IEC 62228-2:2016

Integrated circuits - EMC evaluation of transceivers - Part 2: LIN transceivers

IEC 62228-2:2016 specifies test and measurement methods for EMC evaluation of LIN transceiver ICs under network condition. It defines test configurations, test conditions, test signals, failure criteria, test procedures, test setups and test boards. It is applicable for standard LIN transceiver ICs and ICs with embedded LIN transceiver and covers:
- the emission of RF disturbances,
- the immunity against RF disturbances,
- the immunity against impulses and
- the immunity against electrostatic discharges (ESD).

Circuits intégrés - Évaluation de la CEM des émetteurs-récepteurs - Partie 2: Emetteurs-récepteurs LIN

L'IEC 62228-2:2016 spécifie les méthodes d'essai et de mesure pour l'évaluation de la compatibilité électromagnétique (CEM) des circuits intégrés émetteurs-récepteurs LIN placés en réseau. Il définit les configurations d'essai, les conditions d'essai, les signaux d'essai, les critères de défaillance, les modes opératoires d'essai, les dispositions d'essai et les cartes d'essai. Il s'applique aux circuits intégrés émetteurs-récepteurs LIN standard et aux circuits intégrés avec émetteur-récepteur LIN intégré, et couvre:
- l'émission de perturbations radioélectriques;
- l'immunité aux perturbations radioélectriques;
- l'immunité aux transitoires électriques;
- l'immunité aux décharges électrostatiques (DES).

General Information

• Status: Published
• Publication Date: 17-Nov-2016
• ICS: 01 - GENERALITIES. TERMINOLOGY. STANDARDIZATION. DOCUMENTATION
• ICS: 31.200 - Integrated circuits. Microelectronics
• Technical Committee: SC 47A - Integrated circuits
• Drafting Committee: WG 9 - TC 47/SC 47A/WG 9
• Current Stage: PPUB - Publication issued
• Start Date: 15-Jan-2017
• Completion Date: 18-Nov-2016

Standards Content (Sample)

IEC 62228-2 ®
Edition 1.0 2016-11
INTERNATIONAL
STANDARD
NORME
INTERNATIONALE
colour
inside
Integrated circuits – EMC evaluation of transceivers –
Part 2: LIN transceivers
Circuits intégrés – Évaluation de la CEM des émetteurs-récepteurs –
Partie 2: Émetteurs-récepteurs LIN

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INTERNATIONAL
ELECTROTECHNICAL
COMMISSION
COMMISSION
ELECTROTECHNIQUE
INTERNATIONALE
ICS 31.200 ISBN 978-2-8322-3776-2

– 2 – IEC 62228-2:2016 © IEC 2016
CONTENTS
FOREWORD . 5
1 Scope . 7
2 Normative references . 7
3 Terms, definitions and abbreviations . 8
3.1 Terms and definitions . 8
3.2 Abbreviations . 8
4 General . 8
5 Test and operating conditions . 9
5.1 Supply and ambient conditions. 9
5.2 Test operation modes . 10
5.3 Test configuration . 10
5.3.1 General test configuration for functional test . 10
5.3.2 General test configuration for unpowered ESD test . 11
5.3.3 Coupling ports and coupling networks for functional tests . 11
5.3.4 Coupling ports and coupling networks for unpowered ESD tests . 12
5.4 Test signals . 13
5.4.1 General . 13
5.4.2 Test signals for normal operation mode . 13
5.4.3 Test signal for wake-up from sleep mode . 14
5.5 Evaluation criteria . 14
5.5.1 General . 14
5.5.2 Evaluation criteria in functional operation modes during exposure to
disturbances . 15
5.5.3 Evaluation criteria in unpowered condition after exposure to
disturbances . 16
5.5.4 Status classes . 17
6 Test and measurement . 17
6.1 Emission of RF disturbances . 17
6.1.1 Test method . 17
6.1.2 Test setup . 17
6.1.3 Test procedure and parameters . 18
6.2 Immunity to RF disturbances . 19
6.2.1 Test method . 19
6.2.2 Test setup . 19
6.2.3 Test procedure and parameters . 20
6.3 Immunity to impulses . 22
6.3.1 Test method . 22
6.3.2 Test setup . 23
6.3.3 Test procedure and parameters . 23
6.4 Electrostatic Discharge (ESD) . 26
6.4.1 Test method . 26
6.4.2 Test setup . 26
6.4.3 Test procedure and parameters . 28
7 Test report . 28
Annex A (normative) LIN test circuits . 29
A.1 General . 29

A.2 LIN test circuit for standard LIN transceiver ICs for functional tests . 29
A.3 LIN test circuit for IC with embedded LIN transceiver for functional tests . 31
A.4 LIN test circuit for LIN transceiver ICs for unpowered ESD test . 32
Annex B (normative) Test circuit boards. 33
B.1 Test circuit board for functional tests . 33
B.2 ESD test . 33
Annex C (informative) Examples for test limits for LIN transceiver in automotive
application . 35
C.1 General . 35
C.2 Emission of RF disturbances . 35
C.3 Immunity to RF disturbances . 36
C.4 Immunity to impulses . 37
C.5 Electrostatic Discharge (ESD) . 37
Annex D (informative) Test of indirect ESD discharge . 38
D.1 General . 38
D.2 Test setup . 38
D.3 Typical current wave form for indirect ESD test . 39
D.4 Test procedure and parameters . 39

Figure 1 – General test configuration for tests in functional operation modes . 10
Figure 2 – General test configuration for unpowered ESD test . 11
Figure 3 – Coupling ports and networks for functional tests . 11
Figure 4 – Coupling ports and networks for unpowered ESD tests . 12
Figure 5 – Principal drawing of the maximum deviation on an I-V characteristic . 16
Figure 6 – Test setup fo
...