IEC 61000-4-29:2000
(Main)Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-29: Testing and measurement techniques - Voltage dips, short interruptions and voltage variations on d.c. input power port immunity tests
Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-29: Testing and measurement techniques - Voltage dips, short interruptions and voltage variations on d.c. input power port immunity tests
Establishes a common and reproducible basis for testing electrical and electronic equipment when subjected to voltage dips, short interruptions or voltage variations on d.c. power ports. This standard defines: - the range of test levels; - the test generator; - the test set-up; - the test procedure.
Compatibilité électromagnétique (CEM) - Partie 4-29: Techniques d'essai et de mesure - Essais d'immunité aux creux de tension, coupures brèves et varations de tension sur les accès d'alimentation en courant continu
Etablit une référence commune et reproductible pour les essais des équipements électriques et électroniques en leur appliquant des creux de tension, des coupures brèves et des variations de tension au niveau des ports d'entrée du courant continu. Cette norme définit: - la gamme des niveaux d'essai; - le générateur d'essai; - les matériels d'essai; - la procédure d'essai.
General Information
Standards Content (Sample)
NORME CEI
INTERNATIONALE IEC
61000-4-29
INTERNATIONAL
Première édition
STANDARD
First edition
2000-08
PUBLICATION FONDAMENTALE EN CEM
BASIC EMC PUBLICATION
Compatibilité électromagnétique (CEM) –
Partie 4-29:
Techniques d'essai et de mesure –
Essais d'immunité aux creux de tension,
coupures brèves et variations de tension
sur les accès d'alimentation en courant continu
Electromagnetic compatibility (EMC) –
Part 4-29:
Testing and measurement techniques –
Voltage dips, short interruptions and voltage
variations on d.c. input power port immunity tests
Numéro de référence
Reference number
CEI/IEC 61000-4-29:2000
Numéros des publications Numbering
Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI As from 1 January 1997 all IEC publications are
sont numérotées à partir de 60000. issued with a designation in the 60000 series.
Publications consolidées Consolidated publications
Les versions consolidées de certaines publications de Consolidated versions of some IEC publications
la CEI incorporant les amendements sont disponibles. including amendments are available. For example,
Par exemple, les numéros d’édition 1.0, 1.1 et 1.2 edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to
indiquent respectivement la publication de base, la the base publication, the base publication incor-
publication de base incorporant l’amendement 1, et la porating amendment 1 and the base publication
publication de base incorporant les amendements 1 incorporating amendments 1 and 2.
et 2.
Validité de la présente publication Validity of this publication
Le contenu technique des publications de la CEI est The technical content of IEC publications is kept
constamment revu par la CEI afin qu'il reflète l'état under constant review by the IEC, thus ensuring that
actuel de la technique. the content reflects current technology.
Des renseignements relatifs à la date de reconfir- Information relating to the date of the reconfirmation
mation de la publication sont disponibles dans le of the publication is available in the IEC catalogue.
Catalogue de la CEI.
Les renseignements relatifs à des questions à l’étude et Information on the subjects under consideration and
des travaux en cours entrepris par le comité technique work in progress undertaken by the technical
qui a établi cette publication, ainsi que la liste des committee which has prepared this publication, as well
publications établies, se trouvent dans les documents ci- as the list of publications issued, is to be found at the
dessous: following IEC sources:
• «Site web» de la CEI* • IEC web site*
• Catalogue des publications de la CEI • Catalogue of IEC publications
Publié annuellement et mis à jour Published yearly with regular updates
régulièrement (On-line catalogue)*
(Catalogue en ligne)*
• Bulletin de la CEI
• IEC Bulletin
Disponible à la fois au «site web» de la CEI*
Available both at the IEC web site* and
et comme périodique imprimé
as a printed periodical
Terminologie, symboles graphiques
Terminology, graphical and letter
et littéraux
symbols
En ce qui concerne la terminologie générale, le lecteur
For general terminology, readers are referred to
se reportera à la CEI 60050: Vocabulaire Electro-
IEC 60050: International Electrotechnical Vocabulary
technique International (VEI).
(IEV).
Pour les symboles graphiques, les symboles littéraux
For graphical symbols, and letter symbols and signs
et les signes d'usage général approuvés par la CEI, le
approved by the IEC for general use, readers are
lecteur consultera la CEI 60027: Symboles littéraux à
referred to publications IEC 60027: Letter symbols to
utiliser en électrotechnique, la CEI 60417: Symboles
be used in electrical technology, IEC 60417: Graphical
graphiques utilisables sur le matériel. Index, relevé et
symbols for use on equipment. Index, survey and
compilation des feuilles individuelles, et la CEI 60617:
compilation of the single sheets and IEC 60617:
Symboles graphiques pour schémas.
Graphical symbols for diagrams.
* Voir adresse «site web» sur la page de titre.
* See web site address on title page.
NORME CEI
INTERNATIONALE IEC
61000-4-29
INTERNATIONAL
Première édition
STANDARD
First edition
2000-08
PUBLICATION FONDAMENTALE EN CEM
BASIC EMC PUBLICATION
Compatibilité électromagnétique (CEM) –
Partie 4-29:
Techniques d'essai et de mesure –
Essais d'immunité aux creux de tension,
coupures brèves et variations de tension
sur les accès d'alimentation en courant continu
Electromagnetic compatibility (EMC) –
Part 4-29:
Testing and measurement techniques –
Voltage dips, short interruptions and voltage
variations on d.c. input power port immunity tests
IEC 2000 Droits de reproduction réservés Copyright - all rights reserved
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Commission Electrotechnique Internationale
R
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– 2 – 61000-4-29 CEI:2000
SOMMAIRE
Pages
AVANT-PROPOS . 4
INTRODUCTION .8
Articles
1 Domaine d’application et objet. 10
2 Références normatives. 12
3 Définitions. 12
4 Généralités .14
5 Niveaux d’essai. 14
6 Générateur d’essai. 18
6.1 Caractéristiques et performances du générateur. 18
6.2 Vérification des caractéristiques du générateur. 20
7 Matériels d’essai . 22
8 Procédure d’essai . 22
8.1 Conditions de référence en laboratoire . 24
8.2 Exécution des essais . 24
9 Evaluation des résultats d'essai. 26
10 Rapport d'essai . 26
Annexe A (informative) Exemple de générateurs d'essai et de matériels d'essai. 30
Annexe B (normative) Mesure de l'appel de courant. 34
Figure A.1 – Exemple de générateur d'essai basé sur deux sources d'alimentation avec
commutation interne .32
Figure A.2 – Exemple de générateur d'essai basé sur une source d'alimentation
programmable . . 32
Figure B.1 – Circuit permettant de mesurer les possibilités d'attaque de l'appel de
courant de crête du générateur d'essai . 36
Figure B.2 – Circuit permettant de mesurer l'appel de courant de crête d'un EST . 36
Tableau 1a – Niveaux et durées d'essai recommandés pour les creux de tension. 16
Tableau 1b – Niveaux et durées d'essai recommandés pour les coupures brèves. 16
Tableau 1c – Niveaux et durées d'essai recommandés pour les variations de tension. 16
61000-4-29 IEC:2000 – 3 –
CONTENTS
Page
FOREWORD . 5
INTRODUCTION .9
Clause
1 Scope and object . 11
2 Normative references . 13
3 Definitions. 13
4 General. 15
5 Test levels . 15
6 Test generator . 19
6.1 Characteristics and performances of the generator. 19
6.2 Verification of the characteristics of the generator . 21
7 Test set-up. 23
8 Test procedure. 23
8.1 Laboratory reference conditions . 25
8.2 Execution of the test . 25
9 Evaluation of test results . 27
10 Test report . 27
Annex A (informative) Example of test generators and test set-up . 31
Annex B (normative) Inrush current measurement. 35
Figure A.1 – Example of test generator based on two power sources with internal switching . 33
Figure A.2 – Example of test generator based on a programmable power supply. 33
Figure B.1 – Circuit for measuring the peak inrush current drive capability of a test
generator. 37
Figure B.2 – Circuit for measuring the peak inrush current of an EUT. 37
Table 1a – Preferred test levels and durations for voltage dips . 17
Table 1b – Preferred test levels and durations for short interruptions. 17
Table 1c – Preferred test levels and durations for voltage variations. 17
– 4 – 61000-4-29 CEI:2000
COMMISSION ÉLECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE
___________
COMPATIBILITÉ ÉLECTROMAGNÉTIQUE (CEM) –
Partie 4-29: Techniques d'essai et de mesure –
Essais d'immunité aux creux de tension, coupures brèves et
variations de tension sur les accès d'alimentation en courant continu
AVANT-PROPOS
1) La CEI (Commission Electrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de normalisation composée
de l’ensemble des comités électrotechniques nationaux (Comités nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de
favoriser la coopération internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de
l’électricité et de l’électronique. A cet effet, la CEI, entre autres activités, publie des Normes internationales.
Leur élaboration est confiée à des comités d’études, aux travaux desquels tout Comité national intéressé par le
sujet traité peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en
liaison avec la CEI, participent également aux travaux. La CEI collabore étroitement avec l’Organisation
Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixées par accord entre les deux organisations.
2) Les décisions ou accords officiels de la CEI concernant des questions techniques, représentent, dans la mesure
du possible, un accord international sur les sujets étudiés, étant donné que les Comités nationaux intéressés
sont représentés dans chaque comité d’études.
3) Les documents produits se présentent sous la forme de recommandations internationales. Ils sont publiés
comme normes, spécifications techniques, rapports techniques ou guides et agréés comme tels par les Comités
nationaux.
4) Dans le but d'encourager l'unification internationale, les Comités nationaux de la CEI s’engagent à appliquer de
façon transparente, dans toute la mesure possible, les Normes internationales de la CEI dans leurs normes
nationales et régionales. Toute divergence entre la norme de la CEI et la norme nationale ou régionale
correspondante doit être indiquée en termes clairs dans cette dernière.
5) La CEI n'a fixé aucune procédure concernant le marquage comme indication d'approbation et sa responsabilité
n'est pas engagée quand un matériel est déclaré conforme à l'une de ses normes.
6) L’attention est attirée sur le fait que certains des éléments de la présente Norme internationale peuvent faire
l’objet de droits de propriété intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait être tenue pour
responsable de ne pas avoir identifié de tels droits de propriété et de ne pas avoir signalé leur existence.
La Norme internationale CEI 61000-4-29 a été établie par le sous-comité 77A: Phénomènes
basse fréquence, du comité d’études 77 de la CEI: Compatibilité électromagnétique.
Elle constitue la partie 4-29 de la CEI 61000. Elle a le statut de publication fondamentale en
CEM conformément au Guide 107 de la CEI.
Le texte de la présente norme est issu des documents suivants:
FDIS Rapport de vote
77A/307/FDIS 77A/313/RVD
Le rapport de vote indiqué dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant
abouti à l'approbation de cette norme.
Cette publication a été rédigée selon les Directives ISO/CEI, Partie 3.
L'annexe A est donnée uniquement à titre d’information.
L'annexe B fait partie intégrante de cette norme.
61000-4-29 IEC:2000 – 5 –
INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION
___________
ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY (EMC) –
Part 4-29: Testing and measurement techniques –
Voltage dips, short interruptions
and voltage variations on d.c. input power port immunity tests
FOREWORD
1) The IEC (International Electrotechnical Commission) is a worldwide organization for standardization comprising
all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of the IEC is to promote
international cooperation on all questions concerning standardisation in the electrical and electronic fields. To
this end and in addition to other activities, the IEC publishes International Standards. Their preparation is
entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt with may
participate in this preparatory work. International, governmental and non-governmental organizations liaising
with the IEC also participate in this preparation. The IEC collaborates closely with the International
Standardization Organization (ISO) in accordance with conditions determined by agreement between the two
organizations.
2) The formal decisions or agreements of the IEC on technical matters express, as nearly as possible, an
international consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representation
from all interested National Committees.
3) The documents produced have the form of recommendations for international use published in the form of
standards, technical specifications, technical reports or guides and they are accepted by the National
Committees in that sense.
4) In order to promote international unification, IEC National Committees undertake to apply IEC International
Standards transparently to the maximum extent possible in their national and regional standards. Any
divergence between the IEC Standard an the corresponding national or regional standard shall be clearly
indicated in the latter.
5) The IEC provides no marking procedure to indicate its approval and cannot be rendered responsible for any
equipment declared to be in conformity with one of its standards.
6) Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this International Standard may be the subject
of patent rights. The IEC shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights.
International Standard IEC 61000-4-29 has been prepared by subcommittee 77A: Low-
frequency phenomena, of IEC technical committee 77: Electromagnetic compatibility.
This standard forms part 4-29 of IEC 61000. It has the status of a basic EMC publication in
accordance with IEC Guide 107.
The text of this standard is based on the following documents:
FDIS Report on voting
77A/307/FDIS 77A/313/RVD
Full information on the voting for the approval of this standard can be found in the report on
voting indicated in the above table.
This publication has been drafted in accordance with the ISO/IEC Directives, Part 3.
Annex A is for information only.
Annex B forms an integral part of this standard.
– 6 – 61000-4-29 CEI:2000
Le comité a décidé que le contenu de cette publication ne sera pas modifié avant 2002. A cette
date, la publication sera
• reconduite;
• supprimée;
• remplacée par une édition révisée, ou
• amendée.
61000-4-29 IEC:2000 – 7 –
The committee has decided that the contents of this publication will remain unchanged until
2002. At this date, the publication will be
• reconfirmed;
• withdrawn;
• replaced by a revised edition, or
• amended.
– 8 – 61000-4-29 CEI:2000
INTRODUCTION
La CEI 61000 est publiée sous forme de plusieurs parties séparées, conformément à la
structure suivante:
Partie 1: Généralités
Considérations générales (introduction, principes fondamentaux)
Définitions, terminologie
Partie 2: Environnement
Description de l’environnement
Classification de l’environnement
Niveaux de compatibilité
Partie 3: Limites
Limites d’émission
Limites d’immunité (dans la mesure où elles ne relèvent pas de la responsabilité des
comités de produits)
Partie 4: Techniques d’essai et de mesure
Techniques de mesure
Techniques d’essai
Partie 5: Guides d’installation et d’atténuation
Guides d’installation
Méthodes et dispositifs d’atténuation
Partie 6: Normes génériques
Partie 9: Divers
Chaque partie est à son tour subdivisée en plusieurs parties, publiées soit comme Normes
internationales, soit comme spécifications techniques ou rapports techniques, dont certaines ont
déjà été publiées en tant que sections. D’autres seront publiées sous le numéro de la partie, suivi
d’un tiret et complété d’un second chiffre identifiant la subdivision (exemple 61000-6-1).
La présente partie est une Norme internationale qui spécifie des modes opératoires d’essai
concernant les creux de tension, les coupures brèves et les variations de tension sur les accès
d'alimentation en courant continu.
61000-4-29 IEC:2000 – 9 –
INTRODUCTION
IEC 61000 is published in separate parts, according to the following structure:
Part 1: General
General considerations (introduction, fundamental principles)
Definitions, terminology
Part 2: Environment
Description of the environment
Classification of the environment
Compatibility levels
Part 3: Limits
Emission limits
Immunity limits (in so far as they do not fall under the responsibility of the product
committees)
Part 4: Testing and measurement techniques
Measurement techniques
Testing techniques
Part 5: Installation and mitigation guidelines
Installation guidelines
Mitigation methods and devices
Part 6: Generic standards
Part 9: Miscellaneous
Each part is further subdivided into several parts, published either as International Standards,
technical specifications or technical reports, some of which have already been published as
sections. Others will be published with the part number followed by a dash and a second
number identifying the subdivision (example: 61000-6-1).
This part is an International Standard which gives test procedures related to voltage dips, short
interruptions and voltage variations on d.c. input power ports.
– 10 – 61000-4-29 CEI:2000
COMPATIBILITÉ ÉLECTROMAGNÉTIQUE (CEM) –
Partie 4-29: Techniques d'essai et de mesure –
Essais d'immunité aux creux de tension, coupures brèves et
variations de tension sur les accès d'alimentation en courant continu
1 Domaine d’application et objet
La présente partie de la CEI 61000 définit les méthodes d’essais d’immunité aux creux de
tension, aux coupures brèves et aux variations de tension appliqués à l’entrée de l’alimentation
en courant continu basse tension des équipements électriques ou électroniques.
La présente norme s'applique aux accès d'alimentation basse tension en courant continu
d'équipements alimentés par un réseau externe à courant continu.
L'objet de la présente norme est d'établir une référence commune et reproductible pour les
essais des équipements électriques et électroniques en leur appliquant des creux de tension,
des coupures brèves et des variations de tension au niveau des accès d'alimentation en
courant continu.
La présente norme définit les paramètres suivants:
– la gamme des niveaux d'essai;
– le générateur d'essai;
– les matériels d'essai;
– la procédure d'essai.
L'essai décrit s'applique aux équipements et systèmes électriques ou électroniques. Il
s’applique également aux modules ou sous-systèmes lorsque la puissance assignée de
l'équipement sous test (EST) est supérieure à la capacité du générateur d'essai spécifiée à
l’article 6.
L'ondulation au niveau de l'entrée en courant continu n'est pas comprise dans le domaine
1)
d'application de cette partie de la CEI 61000. Elle est couverte par la CEI 61000-4-17
La présente norme ne précise pas les essais applicables à des appareils ou systèmes
particuliers. Son objectif principal est de fournir une référence de base à tous les comités de
produits concernés au sein de la CEI. Les comités de produits (ou les utilisateurs et les
fabricants d'équipements) restent responsables du choix approprié des essais et du niveau de
sévérité à appliquer à leurs matériels.
———————
1)
CEI 61000-4-17, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4-17: Techniques d'essai et de mesure – Essai
d'immunité à l'ondulation résiduelle sur entrée de puissance à courant continu
61000-4-29 IEC:2000 – 11 –
ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY (EMC) –
Part 4-29: Testing and measurement techniques –
Voltage dips, short interruptions
and voltage variations on d.c. input power port immunity tests
1 Scope and object
This part of IEC 61000 defines test methods for immunity to voltage dips, short interruptions
and voltage variations at the d.c. input power port of electrical or electronic equipment.
This standard is applicable to low voltage d.c. power ports of equipment supplied by external
d.c. networks.
The object of this standard is to establish a common and reproducible basis for testing
electrical and electronic equipment when subjected to voltage dips, short interruptions or
voltage variations on d.c. input power ports.
This standard defines:
– the range of test levels;
– the test generator;
– the test set-up;
– the test procedure.
The test described hereinafter applies to electrical and electronic equipment and systems. It
also applies to modules or subsystems whenever the EUT (equipment under test) rated power
is greater than the test generator capacity specified in clause 6.
The ripple at the d.c. input power port is not included in the scope of this part of IEC 61000. It
1)
is covered by IEC 61000-4-17
This standard does not specify the tests to be applied to particular apparatus or systems. Its
main aim is to give a general basic reference to IEC product committees. These product
committees (or users and manufacturers of equipment) remain responsible for the appropriate
choice of the tests and the severity level to be applied to their equipment.
———————
1)
IEC 61000-4-17, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4-17: Testing and measurement techniques –
Ripple on d.c. input power port immunity test
– 12 – 61000-4-29 CEI:2000
2 Références normatives
Les documents normatifs suivants contiennent des dispositions qui, par suite de la référence
qui y est faite, constituent des dispositions valables pour la présente partie de la CEI 61000.
Pour les références datées, les amendements ultérieurs ou les révisions de ces publications ne
s’appliquent pas. Toutefois, les parties prenantes aux accords fondés sur la présente partie de
la CEI 61000 sont invitées à rechercher la possibilité d'appliquer les éditions les plus récentes
des documents normatifs indiqués ci-après. Pour les références non datées, la dernière édition
du document normatif en référence s’applique. Les membres de la CEI et de l'ISO possèdent
le registre des Normes internationales en vigueur.
CEI 60050(161), Vocabulaire électrotechnique international (IEV) – Chapitre 161: Compatibilité
électromagnétique
CEI 61000-4-11, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4: Techniques d'essai et de
mesure – Section 11: Essais d'immunité aux creux de tension, coupures brèves et variations
de tension
3 Définitions
Pour les besoins de la présente partie de la CEI 61000, les définitions de la CEI 60050(161)
s'appliquent, ainsi que les suivantes.
3.1
EST
matériel soumis à l’essai
3.2
immunité (à une perturbation)
aptitude d'un dispositif, d'un appareil ou d'un système à fonctionner sans dégradation en
présence d'une perturbation électromagnétique
[VEI 161-01-20]
3.3
creux de tension
diminution brutale de la tension en un point du système basse tension alimenté en continu,
suivie d'un rétablissement de la tension après une courte période de temps, comprise entre
quelques millisecondes et quelques secondes
[VEI 161-08-10, modifié]
3.4
coupure brève
disparition de la tension d'alimentation en un point du système basse tension alimenté en
continu, pendant une période de temps généralement inférieure ou égale à 1 min. Dans la
pratique, un creux d'une amplitude minimale de 80 % de la tension assignée peut être
considéré comme une coupure
3.5
variation de la tension
modification graduelle de la tension d'alimentation vers une valeur inférieure ou supérieure à la
tension assignée. La durée de cette modification peut être courte ou longue
3.6
mauvais fonctionnement
disparition de l’aptitude d’un équipement à remplir les fonctions prévues, ou exécution de
fonctions non prévues
61000-4-29 IEC:2000 – 13 –
2 Normative references
The following normative documents contain provisions which, through reference in this text,
constitute provisions of this part of IEC 61000. For dated references, subsequent amendments
to, or revisions of, any of these publications do not apply. However, parties to agreements
based on this part of IEC 61000 are encouraged to investigate the possibility of applying the
most recent editions of the normative documents indicated below. For undated references, the
latest edition of the normative document referred to applies. Members of ISO and IEC maintain
registers of currently valid International Standards.
IEC 60050(161), International Electrotechnical Vocabulary (IEV) – Chapter 161: Electro-
magnetic compatibility
IEC 61000-4-11, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4: Testing and measuring
techniques – Section 11: Voltage dips, short interruptions and voltage variations immunity tests
3 Definitions
For the purposes of this part of IEC 61000 the definitions of IEC 60050(161) and the following
definitions and terms apply.
3.1
EUT
equipment under test
3.2
immunity (to a disturbance)
the ability of a device, equipment or system to perform without degradation in the presence of
an electromagnetic disturbance
[IEV 161-01-20]
3.3
voltage dip
a sudden reduction of the voltage at a point in the low voltage d.c. distribution system, followed
by voltage recovery after a short period of time, from a few milliseconds up to a few seconds
[IEV 161-08-10, modified]
3.4
short interruption
the disappearance of the supply voltage at a point of the low voltage d.c. distributed system for
a period of time typically not exceeding 1 min. In practice, a dip with amplitude at least 80 % of
the rated voltage may be considered as an interruption.
3.5
voltage variation
a gradual change of the supply voltage to a higher or lower value than the rated voltage. The
duration of the change can be short or long.
3.6
malfunction
the termination of the ability of an equipment to carry out intended functions, or the execution
of unintended functions by the equipment.
– 14 – 61000-4-29 CEI:2000
4 Généralités
Le fonctionnement des matériels électriques ou électroniques peut être affecté par des creux
de tension, des coupures brèves ou des variations de tension de l'alimentation électrique.
Les creux de tension et les coupures brèves sont principalement dus à des défauts dans le
système d'alimentation en continu, ou à des variations importantes et subites des charges. Il
est également possible que plusieurs creux ou coupures consécutifs se produisent.
Les défauts dans les systèmes d'alimentation en continu peuvent introduire des surtensions
transitoires dans le réseau d'alimentation; ce phénomène particulier n'est pas couvert par la
présente norme.
Les coupures de courant sont essentiellement provoquées par un changement d'une source à
une autre par des relais mécaniques (par exemple, d'un groupe électrogène à une batterie).
Pendant une coupure brève, le réseau d'alimentation en continu peut présenter soit une
condition de «haute impédance», soit une condition de «basse impédance». La première
condition peut être due à la commutation d'une source à une autre, alors que la deuxième
condition peut être provoquée par l'élimination d'une surcharge ou d'un défaut sur
l'alimentation. Cette dernière condition peut provoquer une inversion de courant (courant
d'appel crête négatif) provenant de la charge.
Ces phénomènes sont de nature aléatoire et peuvent se caractériser en termes d'écart par
rapport au niveau de tension assignée et de sa durée. Les creux de tension et les coupures
brèves ne sont pas toujours brusques.
Les variations de tension sont principalement provoquées par la décharge et la charge des
systèmes à batteries; néanmoins, elles sont également possibles lors des variations
significatives des conditions de charge du réseau d'alimentation continu.
5 Niveaux d’essai
La tension assignée pour l'équipement (U ) doit être utilisée comme base pour la spécification
T
des niveaux d'essai en tension.
Les principes suivants doivent être appliqués pour l'équipement avec une plage de tensions
assignées:
– si la plage des tensions assignées ne dépasse pas 20 % de la tension inférieure spécifiée
pour la plage, une seule tension de cette plage peut être spécifiée comme base pour la
spécification du niveau d'essai;
– dans tous les autres cas, la procédure d'essai doit être appliquée pour les tensions
inférieure et supérieure données pour la plage de tensions.
Les niveaux de tension d'essai suivants (en pourcentage de la tension assignée pour
l’équipement) sont utilisés:
– 0 %, correspondant aux coupures;
– 40 % et 70 %, correspondant à des creux de 60 % et de 30 %;
– 80 % et 120 %, correspondant à des variations de ±20 %.
La variation de tension est brusque dans la plage des μs (voir la spécification du générateur
spécifiée à l’article 6).
Les niveaux et les durées d'essai recommandés sont donnés dans les tableaux 1a, 1b et 1c.
Les niveaux et les durées doivent être sélectionnés par le comité de produits.
61000-4-29 IEC:2000 – 15 –
4 General
The operation of electrical or electronic equipment may be affected by voltage dips, short
interruptions or voltage variations of the power supply.
Voltage dips and short interruptions are mainly caused by faults in the d.c. distribution system,
or by sudden large changes of load. Is also possible for two or more consecutive dips or
interruptions to occur.
Faults in the d.c. distribution system may inject transient overvoltages into the distribution
network; this particular phenomenon is not covered by this standard.
Voltage interruptions are primarily caused by the switching of mechanical relays when changing
from one source to another (e.g. from generator set to battery).
During a short interruption, the d.c. supply network may present either a "high impedance" or
"low impedance" condition. The first condition can be due to switching from one source to
another; the second condition can be due to the clearing of an overload or fault condition on
the supply bus. The latter can cause reverse current (negative peak inrush current) from the
load.
These phenomena are random in nature and can be characterised in terms of the deviation
from the rated voltage, and duration. Voltage dips and short interruptions are not always
abrupt.
The primary cause of voltage variations is the discharging and recharging of battery systems;
however they are also created when there are significant changes to the load condition of the
d.c. network.
5 Test levels
The rated voltage for the equipment (U ) shall be used, as a reference for the specification of
T
the voltage test level.
The following shall be applied for equipment with a rated voltage range:
– if the voltage range does not exceed 20 % of its own lower limit, a single voltage from the
range may be used as a basis for test level specification (U );
T
– in all other cases, the test procedure shall be applied for both the lower and upper limits of
the rated voltage range.
The following voltage test levels (in % U ) are used:
T
– 0 %, corresponding to interruptions;
– 40 % and 70 %, corresponding to 60 % and 30 % dips;
– 80 % and 120 %, corresponding to ±20 % variations.
The change of the voltage is abrupt, in the range of μs (see generator specification in
clause 6).
The preferred test levels and durations are given in tables 1a, 1b and 1c.
The levels and durations shall be selected by the product committee.
– 16 – 61000-4-29 CEI:2000
Les conditions d'essai de «haute impédance» et de «basse impédance» reportées dans le
tableau 1b se réfèrent à l'impédance de sortie du générateur d'essai telle qu'elle est
considérée par l'EST au cours de la coupure de tension; des informations complémentaires
sont données dans la définition du générateur d'essai et les procédures d'essai.
Tableau 1a – Niveaux et durées d'essai recommandés pour les creux de tension
Essai Niveau d'essai Durée
s
% UT
0,01
0,03
40 et 70
0,1
Creux de tension ou
0,3
x
x
Tableau 1b – Niveaux et durées d'essai recommandés pour les coupures brèves
Essai Condition d'essai Niveau d'essai Durée
% U s
T
0,001
0,003
0,01
Haute impédance
0,03
Coupures brèves et/ou 0
0,1
Basse impédance
0,3
x
Tableau 1c – Niveaux et durées d'essai recommandés pour les variations de tension
Essai Niveau d'essai Durée
% U s
T
0,1
85 et 120
0,3
ou
Variations de tension 80 et 120
ou
x
x
NOTE 1 «x» est une valeur ouverte.
NOTE 2 Un ou plusieurs des niveaux et des durées d'essai spécifiés dans chaque tableau peut/peuvent être
choisi(s).
NOTE 3 Si l'EST est soumis à des coupures brèves, il n'est pas nécessaire de le soumettre à des essais à
d'autres niveaux pour la même durée, sauf si l'immunité de l'équipement est affectée par les creux de tension
inférieurs à 70 % U .
T
NOTE 4 Il convient que les durées les plus courtes figurant dans les tableaux, et en particulier la plus courte
d’entre elles, soient soumises à essai afin de s'assurer que l'EST fonctionne comme prévu.
61000-4-29 IEC:2000 – 17 –
The test conditions of “high impedance” and “low impedance” reported in table 1b refer to the
output impedance of the test generator as seen by the EUT during the voltage interruption;
additional information is given in the definition of the test generator and test procedures.
Table 1a – Preferred test levels and durations for voltage dips
Test Test level Duration
% U s
T
0,01
0,03
40 and 70
0,1
Voltage dips or
0,3
x
x
Table 1b – Preferred test levels and durations for short interruptions
Test Test condition Test level Duration
s
% U
T
0,001
0,003
0,01
High impedance
0,03
Short interruptions and/or 0
0,1
Low impedance
0,3
x
Table 1c – Preferred test levels and durations for voltage variations
Test Test level Duration
s
% U
T
0,1
85 and 120
0,3
or
Voltage variations 80 and 120
or
x
x
NOTE 1 “x” is an open value.
NOTE 2 One or more of the test levels and durations specified in each table may be chosen.
NOTE 3 If the EUT is tested for short interruptions, it is unnecessary to test for other levels of the same duration,
unless the immunity of the equipment is detrimentally affected by voltage dips of less than 70 % U .
T
NOTE 4 Shorter duration in the tables, in particular the shortest one, should be tested to be sure that the EUT
operates as intended.
– 18 – 61000-4-29 CEI:2000
6 Générateur d’essai
Sauf indication contraire, les caractéristiques suivantes du générateur sont communes aux
creux de tension, coupures brèves, et variations de tension.
Le générateur doit être équipé de moyens permettant d'éviter l'émission de perturbations
pouvant influencer les résultats d'essai.
Des exemples de générateurs sont donnés à la figure A.1 (générateur d'essai basé sur deux
sources électriques avec commutation interne) et à la figure A.2 (générateur d'essai basé sur
une alimentation électrique programmable).
6.1 Caractéristiques et performances du générateur
Le générateur d'essai doit pouvoir fonctionner en mode continu avec les spécifications
principales suivantes:
– Plage des tensions de sortie (U ): inférieures ou égales à 360 V
o
– Coupures brèves, creux et variations de la tels que donnés dans les tableaux 1a, 1b
tension de sortie: et 1c
– Variation de la tension de sortie avec la inférieure à 5 %
charge (de 0 au courant assigné):
– Ondulation résiduelle: moins de 1% de la tension de sortie
– Temps de montée et de descente de la
entre 1 μs et 50 μs
variation de tension, le générateur étant
sous une charge résistive de 100 Ω:
– dépassement positif/dépassement négatif inférieur à 10 % de la variation de tension
de la tension de sortie, le générateur étant
sous une charge résistive de 100 Ω:
– courant de sortie (régime permanent) (I ): inférieur ou égal à 25 A
o
NOTE La vitesse de variation de la tension de sortie du générateur peut varier de quelques volts par
microseconde jusqu'à des centaines de volts par microseconde, en fonction de la variation de la tension de sortie.
Un générateur d'essai avec U = 360 V et I = 25 A est recommandé pour couvrir la majorité
o cc o
des exigences d'essai. Dans le cas de systèmes dont la puissance assignée est supérieure à
la capacité du générateur, les essais doivent être réalisés sur des modules/sous-systèmes
individuels.
L'utilisation d'un générateur ayant une capacité tension/courant plus ou moins élevée est
admissible à condition que les autres spécifications (variation de la tension de sortie avec la
charge, temps de croissance et de décroissance de la variation de tension, etc.) soient
préservées. La capacité puissance/courant du générateur d'essai en régime permanent doit
être supérieure de 20 %, au minimum, aux caractéristiques puissance/courant des EST.
Le générateur d'essai, pendant la génération des coupures brèves, doit pouvoir
– fonctionner en condition de «basse impédance», en absorbant l'appel de courant provenant
de la charge (le cas échéant), ou
– fonctionner en condition de «haute impédance», en bloquant le courant inverse provenant
de la charge.
Le générateur d'essai, au cours de la génération des creux de tension et des variations de
tension, doit fonctionner en condition de «basse impédance».
61000-4-29 IEC:2000 – 19 –
6 Test generator
The following features are common to the generator for voltage dips, short interruptions and
voltage variations, except where otherwise indicated.
The generator shall have provisions to prevent the emission of disturbances which may
influence the test results.
Examples of generators are given in figure A.1 (test generator based on two power sources
with internal switching) and figure A.2 (test generator based on a programmable power supply).
6.1 Characteristics and performances of the generator
The test generator shall be able to operate in continuous mode with the following main
specifications:
– Output voltage range (U ): up to 360 V
o
– Short interruptions, dips, and variations of the
output voltage: as given in tables 1a, 1b and 1c
– Output voltage variation with the load (0 to
rated current): less than 5 %
– Ripple content: less than 1% of the output voltage
– Rise and fall time of the voltage change,
generator loaded with 100 Ω resistive load: between 1 μs and 50 μs
– Overshoot/undershoot of the output voltage,
generator loaded with 100 Ω resistive load: less than 10 % of the change in voltage
– Output current (steady state) (I ): up to 25 A
o
NOTE The slew rate of the voltage change at the output of the generator can range from a few V/μs up to
hundreds V/μs, depending on the output voltage change.
A test generator with U = 360 V and I = 25 A is recommended to cover the great number of
o dc o
test requirements. In case of systems with rated power exceeding the generator capability, the
tests shall be performed on individual modules/subsystems.
The use of a generator with higher or lower voltage/current capability is allowed provided that
the other specifications (output voltage variation with the load, rise and fall time of the voltage
change, etc.) are preserved. The test generator steady state power/current capability shall be
at least 20 % greater than the EUT power/current ratings.
The test generator, during the generation of short interruptions, shall be able to:
– operate in “low impedance” condition, absorbing inrush current from the load (if any), or
– operate in “high impedance” condition, blocking reverse current from the load.
The test generator, during the generation of voltage dips and voltage variations, shall operate
in “low impedance” condition.
– 20 – 61000-4-29 CEI:2000
6.1.1 Caractéristiques spécifiques pour le générateur fonctionnant en condition de
«basse impédance»
– Capacité en courant d'appel crête: 50 A pour U = 24 V
o
100 A pour U = 48 V
o
220 A pour U = 110 V
o
– Polarité de l'appel de courant: positive (vers l'EST) et,
négative (courant inverse provenant de l'EST)
Pour des raisons pratiques, la capacité en courant d’appel crête du générateur, quand il est
utilisé pour des tensions supérieures à 110 V, peut être rédui
...
Questions, Comments and Discussion
Ask us and Technical Secretary will try to provide an answer. You can facilitate discussion about the standard in here.
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