Semiconductor optoelectronic devices for fibre optic system applications - Part 2: Measuring methods

IEC 62007-2:2009 describes the measuring methods applicable to the semiconductor optoelectronic devices to be used in the field of fibre optic digital communication systems and subsystems. This edition includes the following significant technical changes with respect to the previous edition:
- descriptions related to analogue characteristics have been removed;
- some definitions and terms have been revised for harmonisation with other standards originating from SC 86C.

Dispositifs optoélectroniques à semiconducteurs pour application dans les systèmes à fibres optiques - Partie 2: Méthodes de mesure

La CEI 62007-2:2009 décrit les méthodes de mesure applicables aux dispositifs optoélectroniques à semi-conducteurs utilisés dans le domaine des systèmes et sous-systèmes de télécommunication numérique à fibres optiques. La présente édition inclut les modifications techniques majeures suivantes par rapport à l'édition précédente:
- les descriptions relatives aux caractéristiques analogiques ont été retirées;
- certains termes et définitions ont été revus afin de les harmoniser avec ceux des autres normes émises par le SC 86C.

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Status
Published
Publication Date
25-Jan-2009
Current Stage
PPUB - Publication issued
Start Date
31-Jan-2009
Completion Date
26-Jan-2009
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IEC 62007-2:2009 - Semiconductor optoelectronic devices for fibre optic system applications - Part 2: Measuring methods
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Standards Content (Sample)

IEC 62007-2
Edition 2.0 2009-01
INTERNATIONAL
STANDARD
NORME
INTERNATIONALE


Semiconductor optoelectronic devices for fibre optic system applications –
Part 2: Measuring methods

Dispositifs optoélectroniques à semiconducteurs pour application dans les
systèmes à fibres optiques –
Partie 2: Méthodes de mesure

IEC 62007-2:2009

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