IEC 62527:2007
(Main)Standard for Extensions to Standard Test Interface Language (STIL) for DC Level Specification
Standard for Extensions to Standard Test Interface Language (STIL) for DC Level Specification
STIL language constructs are defined to specify the DC conditions necessary to excute digital vectors on automated test equipment(ATE). STIL language extensions include structures for:(a) specifying the DC conditions for a device under test; specifying DC conditions either globally, by pattern burst, by pattern, or by vector;(c) specifying alternate DC levels;and (d) selecting DC levels and alternate levels within a period, much the same as timed format events.
General Information
Standards Content (Sample)
IEC 62527
Edition 1.0 2007-11
™
IEEE 1450.2
INTERNATIONAL
STANDARD
Standard for Extensions to Standard Test Interface Language (STIL) for
DC Level Specification
IEC 62527:2007(E) IEEE Std. 1450.2-2002
---------------------- Page: 1 ----------------------
THIS PUBLICATION IS COPYRIGHT PROTECTED
Copyright © 2007 IEEE
All rights reserved. IEEE is a registered trademark in the U.S. Patent & Trademark Office, owned by the Institute of
Electrical and Electronics Engineers, Inc.
Unless otherwise specified, no part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means,
electronic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing from the IEC Central Office.
Any questions about IEEE copyright should be addressed to the IEEE. Enquiries about obtaining additional rights
to this publication and other information requests should be addressed to the IEC or your local IEC member National
Committee.
IEC Central Office The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc
3, rue de Varembé 3 Park Avenue
CH-1211 Geneva 20 US-New York, NY10016-5997
Switzerland USA
Email: inmail@iec.ch Email: stds-info@ieee.org
Web: www.iec.ch Web: www.ieee.org
About the IEC
The International Electrotechnical Commission (IEC) is the leading global organization that prepares and publishes
International Standards for all electrical, electronic and related technologies.
About IEC publications
The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC. Please make sure that you have the
latest edition, a corrigenda or an amendment might have been published.
ƒ Catalogue of IEC publications: www.iec.ch/searchpub
The IEC on-line Catalogue enables you to search by a variety of criteria (reference number, text, technical committee,…).
It also gives information on projects, withdrawn and replaced publications.
ƒ IEC Just Published: www.iec.ch/online_news/justpub
Stay up to date on all new IEC publications. Just Published details twice a month all new publications released. Available
on-line and also by email.
ƒ Electropedia: www.electropedia.org
The world's leading online dictionary of electronic and electrical terms containing more than 20 000 terms and definitions
in English and French, with equivalent terms in additional languages. Also known as the International Electrotechnical
Vocabulary online.
ƒ Customer Service Centre: www.iec.ch/webstore/custserv
If you wish to give us your feedback on this publication or need further assistance, please visit the Customer Service
Centre FAQ or contact us:
Email: csc@iec.ch
Tel.: +41 22 919 02 11
Fax: +41 22 919 03 00
---------------------- Page: 2 ----------------------
IEC 62527
Edition 1.0 2007-11
™
IEEE 1450.2
INTERNATIONAL
STANDARD
Standard for extensions to Standard Test Interface Language (STIL) for d.c.
level specification
INTERNATIONAL
ELECTROTECHNICAL
COMMISSION
PRICE CODE
W
ICS 25.040 ISBN 2-8318-9480-8
---------------------- Page: 3 ----------------------
– 2 – IEC 62527:2007(E)
IEEE 1450.2-2002(E)
CONTENTS
FOREWORD.4
IEEE Introduction .7
�� ������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������ 8
��� ������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������� 9
��� �����������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������10
�� �����������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������10
�� �����������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������10
��� ����������� ����������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������10
��� �������������������������� ������������������������������������������������������������������������������������������������������13
� ��������������!����������� ��������������������������������������������������������������������������������������������������� �����������������14
"� #$������������%&�����’���()*������$������������ ������������������������������������������������������������������������������ �14
"�� ���������&�������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������14
"�� �%��$��������������������+��,�$��- ��������������������������������������������������
...
Questions, Comments and Discussion
Ask us and Technical Secretary will try to provide an answer. You can facilitate discussion about the standard in here.