IEC 60758:1993/AMD1:1997

Amendment 1 - Synthetic quartz crystal - Specifications and guide to the use

Amendement 1 - Cristal de quartz synthétique - Spécifications et guide d'utilisation

General Information

• Status: Published
• Publication Date: 27-Apr-1997
• ICS: 31.140 - Piezoelectric devices
• Technical Committee: TC 49 - Piezoelectric, dielectric and electrostatic devices and associated materials for frequency control, selection and detection
• Drafting Committee: WG 5 - TC 49/WG 5
• Current Stage: DELPUB - Deleted Publication
• Start Date: 14-Dec-2004
• Completion Date: 26-Oct-2025

Relations

• Revised: IEC 60758:2004 - Synthetic quartz crystal - Specifications and guide to the use
• Effective Date: 05-Sep-2023

Standards Content (Sample)

NORME
CEI
INTERNATIONALE
IEC
INTERNATIONAL
STANDARD
AMENDEMENT 1
AMENDMENT 1
1997-05
Amendement 1
Cristal de quartz synthétique –
Spécifications et guide d'utilisation
Amendment 1
Synthetic quartz crystal –
Specifications and guide to the use

 IEC 1997 Droits de reproduction réservés  Copyright - all rights reserved
International Electrotechnical Commission 3, rue de Varembé Geneva, Switzerland
Telefax: [phone] e-mail: [e-mail] IEC web site http: //www.iec.ch
CODE PRIX
Commission Electrotechnique Internationale
PRICE CODE E
International Electrotechnical Commission
Pour prix, voir catalogue en vigueur
For price, see current catalogue

– 2 – 60758 amend. 1 © CEI:1997

AVANT-PROPOS
Le présent amendement a été établi par le comité d'études 49 de la CEI: Dispositifs

piézoélectriques et diélectriques pour la commande et le choix de la fréquence.

Le texte de cet amendement est issu des documents suivants:

FDIS Rapport de vote
49/356/FDIS 49/377/RVD
Le rapport de vote indiqué dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant
abouti à l'approbation de cet amendement.
__________
Page 4
SOMMAIRE
Ajouter le titre de la section 4 et des articles 4.1, 4.2 et 4.3 suivants:
SECTION 4: RÈGLE DE CONTRÔLE POUR LE CRISTAL DE QUARTZ SYNTHÉTIQUE
ET LE CRISTAL DE QUARTZ SYNTHÉTIQUE PRÉÉBAUCHÉ
4.1 Domaine d'application
4.2 Règle de contrôle pour le cristal de quartz synthétique
4.3 Règle de contrôle pour le cristal de quartz synthétique préébauché
Page 8
1.2 Références normatives
Ajouter à la liste existante, le titre de la norme suivante:
CEI 60410: 1973, Plans et règles d'échantillonnage pour les contrôles par attributs

Page 46
Ajouter, après le texte de la section 3, la nouvelle section suivante:
Section 4: Règle de contrôle pour le cristal de quartz synthétique
et le cristal de quartz synthétique préébauché
4.1  Domaine d'application
Cette règle de contrôle s'applique aux cristaux de quartz synthétique et cristaux de quartz
synthétique préébauchés destinés à être utilisés pour la fabrication d'éléments piézoélectriques
pour la commande et le choix de la fréquence.

60758 Amend. 1 © IEC:1997 – 3 –

FOREWORD
This amendment has been prepared by IEC technical committee 49: Piezoelectric and

dielectric devices for frequency control and selection.

The text of this amendment is based on the following documents:

FDIS Report on voting
49/356/FDIS 49/377/RVD
Full information on the voting for the approval of this amendment can be found in the report on
voting indicated in the above table.
__________
Page 5
CONTENTS
Add the title of section 4 and of clauses 4.1, 4.2 and 4.3 as follows:
SECTION 4: INSPECTION RULE FOR SYNTHETIC QUARTZ CRYSTAL AND
LUMBERED SYNTHETIC QUARTZ CRYSTAL
4.1 Scope
4.2 Inspection rule for synthetic quartz crystal
4.3 Inspection rule for lumbered synthetic quartz crystal
Page 9
1.2 Normative references
Add the title of the following standard to the existing list:
IEC 60410: 1973, Sampling plans and procedures for inspection by attributes

Page 47
Add, after the text of section 3, the following new section:
Section 4: Inspection rule for synthetic quartz crystal
and lumbered synthetic quartz crystal
4.1 Scope
This inspection rule applies to synthetic quartz crystals and lumbered quartz crystals intended
for the manufacture of piezoelectric elements for frequency control and selection.

– 4 – 60758 amend. 1 © CEI:1997

4.2  Règle de contrôle pour le cristal de quartz synthétique

4.2.1 Le contrôle d'un cristal de quartz synthétique comprend l'essai lot par lot et l'essai périodique.

4.2.2 L'essai lot par lot
L'essai lot par lot est formé du contrôle du groupe A et du contrôle du groupe B.

4.2.2.1 Contrôle du groupe A
Le programme du contrôle du groupe A est donné dans le tableau qui suit.

L'échantillonnage statistique et le contrôle doivent être effectués conformément à la CEI 60410,
ou comme autrement agréé entre l'acheteur et le vendeur.
Les spécimens utilisés pour les essais du groupe A peuvent être utilisés comme spécimens
pour les essais du groupe B.
Dans le tableau suivant:
Les numéros des paragraphes des conditions d'essais et des exigences de performances font
référence à la section 1 de la présente norme.
D = essai destructif
ND = essai non destructif
NC = niveau de contrôle
NQA = niveau de qualité acceptable
NQA Exigences
Essai D ou ND Conditions d’essais NC
% de performances
Groupe A ND II 0,1
Dimensions minimales et 1.5.3 1.5.3
maximales spécifiées d’un
cristal de quartz synthétique
Macles 1.5.5.1 1.5.5.1
Fêlures et fractures 1.5.5.2 1.5.5.2
Inclusions ND 1.5.5.3 II 0,4 1.4.2
4.2.2.2 Contrôle du groupe B
Le programme d'essais du groupe B est donné dans le tableau qui suit, ou comme autrement
agréé entre l'acheteur et le vendeur.
Les spécimens du groupe B peuvent être choisis parmi les spécimens essayés dans le groupe A.

60758 Amend. 1 © IEC:1997 – 5 –

4.2 Inspection rule for synthetic quartz crystal

4.2.1 The inspection of synthetic quartz crystal comprises lot-by-lot tests and periodic tests.

4.2.2 Lot-by-lot test
The lot-by-lot test consists of group A and group B inspection.

4.2.2.1 Group A inspection
The test schedule for group A inspection is given in the following table.

The statistical sampling and the inspection shall be in accordance with IEC 60410, or as
otherwise agreed between buyer and seller.
The samples used for tests in group A may be used as the samples for group B tests.
In the following table:
Subclause numbers of test conditions and performance requirements refer to section 1 of this
standard.
D = destructive
ND = non-destructive
IL = inspection level
AQL = acceptable quality level
AQL Performance
Test D or ND Test conditions IL
% requirements
Group A ND II 0,1
Minimum and maximum 1.5.3 1.5.3
specified synthetic quartz
crystal dimensions
Twinning 1.5.5.1 1.5.5.1
Cracks and fractures 1.5.5.2 1.5.5.2
Inclusions ND 1.5.5.3 II 0,4 1.4.2
4.2.2.2 Group B inspection
The test schedule for group B is given in the following table, or as otherwise agreed between
buyer and seller.
The samples for group B may be selected from the samples tested in group A.

– 6 – 60758 amend. 1 © CEI:1997

Dans le tableau suivant:
Les numéros des paragraphes des conditions d'essais et des exigences de performances font

référence à la section 1 de la présente norme.

n = nombre de spécimens (bloc Z ou barreau Y)

c = critère d'acceptation (nombre de spécimens défectueux autorisé)

D = essai destructif
ND = essai non destructif
Nombre de spécimens
Conditions et critères d’acceptation Exigences de
Essai D ou ND
d’essais performances
nc
Groupe B D
Evaluation de la qualité 1.5.6 Un ou plus comme agréé 0 1.4.3
par la méthode de mesure entre l’acheteur et le vendeur
du coefficient d’extinction à condition que l’échantillon
représente un groupe de
infrarouge α
grandes dimensions destiné
pour l’approbation
Densité des canaux D 1.5.8 Un ou plus comme agréé 0 1.4.5
de corrosion entre l’acheteur et le vendeur
La mesure de densité des canaux de corrosion et du coefficient d'extinction infrarouge α peut
être effectuée sur les mêmes spécimens.
4.2.3 Vérification périodique de α
L'intervalle de vérification d'alpha et la procédure de vérification doivent être comme agréé
entre l'acheteur et le vendeur.
4.3 Règle de contrôle pour le cristal de quartz synthétique préébauché
4.3.1 Essai lot par lot
4.3.1.1 Lot de contrôle
Le lot de contrôle doit être constitué de tous les cristaux de quartz synthétique préébauchés
fabriqué et fourni pour l'inspection dans le même temps. Le matériau brut pour le cristal de

quartz synthétique préébauché doit être en conformité avec les valeurs normalisées, les
exigences associées et les méthodes de mesure de la présente norme.
4.3.1.2 Exigences de contrôle
Le programme d'essais lot par lot est donné dans le tableau qui suit.
L'échantillonnage statistique et le contrôle doivent être effectués en conformité avec la CEI 60410,
ou comme autrement agréé entre l’acheteur et le vendeur.

60758 Amend. 1 © IEC:1997 – 7 –

In the following table:
Subclause numbers of test conditions and performance requirements refer to section 1 of this

standard.
n = sample size (Z-block or Y-bar)

c = acceptance criterion (permitted number of defectives)

D = destructive
ND = non-destructive
Sample size and criterion
Test of acceptability Performance
Test D or ND
conditions requirements
nc
Group B D
Evaluation of infra-red 1.5.6 One or more as agreed 0 1.4.3
between buyer and seller
quality by α-measurement
provided one sample
represents the large size
group intended for
application
Etch channel density D 1.5.8 One or more as agreed 0 1.4.5
between buyer and seller
Etch channel and α-measurement may be performed on the same samples.
4.2.3 Periodic α-verification
The α-verification interval and procedure shall be as agreed between buyer and seller.
4.3 Inspection rule for lumbered synthetic quartz crystal
4.3.1 Lot-by-lot test
4.3.1.1 Inspection lot
An inspection lot shall consist of all the lumbered synthetic quartz crystals produced and
offered for inspection at one time.
Raw material for lumbered synthetic quartz crystal shall be in accordance with the standard

values, related requirements and measuring methods of this standard.
4.3.1.2 Inspection requirements
The schedule for the lot-by-lot test is given in the following table.
The statistical sampling and inspection shall be in accordance with IEC 60410, or as otherwise
agreed between buyer and seller.

– 8 – 60758 amend. 1 © CEI:1997

Dans le tableau suivant:
Les numéros de paragraphes des conditions d'essais et les exigences de performance font

référence à la section 3 de la présente norme.

D = essai destructif
ND = essai non destructif
NC = niveau de contrôle
NQA = niveau de qualité acceptable

NQA Exigences
Essai D ou ND Conditions d’essais NC
% de performances
ND II 0,4
Tolérance sur les dimensions 3.3.1 3.3.1
3.4.1 3.4.1
Planéité de la surface 3.3.2
3.3.2
référence
Tolérance angulaire sur la
3.3.3 3.3.3
surface de référence
Excentricité du germe
3.3.4 3.3.4
II
Vérification de l’identification 0,1
3.2.2
de la surface de référence
__________
60758 Amend. 1 © IEC:1997 – 9 –

In the following table:
Subclause numbers of test conditions and performance requirements refer to section 3 of this

standard.
D = destructive
ND = non-destructive
IL = inspection level
AQL = acceptable quality level

AQL Performance
Test D or ND Test conditions IL
% requirements
ND II 0,4
Tolerance of dimensions 3.3.1 3.3.1
3.4.1 3.4.1
Reference surface flatness 3.3.2
3.3.2
Angular tolerance of reference
surface
3.3.3 3.3.3
Centrality of the seed
3.3.4 3.3.4
Verification of reference II
3.2.2 0,1
surface identification
__________
Standards Survey
We at the IEC want to know how our standards are used once they are published.

The answers to this survey will help us to improve IEC standards and standard related

information to meet your future needs

Would you please take a minute to answer the survey on the other side and mail or fax to:

Customer Service Centre (CSC)
International Electrotechnical Commission
3, rue de Varembé
Case postale 131
1211 Geneva 20
Switzerland
or
Fax to: CSC at [phone]
Thank you for your contribution to the standards making process.
Nicht frankieren
Ne pas affranchir
A Prioritaire
Non affrancare
No stamp required
RÉPONSE PAYÉE
SUISSE
Customer Service Centre (CSC)
International Electrotechnical Commission
3, rue de Varembé
Case postale 131
1211 GENEVA 20
Switzerland
1. 7. 13.
No. of IEC standard: Please rate the standard in the following If you said yes to 12 then how many
areas as (1) bad, (2) below average, volumes:
(3) average, (4) above average,
.......................................................
(5) exceptional, (0) not applicable:
................................................

clearly written
2.
14.
logically arranged
Tell us why you have the standard.

Which standards organizations
(check as many as apply). I am:
information given by tables
published the standards in your

library (e.g. ISO, DIN, ANSI, BSI,
the buyer
illustrations
etc.):
the user
technical information
a librarian
8. .
a researcher
I would like to know how I can legally
15.
reproduce this standard for:
an  engineer
My organization supports the
internal use
a safety expert standards-making process (check as
many as apply):
sales information
involved in testing
product demonstration
with a government agency
buying standards
other.
in industry
using standards
other. 9.
membership in standards
organization
In what medium of standard does your
3.
organization maintain most of its
serving on standards
standards (check one):
development committee
This standard was purchased from?
paper
other.
.......................................................
microfilm/microfiche
16.
mag tapes
My organization uses (check one)
4.
CD-ROM
This standard will be used
French text only
floppy disk
(check as many as apply):
English text only
on line
for reference
Both English/French text
in a standards library
9A.
17.
to develop a new product
If your organization currently maintains
part or all of its standards collection in
Other comments:
to write specifications
electronic media, please indicate the
to use in a tender format(s):
........................................................
for educational purposes raster image
........................................................
for a lawsuit
full text
for quality assessment
10.
........................................................
for certification
In what medium does your organization
intend to maintain its standards collection
........................................................
for general information
in the future (check all that apply):
for design purposes
paper
........................................................
for testing
microfilm/microfiche
other.
........................................................
mag tape
CD-ROM
5. 18.
floppy disk
This standard will be used in conjunction
Please give us information about you

with (check as many as apply): and your company
on line
IEC
10A.
name: .
ISO
For electronic media which format will be
corporate chosen (check one)
job title:.
other (published by. ) raster image
company: .
full text
other (published by. )
other (published by. )
11.
address:.
My organization is in the following sector
6.
(e.g. engineering, manufacturing) .
This standard meets my needs
...............................................
(check one)
........................................................
12.
not at all
........................................................
Does your organization have a standards
almost
library:
fairly well
No. employees at your location:.
yes
exactly
no
turnover/sales:.

Enquête sur les normes
La CEI se préoccupe de savoir comment ses normes sont accueillies et utilisées.

Les réponses que nous procurera cette enquête nous aideront tout à la fois à améliorer nos

normes et les informations qui les concernent afin de toujours mieux répondre à votre attente.

Nous aimerions que vous nous consacriez une petite minute pour remplir le questionnaire

joint que nous vous invitons à retourner au:
Centre du Service Clientèle (CSC)
Commission Electrotechnique Internationale
3, rue de Varembé
Case postale 131
1211 Genève 20
Suisse
Télécopie: IEC/CSC [phone]
Nous vous remercions de la contribution que vous voudrez bien apporter ainsi
à la Normalisation Internationale
Nicht frankieren
Ne pas affranchir
A
Prioritaire
Non affrancare
No stamp required
RÉPONSE PAYÉE
SUISSE
Centre du Service Clientèle (CSC)
Commission Electrotechnique Internationale
3, rue de Varembé
Case postale 131
1211 GENÈVE 20
Sui
...