Nanotechnology — Nanoparticles in powder form — Characteristics and measurements

ISO/TS 17200:2013 lists fundamental characteristics which are commonly determined for nanoparticles in powder form. ISO/TS 17200:2013 prescribes specific measurement methods for each of these characteristics.

Nanotechnologies — Nanoparticules sous forme de poudre — Caractéristiques et mesures

L'ISO/TS 17200:2013 dresse la liste des caractéristiques fondamentales communément déterminées pour les nanoparticules sous forme de poudre. L'ISO/TS 17200:2013 spécifie les méthodes de mesure spécifiques pour chacune de ces caractéristiques.

General Information

Status
Withdrawn
Publication Date
14-May-2013
Withdrawal Date
14-May-2013
Technical Committee
Current Stage
9599 - Withdrawal of International Standard
Completion Date
03-Sep-2020
Ref Project

Relations

Buy Standard

Technical specification
ISO/TS 17200:2013
English language
12 pages
sale 15% off
Preview
sale 15% off
Preview
Technical specification
ISO/TS 17200:2013 - Nanotechnology -- Nanoparticles in powder form -- Characteristics and measurements
English language
7 pages
sale 15% off
Preview
sale 15% off
Preview
Technical specification
ISO/TS 17200:2013 - Nanotechnologies -- Nanoparticules sous forme de poudre -- Caractéristiques et mesures
French language
7 pages
sale 15% off
Preview
sale 15% off
Preview

Standards Content (Sample)

ТЕХНИЧЕСКИЕ ISO/TS
УСЛОВИЯ 17200
Первое издание
2013-06-01



Нанотехнологии. Наночастицы в виде
порошка. Характеристики и измерения
Nanotechnology – Nanoparticles in powder – Characteristics and
measurements




Ответственность за подготовку русской версии несѐт GOST R
(Российская Федерация) в соответствии со статьѐй 18.1 Устава ISO

Ссылочный номер

ISO/TS 17200:2013(R)
©
ISO 2013

---------------------- Page: 1 ----------------------
ISO/TS 17200:2013

ДОКУМЕНТ ЗАЩИЩЕН АВТОРСКИМ ПРАВОМ


©  ISO 2013
Если не указано иное, никакую часть настоящей публикации нельзя копировать или использовать в какой-либо форме или
каким-либо электронным или механическим способом, включая фотокопии и микрофильмы, без предварительного письменного
согласия ISO, которое должно быть получено после запроса о разрешении, направленного по адресу, приведенному ниже, или в
комитет-член ISO в стране запрашивающей стороны.
ISO copyright office
Case postale 56 • CH-1211 Geneva 20
Tel. + 41 22 749 01 11
Fax + 41 22 734 09 47
E-mail copyright @ iso.org
Web www.iso.org
Опубликовано в Швейцарии

ii ISO 2013 – Все права сохраняются

---------------------- Page: 2 ----------------------
ISO/TS 17200:2013(R)
Содержание Страница
Предисловие…………………………………………………………………………………………………………….iv
Введение…………………………………………………………………………………………………………………. v
1 Область применения . 1
2 Нормативные ссылки . 1
3 Термины и определения . 1
4 Фундаментальные характеристики и соответствующие методы измерения . 2
5 Подготовка образцов . 3
6 Методы измерения . 3
6.1 Химический состав . 3
6.2 Определение удельной площади поверхности методом BET . 4
6.3 Определение кристаллической структуры методом XRD . 4
6.4 Определение среднего размера кристаллита методом XRD (формула Шеррера) . 4
6.5 Определение среднего значения и стандартного отклонения измеренных размеров
исходных частиц методом ПЭМ . 4
7 Протокол испытания . 5
Приложение А (информативное) Применяемость данных Технических условий . 6
Библиография . 7

ISO 2013 – Все права сохраняются iii

---------------------- Page: 3 ----------------------
ISO/TS 17200:2013(R)
Предисловие
Международная организация по стандартизации (ISO) всемирная федерация национальных органов
по стандартизации (комитеты-члены ISO). Работа по подготовке международных стандартов обычно
ведется через технические комитеты ISO. Каждый комитет-член ISO, проявляющий интерес к
тематике, по которой учрежден технический комитет, имеет право быть представленным в этом
комитете. Международные организации, государственные и негосударственные, имеющие связи с ISO,
также принимают участие в работе. ISO тесно сотрудничает с Международной электротехнической
комиссией (IEC) по всем вопросам стандартизации в области электротехники.
Процедуры, используемые для разработки данного документа, и процедуры, предусмотренные для его
дальнейшего ведения, описаны в Директивах ISO/IEC Directives, Part 1. В частности, следует отметить
различные критерии утверждения, требуемые для различных типов документов ISO. Проект данного
документа был разработан в соответствии с редакционными правилами Директив ISO/IEC Directives,
Part 2. www.iso.org/directives.
Необходимо обратить внимание на возможность того, что ряд элементов данного документа могут
быть предметом патентных прав. Международная организация ISO не должна нести ответственность
за идентификацию таких прав, частично или полностью. Сведения о патентных правах,
идентифицированных при разработке документа, будут указаны во Введении и/или в перечне
полученных ISO объявлениях о патентном праве. www.iso.org/patents.
Любое торговое название, использованное в данном документе, является информацией,
предоставляемой для удобства пользователей, а не свидетельством в пользу того или иного товара
или той или иной компании.
За данный документ несет ответственность Технический комитет, ISO/TC 229, Нанотехнологии.
iv ISO 2013 – Все права сохраняются

---------------------- Page: 4 ----------------------
ISO/TS 17200:2013(R)
Введение
Как обычно отмечают, для каждой технологии, связанной с разработкой новых материалов, и для
нанотехнологии, в частности, важна информация о характеристиках материалов, общая для продавцов
и покупателей, и иногда, для регулирующих органов, которая обеспечивается разработкой
соответствующих технических условий на материал. Для полноценного обмена информацией важно
прийти к соглашению в отношении описания характеристик материала. В то же время, большинство
характеристик наноматериалов невозможно определить с помощью общих и признанных методов
измерения. Это может стать причиной противоречивости результатов эксперимента и путаницы при
продаже или передаче технологий. Более того, бурное открытие новых материалов в области
нанотехнологий увеличивает количество характеристик, которые необходимо задать для
соответствующего распространения информации.
Для удовлетворения этой потребности осуществляют систематизацию характеристик в различных
областях применения, специфичных для каждого нанообъекта посредством идентификации перечня
основных характеристик, обычно используемых в этих обстоятельствах, и разработки нестандартных
технических условий для этого перечня, как видно из ISO/TS 11931 и ISO/TS 11937.
Другой подход, который используется в ISO/TS 12805, привел к разработке перечня характеристик,
применяемых при установлении нанообъектов, которые используются более широким кругом
пользователей информации по нанообъектам.
Чтобы увеличить доступ к результатам приложенных усилий, члены комитета ISO/TC 229 обсудили и
распланировали систематическую разработку технических условий ISO для определения перечня
фундаментальных характеристик, которые широко применяются к большому разнообразию
нанообъектов. Настоящие Технические условия предназначены для определения перечня
фундаментальных характеристик, общих для наночастиц в виде порошка, который охватывает очень
широкий диапазон нанообъектов.
Чтобы достичь общего понимания среди продавцов, покупателей и регулирующих структур, данные Технические
условия используют химический состав, кристаллическую структуру, размер частиц и площадь поверхности в
качестве основных параметров для описания нанообъектов с научной точки зрения в отношении химических,
физических и поверхностных свойств, т.е. свойств, представляющих интерес для пользователей нанообъектов. В то
же время, поскольку процедуры измерения, используемые для определения характеристик нанообъектов, часто
опираются на различные идеализированные допущения, результирующие характеристики нанообъектов с
одинаковым наименованием не могут гарантировать равнозначность результатов измерений. Эту проблему можно
решать принятием признанных методов измерения, которые могут давать надежные результаты измерений.
Методы измерений, принятые в данных Технических условиях, хорошо известны в промышленности.
Приборы, используемые для измерения, и программы для обработки данных хорошо развиты и дают
надежные результаты измерений при работе в условиях действующей системой качества.
Описание методов измерения в данных Технических условиях ограничено важными дополнительными
предупреждениями. Для основной информации о применении методов предполагают, что к прибору прилагаются
инструкции по эксплуатации, имеются подходящие компьютерные программы по обработке данных, и анализ
требует большого опыта работы в данной области. Описанные методы применимы к ситуациям, когда измерения
поручаются независимым испытательным лабораториям в качестве подряда. Поскольку количественные
критерии, касающиеся характеристик, зависят от конкретных намерений пользователей, они не описаны в данных
Технических условиях. Эти критерии являются предметом соглашения между пользователями данных
Технических условий, а именно, продавцами, покупателями, и регулирующими структурами в отношении
наночастиц в порошкообразной форме.
Нанотехнология является быстро развивающейся областью. Пользователям данных Технических
условий следует поддерживать нормативно-правовое обеспечение и быть в курсе последних
разработок по охране здоровья и окружающей среды и достижений в области соблюдения техники
безопасности, касающейся нанотехнологий.
Если продавец или покупатель желают оценить безопасность для окружающей среды или риски для здоровья,
связанные с рассматриваемым материалом, они могут обратиться к ISO/TR 12885:2008 для дополнительного
руководства. При подготовке данных Технических условий предполагалось, что исполнение их положений будет
возложено на соответствующим образом подготовленный опытный персонал.
ISO 2013 – Все права сохраняются v

---------------------- Page: 5 ----------------------
МЕЖДУНАРОДНЫЙ СТАНДАРТ ISO/TS 17200:2013(R)

Нанотехнологии. Наночастицы в виде порошка.
Характеристики и измерения
1 Область применения
Настоящие Технические условия перечисляют основные характеристики, которые обычно определяют
для наночастиц в виде порошка также предписывают конкретные методы измерений для каждой из
этих характеристик.
Настоящие Технические условия не устанавливают приемлемые количественные критерии для
указанных характеристик, поскольку это является предметом соглашения между продавцами,
покупателями и регулирующими структурами.
Из данных Технических условий исключены характеристики, конкретно связанные с проблемами
безопасности, охраны здоровья и окружающей среды, а также характеристики, которые относятся к
конкретным применениям наночастиц в виде порошка.
2 Нормативные ссылки
В настоящем документе даются нормативные ссылки на следующие документы либо их части, которые
обязательны для его применения. Для датированных документов, допускаются к использованию
только указанное издание. Для недатированных документов - последнее издание указанного
документа (включая любые изменения).
ISO 9277:2010, Определение удельной площади поверхности дисперсных и пористых материалов
методом газовой адсорбции. Метод Брунауэра, Эммета и Теллера (ВЕТ метод)
ISO 13322-1, Анализ гранулометрический. Методы анализа изображений. Часть 1. Статические
методы анализа изображений
ISO 14488, Материалы на основе твердых частиц. Отбор и деление проб для определения
характеристик частиц
ISO/TS 27687, Нанотехнологии. Терминология и определения для нанообъектов. Наночастицы,
нановолокна и нанопластинки
3 Термины и определения
В данном документе используются термины и определения, приведенные в ISO/TS 27687, а также
следующие.
3.1
просвечивающая электронная микроскопия
transmission electron microscopy
ПЭМ
TEM
метод, дающий увеличенные изображения или дифракционные картины образца с помощью
электронного пучка, проходящего через образец и взаимодействующего с ним
ISO 2006 – Все права сохраняются 1

---------------------- Page: 6 ----------------------
ISO/TS 17200:2013(R)
[ИСТОЧНИК: ISO 29301:2010]
3.2
рентгеновская дифракция
X-ray diffraction
РД
XRD
метод определения кристаллографической и геометрической информации о пробе путем наблюдения
дифракционной картины за счет рассеяния рентгеновского пучка образцом
3.3
удельная площадь поверхности
specific surface area
абсолютная площадь поверхности образца, деленная на его массу
[ИСТОЧНИК: ISO 9277:2010, определение 3.11]
Примечание к статье: В данных Технических условиях абсолютную площадь поверхности оценивают по
[ ]
14
измерению количества физически адсорбированного газа методом BET.
3.4
диаметр Фере
Feret diameter
Расстояние между двумя параллельными касательными, проведе
...

TECHNICAL ISO/TS
SPECIFICATION 17200
First edition
2013-06-01
Nanotechnology — Nanoparticles in
powder form — Characteristics and
measurements
Nanotechnologies — Nanoparticules sous forme de poudre —
Caractéristiques et mesures
Reference number
ISO/TS 17200:2013(E)
©
ISO 2013

---------------------- Page: 1 ----------------------
ISO/TS 17200:2013(E)

COPYRIGHT PROTECTED DOCUMENT
© ISO 2013
All rights reserved. Unless otherwise specified, no part of this publication may be reproduced or utilized otherwise in any form
or by any means, electronic or mechanical, including photocopying, or posting on the internet or an intranet, without prior
written permission. Permission can be requested from either ISO at the address below or ISO’s member body in the country of
the requester.
ISO copyright office
Case postale 56 • CH-1211 Geneva 20
Tel. + 41 22 749 01 11
Fax + 41 22 749 09 47
E-mail copyright@iso.org
Web www.iso.org
Published in Switzerland
ii © ISO 2013 – All rights reserved

---------------------- Page: 2 ----------------------
ISO/TS 17200:2013(E)

Contents Page
Foreword .iv
Introduction .v
1 Scope . 1
2 Normative references . 1
3 Terms and definitions . 1
4 Fundamental characteristics with corresponding measurement methods .2
5 Sample preparation . 2
6 Measurement methods . 3
6.1 Chemical composition . 3
6.2 Specific surface area by BET method . . 4
6.3 Crystal structure by XRD method . 4
6.4 Average crystallite size by XRD (Scherrer formula) method . 4
6.5 Average and standard deviation of the measured primary particle sizes by TEM method . 4
7 Test report . 4
Annex A (informative) Applicability of this Technical Specification . 6
Bibliography . 7
© ISO 2013 – All rights reserved iii

---------------------- Page: 3 ----------------------
ISO/TS 17200:2013(E)

Foreword
ISO (the International Organization for Standardization) is a worldwide federation of national standards
bodies (ISO member bodies). The work of preparing International Standards is normally carried out
through ISO technical committees. Each member body interested in a subject for which a technical
committee has been established has the right to be represented on that committee. International
organizations, governmental and non-governmental, in liaison with ISO, also take part in the work.
ISO collaborates closely with the International Electrotechnical Commission (IEC) on all matters of
electrotechnical standardization.
The procedures used to develop this document and those intended for its further maintenance are
described in the ISO/IEC Directives, Part 1. In particular the different approval criteria needed for the
different types of ISO documents should be noted. This document was drafted in accordance with the
editorial rules of the ISO/IEC Directives, Part 2. www.iso.org/directives
Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this document may be the subject of
patent rights. ISO shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights. Details of
any patent rights identified during the development of the document will be in the Introduction and/or
on the ISO list of patent declarations received. www.iso.org/patents
Any trade name used in this document is information given for the convenience of users and does not
constitute an endorsement.
The committee responsible for this document is ISO/TC 229, Nanotechnologies.
iv © ISO 2013 – All rights reserved

---------------------- Page: 4 ----------------------
ISO/TS 17200:2013(E)

Introduction
As is commonly noticed for every technology concerned with the development of new materials, and for
nanotechnology in particular, information sharing on material characteristics by sellers and buyers, and
sometimes also by regulators, is important and is facilitated by the development of appropriate material
specifications. For a comprehensive exchange of information, it is essential to agree on the description
of the material characteristics. However, many characteristics of nanomaterials cannot be determined
using general and well-established measurement methods. This may become the cause for inconsistency
in experimental results and induce confusion in commerce and technology transfer. Furthermore, the
rapid discovery of new materials from nanotechnology increases the number of characteristics that
need to be specified for an appropriate dissemination of information.
In order to address this need, a systematic arrangement of characteristics has been carried out
across different fields of application specific to each nano-object by identifying a list of fundamental
characteristics commonly used in these circumstances and by developing tailor-made technical
specifications for the list, as seen in ISO/TS 11931 and ISO/TS 11937.
Another approach that was followed for ISO/TS 12805 resulted in the development of a list of
characteristics applicable to specifying nano-objects that are useful to the wider community of users of
information on nano-objects.
To increase the reach of outcomes from these efforts, members of ISO/TC 229 have discussed and
planned the systematic development of an ISO technical specification for defining a list of fundamental
characteristics that are widely applicable to a broad range of nano-objects. This Technical Specification
is intended to define the list of fundamental characteristics universally for nanoparticles in powder
form, which covers a very broad range of nano-objects.
In order to develop a common understanding among sellers, buyers, and regulators, this Technical
Specification uses the chemical composition, crystal structure, particle size, and surface area as
fundamental measures for characterizing nano-objects from a chemical, physical, and surface scientific
point of view that is of significant interest to users of the nano-objects. However, since measurement
procedures used for determining the characteristics of nano-objects often rely on various idealized
assumptions, the resulting characteristics of nano-objects with identical name may not guarantee the
equivalence of measured results. This issue can be addressed by adopting well-recognized measurement
methods that can provide reliable measurement results.
The measurement methods adopted in this Technical Specification are well known in the industry.
Instruments used for measurement and data processing software are well developed and provide
reliable measurement results when operated under a valid quality system.
The description of measurement methods is limited in this Technical Specification to important
supplementary notices. For basic information about applying the methods, it is assumed that operating
instructions are provided with any instruments, appropriate data processing software is available, and
analysis has the required technical skills. The methods are applicable to situations where procedures are
subcontracted to independent test laboratories. Since quantitative criteria concerning characteristics
depend on the specific intentions among users, they are not described in this Technical Specification.
These criteria are subject to agreement between users of this Technical Specification, namely, sellers,
buyers, and regulators of nanoparticles in powder form.
Nanotechnology is a rapidly growing and evolving field. Users of this Technical Specification should
maintain familiarity with the legislative environment and latest developments in human and
environmental health and safety regarding nanotechnology.
If the seller or the buyer wishes to assess the environmental, safety, or health risks of the material, they
may refer to ISO/TR 12885:2008 for further guidance. It has been assumed in the preparation of this
Technical Specification that the execution of its provisions will be entrusted to appropriately qualified
and experienced people.
© ISO 2013 – All rights reserved v

---------------------- Page: 5 ----------------------
TECHNICAL SPECIFICATION ISO/TS 17200:2013(E)
Nanotechnology — Nanoparticles in powder form —
Characteristics and measurements
1 Scope
This Technical Specification lists fundamental characteristics which are commonly determined for
nanoparticles in powder form. The Technical Specification prescribes specific measurement methods
for each of these characteristics.
This Technical Specification does not specify acceptable quantitative criteria for the characteristics
because they are subject to agreement between sellers, buyers, and regulators.
Excluded in this Technical Specification are characteristics specifically related to health, safety, and
environmental issues, as well as characteristics that pertain to specific applications of nanoparticles
in powder form.
2 Normative references
The following documents, in whole or in part, are normatively referenced in this document and are
indispensable for its application. For dated references, only the edition cited applies. For undated
references, the latest edition of the referenced document (including any amendments) applies.
ISO 9277:2010, Determination of the specific surface area of solids by gas adsorption — BET method
ISO 13322-1, Particle size analysis — Image analysis methods — Part 1: Static image analysis methods
ISO 14488, Particulate materials — Sampling and sample splitting for the determination of particulate properties
ISO/TS 27687, Nanotechnologies — Terminology and definitions for nano-objects — Nanoparticle, nanofibre
and nanoplate
3 Terms and definitions
For the purposes of this document, the terms and definitions given in ISO/TS 27687 and the following apply.
3.1
transmission electron microscopy
TEM
method that produces magnified images or diffraction patterns of the specimen by an electron beam
which passes through the specimen and interacts with it
[SOURCE: ISO 29301:2010]
3.2
X-ray diffraction
XRD
method to determine crystallographic and geometrical in
...

SPÉCIFICATION ISO/TS
TECHNIQUE 17200
Première édition
2013-06-01
Nanotechnologies — Nanoparticules
sous forme de poudre —
Caractéristiques et mesures
Nanotechnology — Nanoparticles in powder form — Characteristics
and measurements
Numéro de référence
ISO/TS 17200:2013(F)
©
ISO 2013

---------------------- Page: 1 ----------------------
ISO/TS 17200:2013(F)

DOCUMENT PROTÉGÉ PAR COPYRIGHT
© ISO 2013
Droits de reproduction réservés. Sauf indication contraire, aucune partie de cette publication ne peut être reproduite ni utilisée
sous quelque forme que ce soit et par aucun procédé, électronique ou mécanique, y compris la photocopie, l’affichage sur
l’internet ou sur un Intranet, sans autorisation écrite préalable. Les demandes d’autorisation peuvent être adressées à l’ISO à
l’adresse ci-après ou au comité membre de l’ISO dans le pays du demandeur.
ISO copyright office
Case postale 56 • CH-1211 Geneva 20
Tel. + 41 22 749 01 11
Fax + 41 22 749 09 47
E-mail copyright@iso.org
Web www.iso.org
Publié en Suisse
ii © ISO 2013 – Tous droits réservés

---------------------- Page: 2 ----------------------
ISO/TS 17200:2013(F)

Sommaire Page
Avant-propos .iv
Introduction .v
1 Domaine d’application . 1
2 Références normatives . 1
3 Termes, définitions et abréviations . 1
4 Caractéristiques fondamentales avec les méthodes de mesure correspondantes .2
5 Préparation des échantillons . 2
6 Méthodes de mesure . 3
6.1 Composition chimique . 3
6.2 Aire massique (surface spécifique) par la méthode BET . 4
6.3 Structure cristalline par la méthode XDR . 4
6.4 Taille moyenne des cristallites par la méthode DRX (formule de Scherrer) . 4
6.5 Moyenne et écart-type des tailles de particule primaire mesurées par la méthode MET . 4
7 Rapport d’essai . 4
Annexe A (informative) Applicabilité de la présente Spécification technique .6
Bibliographie . 7
© ISO 2013 – Tous droits réservés iii

---------------------- Page: 3 ----------------------
ISO/TS 17200:2013(F)

Avant-propos
L’ISO (Organisation internationale de normalisation) est une fédération mondiale d’organismes
nationaux de normalisation (comités membres de l’ISO). L’élaboration des Normes internationales est
en général confiée aux comités techniques de l’ISO. Chaque comité membre intéressé par une étude
a le droit de faire partie du comité technique créé à cet effet. Les organisations internationales,
gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec l’ISO participent également aux travaux.
L’ISO collabore étroitement avec la Commission électrotechnique internationale (CEI) en ce qui concerne
la normalisation électrotechnique.
Les procédures utilisées pour élaborer le présent document et celles destinées à sa mise à jour sont
décrites dans les Directives ISO/CEI, Partie 1. Il convient, en particulier de prendre note des différents
critères d’approbation requis pour les différents types de documents ISO. Le présent document a été
rédigé conformément aux règles de rédaction données dans les Directives ISO/CEI, Partie 2, www.iso.
org/directives.
L’attention est appelée sur le fait que certains des éléments du présent document peuvent faire l’objet de
droits de propriété intellectuelle ou de droits analogues. L’ISO ne saurait être tenue pour responsable
de ne pas avoir identifié de tels droits de propriété et averti de leur existence. Les détails concernant les
références aux droits de propriété intellectuelle ou autres droits analogues identifiés lors de l’élaboration
du document sont indiqués dans l’Introduction et/ou sur la liste ISO des déclarations de brevets reçues,
www.iso.org/patents.
Les éventuelles appellations commerciales utilisées dans le présent document sont données pour
information à l’intention des utilisateurs et ne constituent pas une approbation ou une recommandation.
Le comité chargé de l’élaboration du présent document est l’ISO/TC 229, Nanotechnologies.
iv © ISO 2013 – Tous droits réservés

---------------------- Page: 4 ----------------------
ISO/TS 17200:2013(F)

Introduction
Comme cela est souvent le cas pour toutes les technologies concernées par le développement de
nouveaux matériaux, et pour la nanotechnologie en particulier, le partage des informations relatives
aux caractéristiques du matériau par les vendeurs et les acheteurs, et parfois même par les organismes
de réglementation, est important et est facilité par le développement de spécifications appropriées du
matériau. Pour assurer un échange complet et détaillé des informations, il est essentiel de se mettre
d’accord sur la description des caractéristiques du matériau. Toutefois, de nombreuses caractéristiques
des nanomatériaux ne peuvent pas être déterminées par des méthodes de mesure courantes et largement
validées. Cela peut être à l’origine d’incohérence dans les résultats expérimentaux et semer la confusion
dans les échanges commerciaux et le transfert de technologie. De plus, la découverte rapide de nouveaux
matériaux issus de la nanotechnologie augmente le nombre de caractéristiques à spécifier pour une
diffusion appropriée des informations.
Afin de répondre à ce besoin, une composition systématique de caractéristiques a été déterminée pour
les différents domaines d’application spécifiques à chaque nano-objet, basée sur l’identification d’une
liste de caractéristiques fondamentales communément utilisées dans ces circonstances et de développer
une Spécification technique sur mesure pour cette liste, comme dans l’ISO/TS 11931 et l’ISO/TS 11937.
Une autre démarche, dont à fait l’objet l’ISO/TS 12805, a mené au développement d’une liste de
caractéristiques appropriées pour la caractérisation des nano-objets, et qui soient utiles à la majorité
des utilisateurs d’informations sur les nano-objets.
Pour augmenter les chances de réussite, les membres de l’ISO TC 229 ont abordé et planifié le développement
systématique d’une Spécification technique ISO visant à définir une liste de caractéristiques de base
largement applicables à un large éventail de nano-objets. Cette Spécification technique a pour objet
de définir une liste de caractéristiques de base et universelles pour les nanoparticules sous forme de
poudre, et qui couvre un large éventail de nano-objets.
Afin de permettre aux vendeurs, acheteurs et organismes de réglementation de mieux se comprendre,
la présente Spécification technique utilise la composition chimique, la structure cristalline, la
granulométrie et l’aire massique (surface spécifique) comme mesures de base pour caractériser les
nano-objets d’un point de vue chimique, physique et surfacique. Ces mesures présentent en effet un
intérêt significatif pour les utilisateurs des nano-objets. Toutefois, les procédures de mesurage utilisées
pour déterminer les caractéristiques des nano-objets s’appuyant souvent sur des hypothèses idéales
différentes, les caractéristiques obtenues pour des nano-objets de mêmes noms peuvent ne pas garantir
l’équivalence des résultats mesurés. Ce problème peut être résolu en adoptant des méthodes de mesure
reconnues qui peuvent fournir des résultats fiables.
Les méthodes de mesure adoptées dans la présente Spécification technique sont bien connues du secteur
industriel. Les instruments de mesure utilisés et les logiciels de traitement de données sont bien développés
et donnent des résultats de mesure fiables lorsqu’ils sont utilisés sous un système de qualité éprouvé.
Dans la présente Spécification technique, la description des méthodes de mesure se limite aux
recommandations additionnelles et importantes. Pour obtenir des informations de base relatives
à l’application des méthodes, les guides d’utilisation sont censées accompagner les instruments, les
logiciels de traitement de données appropriés doivent être disponibles et l’analyse doit être menée
par des compétences techniques appropriées. Les méthodes sont applicables lorsque les procédures
sont sous-traitées à des laboratoires d’essai indépendants. Quand les critères quantitatifs concernant
les caractéristiques dépendent d’intentions spécifiques d’utilisateurs, ils ne sont pas décrits dans
la présente Spécification technique. Ces critères font l’objet d’un accord entre les utilisateurs de la
présente Spécification technique, à savoir les vendeurs, acheteurs et organismes de réglementation des
nanoparticules sous forme de poudre.
La nanotechnologie est un domaine à la croissance et l’évolution rapides. Il convient que les utilisateurs
de la présente Spécification technique demeurent familiers avec l’environnement législatif et les
derniers développements en matière de santé et de sécurité humaine et environnementale concernant
la nanotechnologie.
© ISO 2013 – Tous droits réservés v

---------------------- Page: 5 ----------------------
ISO/TS 17200:2013(F)

Si le vendeur ou l’acheteur souhaite évaluer les risques liés à l’environnement, la sécurité ou la santé du
matériau, il peut se référer à l’ISO/TR 12885:2008 pour plus d’informations. L’élaboration de la présente
Spécification technique repose sur l’hypothèse selon laquelle la mise en application de ses dispositions
est confiée à des personnes suffisamment qualifiées et expérimentées.
vi © ISO 2013 – Tous droits réservés

---------------------- Page: 6 ----------------------
SPÉCIFICATION TECHNIQUE ISO/TS 17200:2013(F)
Nanotechnologies — Nanoparticules sous forme de
poudre — Caractéristiques et mesures
1 Domaine d’application
La présente Spécification technique dresse la liste des caractéristiques fondamentales communément
déterminées pour les nanoparticules sous forme de poudre. Elle spécifie les méthodes de mesure
spécifiques pour chacune de ces caractéristiques.
La présente Spécification technique ne spécifie pas de critères quantitatifs acceptables pour les
caractéristiques, car elles font l’objet d’un accord entre les vendeurs, les acheteurs et les organismes de
réglementation.
Sont exclues de la présente Spécification technique les caractéristiques ayant spécialement trait aux
questions de santé, de sécurité et d’environnement, ainsi que les caractéristiques liées aux applications
spécifiques des nanoparticules sous forme de poudre.
2 Références normatives
Les documents suivants, en totalité ou en partie, sont référencés de manière normative dans le présent
document et sont indispensables pour son application. Pour les références datées, seule l’édition citée
s’applique. Pour les références non datées, la dernière édition du document de référence s’applique (y
compris les éventuels amendements).
ISO 9277:2010, Détermination de l’aire massique (surface spécifique) des solides par adsorption de
gaz — Méthode BET
ISO 13322-1, Analyse granulométrique — Méthodes par analyse d’images — Partie 1: Méthodes par analyse
d’images statiques
ISO 14488, Matériaux particulaires — Échantillonnage et division des échantillons pour la caractérisation
des propriétés particulaires
ISO/TS 27687, Nanotechnologies — Terminologie et définitions relatives aux nano-objets — Nanoparticule,
nanofibre et nanofeuillet
3 Termes, définitions et abréviations
Pour les besoins du présent document, les termes et définitions donnés dans l’ISO/TS 27687, ainsi que
les suivants s’appliquent.
3.1
microscopie électronique à transmission
MET
méthode produisant des images agrandies ou des profils de diffraction de l’éprouvette en faisant passer
à travers l’éprouvette un faisceau d’électrons qui interagit avec lui
[SOURCE: ISO 29301:2010, définition 3.37]
3.2
diffraction des rayons X
DRX
méthode de détermination des informations cristallographiques et géométries relatives à un échantillon
par observation du profil de diffraction dû à un faisceau de rayons X dispersé par un échantillon
© ISO 2013 – Tous droits réservés 1

-----
...

Questions, Comments and Discussion

Ask us and Technical Secretary will try to provide an answer. You can facilitate discussion about the standard in here.