ISO 8769-2:1996
(Main)Reference sources for the calibration of surface contamination monitors — Part 2: Electrons of energy less than 0,15 MeV and photons of energy less than 1,5 MeV
Reference sources for the calibration of surface contamination monitors — Part 2: Electrons of energy less than 0,15 MeV and photons of energy less than 1,5 MeV
Specifies the characteristics of reference sources for the calibration of surface contamination monitors that are traceable to national measurement standards. Relates to a series of sources emitting electrones of energy less than 0,15 MeV and photons of energy less than 1,5 MeV.
Sources de référence destinées à l'étalonnage de sondes de contamination de surface — Partie 2: Électrons d'énergie inférieure à 0,15 MeV et photons d'énergie inférieure à 1,5 MeV
General Information
Relations
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Standards Content (Sample)
IS0
INTERNATIONAL
8769-2
STANDARD
First edition
1996-l 1-I 5
Reference sources for the calibration of
surface contamination monitors -
Part 2:
Electrons of energy less than 0,15 MeV and-
photons of energy less than I,5 MeV
Sources de rgfkrence destinkes i Malonnage de contr6leurs de
contamination de surface -
Partie 2: Electrons d’knergie infbrieure i 0,15 MeV et photons d’knergie
infbieure 2 I,5 MeV
Reference number
IS0 8769-2: 1996(E)
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IS0 8769-2: 1996(E)
Page
Contents
1
1 Scope . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .*.*.*.
1
. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
2 Normative references
2
3 Definitions . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .~.
. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 3
4
Traceability of reference sources
3
5 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Specification of sources
8
6 Transfer instruments
Annexes
A Reference sources emitting electrons of energy less than
9
0,15 MeV and photons of energy less than I,5 MeV . . . . . . . . . . . . . . . . . .
11
B Bibliography . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
0 IS0 1996
All rights reserved. Unless otherwise specified, no part of this publication may be reproduced
or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical, including photocopying and
microfilm, without permission in writing from the publisher.
International Organization for Standardization
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Internet central @ isocs.iso.ch
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Printed in Switzerland
ii
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0 IS0 IS0 8769-2: 1996(E)
IS0 (the International Organization for Standardization) is a worldwide
federation of national standards bodies (IS0 member bodies). The work of
preparing International Standards is normally carried out through IS0
technical committees. Each member body interested in a subject for which
a technical committee has been established has the right to be represented
on that committee. International organizations, governmental and non-
governmental, in liaison with ISO, also take part in the work. IS0
collaborates closely with the International Electrotechnical Commission
(IEC) on all matters of electrotechnical standardization.
Draft International Standards adopted by the technical committees are
circulated to the member bodies for voting. Publication as an International
Standard requires approval by at least 75 % of the member bodies casting
a vote.
International Standard IS0 8769-2 was prepared by Technical Committee
ISOmC 85, Nuclear energy, Subcommittee SC 2, Radiation protection.
IS0 8769 consists of the following parts, under the general title Reference
sources for the calibration of surface contamination monitors:
- Part I: Tritium sources
Par? 2: Electrons of energy less than 0,15 MeV and photons of energy
-
less than I,5 MeV
Annexes A and B are for information only.
. . .
III
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IS0 8769-2: 1996(E)
Introduction
Radioactive contamination of surfaces may result from spilling, splashing or leakage from unsealed
sources. This contamination may give rise to the following hazards to health:
a) external exposure to parts of the body in proximity to the surface;
b) internal exposure due to inhalation, ingestion and absorption or entry into the body, through
wounds, of radioactive material released from the surface.
The need for effective monitoring of surface contamination has long been recognized [I, 21. Surface
contamination is quantified in terms of activity per unit surface area. This quantity activity per unit area
is used to specify “derived limits”, i.e. maximum limits of surface contamination. The principle of
derived limits is contained within the recommendations of the International Commission on
Radiological Protection (ICRP) [3,4]. The requirement for this part of IS0 8769 originated from the
need for standard calibration sources in those International Standards dealing with the calibration of
surface contamination monitors; in particular, the use of such calibration sources is called for in
IS0 7503-l) IS0 7503-2 and IS0 7503-3.
Although regulatory documents refer to surface contamination in terms of activity per unit surface area,
the response of monitoring instruments is related directly to the radiation emitted from the surface
rather than to the activity contained upon or within the surface. The relationship between surface
emission rate and activity is dependent on the decay scheme of the nuclide concerned, i.e. the
number and types of radiation produced per decay or transition. In addition, the emission rate from a
surface will depend on the absorptive and scattering properties of that surface and assumptions will
need to be made as to the relationship between surface emission rate and activity. This is particularly
important in the case of tritium where the nature of the source manufacture can produce emission to
activity ratios that differ by one or more orders of magnitude. IS0 7503-l) IS0 7503-2 and IS0 7503-3
suggest factors that may be applied in the measurement of contaminated surfaces in the absence of
more precise information.
In this part of IS0 8769, calibration sources are specified in terms of surface emission rate.
Traceability of calibration sources to national standards is established by a system of transfer
instruments.
Annex A discusses the particular problems associated with the measurement of nuclides decaying by
electron capture and by isomeric transitions.
iv
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IS0 8769-2: 1996(E)
INTERNATIONAL STANDARD @ IS0
Reference sources for the calibration of surface contamination
monitors -
Part 2: Electrons of energy less than 0,15 MeV and photons of
energy less than I,5 MeV
1 Scope
This part of IS0 8769 specifies the characteristics of reference sources for the calibration of surface
contamination monitors that are traceable to national measurement standards. It relates to a series of
sources emitting electrons of energy less than 0,15 MeV and photons of energy less than I,5 MeV for
particular use in the efficiency calibration of monitors used for the measurement of radionuclides
decaying by electron capture and by isomeric transitions; the electron-emitting sources will be of use
for the calibration of monitors used for tritium and other low energy beta-emitters. This part of
IS0 8769 does not describe the procedures involved in the use of these reference sources for the
calibration of surface contamination monitors. Such procedures are specified in IS0 7503-2 and
IS0 7503-3.
This part of IS0 8769 specifies reference radiation for the calibration of surface contamination
monitors which take the form of adequately characterized large-area sources specified in terms of
photon or electron surface emission rate. The measurement of these quantities shall be traceable to
national standards. Since some of the sources proposed in this part of IS0 8769 include filters, they
are to be regarded as sources of photons or electrons of a particular energy range and not as sources
241Am source with the recommended filtration does not
of a particular radionuclide. For example, a
emit the alpha particles or characteristic low-energy L X-rays associated with the decay of the nuclide.
A nominal value of the source activity may be required for regulatory purposes and is therefore
included in this part of IS0 8769.
2 Normative references
The following standards contain provisions which, through reference in this text, constitute provisions
of this part of IS0 8769. At the time of publication, the editions indicated were valid. All standards are
subject to revision, and parties to agreements based on this part of IS0 8769 are encouraged to
investigate the possibility of applying the most recent editions of the standards indicated below.
Members of IEC and IS0 maintain registers of currently valid International Standards.
IS0 921: -‘), Nuclear energy - Vocabulary
IS0 7503-I :1988, Evaluation of surface contamination - Par? 1: Beta-emitters (maximum beta energy
greater than 0,15 Me V) and alpha-emitters.
IS0 7503-2:1988, Evaluation of surface contamination - Part 2: Tritium surface contamination.
IS0 7503-3:-*j, Evaluation of surface contamination - Par? 3: Pure gamma emitters (isomeric
transition and electron capture emitters), low energy beta-emitters (maximum beta energy less than
0,15 MeV).
1) To be published. (Revision of IS0 921 :I 972)
2) To be published.
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@ IS0
IS0 8769-2: 1996(E)
Reference sources for the calibration of surface contamination monitors - Part I:
IS0 8769-l :-*)
Tritium sources.
IEC 325:1981, Alpha, beta and alpha-beta contamination meters and monitors.
IEC 50(391):1975, International Electrotechnical Vocabulary - Chapter 391: Detection and
measurement of ionizing radiation by electric means.
IEC 50(392):1976, International Electrotechnical Vocabulary - Chapter 392: Nuclear Instrumentation -
Supplement to Chapter 39 1.
3 Definitions
For the purposes of this part of IS0 8769, the definitions given in IS0 921, IEC 50(391), IEC 50(392),
and the following definitions apply.
_
NOTE - All uncertainties quoted in this part of IS0 8769 are at the level of one standard deviation; for overall
uncertainty, see [5].
3.1 surface emission rate (of a source): Number of particles or photons of a given type above a
given energy emerging from the face of the source or its window per unit time.
3.2 instrument efficiency (of a reference transfer instrument): Ratio between the instrument net
reading (counts per unit time) and the surface emission rate of the source (particles or photons emitted
per unit time) in a specified geometry relative to the source.
NOTE - The instrument efficiency depends on the energy of the radiations emitted by the source.
3.3 source efficiency: Ratio between the surface emission rate and the number of particles or
photons of the same type created or released within the source per unit time.
NOTE- Source efficiency will be affected by self-absorption and backscatter.
3.4 self-absorption (of a source): Absorption of radiation which occurs within the material of the
source itself.
3.5 traceability: Concept of establishing a valid calibration of a measuring instrument or
measurement standard, by a step-by-step comparison with higher level standards up to an accepted
or specified standard. In general, the concept of traceability implies eventual reference to an
appropriate national or International Standard. (assuming documentation and use of approved
laboratories).
3.6 uniformity: Uniformity of a surface with respect to a given property, expressed as a measured
quantity per unit surface area, indicating the reproducibility of that property over the surface.
For the purpose of specifying the uniformity of a source with respect to surface emission rate per unit
area, the source shall be considered as comprising a number of portions of equal area. The uniformity
shall then be specified as the estimated standard deviation of measurements of the individual portions
about the mean value for the whole surface expressed as a percentage of the mean. The area of the
portions shall be IO cm* or less.
Uniformity may be measured by inserting a masking plate between the source and the counter. The
masking plate should have an aperture of appropriate size and should be thick enough to absorb
particles and photons of the maximum energy emitted. Care should be taken to always use the same
portion of the counter to minimize effects due its possible non-uniform response.
2
---------------------- Page: 6 ----------------------
@ IS0 IS0 8769-2: 1996(E)
4 Traceability of reference sources
The following scheme is proposed to ensure that standards used in the calibration of surface
contamination monitors shall be related to national measurement standards via a clearly defined
traceability chain using reference sources and transfer instruments.
Reference sources are of two types:
Class 1 : Reference sources which shall have been calibrated directly in terms of surface emission
rate at a national standards laboratory.
Class 2 : Reference sources which shall have been calibrated at an approved laboratory in terms of
surface emission rate on a reference transfer instrument, the efficiency of which has been measured
by calibration with a Class 1 reference source of the same radionuclide and of the same general
construction using the same geometry.
National standards laboratories shall at their discretion provide the means whereby Class 1 reference
sources of a specified range of radionuclides may be certified by them? The surface emission rate of
Class 1 reference sources shall be measured by absolute methods, or by using an instrument that has
been calibrated using sources that have been measured absolutely. The activity of a Class 1
reference source shall have been measured by the manufacturer in a manner acceptable to the
national standards laboratory.
Organizations with a requirement to type test surface contamination instruments need to have access
to suitable Class 1 or 2 reference sources. Those with a requirement to calibrate such instruments
shall have access to similar reference sources or to working sources. The purpose of a working
source is to calibrate surface contamination monitors in the field; they are not to be confused with
check sources which are only intended to test that a monitor is operating.
Organizations with a requirement to provide working sources for the routine calibration of their surface
contamination monitoring instruments require access to a reference transfer instrument with which to
calibrate such sources in terms of surface emission rate against a Class 1 or 2 reference source.
Where the working source will be used either in a jig or under a particular geometry, the reference
transfer instrument on which its emission rate is measured shall have been calibrated using a
reference source under identical conditions and geometry; alternatively, the working source shall be
removable from the jig so that it can be measured in the usual way. If only a few monitors need
calibration or a high degree of accuracy is required, Class 1 or 2 reference sources may be used as
working sources.
5 Specification of sources
5.1 General
It is recommended that sources be plane sources comprising a backing material with a given
radionuclide permanently deposited on or incorporated into one face only. Photon-emitting sources
shall incorporate filters in accordance with table 2.
It is like ‘ly that some countries would accept as valid a Class 1 refe source that has been certified by
3)
the national standards laboratory of anoth er country.
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IS0 8769-2: 1996(E) @ IS0
5.2 Class 1 reference sources
52.1 General requirements
In order to comply with the requirements specified in this part of IS0 8769, Class 1 reference sources
shall be plane sources comprising conducting backing material with radioactivity deposited upon or
incorporated into one face in such a manner as to minimize source self-absorption4). The active area
shall be at least IO4 mm*; a recommended size is 100 mm x 100 mm.
Photon-emitting sources shall include the filtration specified in table 2. The filters should normally be
an integral part of the source; they should not be removable. The area of the filter should be such that
it extends for at least IO mm beyond the active area of the source. The mass per unit area of the filter
shall be within k 10% of the specified value in table 2. The uniformity of the mass per unit area of the
filter shall be better tha
...
NORME
ISO
INTERNATIONALE 8769-2
Première édition
1996-l I-15
Sources de référence destinées à
l’étalonnage de contrôleurs de
contamination de surface -
Partie 2:
Électrons d’énergie inférieure à 0,15 MeV et
photons d’énergie inférieure à 1,5 MeV
Reference sources for the calibration of surface contamination monitors -
Part 2: Electrons of energy less than 0,15 MeV and photons of energy less
than 1,5 MeV
Numéro de référence
ISO 8769-2: 1996(F)
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ISO 8769-2: 1996(F)
Page
Sommaire
1
1 Domaine d’application . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
1
2 Références normatives . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .~.
2
3 Définitions . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
. . . . . . .*. 2
4 Traçabilité des sources de référence
. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 3
5 Spécification des sources
7
6 Instruments de transfert . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Annexes
A Sources de référence émettrices d’électrons d’énergie inférieure à 0,15 MeV et de photons d’énergie inférieure à
8
1,5 MeV . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
10
. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
B Bibliographie
0 ISO 1996
Droits de reproduction réservés. Sauf prescription différente, aucune partie de cette publi-
cation ne peut être reproduite ni utilisée sous quelque forme que ce soit et par aucun pro-
cédé, électronique ou mécanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans l’accord
écrit de l’éditeur.
Organisation internationale de normalisation
Case postale 56 l CH-121 1 Genève 20 l Suisse
Internet central @ isocs.iso.ch
x.400 c=ch; a=400net; p=iso; o=isocs; s=central
Imprimé en Suisse
ii
---------------------- Page: 2 ----------------------
0 ISO ISO 8769-2: 1996(F)
Avant-propos
L’ISO (Organisation internationale de normalisation) est une fédération mondiale d’organismes nationaux de
normalisation (comités membres de I’ISO). L’élaboration des Normes internationales est en général confiée aux
comités techniques de I’ISO. Chaque comité membre intéressé par une étude a le droit de faire partie du comité
technique créé à cet effet. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en
L’ISO collabore étroitement avec la Commission
liaison avec I’ISO participent également aux travaux.
électrotechnique internationale (CEI) en ce qui concerne la normalisation électrotechnique.
Les projets de Normes internationales adoptés par les comités techniques sont soumis aux comités membres pour
vote. Leur publication comme Normes internationales requiert l’approbation de 75 % au moins des comités
membres votants.
La Norme internationale ISO 8769-2 a été élaborée par le comité technique ISO 85, Energie nuckaire, sous-comité
SC 2, Radioprotection.
L’ISO 8769 comprend les parties suivantes, présentées sous le titre général Sources de référence destinées à
l’étalonnage de controleurs de contamination de surface -
Par?ie 1: Sources de tritium
Partie 2: Electrons d’énergie inférieure à 0,15 MeV et photons d’énergie inférieure à 1,5 MeV
Les annexes A et B de la présente partie de I’ISO 8769 sont données uniquement à titre d’information.
. . .
III
---------------------- Page: 3 ----------------------
ISO 8769-2: 1996(F) 0 ISO
Introduction
La contamination radioactive des surfaces peut provenir d’écoulements, d’éclaboussures ou de fuites de sources
non scellées. Cette contamination peut présenter les risques suivants pou r la santé:
a) exposition externe de parties du corps à proximité de la surface;
b) exposition interne due à l’inhalation, l’ingestion absorption ou passage dans l’organisme par l’intermédiaire de
1
blessures de substances radioactives issues de la surface contam inée.
Le besoin d’une surveillance efficace de la contamination de surface est reconnue depuis longtemps (voir réf. [l] et
[2]). La contamination de surface est quantifiée en termes d’activité surfacique. Cette dernière grandeur sert à
définir des “limites dérivées”, c’est à dire des limites maximales de contamination de surface. Le principe des
limites dérivées est contenu dans les recommandations de la Commission internationale de protection radiologique
(CIPR) (réf. [3] et [4]). La présente partie de I’ISO 8769 est née du besoin de sources de référence normalisées
pour l’étalonnage des contrôleurs de contamination de surface. L’utilisation de telles sources de référence est
demandée notamment dans I’ISO 7503-1, I’ISO 7503-2 et I’ISO 7503-3.
Bien que les textes réglementaires se réfèrent à la contamination de surface en termes d’activité surfacique, la
réponse des instruments de contrôle est directement liée au rayonnement émis par la surface, plutôt qu’à l’activité
superficielle ou interne à celle-ci. La relation entre le flux d’émission de surface et l’activité est liée au schéma de
désintégration du radionucléide concerné, c’est-à-dire le nombre et à la nature des rayonnements émis par
décroissance ou transitions. De plus, le flux d’émission de surface dépendra des propriétés d’absorption et de
diffusion de la surface concernée et certaines hypothèses devront être établies concernant la relation liant le flux
d’émission de surface et l’activité. Ceci est particulièrement important dans le cas du tritium où la nature de la
technique de fabrication peut donner lieu à des rapports flux d’émission / activité qui diffèrent d’un ou de plusieurs
ordres de grandeur. L’ISO 7503-1, I’ISO 7503-2 et I’ISO 7503-3 proposent des facteurs applicables lors de la
mesure de surfaces contaminées en l’absence d’informations plus précises.
Dans la présente partie de I’ISO 8769, les sources d’étalonnage sont caractérisées en termes de flux d’émission
La traçabilité des sources d’étalonnage aux étalons nationaux est réalisée par l’intermédiaire
surfacique.
d’instruments de transfert.
mesure de radioéléments se transformant par
Les problèmes particuliers liés à la capture électronique et par
dans l’annexe A.
transitions isomériques sont discutés
iv
---------------------- Page: 4 ----------------------
NORME INTERNATIONALE @ ISO ISO 8769-2: 1996(F)
Sources de référence destinées à l’étalonnage de contrôleurs de
contamination de surface - Partie 2: Électrons d’énergie inférieure à
0,15 MeV et photons d’énergie inférieure à 1,5 MeV
1 Domaine d’application
La présente partie de I’ISO 8769 définit les caractéristiques de sources de référence permettant l’étalonnage de
contrôleurs de contamination de surface, traçables à des étalons nationaux de mesurage. Elle se rapporte a une
gamme de sources émettrices d’électrons d’énergie inférieure à 0,15 MeV et de photons d’énergie inférieure à 1,5
MeV, destinées à l’étalonnage de contrôleurs utilisés pour la mesure de radioéléments se désintégrant par capture
électronique et par transitions isomériques; les sources émettrices d’électrons seront utilisées pour l’étalonnage de
détecteurs de tritium et autres émetteurs bêta de basse énergie. La présente partie de I’ISO 8769 ne décrit pas les
modes opératoires qu’impliquent l’utilisation de telles sources de références pour l’étalonnage des contrôleurs de
contamination surfacique. De telles procédures sont précisées dans I’ISO 7503-Z et I’ISO 7503 -3.
La présente partie de I’ISO 8769 spécifie les rayonnements de référence permettant l’étalonnage de contrôleurs de
contamination de surface matérialisée sous la forme de sources de grande surface caractérisées en terme de flux
d’émission de surface photonique ou électronique. La mesure de cette grandeur doit être traçable aux étalons
nationaux. Puisque quelques unes des sources proposées dans ce document sont équipées de filtres, celles-ci
doivent être considérées comme sources de photons et d’électrons d’énergie particulière et non comme de sources
d’un radionucléide particulier. Par exemple, une source d’ *41Am munie du filtre recommandé n’émet pas les
particules alpha et les raies XL de basse énergie associé à la décroissance radioactive. Une valeur nominale de
l’activité de la source peut être exigée pour des raisons réglementaires, elle est donc incluse dans ce document.
2 Références normatives
Les normes suivantes contiennent des dispositions qui, par suite de la référence qui en est faite, constituent des
dispositions valables pour la présente partie de I’ISO 8769. Au moment de la publication, les éditions indiquées
étaient en vigueur. Toute norme est sujette à révision et les parties prenantes des accords fondés sur la présente
partie de I’ISO 8769 sont invitées à rechercher la possibilité d’appliquer les éditions les plus récentes des normes
indiquées ci-après. Les membres de la CEI et de I’ISO possèdent le registre des Normes internationales en vigueur
à un moment donné.
ISO 921: - ‘), Energie nucléaire - Vocabulaire.
ISO 7503-l :1988, Evaluation de la contamination de surface - Partie 1: Emetteurs bêta (énergie bêta maximale
supérieure à 0,15 MeV) et émetteurs alpha.
ISO 7503-2:1988, Evaluation de la contamination de surface - Partie 2: Contamination de surface par le tritium.
Evaluation de la contamination de surface - Partie 3: Emetteurs gamma pur (émetteurs à transition
ISO 7503-3: - *)1
isomérique et capture électronique), emetteurs bêta basse énergie (énergie bêta maximale inférieure à 0,15 MeV).
Sources de référence destinées à l’étalonnage de controleurs de contamination de surface - Partie
ISO 8769-l : - *),
1: Sources de tritium.
CEI 50 (391):1975, Vocabulaire Electrotechnique International - Chapitre 391: Détection et mesure par voie
électrique des rayonnement ionisants.
CEI 50 (392):1976, Vocabulaire Electrotechnique International - Chapitre 392: Instrumentation nucléaire -
Complément au chapitre 391.
CEI 325:1981, Contaminamètres et moniteurs de contamination alpha, bêta, alpha-bêta.
1) A publier. (Révision de I’ISO 921:1972)
2) A publier.
---------------------- Page: 5 ----------------------
ISO 8769-2: 1996(F) 0 ISO
3 Définitions
Pour les besoins de la présente partie de I’ISO 8769, les définitions données dans 1’ ISO 921, dans la CEI 50 (391)
et la CEI 50 (392), ainsi que les définitions suivantes sont applicables.
NOTE - Toutes les incertitudes citées dans la présente partie de I’ISO 8769 sont exprimées au niveau d’un écart-type; pour
l’incertitude globale, voir réf. [5].
3.1 flux d’émission de surface: (d’une source): Nombre de particules ou photons, d’une nature donnée,
possédant une énergie supérieure à une énergie donnée, émergeant de la surface de la source ou de sa fenêtre,
par unité de temps.
3.2 efficacité d’un instrument: (d’un instrument de transfert de référence): Dans des conditions géométriques
spécifiées par rapport à une source, rapport entre la lecture nette (coups par unité de temps) de l’instrument et le
flux d’émission de surface d’une source (particules ou photons émis par unité de temps).
NOTE - L’efficacité d’un instrument dépend de l’énergie des rayonnements émis par la source.
33 efficacité de la source: Rapport entre le flux d’émission de surface et le nombre de particules du même type
endrées ou libérées à l’intérieur de la source par unité de temps.
eig
NOTE - L’efficacité d’une source sera affectée par l’auto-absorption et la rétrodiffusion.
la matière même de la
34 . auto-absorption (d’une source): Absorption du rayonnement qui se produit dans
source.
3.5 traçabilité : Notion liée à la détermination d’un étalonnage correct d’un instrument de mesure ou d’un étalon de
mesurage, par une comparaison pas à pas à des étalons d’un niveau supérieur, pour parvenir à un étalon accepté
ou spécifié. En général, la notion de traçabilité implique la référence éventuelle à un étalon national ou international
approprié (en supposant qu’il y ait de la documentation et l’utilisation des laboratoires agréés)
3.6 uniformité : L’uniformité de surface par rapport à une propriété donnée, exprimée sous la forme d’une
grandeur mesurée par unité de surface, est une indication de la reproductibilité de cette propriété sur la surface.
Pour spécifier l’uniformité d’une source, par rapport à son flux d’émission de surface par unité de surface, la source
doit être considérée comme étant formée d’un nombre de parts de surfaces égales. L’uniformité doit alors être
spécifiée comme étant l’écart type estimé des mesures des portions individuelles autour de la valeur moyenne
obtenue pour toute la surface, exprimée en pourcentage de la valeur moyenne. L’aire des parts doit être inférieure
ou égale à 10 cm*.
L’uniformité peut être mesurée en plaçant un masque plan entre la source et le compteur. Le masque doit avoir une
ouverture d’une taille appropriée et une épaisseur suffisante pour absorber les particules et les photons émis
d’énergie maximale. Des précautions doivent être prises pour s’assurer d’utiliser toujours la même zone de
détection du compteur afin de minimiser les effets d’une possible réponse non uniforme du compteur.
4 Traçabilité des sources de référence
Le plan suivant est proposé pour garantir que les étalons utilisés dans le domaine de l’étalonnage des contrôleurs
de contamination de surface seront reliés aux étalons nationaux par le biais d’une chaîne de traçabilité clairement
définie et faisant appel à des sources de référence et des instruments de transfert.
Les sources de référence se répartiront en deux catégories:
Catégorie 1 : sources de référence qui doivent avoir été étalonnées directement en termes de flux d’émission de
surface, dans un laboratoire national de métrologie.
Catégorie 2 : sources de référence qui doivent avoir été étalonnées dans un laboratoire agréé, en terme de flux
d’émission de surface, à l’aide d’un instrument de transfert de référence dont on a mesuré l’efficacité par
étalonnage avec une source de référence de catégorie 1, constituée du même radionucléide et de conception
d’ensemble identique, utilisant la même géométrie.
2
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0 ISO
ISO 8769-2: 1996(F)
Les laboratoires nationaux de métrologie doivent, à leur discrétion, permettre que des sources de catégorie 1 d’un
domaine spécifié de radionucléides soient certifiées par leurs soins 3). Le flux d’émission de surface d’une source
de référence de catégorie 1 devrait être mesuré soit par des méthodes absolues, soit en utilisant un instrument
ayant été étalonné en employant des sources mesurées de manière absolue. L’activité d’une source de catégorie 1
devra avoir été mesurée par le fabricant d’une manière acceptable par le laboratoire national de métrologie.
Les organismes qui ont besoin de procéder à des essais de type des contrôleurs de contamination surfacique
doivent avoir accès à des sources de référence appropriées de catégorie 1 ou 2. Ceux qui ont besoin d’étalonner
de tels instruments devront avoir accès à des sources de référence identiques ou à des sources de travail. Le rôle
des sources de travail est d’étalonner les sondes de contamination de surface sur le terrain. Elles ne doivent pas
être confondues avec les sources de contrôle qui sont seulement conçues pour vérifier si un contrôleur est en état
de fonctionner.
Les organismes qui ont besoin de fournir des sources de travail pour l’étalonnage de routine régulier des
contrôleurs de la contamination surfacique doivent avoir accès à un instrument de transfert de référence, au moyen
du quel ils étalonneront de telles sources en terme de flux d’émission de surface par rapport à une source de
référence de catégorie 1 ou 2. Si la source de travail doit être utilisée dans un gabarit ou dans une géométrie
particulière, l’instrument de transfert de référence sur lequel est mesuré le flux d’émission de surface doit avoir été
étalonné à partir d’une source de référence, dans des conditions opératoires et géométriques identiques. Par
ailleurs, il doit être possible d’ôter la source de travail du gabarit, de façon à pouvoir la mesurer selon la pratique
courante. Lorsque quelques contrôleurs seulement nécessitent un étalonnage ou lorsqu’un étalonnage très précis
est requis, il est possible d’utiliser des sources de référence de catégorie 1 ou 2 en tant que sources de travail.
5 Spécification des sources
5.1 Généralités
II est recommandé que les sources soient planes et constituées d’un support possédant un radionucléide donné,
déposé sur ou incorporé dans l’une de ses faces seulement. Les sources de photons doivent posséder un filtre en
accord avec la tableau 2.
5.2 Sources de référence de catégorie 1
5.2.1 Spécifications générales
Dans un souci de conformité à la présente partie de I’ISO 8769, les sources de référence de catégorie 1 doivent
être planes et constituées d’un support conducteur. Sur une des faces est incorporée ou déposée la substance
radioactive de telle sorte que le phénomène d’auto-absorption 4) soit minimisé. La surface active doit être au moins
de 104 mm*, une taille recommandée étant de 100 mm x 100 mm.
Les sources émettrices de photons doivent inclure une filtration spécifiée au tableau 2. D’une manière générale, les
filtres devraient faire partie intégrante de la source; ils ne devraient pas être démontables. La surface du filtre doit
être choisie de telle manière que celle-ci dépasse au m
...
NORME
ISO
INTERNATIONALE 8769-2
Première édition
1996-l I-15
Sources de référence destinées à
l’étalonnage de contrôleurs de
contamination de surface -
Partie 2:
Électrons d’énergie inférieure à 0,15 MeV et
photons d’énergie inférieure à 1,5 MeV
Reference sources for the calibration of surface contamination monitors -
Part 2: Electrons of energy less than 0,15 MeV and photons of energy less
than 1,5 MeV
Numéro de référence
ISO 8769-2: 1996(F)
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ISO 8769-2: 1996(F)
Page
Sommaire
1
1 Domaine d’application . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
1
2 Références normatives . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .~.
2
3 Définitions . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
. . . . . . .*. 2
4 Traçabilité des sources de référence
. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 3
5 Spécification des sources
7
6 Instruments de transfert . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Annexes
A Sources de référence émettrices d’électrons d’énergie inférieure à 0,15 MeV et de photons d’énergie inférieure à
8
1,5 MeV . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
10
. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
B Bibliographie
0 ISO 1996
Droits de reproduction réservés. Sauf prescription différente, aucune partie de cette publi-
cation ne peut être reproduite ni utilisée sous quelque forme que ce soit et par aucun pro-
cédé, électronique ou mécanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans l’accord
écrit de l’éditeur.
Organisation internationale de normalisation
Case postale 56 l CH-121 1 Genève 20 l Suisse
Internet central @ isocs.iso.ch
x.400 c=ch; a=400net; p=iso; o=isocs; s=central
Imprimé en Suisse
ii
---------------------- Page: 2 ----------------------
0 ISO ISO 8769-2: 1996(F)
Avant-propos
L’ISO (Organisation internationale de normalisation) est une fédération mondiale d’organismes nationaux de
normalisation (comités membres de I’ISO). L’élaboration des Normes internationales est en général confiée aux
comités techniques de I’ISO. Chaque comité membre intéressé par une étude a le droit de faire partie du comité
technique créé à cet effet. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en
L’ISO collabore étroitement avec la Commission
liaison avec I’ISO participent également aux travaux.
électrotechnique internationale (CEI) en ce qui concerne la normalisation électrotechnique.
Les projets de Normes internationales adoptés par les comités techniques sont soumis aux comités membres pour
vote. Leur publication comme Normes internationales requiert l’approbation de 75 % au moins des comités
membres votants.
La Norme internationale ISO 8769-2 a été élaborée par le comité technique ISO 85, Energie nuckaire, sous-comité
SC 2, Radioprotection.
L’ISO 8769 comprend les parties suivantes, présentées sous le titre général Sources de référence destinées à
l’étalonnage de controleurs de contamination de surface -
Par?ie 1: Sources de tritium
Partie 2: Electrons d’énergie inférieure à 0,15 MeV et photons d’énergie inférieure à 1,5 MeV
Les annexes A et B de la présente partie de I’ISO 8769 sont données uniquement à titre d’information.
. . .
III
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ISO 8769-2: 1996(F) 0 ISO
Introduction
La contamination radioactive des surfaces peut provenir d’écoulements, d’éclaboussures ou de fuites de sources
non scellées. Cette contamination peut présenter les risques suivants pou r la santé:
a) exposition externe de parties du corps à proximité de la surface;
b) exposition interne due à l’inhalation, l’ingestion absorption ou passage dans l’organisme par l’intermédiaire de
1
blessures de substances radioactives issues de la surface contam inée.
Le besoin d’une surveillance efficace de la contamination de surface est reconnue depuis longtemps (voir réf. [l] et
[2]). La contamination de surface est quantifiée en termes d’activité surfacique. Cette dernière grandeur sert à
définir des “limites dérivées”, c’est à dire des limites maximales de contamination de surface. Le principe des
limites dérivées est contenu dans les recommandations de la Commission internationale de protection radiologique
(CIPR) (réf. [3] et [4]). La présente partie de I’ISO 8769 est née du besoin de sources de référence normalisées
pour l’étalonnage des contrôleurs de contamination de surface. L’utilisation de telles sources de référence est
demandée notamment dans I’ISO 7503-1, I’ISO 7503-2 et I’ISO 7503-3.
Bien que les textes réglementaires se réfèrent à la contamination de surface en termes d’activité surfacique, la
réponse des instruments de contrôle est directement liée au rayonnement émis par la surface, plutôt qu’à l’activité
superficielle ou interne à celle-ci. La relation entre le flux d’émission de surface et l’activité est liée au schéma de
désintégration du radionucléide concerné, c’est-à-dire le nombre et à la nature des rayonnements émis par
décroissance ou transitions. De plus, le flux d’émission de surface dépendra des propriétés d’absorption et de
diffusion de la surface concernée et certaines hypothèses devront être établies concernant la relation liant le flux
d’émission de surface et l’activité. Ceci est particulièrement important dans le cas du tritium où la nature de la
technique de fabrication peut donner lieu à des rapports flux d’émission / activité qui diffèrent d’un ou de plusieurs
ordres de grandeur. L’ISO 7503-1, I’ISO 7503-2 et I’ISO 7503-3 proposent des facteurs applicables lors de la
mesure de surfaces contaminées en l’absence d’informations plus précises.
Dans la présente partie de I’ISO 8769, les sources d’étalonnage sont caractérisées en termes de flux d’émission
La traçabilité des sources d’étalonnage aux étalons nationaux est réalisée par l’intermédiaire
surfacique.
d’instruments de transfert.
mesure de radioéléments se transformant par
Les problèmes particuliers liés à la capture électronique et par
dans l’annexe A.
transitions isomériques sont discutés
iv
---------------------- Page: 4 ----------------------
NORME INTERNATIONALE @ ISO ISO 8769-2: 1996(F)
Sources de référence destinées à l’étalonnage de contrôleurs de
contamination de surface - Partie 2: Électrons d’énergie inférieure à
0,15 MeV et photons d’énergie inférieure à 1,5 MeV
1 Domaine d’application
La présente partie de I’ISO 8769 définit les caractéristiques de sources de référence permettant l’étalonnage de
contrôleurs de contamination de surface, traçables à des étalons nationaux de mesurage. Elle se rapporte a une
gamme de sources émettrices d’électrons d’énergie inférieure à 0,15 MeV et de photons d’énergie inférieure à 1,5
MeV, destinées à l’étalonnage de contrôleurs utilisés pour la mesure de radioéléments se désintégrant par capture
électronique et par transitions isomériques; les sources émettrices d’électrons seront utilisées pour l’étalonnage de
détecteurs de tritium et autres émetteurs bêta de basse énergie. La présente partie de I’ISO 8769 ne décrit pas les
modes opératoires qu’impliquent l’utilisation de telles sources de références pour l’étalonnage des contrôleurs de
contamination surfacique. De telles procédures sont précisées dans I’ISO 7503-Z et I’ISO 7503 -3.
La présente partie de I’ISO 8769 spécifie les rayonnements de référence permettant l’étalonnage de contrôleurs de
contamination de surface matérialisée sous la forme de sources de grande surface caractérisées en terme de flux
d’émission de surface photonique ou électronique. La mesure de cette grandeur doit être traçable aux étalons
nationaux. Puisque quelques unes des sources proposées dans ce document sont équipées de filtres, celles-ci
doivent être considérées comme sources de photons et d’électrons d’énergie particulière et non comme de sources
d’un radionucléide particulier. Par exemple, une source d’ *41Am munie du filtre recommandé n’émet pas les
particules alpha et les raies XL de basse énergie associé à la décroissance radioactive. Une valeur nominale de
l’activité de la source peut être exigée pour des raisons réglementaires, elle est donc incluse dans ce document.
2 Références normatives
Les normes suivantes contiennent des dispositions qui, par suite de la référence qui en est faite, constituent des
dispositions valables pour la présente partie de I’ISO 8769. Au moment de la publication, les éditions indiquées
étaient en vigueur. Toute norme est sujette à révision et les parties prenantes des accords fondés sur la présente
partie de I’ISO 8769 sont invitées à rechercher la possibilité d’appliquer les éditions les plus récentes des normes
indiquées ci-après. Les membres de la CEI et de I’ISO possèdent le registre des Normes internationales en vigueur
à un moment donné.
ISO 921: - ‘), Energie nucléaire - Vocabulaire.
ISO 7503-l :1988, Evaluation de la contamination de surface - Partie 1: Emetteurs bêta (énergie bêta maximale
supérieure à 0,15 MeV) et émetteurs alpha.
ISO 7503-2:1988, Evaluation de la contamination de surface - Partie 2: Contamination de surface par le tritium.
Evaluation de la contamination de surface - Partie 3: Emetteurs gamma pur (émetteurs à transition
ISO 7503-3: - *)1
isomérique et capture électronique), emetteurs bêta basse énergie (énergie bêta maximale inférieure à 0,15 MeV).
Sources de référence destinées à l’étalonnage de controleurs de contamination de surface - Partie
ISO 8769-l : - *),
1: Sources de tritium.
CEI 50 (391):1975, Vocabulaire Electrotechnique International - Chapitre 391: Détection et mesure par voie
électrique des rayonnement ionisants.
CEI 50 (392):1976, Vocabulaire Electrotechnique International - Chapitre 392: Instrumentation nucléaire -
Complément au chapitre 391.
CEI 325:1981, Contaminamètres et moniteurs de contamination alpha, bêta, alpha-bêta.
1) A publier. (Révision de I’ISO 921:1972)
2) A publier.
---------------------- Page: 5 ----------------------
ISO 8769-2: 1996(F) 0 ISO
3 Définitions
Pour les besoins de la présente partie de I’ISO 8769, les définitions données dans 1’ ISO 921, dans la CEI 50 (391)
et la CEI 50 (392), ainsi que les définitions suivantes sont applicables.
NOTE - Toutes les incertitudes citées dans la présente partie de I’ISO 8769 sont exprimées au niveau d’un écart-type; pour
l’incertitude globale, voir réf. [5].
3.1 flux d’émission de surface: (d’une source): Nombre de particules ou photons, d’une nature donnée,
possédant une énergie supérieure à une énergie donnée, émergeant de la surface de la source ou de sa fenêtre,
par unité de temps.
3.2 efficacité d’un instrument: (d’un instrument de transfert de référence): Dans des conditions géométriques
spécifiées par rapport à une source, rapport entre la lecture nette (coups par unité de temps) de l’instrument et le
flux d’émission de surface d’une source (particules ou photons émis par unité de temps).
NOTE - L’efficacité d’un instrument dépend de l’énergie des rayonnements émis par la source.
33 efficacité de la source: Rapport entre le flux d’émission de surface et le nombre de particules du même type
endrées ou libérées à l’intérieur de la source par unité de temps.
eig
NOTE - L’efficacité d’une source sera affectée par l’auto-absorption et la rétrodiffusion.
la matière même de la
34 . auto-absorption (d’une source): Absorption du rayonnement qui se produit dans
source.
3.5 traçabilité : Notion liée à la détermination d’un étalonnage correct d’un instrument de mesure ou d’un étalon de
mesurage, par une comparaison pas à pas à des étalons d’un niveau supérieur, pour parvenir à un étalon accepté
ou spécifié. En général, la notion de traçabilité implique la référence éventuelle à un étalon national ou international
approprié (en supposant qu’il y ait de la documentation et l’utilisation des laboratoires agréés)
3.6 uniformité : L’uniformité de surface par rapport à une propriété donnée, exprimée sous la forme d’une
grandeur mesurée par unité de surface, est une indication de la reproductibilité de cette propriété sur la surface.
Pour spécifier l’uniformité d’une source, par rapport à son flux d’émission de surface par unité de surface, la source
doit être considérée comme étant formée d’un nombre de parts de surfaces égales. L’uniformité doit alors être
spécifiée comme étant l’écart type estimé des mesures des portions individuelles autour de la valeur moyenne
obtenue pour toute la surface, exprimée en pourcentage de la valeur moyenne. L’aire des parts doit être inférieure
ou égale à 10 cm*.
L’uniformité peut être mesurée en plaçant un masque plan entre la source et le compteur. Le masque doit avoir une
ouverture d’une taille appropriée et une épaisseur suffisante pour absorber les particules et les photons émis
d’énergie maximale. Des précautions doivent être prises pour s’assurer d’utiliser toujours la même zone de
détection du compteur afin de minimiser les effets d’une possible réponse non uniforme du compteur.
4 Traçabilité des sources de référence
Le plan suivant est proposé pour garantir que les étalons utilisés dans le domaine de l’étalonnage des contrôleurs
de contamination de surface seront reliés aux étalons nationaux par le biais d’une chaîne de traçabilité clairement
définie et faisant appel à des sources de référence et des instruments de transfert.
Les sources de référence se répartiront en deux catégories:
Catégorie 1 : sources de référence qui doivent avoir été étalonnées directement en termes de flux d’émission de
surface, dans un laboratoire national de métrologie.
Catégorie 2 : sources de référence qui doivent avoir été étalonnées dans un laboratoire agréé, en terme de flux
d’émission de surface, à l’aide d’un instrument de transfert de référence dont on a mesuré l’efficacité par
étalonnage avec une source de référence de catégorie 1, constituée du même radionucléide et de conception
d’ensemble identique, utilisant la même géométrie.
2
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0 ISO
ISO 8769-2: 1996(F)
Les laboratoires nationaux de métrologie doivent, à leur discrétion, permettre que des sources de catégorie 1 d’un
domaine spécifié de radionucléides soient certifiées par leurs soins 3). Le flux d’émission de surface d’une source
de référence de catégorie 1 devrait être mesuré soit par des méthodes absolues, soit en utilisant un instrument
ayant été étalonné en employant des sources mesurées de manière absolue. L’activité d’une source de catégorie 1
devra avoir été mesurée par le fabricant d’une manière acceptable par le laboratoire national de métrologie.
Les organismes qui ont besoin de procéder à des essais de type des contrôleurs de contamination surfacique
doivent avoir accès à des sources de référence appropriées de catégorie 1 ou 2. Ceux qui ont besoin d’étalonner
de tels instruments devront avoir accès à des sources de référence identiques ou à des sources de travail. Le rôle
des sources de travail est d’étalonner les sondes de contamination de surface sur le terrain. Elles ne doivent pas
être confondues avec les sources de contrôle qui sont seulement conçues pour vérifier si un contrôleur est en état
de fonctionner.
Les organismes qui ont besoin de fournir des sources de travail pour l’étalonnage de routine régulier des
contrôleurs de la contamination surfacique doivent avoir accès à un instrument de transfert de référence, au moyen
du quel ils étalonneront de telles sources en terme de flux d’émission de surface par rapport à une source de
référence de catégorie 1 ou 2. Si la source de travail doit être utilisée dans un gabarit ou dans une géométrie
particulière, l’instrument de transfert de référence sur lequel est mesuré le flux d’émission de surface doit avoir été
étalonné à partir d’une source de référence, dans des conditions opératoires et géométriques identiques. Par
ailleurs, il doit être possible d’ôter la source de travail du gabarit, de façon à pouvoir la mesurer selon la pratique
courante. Lorsque quelques contrôleurs seulement nécessitent un étalonnage ou lorsqu’un étalonnage très précis
est requis, il est possible d’utiliser des sources de référence de catégorie 1 ou 2 en tant que sources de travail.
5 Spécification des sources
5.1 Généralités
II est recommandé que les sources soient planes et constituées d’un support possédant un radionucléide donné,
déposé sur ou incorporé dans l’une de ses faces seulement. Les sources de photons doivent posséder un filtre en
accord avec la tableau 2.
5.2 Sources de référence de catégorie 1
5.2.1 Spécifications générales
Dans un souci de conformité à la présente partie de I’ISO 8769, les sources de référence de catégorie 1 doivent
être planes et constituées d’un support conducteur. Sur une des faces est incorporée ou déposée la substance
radioactive de telle sorte que le phénomène d’auto-absorption 4) soit minimisé. La surface active doit être au moins
de 104 mm*, une taille recommandée étant de 100 mm x 100 mm.
Les sources émettrices de photons doivent inclure une filtration spécifiée au tableau 2. D’une manière générale, les
filtres devraient faire partie intégrante de la source; ils ne devraient pas être démontables. La surface du filtre doit
être choisie de telle manière que celle-ci dépasse au m
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