drawn to the Normative references cited in this publication. Use of the referenced publications is
indispensable for the correct application of this publication.
9) Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this IEC Publication may be the subject of
patent rights. IEC shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights.
International Standard IEC 61000-4-11 has been prepared by subcommittee 77A: Low
frequency phenomena, of I
...
IEC 61000-4-11 ®
Edition 2.1 2017-05
CONSOLIDATED VERSION
INTERNATIONAL
STANDARD
NORME
INTERNATIONALE
colour
inside
BASIC EMC PUBLICATION
PUBLICATION FONDAMENTALE
Electromagnetic compatibility (EMC) –
Part 4-11: Testing and measurement techniques – Voltage dips, short
interruptions and voltage variations immunity tests
Compatibilité électromagnétique (CEM) –
Partie 4-11: Techniques d'essai et de mesure – Essais d'immunité aux creux de
tension, coupures brèves et variations de tension
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or by any means, electronic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing from
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questions sur le copyright de l'IEC ou si vous désirez obtenir des droits supplémentaires sur cette publication, utilisez
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3, rue de Varembé Fax: +41 22 919 03 00
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International Standards for all electrical, electronic and related technologies.
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latest edition, a corrigenda or an amendment might have been published.
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The stand-alone application for consulting the entire The world's leading online dictionary of electronic and
bibliographical information on IEC International Standards, electrical terms containing 20 000 terms and definitions in
Technical Specifications, Technical Reports and other English and French, with equivalent terms in 16 additional
documents. Available for PC, Mac OS, Android Tablets and languages. Also known as the International Electrotechnical
iPad. Vocabulary (IEV) online.
IEC publications search - www.iec.ch/searchpub IEC Glossary - std.iec.ch/glossary
The advanced search enables to find IEC publications by a 65 000 electrotechnical terminology entries in English and
variety of criteria (reference number, text, technical French extracted from the Terms and Definitions clause of
committee,…). It also gives information on projects, replaced IEC publications issued since 2002. Some entries have been
and withdrawn publications. collected from earlier publications of IEC TC 37, 77, 86 and
CISPR.
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La Commission Electrotechnique Internationale (IEC) est la première organisation mondiale qui élabore et publie des
Normes internationales pour tout ce qui a trait à l'électricité, à l'électronique et aux technologies apparentées.
A propos des publications IEC
Le contenu technique des publications IEC est constamment revu. Veuillez vous assurer que vous possédez l’édition la
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Spécifications techniques, Rapports techniques et autres
et en français, ainsi que les termes équivalents dans 16
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langues additionnelles. Egalement appelé Vocabulaire
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65 000 entrées terminologiques électrotechniques, en anglais
en utilisant différents critères (numéro de référence, texte,
et en français, extraites des articles Termes et Définitions des
comité d’études,…). Elle donne aussi des informations sur les
publications IEC parues depuis 2002. Plus certaines entrées
projets et les publications remplacées ou retirées.
antérieures extraites des publications des CE 37, 77, 86 et
CISPR de l'IEC.
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Part 4-11: Testing and measurement techniques – Voltage dips, short
interruptions and voltage variations immunity tests
Compatibilité électromagnétique (CEM) –
Partie 4-11: Techniques d'essai et de mesure – Essais d'immunité aux creux de
tension, coupures brèves et variations de tension
INTERNATIONAL
ELECTROTECHNICAL
COMMISSION
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ELECTROTECHNIQUE
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ICS 33.100.20 ISBN 978-2-8322-4402-9
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REDLINE VERSION
VERSION REDLINE
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PUBLICATION FONDAMENTALE
Electromagnetic compatibility (EMC) –
Part 4-11: Testing and measurement techniques – Voltage dips, short
interruptions and voltage variations immunity tests
Compatibilité électromagnétique (CEM) –
Partie 4-11: Techniques d'essai et de mesure – Essais d'immunité aux creux de
tension, coupures brèves et variations de tension
– 1 –
SC 77A/Publication 61000-4-11 (2004), Second edition/I-SH 01
ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY (EMC) –
Part 4-11: Testing and measurement techniques –
Voltage dips, short interruptions and voltage variations immunity tests
INTERPRETATION SHEET 1
This interpretation sheet has been prepared by subcommittee 77A: Low frequency
phenomena, of IEC technical committee 77: Electromagnetic compatibility.
The text of this interpretation sheet is based on the following documents:
ISH Report on voting
77A/726/ISH 77A/731/RVD
Full information on the voting for the approval of this interpretation sheet can be found in the
report on voting indicated in the above table.
___________
Interpretation of the rise-time and fall-time requirements during EUT testing in IEC
61000-4-11:2004: Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4-11: Testing and
measurement techniques – Voltage dips, short interruptions and voltage variations
immunity tests.
1) In IEC 61000-4-11:2004, Table 4 does not apply to EUT (equipment under test) testing.
Table 4 is for generator calibration and design only.
2) With reference to Table 1 and Table 2, there is no requirement in 61000-4-11:2004 for
rise-time and fall-time when testing EUT; therefore, it is not necessary to measure these
parameters during tests.
3) With reference to Table 4, all of the requirements apply to design and calibration of the
generator. The requirements of Table 4 only apply when the load is a non-inductive 100 Ω
resistor. The requirements of Table 4 do not apply during EUT testing.
August 2010 ICS 33.100.20 French text overleaf
– 22 – IEC 61000-4-11:2004+AMD1:2017 CSV
IEC 2017
CONTENTS
FOREWORD . 3
INTRODUCTION . 5
1 Scope . 6
2 Normative references . 6
3 Terms and definitions . 6
4 General . 8
5 Test levels . 8
6 Test instrumentation . 12
7 Test set-up . 14
8 Test procedures . 15
9 Evaluation of test results . 17
10 Test report . 18
Annex A (normative) Test circuit details . 19
Annex B (informative) Electromagnetic environment classes . 22
Annex C (informative) Test instrumentation . 23
Annex D (informative) Rationale for generator specification regarding voltage, rise-time
and fall-time, and inrush current capability . 26
Bibliography . 29
Figure 1 – Voltage dip - Examples . 11
Figure 2 – Short interruption . 11
Figure 3 – Voltage variation . 12
Figure 4 – Phase-to-neutral and phase-to-phase testing on three-phase systems . 17
Figure A.1 – Circuit for determining the inrush current drive capability of the short
interruptions generator . 20
Figure A.2 – Circuit for determining the peak inrush current requirement of an EUT . 21
Figure C.1 – Schematics of test instrumentation for voltage dips, short interruptions
and voltage variations . 24
Figure C.2 – Schematic of test instrumentation for three-phase voltage dips, short
interruptions and voltage variations using power amplifier . 25
Table 1 – Preferred test level and durations for voltage dips . 9
Table 2 – Preferred test level and durations for short interruptions . 9
Table 3 – Timing of short-term supply voltage variations . 10
Table 4 – Generator specifications . 13
IEC 2017
INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION
____________
ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY (EMC) –
Part 4-11: Testing and measurement techniques –
Voltage dips, short interruptions and
voltage variations immunity tests
FOREWORD
1) The International Electrotechnical Commission (IEC) is a worldwide organization for standardization comprising
all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of IEC is to promote
international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To
this end and in addition to other activities, IEC publishes International Standards, Technical Specifications,
Technical Reports, Publicly Available Specifications (PAS) and Guides (hereafter referred to as “IEC
Publication(s)”). Their preparation is entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested
in the subject dealt with may participate in this preparatory work. International, governmental and non-
governmental organizations liaising with the IEC also participate in this preparation. IEC collaborates closely
with the International Organization for Standardization (ISO) in
...
Questions, Comments and Discussion
Ask us and Technical Secretary will try to provide an answer. You can facilitate discussion about the standard in here.