ISO 2177:2003
(Main)Metallic coatings — Measurement of coating thickness — Coulometric method by anodic dissolution
Metallic coatings — Measurement of coating thickness — Coulometric method by anodic dissolution
ISO 2177:2002 describes a coulometric method by anodic dissolution for measuring the thickness of metallic coatings. It is only applicable to conductive coatings. Typical combinations of coatings and substrates that can be tested by this method are given. Other combinations may be tested with electrolytes in current use, or new electrolytes may be developed for them but, in both cases, it is necessary to verify the suitability of the complete system. ISO 2177:2002 is also applicable to multi-layer systems, e.g Cu-Ni-Cr. It may be used to measure the thickness of coatings applied by various means, if due account is taken of special features such as the presence of an alloy layer. In some cases, the presence and thickness of diffusion layers can also be measured. It can also be used to measure the thickness of coatings on cylindrical specimens and wires.
Revêtements métalliques — Mesurage de l'épaisseur — Méthode coulométrique par dissolution anodique
L'ISO 2177:2002 décrit une méthode coulométrique de mesurage, par dissolution anodique, de l'épaisseur des revêtements métalliques. Elle n'est applicable qu'aux dépôts conducteurs. Elle donne des combinaisons types de dépôts et de métaux de base qui peuvent être mesurés selon cette méthode. D'autres combinaisons peuvent être essayées avec des électrolytes d'usage courant, ou avec de nouveaux électrolytes mis au point à cet effet mais il est, dans les deux cas, nécessaire de vérifier l'aptitude à l'emploi du système complet. L'ISO 2177:2002 est également applicable aux systèmes multicouches, par exemple Cu-Ni-Cr. Elle peut aussi être utilisée pour mesurer l'épaisseur de revêtements appliqués par divers moyens, s'il est tenu compte des particularités telles que la présence d'une couche d'alliage. Dans certains cas, il est également possible de déceler la présence et de mesurer l'épaisseur de couches de diffusion. Elle peut enfin être utilisée pour mesurer l'épaisseur des revêtements déposés sur des échantillons cylindriques et des fils.
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INTERNATIONAL ISO
STANDARD 2177
Third edition
2003-03-15
Metallic coatings — Measurement of
coating thickness — Coulometric method
by anodic dissolution
Revêtements métalliques — Mesurage de l'épaisseur — Méthode
coulométrique par dissolution anodique
Reference number
ISO 2177:2003(E)
©
ISO 2003
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Contents Page
Foreword. iv
1 Scope. 1
2 Normative references . 1
3 Terms and definitions. 1
4 Principle . 2
5 Instrumentation . 2
6 Electrolyte. 2
7 Factors affecting the measuring accuracy. 3
7.1 Coating thickness . 3
7.2 Current variation . 3
7.3 Area variation . 3
7.4 Agitation (if required). 4
7.5 Alloy layer between coating and substrate. 4
7.6 Purity of coatings. 4
7.7 Condition of test surface. 4
7.8 Density of coating material . 4
7.9 Cleanliness of the cell . 4
7.10 Cleanliness of electrical connections. 4
7.11 Calibration standards (if used) . 4
7.12 Non-uniform dissolution .
...
NORME ISO
INTERNATIONALE 2177
Troisième édition
2003-03-15
Revêtements métalliques — Mesurage de
l'épaisseur — Méthode coulométrique par
dissolution anodique
Metallic coatings — Measurement of coating thickness — Coulometric
method by anodic dissolution
Numéro de référence
ISO 2177:2003(F)
©
ISO 2003
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ISO 2177:2003(F)
Sommaire Page
Avant-propos. iv
1 Domaine d'application. 1
2 Références normatives. 1
3 Termes et définitions . 1
4 Principe . 2
5 Appareillage. 2
6 Électrolyte. 3
7 Facteurs influant sur la précision du mesurage. 3
7.1 Épaisseur de revêtement. 3
7.2 Variation du courant . 3
7.3 Variation de la superficie. 3
7.4 Agitation (le cas échéant). 4
7.5 Couche d’alliage entre le revêtement et le métal de base . 4
7.6 Pureté du revêtement . 4
7.7 État de la surface d’essai . 4
7.8 Masse volumique du matériau de revêtement . 4
7.9 Propreté de la cellule . 4
7.10 Propreté des raccordements électriques . 4
7.11 Étalons (le cas échéant) .
...
Questions, Comments and Discussion
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