SIST EN IEC 60749-5:2024

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test (IEC 60749-5:2023)

This part of IEC 60749 provides a steady-state temperature and humidity bias life test to
evaluate the reliability of non-hermetic packaged semiconductor devices in humid
environments.
This test method is considered destructive.

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 5: Lebensdauerprüfung bei konstanter Temperatur und Feuchte unter elektrischer Beanspruchung (IEC 60749-5:2023)

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 5: Essai continu de durée de vie sous température et humidité avec polarisation (IEC 60749-5:2023)

IEC 60749-5:2023 est disponible sous forme de IEC 60749-5:2023 RLV qui contient la Norme internationale et sa version Redline, illustrant les modifications du contenu technique depuis l'édition précédente.

L’IEC 60749-5:2023 décrit un essai continu de durée de vie utilisant la température et l’humidité avec polarisation pour évaluer la fiabilité des dispositifs à semiconducteurs sous boîtier non hermétique dans les environnements humides. Cette méthode d’essai est considérée comme destructive. Cette édition inclut les modifications techniques majeures suivantes par rapport à l'édition précédente:
a) la spécification de l’équipement d’essai est modifiée pour exiger la nécessité de réduire le plus possible les gradients d’humidité relative et d’augmenter le plus possible la circulation d’air entre les dispositifs à semiconducteurs en essai;
b) la spécification des fixations de l’équipement d’essai est modifiée pour exiger la prévention de la condensation sur les dispositifs en essai et sur les fixations électriques reliant les dispositifs à l’équipement d’essai;
c) le remplacement des références au terme "jonction virtuelle" par "pastille".

Polprevodniški elementi - Mehanske in klimatske preskusne metode - 5. del: Preskus življenjske dobe v dinamičnem ravnotežju vlažnosti in pri ustaljeni temperaturi (IEC 60749-5:2023)

Ta del standarda IEC 60749 določa preskus življenjske dobe v dinamičnem ravnotežju vlažnosti in pri ustaljeni temperaturi za vrednotenje zanesljivosti nehermetično pakiranih polprevodniških elementov v vlažnih okoljih.
Ta preskusna metoda se obravnava kot porušitvena.

General Information

• Status: Published
• Public Enquiry End Date: 30-Nov-2022
• Publication Date: 31-Jan-2024
• ICS: 31.080.01 - Semiconductor devices in general
• Technical Committee: I11 - Imaginarni 11
• Current Stage: 6060 - National Implementation/Publication (Adopted Project)
• Start Date: 31-Jan-2024
• Due Date: 06-Apr-2024
• Completion Date: 01-Feb-2024
• Ref Project: EN IEC 60749-5:2024 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test

Relations

• Revised: SIST EN 60749-5:2017 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test (IEC 60749-5:2017)
• Effective Date: 26-Jul-2022

Standards Content (Sample)

SLOVENSKI STANDARD
SIST EN IEC 60749-5:2024
01-marec-2024
Polprevodniški elementi - Mehanske in klimatske preskusne metode - 5. del:
Preskus življenjske dobe v dinamičnem ravnotežju vlažnosti in pri ustaljeni
temperaturi (IEC 60749-5:2023)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state
temperature humidity bias life test (IEC 60749-5:2023)
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 5:
Lebensdauerprüfung bei konstanter Temperatur und Feuchte unter elektrischer
Beanspruchung (IEC 60749-5:2023)
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 5:
Essai continu de durée de vie sous température et humidité avec polarisation (IEC
60749-5:2023)
Ta slovenski standard je istoveten z: EN IEC 60749-5:2024
ICS:
31.080.01 Polprevodniški elementi Semiconductor devices in
(naprave) na splošno general
SIST EN IEC 60749-5:2024 en
2003-01.Slovenski inštitut za standardizacijo. Razmnoževanje celote ali delov tega standarda ni dovoljeno.

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SIST EN IEC 60749-5:2024

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SIST EN IEC 60749-5:2024


EUROPEAN STANDARD EN IEC 60749-5

NORME EUROPÉENNE

EUROPÄISCHE NORM January 2024
ICS 31.080.01 Supersedes EN 60749-5:2017
English Version
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -
Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test
(IEC 60749-5:2023)
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische
mécaniques et climatiques - Partie 5: Essai continu de Prüfverfahren - Teil 5: Lebensdauerprüfung bei konstanter
durée de vie sous température et humidité avec polarisation Temperatur und Feuchte unter elektrischer Beanspruchung
(IEC 60749-5:2023) (IEC 60749-5:2023)
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 Ref. No. EN IEC 60749-5:2024 E

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SIST EN IEC 60749-5:2024
EN IEC 60749-5:2024 (E)
European foreword
The text of document 47/2820/FDIS, future edition 3 of IEC 60749-5, prepared by IEC/TC 47
"Semiconductor devices" was submitted to the IEC-CENELEC parallel vote and approved by
CENELEC as EN IEC 60749-5:2024.
The following dates are fixed:
• latest date by which the document has to be implemented at national (dop) 2024-10-23
level by publication of an identical national standard or by endorsement
• latest date by which the national standards conflicting with the (dow) 2027-01-23
document have to be withdrawn

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The text of the International Standard IEC 60749-5:2023 was approved by CENELEC as a European
Standard without any modification.
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SIST EN IEC 60749-5:2024
EN IEC 60749-5:2024 (E)
Annex ZA
(normative)

Normative references to international publications
with their corresponding European publications
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