IEC 62475:2026

• Abstract:

  IEC 62475:2026 is applicable to high-current testing and measurements on both high-voltage and low-voltage equipment. It deals with steady-state and short-time direct current (as e.g. encountered in high-power DC testing), steady-state and short-time alternating current (as e.g. encountered in high-power AC testing), and impulse-current. In general, currents above 100 A are considered in this International Standard, although currents less than this can occur in tests.; This standard:; • defines the terms used;; • defines parameters and their tolerances;; • describes methods to estimate uncertainties of high-current measurements;; • states the requirements applicable to a complete measuring system;; • describes the methods for approving a measuring system and checking its components;; • describes the procedure by which the user shows that a measuring system meets the requirements of this document, including limits set for uncertainty of measurement.; This standard also covers fault detection during, for example, lightning impulse testing.; This second edition cancels and replaces the first edition published in 2010. This edition constitutes a technical revision.; This edition includes the following significant technical changes with respect to the previous edition:; • minor errors in edition 1 have corrected;; • terms and definitions have been modified to achieve best possible adherence to IEC 60060‑2:2025 and have been ascribed appropriate [SOURCE];; • terms and definitions which in edition 1 were presented in clauses other than Clause 3 have been moved into Clause 3.; • Annex B, Clause B.4 has been amended to provide an example of uncertainty calculation for the use of an approved measuring system;; • Clause C.2 has been deleted since the definitions given there are not referred to, with the exception of the origin of the step, which is used in Annex D. The applicable information has been added to Annex D as Note 1.; • Annex G, Clause G.8 has been amended to replace “peak factor” by “a factor”. Texts have been clarified. Equations for relation between factor κ and cos ϕ have been developed to a simplified form.; • Annex G, Clause G.9 has been added.

• Status: Published
• Publication Date: 29-Jul-2026
• ICS: 19.080 - Electrical and electronic testing
• Technical Committee: TC 42 - High-voltage and high-current test techniques
• Drafting Committee: MT 12 - TC 42/MT 12
• Current Stage: PPUB - Publication issued
• Start Date: 30-Jul-2026
• Completion Date: 21-Aug-2026

• Revises: IEC 62475:2010 - High-current test techniques - Definitions and requirements for test currents and measuring systems
• Effective Date: 05-Sep-2023

IEC 62475 ®
Edition 2.0 2026-07
INTERNATIONAL
STANDARD
High-current test techniques - Definitions and requirements for test currents and
measuring systems
ICS 19.080  ISBN 978-2-8327-1400-3

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CONTENTS
FOREWORD . 7
1 Scope . 9
2 Normative references . 9
3 Terms and definitions . 9
3.1 Measuring systems . 10
3.2 Components of a measuring system . 11
3.3 Scale factors . 12
3.4 Rated values . 12
3.5 Terms and definitions related to the dynamic behaviour . 13
3.6 Terms related to uncertainty . 14
3.7 Terms and definitions related to tests on measuring systems . 17
3.8 Terms and definitions related to steady state direct current . 18
3.9 Terms related to steady state alternating current . 18
3.10 Terms and definitions related to short-time direct current . 18
3.11 Terms and definitions related to short-time alternating current . 19
3.12 Terms and definitions related to impulse currents . 21
4 Procedures for qualification and use of a measuring system . 25
4.1 General principles . 25
4.2 Schedule of performance tests . 26
4.3 Schedule of performance checks . 26
4.4 Requirements for the record of performance . 26
4.4.1 Contents of the record of performance . 26
4.4.2 Exceptions . 27
4.5 Operating conditions . 27
4.6 Uncertainty . 27
5 Tests and test requirements for an approved measuring system . 28
5.1 General requirements . 28
5.2 Calibration – Determination of the scale factor . 29
5.2.1 Calibration of a measuring system by comparison with a reference
measuring system (preferred method) . 29
5.2.2 Determination of the scale factor of a measuring system from those of
its components (alternative method) . 33
5.3 Linearity test in addition to comparison over the limited current range . 34
5.3.1 Application. 34
5.3.2 Alternative methods in order of suitability . 34
5.4 Dynamic behaviour . 35
5.4.1 General . 35
5.4.2 Determination of the amplitude-frequency response of AC
measuring systems . 35
5.4.3 Reference method for impulse current measuring systems . 35
5.5 Short-term stability . 36
5.5.1 Method . 36
5.5.2 Steady-state current . 36
5.5.3 Impulse current and short-time current . 37
5.5.4 Periodic impulse current and periodic short-time current . 38
5.6 Long-term stability . 39
5.7 Ambient temperature effect . 40
5.8 Effect of nearby current paths . 40
5.9 Software effect . 43
5.10 Uncertainty calculation . 44
5.10.1 General . 44
5.10.2 Uncertainty of calibration . 44
5.10.3 Uncertainty of measurement using an approved measuring system . 45
5.11 Uncertainty calculation of time-parameter measurements (impulse currents
only) . 46
5.11.1 General . 46
5.11.2 Uncertainty of the time-parameter calibration . 46
5.11.3 Uncertainty of a time-parameter measurement using an approved
measuring system. 48
5.12 Interference test. 49
5.12.1 Application. 49
5.12.2 Current-converting shunts and current transformers with iron . 49
5.12.3 Inductive measuring systems without iron (Rogowski coils) . 51
5.13 Withstand tests . 52
5.13.1 Voltage withstand tests . 52
5.13.2 Current withstand tests . 52
6 Steady-state direct current . 52
6.1 Application . 52
6.2 Test current . 52
6.2.1 Requirements . 52
6.2.2 Tolerances . 52
6.3 Measurement of the test current . 53
6.3.1 Requirements for an approved measuring system . 53
6.3.2 Uncertainty contributions . 53
6.3.3 Dynamic behaviour . 53
6.3.4 Calibrations and tests on an approved measuring system . 53
6.3.5 Performance check . 54
6.4 Measurement of ripple amplitude . 54
6.4.1 Requirements for an approved measuring system . 54
6.4.2 Uncertainty contributions . 54
6.4.3 Dynamic behaviour for ripple . 54
6.4.4 Calibrations and tests on an approved ripple-current measuring system . 55
6.4.5 Measurement of the scale factor at the ripple frequency . 55
6.4.6 Performance check for ripple current measuring system . 55
6.5 Test procedures . 56
7 Steady-state alternating current . 56
7.1 Application . 56
7.2 Test current . 56
7.2.1 Requirements . 56
7.2.2 Tolerances . 56
7.3 Measurement of the test current . 57
7.3.1 Requirements for an approved measuring system . 57
7.3.2 Uncertainty contributions . 57
7.3.3 Dynamic behaviour . 57
7.3.4 Calibrations and tests on an approved measuring system . 59
7.3.5 Performance check . 60
7.4 Test procedures . 60
8 Short-time direct current . 60
8.1 Application . 60
8.2 Test currents . 61
8.2.1 Requirements for the test current. 61
8.2.2 Tolerances . 61
8.3 Measurement of the test current . 61
8.3.1 Requirements for an approved measuring system . 61
8.3.2 Uncertainty contributions . 61
8.3.3 Dynamic behaviour . 61
8.3.4 Calibrations and tests on an approved measuring system . 62
8.3.5 Performance check . 63
8.3.6 Linearity test . 63
8.4 Test procedures . 63
9 Short-time alternating current . 64
9.1 Application . 64
9.2 Test current . 64
9.2.1 Requirements for the test current. 64
9.2.2 Tolerances . 64
9.3 Measurement of the test current . 65
9.3.1 Requirements for an approved measuring system . 65
9.3.2 Uncertainty contributions . 65
9.3.3 Dynamic behaviour . 65
9.3.4 Calibrations and tests on an approved measuring system . 67
9.3.5 Performance check . 67
9.3.6 Linearity test . 68
9.3.7 Interference test . 68
9.4 Test procedures . 68
10 Impulse currents . 68
10.1 Application . 68
10.2 Test current . 69
10.2.1 General . 69
10.2.2 Tolerances . 69
10.3 Measurement of the test current . 70
10.3.1 Requirements for an approved measuring system . 70
10.3.2 Uncertainty contributions . 70
10.3.3 Dynamic behaviour . 70
10.3.4 Calibrations and tests on an approved measuring system . 72
10.3.5 Performance check . 73
10.4 Test procedures . 73
11 Current measurement in high-voltage dielectric testing . 73
11.1 Application . 73
11.2 Test current . 74
11.3 Measurement of the test current . 74
11.3.1 Requirements for an approved measuring system . 74
11.3.2 Uncertainty contributions . 74
11.3.3 Dynamic behaviour . 74
11.3.4 Calibrations and tests on an approved measuring system . 74
11.3.5 Performance check . 75
11.3.6 Linearity test . 75
11.3.7 Interference test . 75
11.4 Test procedures . 75
12 Reference measuring systems . 75
12.1 General . 75
12.2 Interval between subsequent calibrations of reference measuring systems . 76
Annex A (informative) Uncertainty of measurement . 77
A.1 General . 77
A.2 Model function . 77
A.3 Type A evaluation of standard uncertainty . 78
A.4 Type B evaluation of standard uncertainty . 79
A.5 Combined standard uncertainty . 80
A.6 Expanded uncertainty . 81
A.7 Effective degrees of freedom . 82
A.8 Uncertainty budget . 82
A.9 Statement of the measurement result . 83
Annex B (informative) Examples of the uncertainty calculation in high-current
measurements . 85
B.1 General . 85
B.2 Example 1: Calibration of the scale factor of an AC current measuring
system (comparison or reference method) . 85
B.3 Example 2: Expanded uncertainty of measurement using an approved
measuring system . 89
B.4 Example 3: Scale factor when using an approved high current measuring

system (component method) . 91
Annex C (informative) Generation of current step . 94
Annex D (informative) Convolution method for estimation of dynamic behaviour from
step-response measurements . 96
D.1 General . 96
D.2 Convolution method . 96
D.3 Procedure for performing the convolution calculation . 97
D.4 Uncertainty contributions . 98
D.5 Discussion of the calculated errors of impulse parameters . 99
D.5.1 Error in the peak amplitude . 99
D.5.2 Error in the front time . 99
D.5.3 Error in the time to half-value . 99
Annex E (informative) Constraints for certain wave shapes . 100
Annex F (informative) Temperature rise of measuring resistors . 102
Annex G (informative) Determination of RMS values of short-time AC current . 103
G.1 General characterization of a short-time alternating current . 103
G.2 True RMS value . 104
G.3 Symmetrical AC component (RMS value) . 105
G.4 Numerical method of obtaining the true RMS value using the trapezium rule . 105
G.5 Conventional RMS value of the AC component . 106
G.6 Conventional RMS value of an arc current . 108
G.7 Equivalent RMS value of a short-time current during a short-circuit of a given
duration . 109
G.8 Determination of the impedance angle from the factor κ . 110
G.9 Determination of the impedance angle by means of the phase shift between
current and voltage . 111
Annex H (informative) Examples of IEC standards with high-current tests . 113
Bibliography . 115

Figure 1 – Amplitude frequency response with examples for limit frequencies (f ; f ) . 14
1 2
Figure 2 – Example of short-time direct current . 19
Figure 3 – Exponential impulse current . 21
Figure 4 – Exponential impulse current – Oscillating tail . 22
Figure 5 – Impulse current – Rectangular, smooth . 23
Figure 6 – Impulse current – Rectangular with oscillations . 23
Figure 7 – Calibration by comparison over full assigned measurement range, h = 5 . 31
Figure 8 – Uncertainty contributions for calibrations over five current levels. 31
Figure 9 – Combining calibration and linearity test . 33
Figure 10 – Linearity test in the extended current range . 34
Figure 11 – Short-term stability test for steady-state current . 37
Figure 12 – Short-term stability test for impulse current and short-time current . 38
Figure 13 – Short-term stability test for periodic impulse-current and periodic short-
time current . 39
Figure 14 – Test circuit for effect of nearby current path for current-converting shunts
and current transformers with iron. 42
Figure 15 – Test circuit for effect of nearby current path for inductive measuring
systems without iron (Rogowski coils) . 43
Figure 16 – Principle of interference test circuit . 50
Figure 17 – Interference test on the measuring system i (t) based on
current-converting shunt or current transformer with iron in a typical 3-phase
short-circuit set-up . 50
Figure 18 – Test circuit for interference test for inductive systems without iron
(Rogowski coils) . 51
Figure 19 – Acceptable normalized amplitude-frequency response of an AC measuring
system intended for a single fundamental frequency f . 58
nom
Figure 20 – Acceptable normalized amplitude-frequency response of an AC measuring
system intended for a range of fundamental frequencies f to f . 59
nom1 nom2
Figure 21 – Example of short-time alternating current . 64
Figure A.1 – Normal probability distribution p(x) of a continuous random variable x . 83
Figure A.2 – Rectangular probability distribution p(x) . 84
Figure B.1 – Comparison between the system under calibration X and the reference
system N . 85
Figure C.1 – Circuit to generate current step using a coaxial cable . 94
Figure C.2 – Circuit to generate current step using a capacitor . 95
Figure E.1 – Attainable time parameters (shaded area) for 8/20 µs current impulse . 101
Figure G.1 – Equivalent circuit of short-circuit test . 103
Figure G.2 – Symmetrical AC component of an alternating short-circuit current . 105
Figure G.3 – Numerical evaluation of RMS value showing both instantaneous current
and instantaneous squared value of the current . 106
Figure G.4 – Three-crest method . 107
Figure G.5 – Evaluation of conventional RMS value of an arc current using the three-
crest method . 108
Figure G.6 – Evaluation of equivalent RMS value of a short-time current during a short-
circuit test . 109
Figure G.7 – Relation between factor κ and power factor cos(φ). 111
Figure G.8 – Phase displacement based on an ohmic-inductive circuit . 111

Table 1 – Required tests for steady-state direct current . 53
Table 2 – Required tests for ripple current . 55
Table 3 – Required tests for steady-state alternating current . 59
Table 4 – Tolerance requirement on test-current parameters for short-time direct
current . 61
Table 5 – Required tests for short-time direct current . 62
Table 6 – Tolerance requirements on the short-time alternating current test parameters . 65
Table 7 – List of typical tests in a high-power laboratory and required minimum
frequency range of the measuring system . 66
Table 8 – Tolerance requirements on scale factor . 66
Table 9 – Required tests for short-time alternating current . 67
Table 10 – Examples of exponential impulse-current types . 69
Table 11 – Tolerance requirements on exponential impulse current . 69
Table 12 – Tolerance requirements on rectangular impulse current. 70
Table 13 – Required tests for impulse current . 72
Table 14 – Required tests for impulse current in high-voltage dielectric testing . 74
Table A.1 – Coverage factor k for effective degrees of freedom ν (p = 95 %) . 82
eff
Table A.2 – Schematic of an uncertainty budget . 83
Table B.1 – Result of the comparison measurement . 87
Table B.2 – Result of the comparison measurement . 88
Table B.3 – Uncertainty budget for calibration of scale factor F . 88
x
Table B.4 – Result of linearity test . 90
Table B.5 – Uncertainty budget of scale factor F . 90
X,mes
Table B.6 – Uncertainty budget of the assigned scale factor F . 93
Table H.1 – List of typical tests with short-time alternating current . 113
Table H.2 – List of typical tests with exponential impulse current . 113
Table H.3 – List of typical tests with rectangular impulse current . 114

INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION
____________
High-current test techniques -
Definitions and requirements for test currents and measuring systems

FOREWORD
1) The International Electrotechnical Commission (IEC) is a worldwide organization for standardization comprising
all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of IEC is to promote international
co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To this end and
in addition to other activities, IEC publishes International Standards, Technical Specifications, Technical Reports,
Publicly Available Specifications (PAS) and Guides (hereafter referred to as “IEC Publication(s)”). Their
preparation is entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt with
may participate in this preparatory work. International, governmental and non-governmental organizations liaising
with the IEC also participate in this preparation. IEC collaborates closely with the International Organization for
Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by agreement between the two organizations.
2) The formal decisions or agreements of IEC on technical matters express, as nearly as possible, an international
consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representation from all
interested IEC National Committees.
3) IEC Publications have the form of recommendations for international use and are accepted by IEC National
Committees in that sense. While all reasonable efforts are made to ensure that the technical content of IEC
Publications is accurate, IEC cannot be held responsible for the way in which they are used or for any
misinterpretation by any end user.
4) In order to promote international uniformity, IEC National Committees undertake to apply IEC Publications
transparently to the maximum extent possible in their national and regional publications. Any divergence between
any IEC Publication and the corresponding national or regional publication shall be clearly indicated in the latter.
5) IEC itself does not provide any attestation of conformity. Independent certification bodies provide conformity
assessment services and, in some areas, access to IEC marks of conformity. IEC is not responsible for any
services carried out by independent certification bodies.
6) All users should ensure that they have the latest edition of this publication.
7) No liability shall attach to IEC or its directors, employees, servants or agents including individual experts and
members of its technical committees and IEC National Committees for any personal injury, property damage or
other damage of any nature whatsoever, whether direct or indirect, or for costs (including legal fees) and
expenses arising out of the publication, use of, or reliance upon, this IEC Publication or any other IEC
Publications.
8) Attention is drawn to the Normative references cited in this publication. Use of the referenced publications is
indispensable for the correct application of this publication.
9) IEC draws attention to the possibility that the implementation of this document may involve the use of (a)
patent(s). IEC takes no position concerning the evidence, validity or applicability of any claimed patent rights in
respect thereof. As of the date of publication of this document, IEC had not received notice of (a) patent(s), which
may be required to implement this document. However, implementers are cautioned that this may not represent
the latest information, which may be obtained from the patent database available at https://patents.iec.ch. IEC
shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights.
IEC 62475 has been prepared by IEC technical committee 42: High-voltage and high-current
test techniques. It is an International Standard.
This second edition cancels and replaces the first edition published in 2010. This edition
constitutes a technical revision.
This edition includes the following significant technical changes with respect to the previous
edition:
a) minor errors in edition 1 have corrected;
b) terms and definitions have been modified to achieve best possible adherence to
IEC 60060-2:2025 and have been ascribed appropriate [SOURCE];
c) terms and definitions which in edition 1 were presented in clauses other than Clause 3 have
been moved into Clause 3.
d) Annex B, Clause B.4 has been amended to provide an example of uncertainty calculation
for the use of an approved measuring system;
e) Clause C.2 has been deleted since the definitions given there are not referred to, with the
exception of the origin of the step, which is used in Annex D. The applicable information has
been added to Annex D as Note 1.
f) Annex G, Clause G.8 has been amended to replace “peak factor” by “a factor”. Texts have
been clarified. Equations for relation between factor κ and cos ϕ have been developed to a
simplified form.
g) Annex G, Clause G.9 has been added.
The text of this International Standard is based on the following documents:
Draft Report on voting
42/472/FDIS 42/475/RVD
Full information on the voting for its approval can be found in the report on voting indicated in
the above table.
The language used for the development of this International Standard is English.
This document was drafted in accordance with ISO/IEC Directives, Part 2, and developed in
accordance with ISO/IEC Directives, Part 1 and ISO/IEC Directives, IEC Supplement, available
at www.iec.ch/members_experts/refdocs. The main document types developed by IEC are
described in greater detail at www.iec.ch/publications.
The committee has decided that the contents of this document will remain unchanged until the
stability date indicated on the IEC website under webstore.iec.ch in the data related to the
specific document. At this date, the document will be
– reconfirmed,
– withdrawn, or
– revised.
1 Scope
This document is applicable to high-current testing and measurements on both high-voltage
and low-voltage equipment. It deals with steady-state and short-time direct current (as e.g.
encountered in high-power DC testing), steady-state and short-time alternating current (as e.g.
encountered in high-power AC testing), and impulse-current. In general, currents above 100 A
are considered in this document, although currents less than this can occur in tests.
NOTE This document also covers fault detection during, for example, lightning impulse testing.
This document:
– defines the terms used;
– defines parameters and their tolerances;
– describes methods to estimate uncertainties of high-current measurements;
– states the requirements applicable to a complete measuring system;
– describes the methods for approving a measuring system and checking its components;
– describes the procedure by which the user shows that a measuring system meets the
requirements of this document, including limits set for uncertainty of measurement.
2 Normative references
The following documents are referred to in the text in such a way that some or all of their content
constitutes requirements of this document. For dated references, only the edition cited applies.
For undated references, the latest edition of the referenced document (including any
amendments) applies.
NOTE Informative references on subjects included in this document are given in the bibliography.
ISO/IEC Guide 98-3:2008, Uncertainty of measurement - Part 3: Guide to the expression of
uncertainty in measurement (GUM:1995)
3 Terms and definitions
For the purposes of this document, the following terms and definitions apply.
ISO and IEC maintain terminology databases for use in standardization at the following
addresses:
– IEC Electropedia: available at https://www.electropedia.org/
– ISO Online browsing platform: available at https://www.iso.org/obp
3.1 Measuring systems
3.1.1
measuring system
complete set of devices suitable for performing measurements of a quantity to be measured
Note 1 to entry: A high-current measuring system usually comprises the following components:
– converting device with either terminals to connect this device in circuit or appropriate coupling to the circuit, and
connections to earth;
– transmission system(s) connecting the output terminals of the converting device to the measuring instrument(s)
with its attenuating, terminating, and adapting impedances or networks;
– measuring instrument(s) together with any connections to the power supply. Measuring systems which comprise
only some of the above components or which are based on non-conventional principles are acceptable if they
meet the uncertainty requirements specified in this document;
– and in some cases the measuring system can include software to calculate the measurand.
Note 2 to entry: The environment in which a measuring system functions, its clearances to live, current carrying,
and earthed structures, and the presence of electromagnetic fields can significantly affect the measurement result
and its uncertainty.
[SOURCE: IEC 60060-2:2025, 3.1.1, modified – " a high-voltage measurement" replaced with "
measurements of a quantity to be measured"; in Note 1: addition of "high-current" in the
introductory sentence, modification of the first and third hyphens; in Note 2 to entry, addition of
"current carrying" and replacement of " electric or magnetic fields may" with " electromagnetic
fields can ".]
3.1.2
record of performance
detailed record, established and maintained by the user, describing the measuring system and
containing evidence that the requirements given in this document have been met
Note 1 to entry: This evidence includes the results of the initial performance test and the schedule and results of
each subsequent performance test and performance check.
[SOURCE: IEC 60060-2:2025, 3.1.2]
3.1.3
approved measuring system
measuring system that is shown to comply with one or more of the sets of requirements set out
in IEC 62475
3.1.4
reference measuring system
measuring system with its calibration traceable to relevant national or international standards
of measurement, and having sufficient accuracy and stability for use in the approval of other
systems by making simultaneous comparative measurements with specific types of waveform
and ranges of current
Note 1 to entry: A reference measuring system (maintained in accordance with the requirements of this document)
can be used as an approved measuring system but the converse is not true.
[SOURCE:
...

IEC 62475 ®
Edition 2.0 2026-07
NORME
INTERNATIONALE
Techniques des essais à haute intensité - Définitions et exigences relatives aux
courants d'essai et systèmes de mesure

ICS 19.080  ISBN 978-2-8327-1400-3

Droits de reproduction réservés. Sauf indication contraire, aucune partie de cette publication ne peut être reproduite ni
utilisée sous quelque forme que ce soit et par aucun procédé, électronique ou mécanique, y compris la photocopie et
les microfilms, sans l'accord écrit de l'IEC ou du Comité national de l'IEC du pays du demandeur. Si vous avez des
questions sur le copyright de l'IEC ou si vous désirez obtenir des droits supplémentaires sur cette publication, utilisez
les coordonnées ci-après ou contactez le Comité national de l'IEC de votre pays de résidence.

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A propos de l'IEC
La Commission Electrotechnique Internationale (IEC) est la première organisation mondiale qui élabore et publie des
Normes internationales pour tout ce qui a trait à l'électricité, à l'électronique et aux technologies apparentées.

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SOMMAIRE
AVANT-PROPOS . 8
1 Domaine d'application . 10
2 Références normatives . 10
3 Termes et définitions . 10
3.1 Systèmes de mesure . 11
3.2 Constituants d'un système de mesure . 12
3.3 Coefficients de conversion . 13
3.4 Caractéristiques assignées . 14
3.5 Termes et définitions relatifs au comportement dynamique . 15
3.6 Termes relatifs à l'incertitude . 16
3.7 Termes et définitions relatifs aux essais sur des systèmes de mesure . 18
3.8 Termes et définitions relatifs au courant continu en régime établi . 19
3.9 Termes relatifs au courant alternatif en régime établi . 19
3.10 Termes et définitions relatifs au courant continu de courte durée . 20
3.11 Termes et définitions relatifs au courant alternatif de courte durée. 21
3.12 Termes et définitions relatifs aux courants de choc . 22
4 Procédures de qualification et d'utilisation d'un système de mesure . 28
4.1 Principes généraux . 28
4.2 Calendrier des essais de détermination des caractéristiques . 28
4.3 Calendrier des contrôles des caractéristiques . 29
4.4 Exigences applicables au recueil de caractéristiques . 29
4.4.1 Contenu du recueil de caractéristiques . 29
4.4.2 Exceptions . 29
4.5 Conditions de fonctionnement . 30
4.6 Incertitude . 30
5 Essais et exigences d'essai pour un système de mesure approuvé . 31
5.1 Exigences générales . 31
5.2 Étalonnage – Détermination du coefficient de conversion . 32
5.2.1 Étalonnage d'un système de mesure par comparaison avec un système
de mesure de référence (méthode à privilégier) . 32
5.2.2 Détermination du coefficient de conversion d'un système de mesure à
partir de ceux de ses constituants (méthode alternative) . 36
5.3 Essai de linéarité en plus de la comparaison sur une plage limitée de
courants . 37
5.3.1 Application. 37
5.3.2 Autres méthodes dans l'ordre de pertinence . 38
5.4 Comportement dynamique . 38
5.4.1 Généralités . 38
5.4.2 Détermination de la réponse amplitude-fréquence des systèmes de
mesure en courant alternatif . 38
5.4.3 Méthode de référence pour les systèmes de mesure des courants de
choc . 39
5.5 Stabilité à court terme . 39
5.5.1 Méthode . 39
5.5.2 Courant en régime établi . 40
5.5.3 Courant de choc et courant de courte durée . 41
5.5.4 Courants périodiques de choc et de courte durée . 42

5.6 Stabilité à long terme . 43
5.7 Effet de la température ambiante . 44
5.8 Effet des trajets de courant voisins . 44
5.9 Effet du logiciel . 47
5.10 Calcul de l'incertitude . 48
5.10.1 Généralités . 48
5.10.2 Incertitude d'étalonnage . 48
5.10.3 Incertitude de mesure en utilisant un système de mesure approuvé . 49
5.11 Calcul de l'incertitude de mesure des paramètres de temps (courants de
choc uniquement) . 50
5.11.1 Généralités . 50
5.11.2 Incertitude d'étalonnage des paramètres de temps . 50
5.11.3 Incertitude de mesure des paramètres de temps en utilisant un système
de mesure approuvé . 52
5.12 Essai de perturbations . 53
5.12.1 Application. 53
5.12.2 Shunts de conversion de courant et transformateurs de courant avec fer . 53
5.12.3 Systèmes de mesure inductifs sans fer (bobines de Rogowski). 55
5.13 Essais de tenue . 56
5.13.1 Essais de tension de tenue . 56
5.13.2 Essais de courant de tenue . 56
6 Courant continu en régime établi . 56
6.1 Application . 56
6.2 Courant d'essai . 56
6.2.1 Exigences . 56
6.2.2 Tolérances . 57
6.3 Mesure du courant d'essai . 57
6.3.1 Exigences pour un système de mesure approuvé . 57
6.3.2 Contributions à l'incertitude . 57
6.3.3 Comportement dynamique . 57
6.3.4 Étalonnages et essais sur un système de mesure approuvé . 57
6.3.5 Contrôle des caractéristiques . 58
6.4 Mesure de l'amplitude de l'ondulation . 58
6.4.1 Exigences pour un système de mesure approuvé . 58
6.4.2 Contributions à l'incertitude . 59
6.4.3 Comportement dynamique pour l'ondulation . 59
6.4.4 Étalonnages et essais sur un système de mesure approuvé du courant
ondulatoire . 59
6.4.5 Mesure du coefficient de conversion à la fréquence d'ondulation . 60
6.4.6 Contrôle des caractéristiques du système de mesure de courant
ondulatoire . 60
6.5 Procédures d'essai . 60
7 Courant alternatif en régime établi . 60
7.1 Application . 60
7.2 Courant d'essai . 61
7.2.1 Exigences . 61
7.2.2 Tolérances . 61

7.3 Mesure du courant d'essai . 61
7.3.1 Exigences pour un système de mesure approuvé . 61
7.3.2 Contributions à l'incertitude . 61
7.3.3 Comportement dynamique . 62
7.3.4 Étalonnages et essais sur un système de mesure approuvé . 64
7.3.5 Contrôle des caractéristiques . 64
7.4 Procédures d'essai . 65
8 Courant continu de courte durée . 65
8.1 Application . 65
8.2 Courants d'essai . 65
8.2.1 Exigences relatives au courant d'essai . 65
8.2.2 Tolérances . 65
8.3 Mesure du courant d'essai . 66
8.3.1 Exigences pour un système de mesure approuvé . 66
8.3.2 Contributions à l'incertitude . 66
8.3.3 Comportement dynamique . 66
8.3.4 Étalonnages et essais sur un système de mesure approuvé . 67
8.3.5 Contrôle des caractéristiques . 68
8.3.6 Essai de linéarité . 68
8.4 Procédures d'essai . 68
9 Courant alternatif de courte durée . 68
9.1 Application . 68
9.2 Courant d'essai . 69
9.2.1 Exigences relatives au courant d'essai . 69
9.2.2 Tolérances . 69
9.3 Mesure du courant d'essai . 70
9.3.1 Exigences pour un système de mesure approuvé . 70
9.3.2 Contributions à l'incertitude . 70
9.3.3 Comportement dynamique . 70
9.3.4 Étalonnages et essais sur un système de mesure approuvé . 72
9.3.5 Contrôle des caractéristiques . 73
9.3.6 Essai de linéarité . 73
9.3.7 Essai de perturbations . 73
9.4 Procédures d'essai . 73
10 Courants de choc . 74
10.1 Application . 74
10.2 Courant d'essai . 74
10.2.1 Généralités . 74
10.2.2 Tolérances . 74
10.3 Mesure du courant d'essai . 75
10.3.1 Exigences pour un système de mesure approuvé . 75
10.3.2 Contributions à l'incertitude . 75
10.3.3 Comportement dynamique . 76
10.3.4 Étalonnages et essais sur un système de mesure approuvé . 77
10.3.5 Contrôle des caractéristiques . 78
10.4 Procédures d'essai . 79

11 Mesure du courant lors d'essais diélectriques à haute tension . 79
11.1 Application . 79
11.2 Courant d'essai . 79
11.3 Mesure du courant d'essai . 79
11.3.1 Exigences pour un système de mesure approuvé . 79
11.3.2 Contributions à l'incertitude . 80
11.3.3 Comportement dynamique . 80
11.3.4 Étalonnages et essais sur un système de mesure approuvé . 80
11.3.5 Contrôle des caractéristiques . 81
11.3.6 Essai de linéarité . 81
11.3.7 Essai de perturbations . 81
11.4 Procédures d'essai . 81
12 Systèmes de mesure de référence . 81
12.1 Généralités . 81
12.2 Intervalle entre étalonnages successifs de systèmes de mesure de référence . 81

Annexe A (informative) Incertitude de mesure . 82
A.1 Généralités . 82
A.2 Fonction modèle . 82
A.3 Évaluation de type A de l'incertitude type . 83
A.4 Évaluation de type B de l'incertitude type . 84
A.5 Incertitude type composée . 86
A.6 Incertitude élargie . 87
A.7 Degrés de liberté réels . 87
A.8 Bilan d'incertitude . 88
A.9 Expression du résultat de mesure . 88
Annexe B (informative) Exemples de calcul de l'incertitude dans les mesures à haute
intensité . 90
B.1 Généralités . 90
B.2 Exemple 1: Étalonnage du coefficient de conversion d'un système de
mesure en courant alternatif (méthode comparative ou méthode du système
de référence) . 90
B.3 Exemple 2: Incertitude élargie de mesure en utilisant un système de mesure
approuvé . 94
B.4 Exemple 3: Coefficient de conversion en cas d'utilisation d'un système de
mesure à haute intensité approuvé (méthode des constituants) . 96
Annexe C (informative) Génération de l'échelon de courant . 100
Annexe D (informative) Méthode de convolution pour l'estimation du comportement
dynamique à partir des mesures des réponses indicielles . 102
D.1 Généralités . 102
D.2 Méthode de convolution . 102
D.3 Procédure pour effectuer le calcul de convolution . 103
D.4 Contributions à l'incertitude . 104
D.5 Explication des erreurs calculées des paramètres de choc . 105
D.5.1 Erreurs sur l'amplitude de crête . 105
D.5.2 Erreur sur la durée de front. 105
D.5.3 Erreur sur la durée jusqu'à mi-valeur . 105

Annexe E (informative) Contraintes liées à certaines formes d'ondes. 106
Annexe F (informative) Échauffement des résistances de mesure . 108
Annexe G (informative) Détermination des valeurs efficaces d'un courant alternatif de
courte durée . 109
G.1 Caractérisation générale d'un courant alternatif de courte durée . 109
G.2 Valeur efficace vraie . 110
G.3 Composante alternative symétrique (valeur efficace) . 111
G.4 Méthode numérique d'obtention de la valeur efficace vraie par la règle du
trapèze . 111
G.5 Valeur efficace conventionnelle de la composante alternative . 112
G.6 Valeur efficace conventionnelle d'un courant d'arc . 114
G.7 Valeur efficace équivalente d'un courant de courte durée pendant un
court-circuit d'une durée donnée . 115
G.8 Détermination de l'angle d'impédance à partir du facteur κ . 116
G.9 Détermination de l'angle d'impédance au moyen du déphasage entre le
courant et la tension . 117
Annexe H (informative) Exemples de normes IEC relatives aux essais à haute
intensité . 119
Bibliographie . 121

Figure 1 – Réponse amplitude-fréquence pour des exemples de fréquences limites
(f ; f ). 15
1 2
Figure 2 – Exemple de courant continu de courte durée . 20
Figure 3 – Courant de choc exponentiel . 23
Figure 4 – Courant de choc exponentiel – Oscillations sur la queue . 24
Figure 5 – Courant de choc – Rectangulaire, lisse . 25
Figure 6 – Courant de choc – Rectangulaire avec oscillations . 25
Figure 7 – Étalonnage par comparaison sur toute la plage de mesures attribuée, h = 5 . 34
Figure 8 – Contributions à l'incertitude pour les étalonnages sur cinq niveaux de
courant . 34
Figure 9 – Combinaison de l'étalonnage et de l'essai de linéarité . 36
Figure 10 – Essai de linéarité dans la plage étendue de courants . 37
Figure 11 – Essai de stabilité à court terme pour un courant en régime établi . 41
Figure 12 – Essai de stabilité à court terme pour un courant de choc et un courant de
courte durée . 42
Figure 13 – Essai de stabilité à court terme pour des courants périodiques de choc et
de courte durée . 43
Figure 14 – Circuit d'essai de l'effet du trajet de courant voisin pour des shunts de
conversion de courant et des transformateurs de courant avec fer . 46
Figure 15 – Circuit d'essai de l'effet du trajet de courant voisin pour des systèmes de
mesure inductifs sans fer (bobines de Rogowski) . 47
Figure 16 – Schéma de principe du circuit d'essai de perturbations . 54
Figure 17 – Essai de perturbations réalisé sur le système de mesure i (t) fondé sur un
shunt de conversion de courant ou un transformateur de courant avec fer dans un
montage d'essai en court-circuit triphasé type . 54
Figure 18 – Circuit d'essai de perturbations pour systèmes inductifs sans fer (bobines
de Rogowski) . 55
Figure 19 – Réponse amplitude-fréquence normalisée acceptable d'un système de
mesure en courant alternatif pour une fréquence fondamentale unique f . 62
nom
Figure 20 – Réponse amplitude-fréquence normalisée acceptable d'un système de
mesure en courant alternatif pour une plage de fréquences fondamentales f à
nom1
f . 63
nom2
Figure 21 – Exemple de courant alternatif de courte durée . 69
Figure A.1 – Loi normale p(x) d'une variable aléatoire continue x . 89
Figure A.2 – Loi de probabilité rectangulaire p(x) . 89
Figure B.1 – Comparaison entre le système en cours d'étalonnage X et le système de
référence N . 90
Figure C.1 – Circuit de génération d'échelon de courant au moyen d'un câble coaxial . 100
Figure C.2 – Circuit de génération d'échelon de courant au moyen d'un condensateur . 101
Figure E.1 – Paramètres de temps atteignables (zone ombrée) pour une impulsion de
courant de 8/20 µs . 107
Figure G.1 – Circuit équivalent d'essai de court-circuit . 109
Figure G.2 – Composante alternative symétrique d'un courant alternatif de court-circuit . 111
Figure G.3 – Évaluation numérique de la valeur efficace démontrant à la fois le
courant instantané et le carré du courant instantané . 112
Figure G.4 – Méthode des trois crêtes . 113
Figure G.5 – Évaluation de la valeur efficace conventionnelle d'un courant d'arc par la
méthode des trois crêtes . 114
Figure G.6 – Évaluation de la valeur efficace équivalente d'un courant de courte durée
au cours d'un essai de court-circuit . 115
Figure G.7 – Relation entre le facteur κ et le facteur de puissance cos(φ) . 117
Figure G.8 – Déphasage fondé sur un circuit ohmique-inductif . 117

Tableau 1 – Essais exigés pour le courant continu en régime établi . 57
Tableau 2 – Essais exigés pour le courant ondulatoire . 59
Tableau 3 – Essais exigés pour le courant alternatif en régime établi . 64
Tableau 4 – Exigences de tolérance applicables aux paramètres d'essai de courant
continu de courte durée . 66
Tableau 5 – Essais exigés pour un courant continu de courte durée . 67
Tableau 6 – Exigences de tolérance applicables aux paramètres d'essai de courant
alternatif de courte durée . 69
Tableau 7 – Liste des essais types réalisés dans un laboratoire d'essai à haute
intensité et plage de fréquences minimales exigée du système de mesure . 71
Tableau 8 – Exigences de tolérance applicables au coefficient de conversion. 71
Tableau 9 – Essais exigés pour un courant alternatif de courte durée . 72
Tableau 10 – Exemples de types de courants de choc exponentiels . 74
Tableau 11 – Exigences de tolérance applicables au courant de choc exponentiel. 74
Tableau 12 – Exigences de tolérance applicables au courant de choc rectangulaire . 75
Tableau 13 – Essais exigés pour le courant de choc . 77
Tableau 14 – Essais exigés pour le courant de choc dans le cadre d'essais
diélectriques à haute tension . 80
Tableau A.1 – Facteur d'élargissement k pour les degrés de liberté réels ν
eff
(p = 95 %) . 88
Tableau A.2 – Schéma d'un bilan d'incertitude . 88
Tableau B.1 – Résultat de la mesure comparative . 92
Tableau B.2 – Résultat de la mesure comparative . 93
Tableau B.3 – Bilan d'incertitude d'étalonnage du coefficient de conversion F . 93
x
Tableau B.4 – Résultat de l'essai de linéarité . 95
Tableau B.5 – Bilan d'incertitude du coefficient de conversion F . 96
X,mes
Tableau B.6 – Bilan d'incertitude du coefficient de conversion attribué F . 98
Tableau H.1 – Liste d'essais types utilisant un courant alternatif de courte durée . 119
Tableau H.2 – Liste d'essais types utilisant un courant de choc exponentiel . 119
Tableau H.3 – Liste d'essais types utilisant un courant de choc rectangulaire . 120

COMMISSION ÉLECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE
____________
Techniques des essais à haute intensité -
Définitions et exigences relatives aux courants
d'essai et systèmes de mesure
AVANT-PROPOS
1) La Commission Électrotechnique Internationale (IEC) est une organisation mondiale de normalisation composée
de l'ensemble des comités électrotechniques nationaux (Comités nationaux de l'IEC). L'IEC a pour objet de
favoriser la coopération internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de
l'électricité et de l'électronique. À cet effet, l'IEC – entre autres activités – publie des Normes internationales,
des Spécifications techniques, des Rapports techniques, des Spécifications accessibles au public (PAS) et des
Guides (ci-après dénommés "Publication(s) de l'IEC"). Leur élaboration est confiée à des comités d'études, aux
travaux desquels tout Comité national intéressé par le sujet traité peut participer. Les organisations
internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec l'IEC, participent également aux
travaux. L'IEC collabore étroitement avec l'Organisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des
conditions fixées par accord entre les deux organisations.
2) Les décisions ou accords officiels de l'IEC concernant les questions techniques représentent, dans la mesure du
possible, un accord international sur les sujets étudiés, étant donné que les Comités nationaux de l'IEC intéressés
sont représentés dans chaque comité d'études.
3) Les Publications de l'IEC se présentent sous la forme de recommandations internationales et sont agréées
comme telles par les Comités nationaux de l'IEC. Tous les efforts raisonnables sont entrepris afin que l'IEC
s'assure de l'exactitude du contenu technique de ses publications; l'IEC ne peut pas être tenue responsable de
l'éventuelle mauvaise utilisation ou interprétation qui en est faite par un quelconque utilisateur final.
4) Dans le but d'encourager l'uniformité internationale, les Comités nationaux de l'IEC s'engagent, dans toute la
mesure possible, à appliquer de façon transparente les Publications de l'IEC dans leurs publications nationales
et régionales. Toutes divergences entre toutes Publications de l'IEC et toutes publications nationales ou
régionales correspondantes doivent être indiquées en termes clairs dans ces dernières.
5) L'IEC elle-même ne fournit aucune attestation de conformité. Des organismes de certification indépendants
fournissent des services d'évaluation de conformité et, dans certains secteurs, accèdent aux marques de
conformité de l'IEC. L'IEC n'est responsable d'aucun des services effectués par les organismes de certification
indépendants.
6) Tous les utilisateurs doivent s'assurer qu'ils sont en possession de la dernière édition de cette publication.
7) Aucune responsabilité ne doit être imputée à l'IEC, à ses administrateurs, employés, auxiliaires ou mandataires,
y compris ses experts particuliers et les membres de ses comités d'études et des Comités nationaux de l'IEC,
pour tout préjudice causé en cas de dommages corporels et matériels, ou de tout autre dommage de quelque
nature que ce soit, directe ou indirecte, ou pour supporter les coûts (y compris les frais de justice) et les dépenses
découlant de la publication ou de l'utilisation de cette Publication de l'IEC ou de toute autre Publication de l'IEC,
ou au crédit qui lui est accordé.
8) L'attention est attirée sur les références normatives citées dans cette publication. L'utilisation de publications
référencées est obligatoire pour une application correcte de la présente publication.
9) L'IEC attire l'attention sur le fait que la mise en œuvre du présent document peut impliquer l'utilisation d'un ou
de plusieurs brevets. L'IEC ne prend pas position quant à la preuve, à la validité et à l'applicabilité de tout droit
de propriété revendiqué à cet égard. À la date de publication du présent document, l'IEC n'avait pas reçu
notification qu'un ou plusieurs brevets pouvaient être nécessaires à sa mise en application. Toutefois, il y a lieu
d'avertir les responsables de la mise en application du présent document que des informations plus récentes
sont susceptibles de figurer dans la base de données de brevets, disponible à l'adresse https://patents.iec.ch.
L'IEC ne saurait être tenue pour responsable de ne pas avoir identifié de tels droits de brevets.
L'IEC 62475 a été établie par le comité d'études 42 de l'IEC: Techniques d'essais à haute
tension et/ou à fort courant. Il s'agit d'une Norme internationale.
Cette deuxième édition annule et remplace la première édition parue en 2010. Cette édition
constitue une révision technique.
Cette édition inclut les modifications techniques majeures suivantes par rapport à l'édition
précédente:
a) des erreurs mineures dans l'édition 1 ont été corrigées;
b) les termes et définitions ont été modifiés afin de refléter au mieux l'IEC 60060-2:2025 et la
[SOURCE] correspondante leur a été attribuée;
c) les termes et définitions qui, dans l'édition 1, figuraient dans d'autres articles que l'Article 3
ont été déplacés à l'Article 3;
d) l'Article B.4 de l'Annexe B a été modifié pour fournir un exemple de calcul de l'incertitude
pour l'utilisation d'un système de mesure approuvé;
e) l'Article C.2 a été supprimé, car les définitions qui y figuraient ne sont pas mentionnées, à
l'exception de l'origine de l'échelon, qui est utilisée à l'Annexe D; les informations
applicables ont été ajoutées à l'Annexe D sous la Note 1;
f) l'Article G.8 de l'Annexe G a été modifié pour remplacer "le facteur de crête" par "un
facteur". Les textes ont été clarifiés. Les équations relatives à la relation entre le facteur κ
et cos ϕ ont été développées sous une forme simplifiée;
g) l'Article G.9 a été ajouté à l'Annexe G.
Le texte de cette Norme internationale est issu des documents suivants:
Projet Rapport de vote
42/472/FDIS 42/475/RVD
Le rapport de vote indiqué dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant
abouti à son approbation.
La langue employée pour l'élaboration de cette Norme internationale est l'anglais.
Ce document a été rédigé selon les Directives ISO/IEC, Partie 2, il a été développé selon les
Directives ISO/IEC, Partie 1 et les Directives ISO/IEC, Supplément IEC, disponibles sous
www.iec.ch/members_experts/refdocs. Les principaux types de documents développés par
l'IEC sont décrits plus en détail sous www.iec.ch/publications.
Le comité a décidé que le contenu de ce document ne sera pas modifié avant la date de stabilité
indiquée sur le site web de l'IEC sous webstore.iec.ch dans les données relatives au document
recherché. À cette date, le document sera
– reconduit,
– supprimé, ou
– révisé.
1 Domaine d'application
Le présent document s'applique aux essais et mesures à haute intensité sur des matériels haute
et basse tensions. Il couvre les essais à haute intensité en courant continu et courant alternatif
en régime établi et de courte durée, ainsi que des essais de courant de choc. De manière
générale, le présent document prend en compte des courants de plus de 100 A, même si des
courantes d'intensité moindre peuvent être rencontrés lors des essais.
NOTE Le présent document couvre également la détection de défauts, par exemple dans le cadre d'essais aux
chocs de foudre.
Le présent document:
– définit les termes utilisés;
– définit les paramètres et leurs tolérances;
– décrit des méthodes d'estimation des incertitudes de mesures à haute intensité;
– détermine les exigences applicables à un système de mesure complet;
– décrit les méthodes à utiliser pour qualifier un système de mesure et pour en contrôler les
différents constituants;
– décrit la procédure permettant à l'utilisateur de démontrer qu'un système de mesure
respecte les exigences du présent document, y compris les limites établies pour l'incertitude
de mesure.
2 Références normatives
Les documents suivants cités dans le texte constituent, pour tout ou partie de leur contenu, des
exigences du présent document. Pour les références datées, seule l'édition citée s'applique.
Pour les références non datées, la dernière édition du document de référence s'applique (y
compris les éventuels amendements).
NOTE D'autres références normatives relatives aux sujets traités dans le présent document sont donnés dans la
bibliographie.
Guide 98-3:2008 de l'ISO/IEC, Incertitude de mesure - Partie 3: Guide pour l'expression de
l'incertitude de mesure (GUM:1995)
3 Termes et définitions
Pour les besoins du présent document, les termes et définitions suivants s'appliquent.
L'ISO et l'IEC tiennent à jour des bases de données terminologiques destinées à être utilisées
en normalisation, consultables aux adresses suivantes:
– IEC Electropedia: disponible à l'adresse https://www.electropedia.org/
– ISO Online browsing platform: disponible à l'adresse https://www.iso.org/obp
3.1 Systèmes de mesure
3.1.1
système de mesure
ensemble complet de dispositifs appropriés pour effectuer des mesurages d'une grandeur à
mesurer
Note 1 à l'article: Un système de mesure à haute intensité comprend généralement les constituants suivants:
– un dispositif de conversion équipé soit de bornes pour racco
...