IEC 60679-1:1997/AMD1:2002

Amendment 1 - Quartz crystal controlled oscillators of assessed quality - Part 1: Generic specification

Amendement 1 - Oscillateurs pilotés par quartz sous assurance de la qualité - Partie 1: Spécification générique

General Information

• Status: Published
• Publication Date: 14-Jan-2002
• ICS: 31.140 - Piezoelectric devices
• Technical Committee: TC 49 - Piezoelectric, dielectric and electrostatic devices and associated materials for frequency control, selection and detection
• Drafting Committee: WG 7 - TC 49/WG 7
• Current Stage: DELPUB - Deleted Publication
• Completion Date: 11-Apr-2007

Relations

• Amends: IEC 60679-1:1997 - Quartz crystal controlled oscillators of assessed quality - Part 1: Generic specification
• Effective Date: 05-Sep-2023
• Revised: IEC 60679-1:2007 - Quartz crystal controlled oscillators of assessed quality - Part 1: Generic specification
• Effective Date: 05-Sep-2023

Standards Content (Sample)

NORME CEI
INTERNATIONALE IEC
60679-1
INTERNATIONAL
STANDARD
AMENDEMENT 1
AMENDMENT 1
2002-01
Amendement 1
Oscillateurs pilotés par quartz
sous assurance de la qualité –
Partie 1:
Spécification générique
Amendment 1
Quartz crystal controlled oscillators
of assessed quality –
Part 1:
Generic specification
 IEC 2002 Droits de reproduction réservés  Copyright - all rights reserved
International Electrotechnical Commission 3, rue de Varembé Geneva, Switzerland
Telefax: [phone] e-mail: [e-mail] IEC web site http://www.iec.ch
CODE PRIX
Commission Electrotechnique Internationale
E
PRICE CODE
International Electrotechnical Commission
Pour prix, voir catalogue en vigueur
For price, see current catalogue

– 2 – 60679-1 Amend. 1 © CEI:2002

AVANT-PROPOS
Le présent amendement a été établi par le comité d'études 49 de la CEI: Dispositifs piézo-

électriques et diélectriques pour la commande et le choix de la fréquence.

Le texte de cet amendement est issu des documents suivants:

FDIS Rapport de vote
49/523/FDIS 49/531/RVD
Le rapport de vote indiqué dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant
abouti à l'approbation de cet amendement.
___________
Page 6
SOMMAIRE
Remplacer les titres des annexes par ce qui suit:
Annexe A Circuit de charge pour circuits logiques
Annexe B Essai de verrouillage
Annexe C Classification selon la sensibilité à la décharge électrostatique
Bibliographie
Page 8
AVANT-PROPOS
Remplacer, à la page 10, la phrase «L’annexe A fait partie intégrante de cette norme» par ce
qui suit :
Les annexes A, B et C font partie intégrante de cette norme.
Supprimer, à la page 10, la phrase «L’annexe B est donné uniquement à titre d’information».
Page 12
1.2 Références normatives
Insérer, à la page 14, les nouvelles normes suivantes:
CEI 60748-2:1997, Dispositifs à semiconducteurs – Circuits intégrés – Partie 2: Circuits
intégrés numériques
IEC/PAS 62179, Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing human body model (HBM)
(en anglais seulement)
IEC/PAS 62180, Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing machine model (MM) (en
anglais seulement)
Page 156
Insérer, après l’annexe A, les nouvelles annexes B et C.

60679-1 Amend.1  IEC:2002 – 3 –

FOREWORD
This amendment has been prepared by IEC technical committee 49: Piezoelectric and

dielectric devices for frequency control and selection.

The text of this amendment is based on the following documents:

FDIS Report on voting
49/523/FDIS 49/531/RVD
Full information on the voting for the approval of this amendment can be found in the report
on voting indicated in the above table.
___________
Page 7
CONTENTS
Replace the titles of the annexes by the following:
Annex A Load circuit for logic drive
Annex B Latch-up test
Annex C Electrostatic discharge sensitivity classification
Bibliography
Page 9
FOREWORD
Replace, on page 11, the sentence ‘Annex A forms an integral part of this standard’ by the
following:
Annexes A, B and C form an integral part of this standard.
Delete, on page 11, the sentence ‘Annex B is for information only’.
Page 13
1.2 Normative references
Insert, on page 15, the following new standards:
IEC 60748-2:1997, Semiconductor devices – Integrated circuits – Part 2: Digital integrated
circuits
IEC/PAS 62179, Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing human body model (HBM)
IEC/PAS 62180, Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing machine model (MM)
Page 157
Insert, after annex A, the new annexes B and C.

– 4 – 60679-1 Amend. 1 © CEI:2002

Annexe B
(normative)
Essai de verrouillage
B.1 Définition
B.1.1 Verrouillage
Etat caractérisé par un chemin conducteur de faible impédance qui résulte (et persiste après)
d’une surtension à l’entrée, à la sortie ou à la source d’alimentation.
B.1.2 Procédure d’essai
L’essai de verrouillage dans les conditions statiques soumet le dispositif à des tensions
supérieures à celles qu’il rencontrerait dans les conditions normales de fonctionnement, et il
est même plus sévère que les méthodes d’essai dynamiques utilisant des niveaux de courant
et de tension similaires.
Cet essai, s’il est effectué conformément aux procédés définis dans cette norme, est une
méthode nécessaire et suffisante pour la caractérisation de la susceptibilité de verrouillage ou
de l’immunité des oscillateurs pilotés par quartz réalisés avec des circuits intégrés CMOS.
B.2 Méthode d’essai
B.2.1 Cet essai est destructif.
B.2.2 Cet essai est applicable seulement aux oscillateurs pilotés par quartz réalisés avec
des circuits intégrés CMOS.
B.2.3 Cet essai doit être effectué conformément à la CEI 60748-2.
B.2.4 Cet essai est une méthode recommandée. Il n’est pas une spécification. Les limites
d’essai ne sont pas données.
B.2.5 Cet essai est effectué uniquement dans un but de caractérisation et de contrôle. Il
n’est pas un essai de production en série.

60679-1 Amend.1  IEC:2002 – 5 –

Annex B
(normative)
Latch-up test
B.1 Definition
B.1.1 Latch-up
A state in which a low-impedance path results from (and persists following)
...