ISO 7503-1:1988
(Main)Evaluation of surface contamination — Part 1: Beta-emitters (maximum beta energy greater than 0,15 MeV) and alpha-emitters
Evaluation of surface contamination — Part 1: Beta-emitters (maximum beta energy greater than 0,15 MeV) and alpha-emitters
Applies to surfaces of equipment and facilities, containers of radioactive materials and sealed sources, does not apply to the skin and contamination of clothing. Gives direct and indirect methods of measurement (the latter by means of smear tests). Is restricted to beta- and alpha-emitters, the production rate of which, with regard to beta-particles plus monoenergetic electrons and alpha-particles resp., is near to 100 particles per 100 decays. Evaluation of tritium surface contamination is dealt with in ISO 7503-2, other radionuclides of practical importance will be dealt with in a future standard.
Évaluation de la contamination de surface — Partie 1: Émetteurs bêta (énergie bêta maximale supérieure à 0,15 MeV) et émetteurs alpha
La présente partie de l'ISO 7503 spécifie des méthodes d'évaluation de la contamination de surface des équipements et des installations, des conteneurs de matériaux radioactifs et des sources scellées en termes d'activité surfacique. La présente partie de l'ISO 7503 ne s'applique pas à l'évaluation de la contamination cutanée et vestimentaire. Elle s'applique aux émetteurs bêta dont l'énergie maximale Eßmax est supérieure à 0,15 MeV, et aux émetteurs alpha. Elle est limitée aux émetteurs bêta et alpha dont le taux de production (en ce qui concerne, d'une part les particules bêta et les électrons monoénergétiques et d'autres part les particules alpha) est proche de 100 particules pour 100 désintégrations (voir l'annexe, tableau 3). Dans le cadre de la présente partie de l'ISO 7503, le terme «énergie bêta» se rapporte à l'énergie maximale des particul 320es bêta. NOTE -- L'évaluation de la contamination de surface par le tritium fait l'objet de l'ISO 750
General Information
Relations
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ISO
NORME INTERNATIONALE
~ 7503-l
Première édition
1988-08-01
INTERNATIONAL ORGANIZATION FOR STANDARDIZATION
ORGANISATION INTERNATIONALE DE NORMALISATION
MEXJJYHAPOAHAR OPTAHM3A~MR Il0 CTAH~APTM3A~MM
Évaluation de la contamination de surface -
Partie 1 :
Émetteurs bêta (énergie bêta maximale supérieure
à 0,15 MeV) et émetteurs alpha
Evaluation of surface contamination -
Part 1: Beta-emitters (maximum beta energy greater than 0,X MeV) and alpha-emitters
Numéro de référence
ISO 7503-l : 1988 (F)
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ISO 7503-l : 1988 (FI
Avant-propos
L’ISO (Organisation internationale de normalisation) est une fédération mondiale
d’organismes nationaux de normalisation (comités membres de I’ISO). L’élaboration
des Normes internationales est en général confiée aux comités techniques de I’ISO.
Chaque comité membre intéressé par une étude a le droit de faire partie du comité
technique créé à cet effet. Les organisations internationales, gouvernementales et non
gouvernementales, en liaison avec I’ISO participent également aux travaux. L’ISO col-
labore étroitement avec la Commission électrotechnique internationale (CEI) en ce qui
concerne la normalisation électrotechnique.
Les projets de Normes internationales adoptés par les comités techniques sont soumis
aux comités membres pour approbation, avant leur acceptation comme Normes inter-
nationales par le Conseil de I’ISO. Les Normes internationales sont approuvées confor-
mément aux procédures de I’ISO qui requièrent l’approbation de 75 % au moins des
comités membres votants.
La Norme internationale ISO 7503-l a été élaborée par le comité technique ISO/TC 85,
Énergie nucléaire.
L’attention des utilisateurs est attirée sur le fait que toutes les Normes internationales
sont de temps en temps soumises à révision et que toute référence faite à une autre
Norme internationale dans le présent document implique qu’il s’agit, sauf indication
contraire, de la dernière édition.
Organisation internationale de normalisation, 1988
0
Imprimé en Suisse
ii
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ISO 7503-l : 1988 (FI
Sommaire Page
1 Objet et domaine d’application . 1
2 Références . 1
3 Définitions. . 1
4 Méthode d’évaluation de la contamination de surface. . 2
5 Détermination du rendement de l’instrument de mesure. . 5
6 Enregistrement des mesures de contamination. . 6
Annexe Explication des termes de base et des données pour les procédures
d’étalonnage et de mesure . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 7
. . .
III
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Page blanche
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ISO7503-1 : 1988 (F)
NORME INTERNATIONALE
Évaluation de la contamination de surface -
Partie 1 :
Émetteurs bêta (énergie bêta maximale supérieure
à 0,15 MeV) et émetteurs alpha
1 Objet et domaine d’application 3.2 contamination de surface fixée: Contamination qui
adhère à une surface d’une façon telle qu’elle ne peut être
La présente partie de 1’60 7503 spécifie des méthodes d’éva- déplacée dans les conditions normales de travail.
luation de la contamination de surface des équipements et des
installations, des conteneurs de matériaux radioactifs et des
3.3 contamination de surface non fixbe: Contamination
sources scellées en termes d’activité surfacique.
de surface qui peut être enlevée ou déplacée dans les condi-
tions normales de travail.
La présente partie de I’ISO 7503 ne s’applique pas à l’évaluation
de la contamination cutanée et vestimentaire.
NOTES
Elle s’applique aux emetteurs bêta dont l’énergie maximale
1 La définition du terme (tconditions normales de travail)) est impor-
max est supérieure a 0,15 MeV, et aux émetteurs alpha.
EP
tante pour l’évaluation des risques d’inhalation et d’incorporation en
rapport avec la surface de contamination; il est supposé que dans des
Elle est limitée aux émetteurs bêta et alpha dont le taux de pro-
«conditions normales de travail», l’intensité maximale de l’action méca-
duction (en ce qui concerne, d’une part les particules bêta et les
nique qui provoquerait I’enlévement de la contamination de surface est
électrons monoénergétiques et d’autres part les particules
limitée à ceci :
alpha) est proche de 100 particules pour 100 désintégrations
- contacts normaux, non accidentels du corps humain (protégé
(voir l’annexe, tableau 3).
ou non par des vêtements) avec les surfaces et
Dans le cadre de la présente partie de I’ISO 7503, le terme -
contacts non destructifs d’une intensité similaire entre les surfa-
&nergie bêta)) se rapporte à l’énergie maximale des particules ces et les parties d’équipement étant directement tenus par la main
de l’homme.
bêta.
L’intensité de l’action dans l’essai par frottis devrait correspondre à ces
NOTE - L’évaluation de la contamination de surface par le tritium fait
types d’action mécanique. Un unique frottis ne permet pas, normale-
l’objet de I’ISO 7503-2. D’autres radionucléides d’intérêt pratique
ment, de prélever toute la contamination non fixée.
(émetteurs à capture électronique et à transition isomérique par exem-
2 II convient de noter que sous l’effet d’influentes externes (humi-
ple) seront traités dans une norme internationale ultérieure.
dité, produits chimiques, etc.) et également sous l’effet de phénomé-
nes de corrosion ou de diffusion, une contamination fixée peut devenir
non fixée et vice versa sans aucune action humaine. De plus, les conta-
2 Références
minations de surface peuvent diminuer en raison de l’évaporation et de
la volatilisation.
ISO 8769, Sources de rbfhrence pour l’étalonnage des moni-
teurs de contamination de surface - Émetteurs bêta (énergie
bêta maximale suptkieure à 0,15 MeV) et hmetteurs alpha. 3.4 activit6 surfacique: Quotient de I’activite des radionu-
cléides présents sur une surface par la valeur de l’aire de cette
surface. Elle est exprimée en becquerels centimètres a la puis-
Publication CEI 325, Contaminamètres et moniteurs de conta-
mina tion alpha, bêta, alpha-bêta. sance moins deux (Bqcm-2).
3.5 mesure directe de la contamination de surface:
3 DQfinitions
Mesure de l’activité de surface au moyen d’un contaminamètre
ou d’un moniteur de contamination.
Dans le cadre de la présente partie de I’ISO 7503, les définitions
suivantes sont applicables.
La mesure directe détermine la contamination de surface fixée
plus la contamination de surface non fixée, mais peut être per-
3.1 contamination de surface: Contamination des surfa-
turbée par les rayonnements provenant de l’intérieur de l’objet
ces par des substances radioactives.
vérifié ou de l’ambiance.
1
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ISO 7503-l : 1988 (FI
3.6 bvaluation indirecte de la contamination de sur- sont effectuées par des moniteurs et des contaminametres de
face : Évaluation de l’activité prélevée sur la surface au moyen surface qui mesurent la contamination de surface fixée plus la
d’un frottis. contamination de surface non fixée. L’évaluation indirecte est
généralement effectuée par frottis à l’aide desquels seule la
contamination de surface non fixée peut être évaluée.
3.7 essai par frottis: Prelevement d’un échantillon d’acti-
vité non fixee que l’on obtient en frottant la surface avec un
Les mesu res de la contamination de surface sont effectuées en
matériau sec ou humide et évaluation consecutive de l’activité
vue de
déplacée sur le materiau utilisé pour frotter la surface.
a) la détection de la contamination pour déterminer son
3.8 facteur de prbhement, F: Rapport de l’activité préle-
existence ou sa propagation et pour contrôler son déplace-
vee sur une surface à l’aide d’un frottis à l’activité de la conta-
ment des zones de forte contamination vers les zones de fai-
mination de surface non fixée présente avant ce prélèvement.
ble contamination ou vers les zones inactives, et de
II est défini par la relation suivante:
b) l’évaluation de l’activité surfacique afin de vérifier que
les limites admises ( limites dérivées) ne sont
dépassées.
Pas
A
F=J
AT L’adéquation et la fiabilité de l’une ou l’autre méthode, directe
ou indirecte, pour atteindre ces objectifs, dépendent étroite-
où
ment des circonstances particuliéres, c’est-à-dire des formes
physique et chimique de la contamination, de I’adherence de la
est l’activité prélevée par le frottis;
contamination (fixée ou non fixée) sur la surface, de I’accessibi-
lit6 de la surface pour les mesures ou de la présence de champs
AT est l’activité totale non fixée présente sur la surface
de rayonnement parasites.
contaminée avant le prélévement .
La mesure directe peut être particuliérement difficile ou impos-
NOTE - Pour des combinaisons importantes de contaminant et de
sible si des dépôts solides ou liquides inactifs sont présents sur
matériau de surface, le facteur de prélévement, F, peut être déterminé
expérimentalement en utilisant la méthode du «prélévement total par la surface, ou s’il existe un champ de rayonnement parasite. La
frottis répétitifs». L’addition, étape par étape, des activités prélevées
méthode d’evaluation indirecte est plus généralement applica-
conduit à une bonne approximation de l’activité totale non fixée (A,),
ble, en particulier lorsque les surfaces ne sont pas facilement
pour laquelle l’activité prélevée par le premier frottis (A,) peut alors être
accessibles pour une mesure directe de par leur emplacement
reliée au rendement du facteur de prélévement.
ou leur configuration compliqué(e), ou lorsque les contamina-
mètres sont perturbés par des champs de rayonnement parasi-
3.9 taux d’bmission de surface d’une source, qzR: Nom-
tes. Cependant, la methode d’évaluation indirecte ne permet
bre de particules d’un type donné, d’énergie supérieure à une
pas de déterminer la contamination fixée et, de par la grande
énergie donnée, sortant, par unité de temps, de la face avant de
incertitude qui pèse généralement sur le facteur de prélève-
la source.
ment, elle est plus généralement utilisée pour la seule détection
de la contamination non fixee.
3.10 rendement d’une source, E, : Rapport entre le nombre
En raison des imperfections des méthodes directes et indirectes
de particules d’un type donné, d’énergie supérieure a une éner-
pour l’évaluation de la contamination de surface, dans de nom-
gie donnée, sortant, par unité de temps, de la face avant d’une
breux cas l’utilisation en paralléle des deux méthodes assure
source ou de sa fenêtre, et le nombre de particules de même
des résultats qui permettent d’atteindre les objectifs de I’évalua-
type créées ou émises, par unité de temps, à I’interieur de la
tion de la meilleure façon possible.
source (pour une source fine) ou dans l’épaisseur de sa couche
de saturation (pour une source épaisse).
En raison de la variation du rendement de l’instrument de
mesure avec l’énergie, une extrême précaution doit être prise
3.11 rendement d’un instrument de mesure, Ei: Rapport
dans l’évaluation de la contamination bêta combinée (voir aussi
entre l’indication nette de l’instrument et le taux d’émission de
chapitre 5). Ceci est spécialement vrai pour les instruments affi-
surface d’une source pour une configuration géométrique don-
chant une activité surfacique.
nec. Pour un instrument donné, le rendement dépend de I’ener-
gie des rayonnements Amis par la source.
4.2 Mesure directe de la contamination de surface
NOTE - II découle des définitions 3.9 et 3.10 que le taux d’émission de
surface d’une source est égal à l’activité de la source multipliée par son
rendement (voir chapitre A. 1).
4.2.1 Prescriptions auxquelles
doivent satisfaire
instruments de mesure
4 MRthodes d’évaluation de la contamination
Les caractéristiques et les performances des instruments de
de surface
mesure doivent être
conformes a la Publication CEI 325.
4.1 GAnhalités Les instruments doivent être capables (voir note 1) de mesurer
des activités en deçà du niveau limite de contamination de sur-
La contamination I de surface peut être évaluee par des métho-
face, pour lesquels les résultats des mesures de contamination
des de mesures directes et indirectes. Les mesures directes
de surface doivent être comparés (limites etablies par les régle-
2
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IsO 7503-l : 1988 (FI
e) pour des mesures précises, le détecteur doit être main-
mentations internationales ou nationales ou, en l’absence de
telles réglementations, définies par des normes ou les consen- tenu pendan t trois fois le temps de réponse (indication
95 %);
sus locaux).
f) les valeurs du rendement de l’instrument, convenables
NOTES
pour les radionucléides à mesurer, doivent être disponibles
1 Dans un sens strict, la capacité mentionnée ci-dessus pourrait être
(voir chapitre 5).
mieux décrite en termes de «limites inférieures de détection)) ou (tactivi-
tés minimales détectables)). Cependant, il n’y a pas d’accord internatio-
nal concernant la définition de ces termes. De plus, les équations pour
4.2.3.2 L’activité sutfacique, alpha ou bêta, A,? des conta-
le calcul des valeurs relevées sont trop complexes pour être présentées
minations fixée et non fixée de la surface contrôlée, exprimée
dans le cadre de la présente partie de I’ISO 7503.
en becquerels centimetres à la puissance moins deux, est don-
2 Les instruments servant à la mesure directe de la contamination de
née en fonction du taux de comptage mesuré, par la relation
surface ont normalement des fenêtres sensibles de 20 à 200 cm* de
suivante :
surface et sont capables de mesurer des niveaux de contamination
de surface inférieurs à 0,04 Bqecm-2 pour les émetteurs alpha et
A,= n-nB
0,4 Bqgcm -2 pour les émetteurs bêta dans des conditions normales de
. . .
(1)
bruit de fond. L’utilité d’un détecteur ne dépend pas seulement de &i X W X &,
l’efficacité de l’instrument de mesure mais aussi des dimensions de la
fenêtre sensible. Les fenêtres sensibles plus grandes sont spécialement
où
utiles pour le mesurage des surfaces étendues de contamination.
n est le taux de comptage total mesuré, en secondes a la
puissance moins un;
4.2.2 Procbdure de dbtection
est le taux de comptage du bruit de fond secondes
nB
Tout en evitant le contact entre les composants de la fenêtre
à la puissance moins un;
sensible du détecteur et de la surface à vérifier, bouger le detec-
teur doucement au-dessus de la surface et écouter un change-
Ci est le rendement de l’instrument au rayonnement bêta
ment dans la fréquence des coups. L’indication auditive est ins-
ou alpha (voir chapitres 5 et A.2);
tantanée - indépendamment du temps de réponse utilisé. Une
fois que la surface contaminee est détectée, le detecteur devrait
W est la surface de la fenêtre de 1’ instrument de mesure
être placé au-dessus de cette surface et maintenu pendant un
(fenêtre d’entrée des rayonnements), en centimètres carrés;
temps suffisant pour confirmer la détection.
E, est le rendement de la source de contamination (voir
La distance entre le détecteur et la surface doit être gardée
chapitre A. 1).
aussi petite que possible. Dans ce but, des entretoises peuvent
être utilisées.
Suite à des hypothèses plausibles et prudentes (voir chapitre
A.1 1, les valeurs suivantes pour E, devraient être utilisées en
l’absence de valeurs connues de façon plus précise:
4.2.3 Procédure de mesure
= 0,5 [émetteurs bêta (E~,,,ax > 0,4 MeV11
5
4.2.3.1 Lorsque l’on effectue une mesure, les instructions de
fonctionnement se rapportant aux instruments de mesure utili- E, = 0,25 [émetteurs bêta (0,15 MeV < Epmax < 0,4 MeV)
sés et les points suivants doivent être observés: et emetteurs alpha1
Pour d’éventuelles
a) avant de procéder à la mesure, on doit déterminer le sous-estimations des contaminations alpha,
taux de comptage du bruit de fond à l’endroit de la mesure; voir chapitre A.1.
b) le taux de comptage du bruit de fond doit être vérifié de Si nécessaire, appliquer les corrections de temps mort aux taux
temps en temps; de comptage mesurés.
c) le fonctionnement correct de l’appareil de mesure Pour les émetteurs alpha en équilibre complet ou partiel avec
devrait être vérifié en utilisant une source de contrôle conve- d’autres émetteurs alpha dans une chaîne de décroissance, la
nable. La fréquence devrait être vérifiée quotidiennement méthode d’évaluation donne l’activité totale des émetteurs
pour les instruments d’utilisation courante et avant chaque alpha présents. Dans le cas d’un équilibre complet, les contri-
utilisation dans les autres cas. Des écarts de plus de 25 % butions des émetteurs alpha simples peuvent être calculées en
de la valeur convenue doivent entraîner un réétalonnage de divisant l’activité alpha totale par le nombre d’emotteurs alpha
l’instrument; participant à l’équilibre.
d) les conditions géométriques, lors de la mesure, Des calculs similaires ne peuvent être faits pour les émetteurs
bêta dans un équilibre d’une chaîne de décroissance que si
devraient être aussi proches que possible de celles que l’on a
utilisées pour l’étalonnage de l’instrument. A cet effet, on leurs probabilités de détection sont au même niveau (voir
peut utiliser des entretoises amovibles; tableau 3, couples marqués *eq.).
-
L’applicabilité de l’équation est basée sur les restrictions mentionnées dans le chapitre 1.
1)
3
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IsO 7503-l : 1988 (FI
Dans le cas des couples de décroissance marqués Q dans le b) lorsque les réglementations permettent de faire une
moyenne de la contamination de surface sur de plus gran-
tableau 3, seulement les radionucléides soulignés seront cor-
rectement detectés par les moniteurs bêta utilises pour les des surfaces, on peut effectuer le prélèvement sur ces surfa-
ces et on doit inclure la valeur de ces surfaces dans le calcul
mesures de contamination de surface. A l’etat d’équilibre,
l’activité totale présente est deux fois l’activité bêta obtenue en du résultat, conformément au 4.3.3;
utilisant la méthode d’évaluation normalisée.
c) le matériau utilisé pour le frottis devrait être adapté à la
surface à contrôler (par exemple papier filtre pour des surfa-
NOTE - Les instruments de mesures possédant un microprocesseur
sont capables d’exécuter automatiquement le calcul en fonction de
ces lisses, textile de coton pour des surfaces rugueuses);
l’équation (1) et de produire une indication en termes d’activité surfaci-
que. Dans ce but, l’instrument nécessite d’avoir dans sa mémoire les
d) si l’on utilise un agent mouillant pour humecter le maté-
valeurs numériques relevées pour nB, w, &i et &,. Les valeurs pour &i et
riau utilisé pour le frottis, cet agent mouillant ne devrait pas
es devraient être choisies séparément en fonction des radionucléides à
suinter du matériau.
mesurer et de la structure de la source de contamination. Ces facteurs
sont normalement entrés dans la mémoire de l’instrument comme un
AVERTISSEMENT: Étant donné que la contamination
facteur combiné. Dans le cas de l’étalonnage direct de tels instruments
peut être absorbée dans la structure du materiau uti-
(voir chapitre 5, note 51, seule la valeur de E, devrait être choisie.
lise pour le frottis ou peut être masquee par une humi-
dit6 résiduelle, l’utilisation d’un agent mouillant peut
conduire à une nette sous-estimation de la contamina-
tion dans le cas d’émetteurs alpha.
4.3 Évaluatio n indi recte de la contamination de
surface
e)
le frottis doit être pressé modérément contre la surface
à contrôler, par le bout des doigts ou de préférence a l’aide
d’un support conçu pour assurer une pression uniforme et
4.3.1 Prescriptions auxquelles doivent satisfai re les
constante; .
instruments de mesure
f) la totalité de la surface de 100 cm* doit être frottée;
Les mesures des echantillons de frottis sont souvent effectuées
en utilisant des instruments fixes, bien protégés et à compteur
g) si possible, des disques de papier filtre devraient être
d’impulsions. Si des contaminamètres ou des moniteurs de
utilisés comme matériau pour les frottis;
contamination de surface portatifs sont utilisés, les caractéristi-
ques et les performances des instruments de mesure doivent
h) la surface contaminée du frottis doit être inférieure ou,
être conformes à la publication CEI 325.
au plus, égale à celle de la surface sensible de la sonde;
Les instruments doivent êre capables (voir 4.2.1, note 1) de
i) aprés le prélévement, le matériau utilisé pour le frottis
mesurer des activités en deçà du niveau limite de contamination
doit être séché soigneusement de façon qu’il n’y ait pas de
de surface, pour lesquels les résultats des mesures de contami-
perte d’activité.
nation de surface doivent être comparés (limites établies par les
réglementations internationales ou nationales ou, en l’absence
de telles réglementations définies, par des normes ou des con- 4.3.3 Procedure de mesure
sensus locaux).
Les mesures de l’activité des frottis devraient être effectuées
conformément aux indications du 4.2.3.1.
NOTE - Les instruments couramment disponibles sont capables de
mesurer des activités inférieures à 0,4 Bq pour la contamination alpha
et à 4 Bq pour la contamination bêta.
L’activité surfacique alpha ou bêta, AsrI), de la contamination
non fixee de la surface contrôlée, exprimée en becquerels centi-
Si l’on respecte ces activités, en frottant une surface de 100 cm* et en
métres à la puissance moins deux, est donnée, en fonction du
appliquant un facteur de prélévement F = O,l, on peut mesurer une
taux de comptage mesuré, par la relation suivante:
contamination non fixée inférieure à 0,04 Bqacm-* pour les émetteurs
alpha et à 0,4 Bqmcm-* pour les émetteurs bêta.
Asr= n-nB
. . .
(2)
&ixFxSXEs
4.3.2 Directives de pr6levement
où
La détection et l’évaluation de la contamination de surface peu-
n
vent être effectuées à l’aide d’un ou plusieurs frottis secs ou est le taux de comptage total mesuré, en secondes à la
humides. puissance moins un;
Lorsque l’on préléve des frottis sur des surfaces étendues, les ng est le taux de comptage du bruit de fond, en secondes
points suivants doivent être pris en considération pour détermi- a la puissance moins un;
ner la distribution de la contamination :
&i est le rendement de l’instrument au rayonnement bêta
a) la surface à frotter doit, si possible, être de 100 cm*; ou alpha (voir chapitres 5 et A.2);
1) L’applicabilité de l’équation est basée sur les restrictions mentionnées au chapitre 1.
4
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ISO 7503-l : 1988 (FI
II faut cependant s’assurer que l’énergie bêta de cette source de
F est le facteur de prélévement;
réfkence n’est pas supérieure de façon significative à l’énergie
bêta la plus faible à mesurer.
S est la surface frottée, en centimétres carrés;
Les radionucléides pour les sources de référence,
appropriés
E, est le rendement de la source représentée par le frottis (voir
sont les suivants:
chapitre A.2).
= 0,154 MeV)
14C (Egnlax
Les valeurs de es données en 4.2.3.2 devraient être utilisées.
147Pm (Epmax = 0,225 MeV)
Si F n’est pas déterminé expérimentalement, la valeur raison-
nable de F = 0,l doit être utilisée.
WI (Epmax = 0,71 MeV)
Pour 1’6valuation des radionucléides dans un équilibre de
décroissance radioactive, voir 4.2.3.2. *WI Q-,,ax = 0,77 MeV)
wSr/wY (Epmax = 2,26 MeV)
5 Dbtermi nation du rendem
I.
nstrumen t de m esu l~Ru/l~Rh (Epmax = 39 MeV)
I I
Le rendement de l’instrument de mesure doit être déterminé au Le rendement de l’instrument de mesure doit être déterminé
moyen de rayonnements de réference fournis par les sources de dans des conditions géométriques qui doivent être aussi pro-
reférence de taux d’émission de surface connu, conformément ches que possible des conditions correspondant aux mesures
à I’ISO 8769. directes ou indirectes (voir 4.2.3.1).
Les dimensions de la source de rbfkence devraient être suffi- Le rendement de l’instrument de mesure, ci, pour la source de
santes pour recouvrir la fenêtre d’entrée du détecteur de I’ins- référence (voir chapitre A.21 est donné par la relation
suivante :
trument. Lorsque, dans des cas extrêmes, des sources de telles
n - ng n - nB
dimensions ne sont pas disponibles, des mesures avec des plus
=-=-
. . .
(3)
&i
petites sources, réparties pour des surfaces actives d’au moins
q*n,sc ESC w
100 cm*, doivent être effectuées. Ces mesures devraient cou-
vrir I’entihre surface de la fenêtre ou au moins ses fractions
où
représentatives et doivent aboutir à une valeur moyenne
pour &i. n est le taux de comptage total mesuré de la source de
référence et du bruit de fond, en secondes à la puissance
Pour la détermination du rendement de l’instrument de mesure, moins un;
une distinction doit être faite entre les rayonnements alpha et
est le taux de comptage du bruit de fond, en secondes
bêta.
128
à la puissance moins un;
Dans le cas de la contamination de surface alpha, la taille des
q2n,sc est le taux d’bmission de surface, en secondes à la
particules peut atteindre et dépasser la valeur de 10 pm.
puissance moins un, de la source de référence en dessous
Lorsqu’il s’agit d’une contamination par fines particules (diamè-
de la surface W, en centimètres carrés, de la fenêtre sensi-
tre des particules compris entre 0,l et 2 pm), la substance
ble de la sonde;
radioactive est alors mélangée à la poussière de la surface au
cours du prélévement et comprimée dans le matériau du porte-
est le taux d’émission de surface sutfacique, en secon-
ESC
échantillon. Dans les deux cas, le spectre de la raie d’origine se
des à la puissance moins un centimétres à la puissance
transforme en spectre continu dans lequel apparaissent toutes
moins deux, de la source de référence.
les énergies alpha comprises entre zéro et l’énergie de la raie.
En conséquence, le rendement du détecteur tombe en dessous
NOTES
de la valeur correspondant à une source mince. Pour ces rai-
1 Dans le cas du WSr en équilibre avec son nucléide de filiation WY, le
sons, des sources à épaisseur de saturation constituees par
taux d’emission de surface par unité de surface utilisé dans la formule
exemple d’un alliage uranium-aluminium (13 % d’uranium
devrait être le double de celui du %r.
naturel, 0,06 mm d’épaisseur) se sont révélées être des sources
convenant bien comme sources de travail (étalonnage de rou- 2 Si le taux d’émission de sut face d’une source utilisée pour I’étalon-
nage est inconnu (c’est-à-dire source non conforme à I’ISO 87691, une
tine) pour les détecteurs alpha non sensibles au rayonnement
valeur approximative de J?& peut être déterminée selon 4.4.1.
bêta.
3 L’utilisation de sources de référence ayant une épaisseur de satura-
Dans le cas d’émetteurs bêta, ci dépend de l’énergie des parti-
tion plutôt qu’une couche mince conduira à une valeur raisonnable du
cules bêta et devrait être déterminé par une énergie bêta corres- rendement de l’instrument de mesure.
pondant à la contamination à mesurer.
4 Dans le cas des instruments à base de microprocesseur, Ci est déter-
miné de la façon suivante. La sonde est placée sur une grande surface
Dans les usines et les laboratoires où l’on utilise divers radionu-
appropriée de la source de référence de taux d’émission surfacique,
cléides ayant des énergies bêta différentes, il est commode
ESC, connu, et en changeant continuellement le facteur d’étalonnage,
d’utiliser pour le rendement de l’instrument une seule valeur l’indication du compteur est établie à la valeur de ESC. L’instrument
établie pour une seule énergie bêta.
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ISO 7503-l : 1988 W-1
e) agent mouillant;
est alors branché pour indiquer le facteur d’étalonnage dans ces
qui,
conditions, est égal à &i.
prélèvement pour mesure indirecte ré
f) facteur de
5 Un étalonnage direct peut être effectué avec des instruments de
ou supposé);
mesure à base de microprocesseur. La sonde est placée sur une grande
surface appropriée de la source de référence de taux d’émission de sur-
g) instrument utilisé, numéro de série;
face surfacique, ESC, connu, et en changeant continuellement le fac-
teur d’étalonnage, l’indication du compteur est établie à une valeur de
h) rendement de l’instrument de mesure, date d’étalon-
E,,le,, où cS est le rendement de la source de contamination qui est
nage;
mesuré à l’aide de l’instrument étalonné.
i) source de référence: radionucléide, taux d’émission
surface surfacique;
6 Enregistrement des mesures de
contamination
j) indication de 1’ ment pour la contamination (sur-
face ou frottis
1;
Si un rapport des mesures de contamination de surface est
les informati ons suivantes devraient être incluses :
exigé,
k) indication due au bruit de fond;
a) date;
1) activité surfacique;
b) lieu et emplacement;
m) remarques sur l’étendue de la contamination;
cl type de surface pour mesure indirecte; n) autres observations;
o) nom de l’opérateur.
dl matériau de prélévement par frottis (sec ou humide);
6
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60 7503-I : 1988 (FI
Annexe
Explication des termes de base et des données pour les procédures
d’étalonnage et de mesure
(Cette annexe fait partie intégrante de la norme.)
C’est pourquoi, si l’on étalonne les contaminamétres de surface
A.1 Génbralith
en se fondant sur le taux d’émission plutôt que sur l’activité,
Alors que l’on se réfere généralement à la
...
ISO
NORME INTERNATIONALE
~ 7503-l
Première édition
1988-08-01
INTERNATIONAL ORGANIZATION FOR STANDARDIZATION
ORGANISATION INTERNATIONALE DE NORMALISATION
MEXJJYHAPOAHAR OPTAHM3A~MR Il0 CTAH~APTM3A~MM
Évaluation de la contamination de surface -
Partie 1 :
Émetteurs bêta (énergie bêta maximale supérieure
à 0,15 MeV) et émetteurs alpha
Evaluation of surface contamination -
Part 1: Beta-emitters (maximum beta energy greater than 0,X MeV) and alpha-emitters
Numéro de référence
ISO 7503-l : 1988 (F)
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ISO 7503-l : 1988 (FI
Avant-propos
L’ISO (Organisation internationale de normalisation) est une fédération mondiale
d’organismes nationaux de normalisation (comités membres de I’ISO). L’élaboration
des Normes internationales est en général confiée aux comités techniques de I’ISO.
Chaque comité membre intéressé par une étude a le droit de faire partie du comité
technique créé à cet effet. Les organisations internationales, gouvernementales et non
gouvernementales, en liaison avec I’ISO participent également aux travaux. L’ISO col-
labore étroitement avec la Commission électrotechnique internationale (CEI) en ce qui
concerne la normalisation électrotechnique.
Les projets de Normes internationales adoptés par les comités techniques sont soumis
aux comités membres pour approbation, avant leur acceptation comme Normes inter-
nationales par le Conseil de I’ISO. Les Normes internationales sont approuvées confor-
mément aux procédures de I’ISO qui requièrent l’approbation de 75 % au moins des
comités membres votants.
La Norme internationale ISO 7503-l a été élaborée par le comité technique ISO/TC 85,
Énergie nucléaire.
L’attention des utilisateurs est attirée sur le fait que toutes les Normes internationales
sont de temps en temps soumises à révision et que toute référence faite à une autre
Norme internationale dans le présent document implique qu’il s’agit, sauf indication
contraire, de la dernière édition.
Organisation internationale de normalisation, 1988
0
Imprimé en Suisse
ii
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ISO 7503-l : 1988 (FI
Sommaire Page
1 Objet et domaine d’application . 1
2 Références . 1
3 Définitions. . 1
4 Méthode d’évaluation de la contamination de surface. . 2
5 Détermination du rendement de l’instrument de mesure. . 5
6 Enregistrement des mesures de contamination. . 6
Annexe Explication des termes de base et des données pour les procédures
d’étalonnage et de mesure . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 7
. . .
III
---------------------- Page: 3 ----------------------
Page blanche
---------------------- Page: 4 ----------------------
ISO7503-1 : 1988 (F)
NORME INTERNATIONALE
Évaluation de la contamination de surface -
Partie 1 :
Émetteurs bêta (énergie bêta maximale supérieure
à 0,15 MeV) et émetteurs alpha
1 Objet et domaine d’application 3.2 contamination de surface fixée: Contamination qui
adhère à une surface d’une façon telle qu’elle ne peut être
La présente partie de 1’60 7503 spécifie des méthodes d’éva- déplacée dans les conditions normales de travail.
luation de la contamination de surface des équipements et des
installations, des conteneurs de matériaux radioactifs et des
3.3 contamination de surface non fixbe: Contamination
sources scellées en termes d’activité surfacique.
de surface qui peut être enlevée ou déplacée dans les condi-
tions normales de travail.
La présente partie de I’ISO 7503 ne s’applique pas à l’évaluation
de la contamination cutanée et vestimentaire.
NOTES
Elle s’applique aux emetteurs bêta dont l’énergie maximale
1 La définition du terme (tconditions normales de travail)) est impor-
max est supérieure a 0,15 MeV, et aux émetteurs alpha.
EP
tante pour l’évaluation des risques d’inhalation et d’incorporation en
rapport avec la surface de contamination; il est supposé que dans des
Elle est limitée aux émetteurs bêta et alpha dont le taux de pro-
«conditions normales de travail», l’intensité maximale de l’action méca-
duction (en ce qui concerne, d’une part les particules bêta et les
nique qui provoquerait I’enlévement de la contamination de surface est
électrons monoénergétiques et d’autres part les particules
limitée à ceci :
alpha) est proche de 100 particules pour 100 désintégrations
- contacts normaux, non accidentels du corps humain (protégé
(voir l’annexe, tableau 3).
ou non par des vêtements) avec les surfaces et
Dans le cadre de la présente partie de I’ISO 7503, le terme -
contacts non destructifs d’une intensité similaire entre les surfa-
&nergie bêta)) se rapporte à l’énergie maximale des particules ces et les parties d’équipement étant directement tenus par la main
de l’homme.
bêta.
L’intensité de l’action dans l’essai par frottis devrait correspondre à ces
NOTE - L’évaluation de la contamination de surface par le tritium fait
types d’action mécanique. Un unique frottis ne permet pas, normale-
l’objet de I’ISO 7503-2. D’autres radionucléides d’intérêt pratique
ment, de prélever toute la contamination non fixée.
(émetteurs à capture électronique et à transition isomérique par exem-
2 II convient de noter que sous l’effet d’influentes externes (humi-
ple) seront traités dans une norme internationale ultérieure.
dité, produits chimiques, etc.) et également sous l’effet de phénomé-
nes de corrosion ou de diffusion, une contamination fixée peut devenir
non fixée et vice versa sans aucune action humaine. De plus, les conta-
2 Références
minations de surface peuvent diminuer en raison de l’évaporation et de
la volatilisation.
ISO 8769, Sources de rbfhrence pour l’étalonnage des moni-
teurs de contamination de surface - Émetteurs bêta (énergie
bêta maximale suptkieure à 0,15 MeV) et hmetteurs alpha. 3.4 activit6 surfacique: Quotient de I’activite des radionu-
cléides présents sur une surface par la valeur de l’aire de cette
surface. Elle est exprimée en becquerels centimètres a la puis-
Publication CEI 325, Contaminamètres et moniteurs de conta-
mina tion alpha, bêta, alpha-bêta. sance moins deux (Bqcm-2).
3.5 mesure directe de la contamination de surface:
3 DQfinitions
Mesure de l’activité de surface au moyen d’un contaminamètre
ou d’un moniteur de contamination.
Dans le cadre de la présente partie de I’ISO 7503, les définitions
suivantes sont applicables.
La mesure directe détermine la contamination de surface fixée
plus la contamination de surface non fixée, mais peut être per-
3.1 contamination de surface: Contamination des surfa-
turbée par les rayonnements provenant de l’intérieur de l’objet
ces par des substances radioactives.
vérifié ou de l’ambiance.
1
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ISO 7503-l : 1988 (FI
3.6 bvaluation indirecte de la contamination de sur- sont effectuées par des moniteurs et des contaminametres de
face : Évaluation de l’activité prélevée sur la surface au moyen surface qui mesurent la contamination de surface fixée plus la
d’un frottis. contamination de surface non fixée. L’évaluation indirecte est
généralement effectuée par frottis à l’aide desquels seule la
contamination de surface non fixée peut être évaluée.
3.7 essai par frottis: Prelevement d’un échantillon d’acti-
vité non fixee que l’on obtient en frottant la surface avec un
Les mesu res de la contamination de surface sont effectuées en
matériau sec ou humide et évaluation consecutive de l’activité
vue de
déplacée sur le materiau utilisé pour frotter la surface.
a) la détection de la contamination pour déterminer son
3.8 facteur de prbhement, F: Rapport de l’activité préle-
existence ou sa propagation et pour contrôler son déplace-
vee sur une surface à l’aide d’un frottis à l’activité de la conta-
ment des zones de forte contamination vers les zones de fai-
mination de surface non fixée présente avant ce prélèvement.
ble contamination ou vers les zones inactives, et de
II est défini par la relation suivante:
b) l’évaluation de l’activité surfacique afin de vérifier que
les limites admises ( limites dérivées) ne sont
dépassées.
Pas
A
F=J
AT L’adéquation et la fiabilité de l’une ou l’autre méthode, directe
ou indirecte, pour atteindre ces objectifs, dépendent étroite-
où
ment des circonstances particuliéres, c’est-à-dire des formes
physique et chimique de la contamination, de I’adherence de la
est l’activité prélevée par le frottis;
contamination (fixée ou non fixée) sur la surface, de I’accessibi-
lit6 de la surface pour les mesures ou de la présence de champs
AT est l’activité totale non fixée présente sur la surface
de rayonnement parasites.
contaminée avant le prélévement .
La mesure directe peut être particuliérement difficile ou impos-
NOTE - Pour des combinaisons importantes de contaminant et de
sible si des dépôts solides ou liquides inactifs sont présents sur
matériau de surface, le facteur de prélévement, F, peut être déterminé
expérimentalement en utilisant la méthode du «prélévement total par la surface, ou s’il existe un champ de rayonnement parasite. La
frottis répétitifs». L’addition, étape par étape, des activités prélevées
méthode d’evaluation indirecte est plus généralement applica-
conduit à une bonne approximation de l’activité totale non fixée (A,),
ble, en particulier lorsque les surfaces ne sont pas facilement
pour laquelle l’activité prélevée par le premier frottis (A,) peut alors être
accessibles pour une mesure directe de par leur emplacement
reliée au rendement du facteur de prélévement.
ou leur configuration compliqué(e), ou lorsque les contamina-
mètres sont perturbés par des champs de rayonnement parasi-
3.9 taux d’bmission de surface d’une source, qzR: Nom-
tes. Cependant, la methode d’évaluation indirecte ne permet
bre de particules d’un type donné, d’énergie supérieure à une
pas de déterminer la contamination fixée et, de par la grande
énergie donnée, sortant, par unité de temps, de la face avant de
incertitude qui pèse généralement sur le facteur de prélève-
la source.
ment, elle est plus généralement utilisée pour la seule détection
de la contamination non fixee.
3.10 rendement d’une source, E, : Rapport entre le nombre
En raison des imperfections des méthodes directes et indirectes
de particules d’un type donné, d’énergie supérieure a une éner-
pour l’évaluation de la contamination de surface, dans de nom-
gie donnée, sortant, par unité de temps, de la face avant d’une
breux cas l’utilisation en paralléle des deux méthodes assure
source ou de sa fenêtre, et le nombre de particules de même
des résultats qui permettent d’atteindre les objectifs de I’évalua-
type créées ou émises, par unité de temps, à I’interieur de la
tion de la meilleure façon possible.
source (pour une source fine) ou dans l’épaisseur de sa couche
de saturation (pour une source épaisse).
En raison de la variation du rendement de l’instrument de
mesure avec l’énergie, une extrême précaution doit être prise
3.11 rendement d’un instrument de mesure, Ei: Rapport
dans l’évaluation de la contamination bêta combinée (voir aussi
entre l’indication nette de l’instrument et le taux d’émission de
chapitre 5). Ceci est spécialement vrai pour les instruments affi-
surface d’une source pour une configuration géométrique don-
chant une activité surfacique.
nec. Pour un instrument donné, le rendement dépend de I’ener-
gie des rayonnements Amis par la source.
4.2 Mesure directe de la contamination de surface
NOTE - II découle des définitions 3.9 et 3.10 que le taux d’émission de
surface d’une source est égal à l’activité de la source multipliée par son
rendement (voir chapitre A. 1).
4.2.1 Prescriptions auxquelles
doivent satisfaire
instruments de mesure
4 MRthodes d’évaluation de la contamination
Les caractéristiques et les performances des instruments de
de surface
mesure doivent être
conformes a la Publication CEI 325.
4.1 GAnhalités Les instruments doivent être capables (voir note 1) de mesurer
des activités en deçà du niveau limite de contamination de sur-
La contamination I de surface peut être évaluee par des métho-
face, pour lesquels les résultats des mesures de contamination
des de mesures directes et indirectes. Les mesures directes
de surface doivent être comparés (limites etablies par les régle-
2
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IsO 7503-l : 1988 (FI
e) pour des mesures précises, le détecteur doit être main-
mentations internationales ou nationales ou, en l’absence de
telles réglementations, définies par des normes ou les consen- tenu pendan t trois fois le temps de réponse (indication
95 %);
sus locaux).
f) les valeurs du rendement de l’instrument, convenables
NOTES
pour les radionucléides à mesurer, doivent être disponibles
1 Dans un sens strict, la capacité mentionnée ci-dessus pourrait être
(voir chapitre 5).
mieux décrite en termes de «limites inférieures de détection)) ou (tactivi-
tés minimales détectables)). Cependant, il n’y a pas d’accord internatio-
nal concernant la définition de ces termes. De plus, les équations pour
4.2.3.2 L’activité sutfacique, alpha ou bêta, A,? des conta-
le calcul des valeurs relevées sont trop complexes pour être présentées
minations fixée et non fixée de la surface contrôlée, exprimée
dans le cadre de la présente partie de I’ISO 7503.
en becquerels centimetres à la puissance moins deux, est don-
2 Les instruments servant à la mesure directe de la contamination de
née en fonction du taux de comptage mesuré, par la relation
surface ont normalement des fenêtres sensibles de 20 à 200 cm* de
suivante :
surface et sont capables de mesurer des niveaux de contamination
de surface inférieurs à 0,04 Bqecm-2 pour les émetteurs alpha et
A,= n-nB
0,4 Bqgcm -2 pour les émetteurs bêta dans des conditions normales de
. . .
(1)
bruit de fond. L’utilité d’un détecteur ne dépend pas seulement de &i X W X &,
l’efficacité de l’instrument de mesure mais aussi des dimensions de la
fenêtre sensible. Les fenêtres sensibles plus grandes sont spécialement
où
utiles pour le mesurage des surfaces étendues de contamination.
n est le taux de comptage total mesuré, en secondes a la
puissance moins un;
4.2.2 Procbdure de dbtection
est le taux de comptage du bruit de fond secondes
nB
Tout en evitant le contact entre les composants de la fenêtre
à la puissance moins un;
sensible du détecteur et de la surface à vérifier, bouger le detec-
teur doucement au-dessus de la surface et écouter un change-
Ci est le rendement de l’instrument au rayonnement bêta
ment dans la fréquence des coups. L’indication auditive est ins-
ou alpha (voir chapitres 5 et A.2);
tantanée - indépendamment du temps de réponse utilisé. Une
fois que la surface contaminee est détectée, le detecteur devrait
W est la surface de la fenêtre de 1’ instrument de mesure
être placé au-dessus de cette surface et maintenu pendant un
(fenêtre d’entrée des rayonnements), en centimètres carrés;
temps suffisant pour confirmer la détection.
E, est le rendement de la source de contamination (voir
La distance entre le détecteur et la surface doit être gardée
chapitre A. 1).
aussi petite que possible. Dans ce but, des entretoises peuvent
être utilisées.
Suite à des hypothèses plausibles et prudentes (voir chapitre
A.1 1, les valeurs suivantes pour E, devraient être utilisées en
l’absence de valeurs connues de façon plus précise:
4.2.3 Procédure de mesure
= 0,5 [émetteurs bêta (E~,,,ax > 0,4 MeV11
5
4.2.3.1 Lorsque l’on effectue une mesure, les instructions de
fonctionnement se rapportant aux instruments de mesure utili- E, = 0,25 [émetteurs bêta (0,15 MeV < Epmax < 0,4 MeV)
sés et les points suivants doivent être observés: et emetteurs alpha1
Pour d’éventuelles
a) avant de procéder à la mesure, on doit déterminer le sous-estimations des contaminations alpha,
taux de comptage du bruit de fond à l’endroit de la mesure; voir chapitre A.1.
b) le taux de comptage du bruit de fond doit être vérifié de Si nécessaire, appliquer les corrections de temps mort aux taux
temps en temps; de comptage mesurés.
c) le fonctionnement correct de l’appareil de mesure Pour les émetteurs alpha en équilibre complet ou partiel avec
devrait être vérifié en utilisant une source de contrôle conve- d’autres émetteurs alpha dans une chaîne de décroissance, la
nable. La fréquence devrait être vérifiée quotidiennement méthode d’évaluation donne l’activité totale des émetteurs
pour les instruments d’utilisation courante et avant chaque alpha présents. Dans le cas d’un équilibre complet, les contri-
utilisation dans les autres cas. Des écarts de plus de 25 % butions des émetteurs alpha simples peuvent être calculées en
de la valeur convenue doivent entraîner un réétalonnage de divisant l’activité alpha totale par le nombre d’emotteurs alpha
l’instrument; participant à l’équilibre.
d) les conditions géométriques, lors de la mesure, Des calculs similaires ne peuvent être faits pour les émetteurs
bêta dans un équilibre d’une chaîne de décroissance que si
devraient être aussi proches que possible de celles que l’on a
utilisées pour l’étalonnage de l’instrument. A cet effet, on leurs probabilités de détection sont au même niveau (voir
peut utiliser des entretoises amovibles; tableau 3, couples marqués *eq.).
-
L’applicabilité de l’équation est basée sur les restrictions mentionnées dans le chapitre 1.
1)
3
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IsO 7503-l : 1988 (FI
Dans le cas des couples de décroissance marqués Q dans le b) lorsque les réglementations permettent de faire une
moyenne de la contamination de surface sur de plus gran-
tableau 3, seulement les radionucléides soulignés seront cor-
rectement detectés par les moniteurs bêta utilises pour les des surfaces, on peut effectuer le prélèvement sur ces surfa-
ces et on doit inclure la valeur de ces surfaces dans le calcul
mesures de contamination de surface. A l’etat d’équilibre,
l’activité totale présente est deux fois l’activité bêta obtenue en du résultat, conformément au 4.3.3;
utilisant la méthode d’évaluation normalisée.
c) le matériau utilisé pour le frottis devrait être adapté à la
surface à contrôler (par exemple papier filtre pour des surfa-
NOTE - Les instruments de mesures possédant un microprocesseur
sont capables d’exécuter automatiquement le calcul en fonction de
ces lisses, textile de coton pour des surfaces rugueuses);
l’équation (1) et de produire une indication en termes d’activité surfaci-
que. Dans ce but, l’instrument nécessite d’avoir dans sa mémoire les
d) si l’on utilise un agent mouillant pour humecter le maté-
valeurs numériques relevées pour nB, w, &i et &,. Les valeurs pour &i et
riau utilisé pour le frottis, cet agent mouillant ne devrait pas
es devraient être choisies séparément en fonction des radionucléides à
suinter du matériau.
mesurer et de la structure de la source de contamination. Ces facteurs
sont normalement entrés dans la mémoire de l’instrument comme un
AVERTISSEMENT: Étant donné que la contamination
facteur combiné. Dans le cas de l’étalonnage direct de tels instruments
peut être absorbée dans la structure du materiau uti-
(voir chapitre 5, note 51, seule la valeur de E, devrait être choisie.
lise pour le frottis ou peut être masquee par une humi-
dit6 résiduelle, l’utilisation d’un agent mouillant peut
conduire à une nette sous-estimation de la contamina-
tion dans le cas d’émetteurs alpha.
4.3 Évaluatio n indi recte de la contamination de
surface
e)
le frottis doit être pressé modérément contre la surface
à contrôler, par le bout des doigts ou de préférence a l’aide
d’un support conçu pour assurer une pression uniforme et
4.3.1 Prescriptions auxquelles doivent satisfai re les
constante; .
instruments de mesure
f) la totalité de la surface de 100 cm* doit être frottée;
Les mesures des echantillons de frottis sont souvent effectuées
en utilisant des instruments fixes, bien protégés et à compteur
g) si possible, des disques de papier filtre devraient être
d’impulsions. Si des contaminamètres ou des moniteurs de
utilisés comme matériau pour les frottis;
contamination de surface portatifs sont utilisés, les caractéristi-
ques et les performances des instruments de mesure doivent
h) la surface contaminée du frottis doit être inférieure ou,
être conformes à la publication CEI 325.
au plus, égale à celle de la surface sensible de la sonde;
Les instruments doivent êre capables (voir 4.2.1, note 1) de
i) aprés le prélévement, le matériau utilisé pour le frottis
mesurer des activités en deçà du niveau limite de contamination
doit être séché soigneusement de façon qu’il n’y ait pas de
de surface, pour lesquels les résultats des mesures de contami-
perte d’activité.
nation de surface doivent être comparés (limites établies par les
réglementations internationales ou nationales ou, en l’absence
de telles réglementations définies, par des normes ou des con- 4.3.3 Procedure de mesure
sensus locaux).
Les mesures de l’activité des frottis devraient être effectuées
conformément aux indications du 4.2.3.1.
NOTE - Les instruments couramment disponibles sont capables de
mesurer des activités inférieures à 0,4 Bq pour la contamination alpha
et à 4 Bq pour la contamination bêta.
L’activité surfacique alpha ou bêta, AsrI), de la contamination
non fixee de la surface contrôlée, exprimée en becquerels centi-
Si l’on respecte ces activités, en frottant une surface de 100 cm* et en
métres à la puissance moins deux, est donnée, en fonction du
appliquant un facteur de prélévement F = O,l, on peut mesurer une
taux de comptage mesuré, par la relation suivante:
contamination non fixée inférieure à 0,04 Bqacm-* pour les émetteurs
alpha et à 0,4 Bqmcm-* pour les émetteurs bêta.
Asr= n-nB
. . .
(2)
&ixFxSXEs
4.3.2 Directives de pr6levement
où
La détection et l’évaluation de la contamination de surface peu-
n
vent être effectuées à l’aide d’un ou plusieurs frottis secs ou est le taux de comptage total mesuré, en secondes à la
humides. puissance moins un;
Lorsque l’on préléve des frottis sur des surfaces étendues, les ng est le taux de comptage du bruit de fond, en secondes
points suivants doivent être pris en considération pour détermi- a la puissance moins un;
ner la distribution de la contamination :
&i est le rendement de l’instrument au rayonnement bêta
a) la surface à frotter doit, si possible, être de 100 cm*; ou alpha (voir chapitres 5 et A.2);
1) L’applicabilité de l’équation est basée sur les restrictions mentionnées au chapitre 1.
4
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ISO 7503-l : 1988 (FI
II faut cependant s’assurer que l’énergie bêta de cette source de
F est le facteur de prélévement;
réfkence n’est pas supérieure de façon significative à l’énergie
bêta la plus faible à mesurer.
S est la surface frottée, en centimétres carrés;
Les radionucléides pour les sources de référence,
appropriés
E, est le rendement de la source représentée par le frottis (voir
sont les suivants:
chapitre A.2).
= 0,154 MeV)
14C (Egnlax
Les valeurs de es données en 4.2.3.2 devraient être utilisées.
147Pm (Epmax = 0,225 MeV)
Si F n’est pas déterminé expérimentalement, la valeur raison-
nable de F = 0,l doit être utilisée.
WI (Epmax = 0,71 MeV)
Pour 1’6valuation des radionucléides dans un équilibre de
décroissance radioactive, voir 4.2.3.2. *WI Q-,,ax = 0,77 MeV)
wSr/wY (Epmax = 2,26 MeV)
5 Dbtermi nation du rendem
I.
nstrumen t de m esu l~Ru/l~Rh (Epmax = 39 MeV)
I I
Le rendement de l’instrument de mesure doit être déterminé au Le rendement de l’instrument de mesure doit être déterminé
moyen de rayonnements de réference fournis par les sources de dans des conditions géométriques qui doivent être aussi pro-
reférence de taux d’émission de surface connu, conformément ches que possible des conditions correspondant aux mesures
à I’ISO 8769. directes ou indirectes (voir 4.2.3.1).
Les dimensions de la source de rbfkence devraient être suffi- Le rendement de l’instrument de mesure, ci, pour la source de
santes pour recouvrir la fenêtre d’entrée du détecteur de I’ins- référence (voir chapitre A.21 est donné par la relation
suivante :
trument. Lorsque, dans des cas extrêmes, des sources de telles
n - ng n - nB
dimensions ne sont pas disponibles, des mesures avec des plus
=-=-
. . .
(3)
&i
petites sources, réparties pour des surfaces actives d’au moins
q*n,sc ESC w
100 cm*, doivent être effectuées. Ces mesures devraient cou-
vrir I’entihre surface de la fenêtre ou au moins ses fractions
où
représentatives et doivent aboutir à une valeur moyenne
pour &i. n est le taux de comptage total mesuré de la source de
référence et du bruit de fond, en secondes à la puissance
Pour la détermination du rendement de l’instrument de mesure, moins un;
une distinction doit être faite entre les rayonnements alpha et
est le taux de comptage du bruit de fond, en secondes
bêta.
128
à la puissance moins un;
Dans le cas de la contamination de surface alpha, la taille des
q2n,sc est le taux d’bmission de surface, en secondes à la
particules peut atteindre et dépasser la valeur de 10 pm.
puissance moins un, de la source de référence en dessous
Lorsqu’il s’agit d’une contamination par fines particules (diamè-
de la surface W, en centimètres carrés, de la fenêtre sensi-
tre des particules compris entre 0,l et 2 pm), la substance
ble de la sonde;
radioactive est alors mélangée à la poussière de la surface au
cours du prélévement et comprimée dans le matériau du porte-
est le taux d’émission de surface sutfacique, en secon-
ESC
échantillon. Dans les deux cas, le spectre de la raie d’origine se
des à la puissance moins un centimétres à la puissance
transforme en spectre continu dans lequel apparaissent toutes
moins deux, de la source de référence.
les énergies alpha comprises entre zéro et l’énergie de la raie.
En conséquence, le rendement du détecteur tombe en dessous
NOTES
de la valeur correspondant à une source mince. Pour ces rai-
1 Dans le cas du WSr en équilibre avec son nucléide de filiation WY, le
sons, des sources à épaisseur de saturation constituees par
taux d’emission de surface par unité de surface utilisé dans la formule
exemple d’un alliage uranium-aluminium (13 % d’uranium
devrait être le double de celui du %r.
naturel, 0,06 mm d’épaisseur) se sont révélées être des sources
convenant bien comme sources de travail (étalonnage de rou- 2 Si le taux d’émission de sut face d’une source utilisée pour I’étalon-
nage est inconnu (c’est-à-dire source non conforme à I’ISO 87691, une
tine) pour les détecteurs alpha non sensibles au rayonnement
valeur approximative de J?& peut être déterminée selon 4.4.1.
bêta.
3 L’utilisation de sources de référence ayant une épaisseur de satura-
Dans le cas d’émetteurs bêta, ci dépend de l’énergie des parti-
tion plutôt qu’une couche mince conduira à une valeur raisonnable du
cules bêta et devrait être déterminé par une énergie bêta corres- rendement de l’instrument de mesure.
pondant à la contamination à mesurer.
4 Dans le cas des instruments à base de microprocesseur, Ci est déter-
miné de la façon suivante. La sonde est placée sur une grande surface
Dans les usines et les laboratoires où l’on utilise divers radionu-
appropriée de la source de référence de taux d’émission surfacique,
cléides ayant des énergies bêta différentes, il est commode
ESC, connu, et en changeant continuellement le facteur d’étalonnage,
d’utiliser pour le rendement de l’instrument une seule valeur l’indication du compteur est établie à la valeur de ESC. L’instrument
établie pour une seule énergie bêta.
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ISO 7503-l : 1988 W-1
e) agent mouillant;
est alors branché pour indiquer le facteur d’étalonnage dans ces
qui,
conditions, est égal à &i.
prélèvement pour mesure indirecte ré
f) facteur de
5 Un étalonnage direct peut être effectué avec des instruments de
ou supposé);
mesure à base de microprocesseur. La sonde est placée sur une grande
surface appropriée de la source de référence de taux d’émission de sur-
g) instrument utilisé, numéro de série;
face surfacique, ESC, connu, et en changeant continuellement le fac-
teur d’étalonnage, l’indication du compteur est établie à une valeur de
h) rendement de l’instrument de mesure, date d’étalon-
E,,le,, où cS est le rendement de la source de contamination qui est
nage;
mesuré à l’aide de l’instrument étalonné.
i) source de référence: radionucléide, taux d’émission
surface surfacique;
6 Enregistrement des mesures de
contamination
j) indication de 1’ ment pour la contamination (sur-
face ou frottis
1;
Si un rapport des mesures de contamination de surface est
les informati ons suivantes devraient être incluses :
exigé,
k) indication due au bruit de fond;
a) date;
1) activité surfacique;
b) lieu et emplacement;
m) remarques sur l’étendue de la contamination;
cl type de surface pour mesure indirecte; n) autres observations;
o) nom de l’opérateur.
dl matériau de prélévement par frottis (sec ou humide);
6
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60 7503-I : 1988 (FI
Annexe
Explication des termes de base et des données pour les procédures
d’étalonnage et de mesure
(Cette annexe fait partie intégrante de la norme.)
C’est pourquoi, si l’on étalonne les contaminamétres de surface
A.1 Génbralith
en se fondant sur le taux d’émission plutôt que sur l’activité,
Alors que l’on se réfere généralement à la
...
Questions, Comments and Discussion
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