ISO/TS 10798:2011

Nanotechnologies — Charaterization of single-wall carbon nanotubes using scanning electron microscopy and energy dispersive X-ray spectrometry analysis

ISO/TS 10798:2011 establishes methods to characterize the morphology, and to identify the elemental composition of catalysts and other inorganic impurities in raw and purified single-wall carbon nanotube (SWCNT) powders and films, using scanning electron microscopy and energy dispersive X-ray spectrometry analysis. The methods described in ISO/TS 10798:2011 for SWCNTs can also be applied to the analysis of multiwall carbon nanotubes (MWCNTs).

Nanotechnologies — Caractérisation des nanotubes de carbone à simple paroi par microscopie électronique à balayage et spectroscopie à dispersion d'énergie

L'ISO/TS 10798:2011 définit les méthodes permettant de caractériser la morphologie et d'identifier la composition élémentaire des catalyseurs et d'autres impuretés inorganiques dans les poudres et films de nanotubes de carbone à simple paroi (SWCNT) bruts et purifiés, en utilisant pour cela l'analyse par microscopie électronique à balayage et par spectrométrie à rayons X à sélection d'énergie. Les méthodes décrites pour les SWCNT dans l'ISO/TS 10798:2011 peuvent être également appliquées à l'analyse des nanotubes de carbone à parois multiples (MWCNT).

General Information

• Status: Published
• Publication Date: 13-Jul-2011
• ICS: 07.030 - Physics. Chemistry
• ICS: 07.120 - Nanotechnologies
• Technical Committee: ISO/TC 229 - Nanotechnologies
• Drafting Committee: ISO/TC 229/JWG 2 - Measurement and characterization
• Current Stage: 9093 - International Standard confirmed
• Completion Date: 04-Oct-2023

Standards Content (Sample)

TECHNICAL ISO/TS
SPECIFICATION 10798
First edition
2011-07-15

Nanotechnologies — Characterization of
single-wall carbon nanotubes using
scanning electron microscopy and
energy dispersive X-ray spectrometry
analysis
Nanotechnologies — Caractérisation des nanotubes de carbone à
simple paroi par microscopie électronique à balayage et spectroscopie
à dispersion d'énergie




Reference number
ISO/TS 10798:2011(E)
©
ISO 2011

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Published in Switzerland

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ISO/TS 10798:2011(E)
Contents Page
Foreword . iv
Introduction . v
1 Scope . 1
2 Normative references . 1
3 Terms and definitions . 1
3.1 Terms related to scanning electron microscope . 1
3.2 Terms related to electron probe microanalysis . 2
3.3 Terms related to sampling . 3
4 General principles . 4
4.1 SEM analysis . 4
4.2 EDX analysis . 4
4.3 Applicability to MWCNT analysis . 4
4.4 Other supportive analytical methods . 5
5 Sample preparation methods . 5
5.1 Precautions and safety concerns . 5
5.2 Preparing samples for SEM/EDX analysis . 5
5.3 SEM sample preparation/attachment techniques . 6
6 Measurement procedures . 7
6.1 EDX analysis . 8
7 Data analysis and results interpretation . 9
7.1 SEM results . 9
7.2 EDX results . 9
8 Measurement uncertainty . 9
8.1 SEM analysis . 9
8.2 EDX analysis . 10
Annex A (normative) SEM sampling
...

SPÉCIFICATION ISO/TS
TECHNIQUE 10798
Première édition
2011-07-15


Nanotechnologies — Caractérisation des
nanotubes de carbone à simple paroi par
microscopie électronique à balayage et
spectroscopie à dispersion d'énergie
Nanotechnologies — Charaterization of single-wall carbon nanotubes
using scanning electron microscopy and energy dispersive X-ray
spectrometry analysis




Numéro de référence
ISO/TS 10798:2011(F)
©
ISO 2011

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Sommaire Page
Avant-propos . iv
Introduction . v
1  Domaine d'application . 1
2  Références normatives . 1
3  Termes et définitions . 1
3.1  Microscopie électronique à balayage . 1
3.2  Termes relatifs à l'analyse par microsonde électronique . 2
3.3  Termes relatifs à l'échantillonnage . 4
4  Principes généraux . 4
4.1  Analyse MEB . 4
4.2  Analyse EDX . 5
4.3  Applicabilité à l'analyse de MWCNT . 5
4.4  Autres méthodes d'analyse auxiliaires . 5
5  Méthodes de préparation de l'échantillon . 5
5.1  Consignes et mesures de sécurité . 5
5.2  Préparation des échantillons pour les analyses par MEB/EDX . 6
5.3  Préparation de l'échantillon MEB/techniques de fixation . 6
6  Modes opératoires de mesure . 8
6.1  Analyse MEB . 8
6.2  Analyse EDX . 9
7  Analyse des données et interprétation des résultats . 10
7.1  Résultats obtenus par MEB . 10
7.2  Résultats obtenus par EDX . 10
8  Incertitude de mesure . 10
8.1  Analyse MEB . 10
8.2  Analyse EDX .
...