IEC 60679-1:1997

Quartz crystal controlled oscillators of assessed quality - Part 1: Generic specification

Specifies the methods of test and general requirements for quartz crystal controlled oscillators of assessed quality using either capability approval or qualification approval procedures.

Oscillateurs pilotés par quartz sous assurance de la qualité - Partie 1: Spécification générique

Spécifie les méthodes d'essai et les exigences générales pour les oscillateurs pilotés par quartz dont la qualité est garantie par les procédures d'agrément de savoir-faire ou par les procédures d'homologation.

General Information

• Status: Published
• Publication Date: 10-Dec-1997
• ICS: 31.140 - Piezoelectric devices
• Technical Committee: TC 49 - Piezoelectric, dielectric and electrostatic devices and associated materials for frequency control, selection and detection
• Drafting Committee: WG 7 - TC 49/WG 7
• Current Stage: DELPUB - Deleted Publication
• Start Date: 11-Apr-2007
• Completion Date: 26-Oct-2025

Relations

• Amended By: IEC 60679-1:1997/AMD2:2003 - Amendment 2 - Quartz crystal controlled oscillators of assessed quality - Part 1: Generic specification
• Effective Date: 05-Sep-2023
• Amended By: IEC 60679-1:1997/AMD1:2002 - Amendment 1 - Quartz crystal controlled oscillators of assessed quality - Part 1: Generic specification
• Effective Date: 05-Sep-2023
• Revised: IEC 60679-1:2007 - Quartz crystal controlled oscillators of assessed quality - Part 1: Generic specification
• Effective Date: 05-Sep-2023

Overview

The IEC 60679-1:1997 standard, titled Quartz crystal controlled oscillators of assessed quality - Part 1: Generic specification, is published by the International Electrotechnical Commission (IEC). It provides comprehensive specifications for quartz crystal controlled oscillators designed with assessed quality. This includes the establishment of methods of testing and defining the general requirements that such oscillators must meet. The standard covers two major quality assessment procedures: capability approval and qualification approval.

Quartz crystal oscillators play a critical role in a broad range of electronic applications requiring precise frequency control. Ensuring their quality through standardized testing methods guarantees reliability and performance consistency.

Key Topics

IEC 60679-1:1997 encompasses several key technical and procedural areas critical for manufacturers and quality assurance professionals:

• Scope and Application: Defines the types of quartz crystal oscillators covered and the assessment methods employed.
• Terminology and Definitions: Provides standard nomenclature and general requirements for consistency.
• Quality Assurance Procedures:
  • Capability approval processes focused on initial manufacturing stages.
  • Qualification approval emphasizing ongoing batch verification.
• Test and Measurement Methods:
  • Electrical tests such as insulation resistance, voltage withstand capability, input power, and output frequency.
  • Mechanical and environmental tests including robustness of output terminals, hermetic sealing, soldering heat resistance, thermal shock, vibration, and shock resilience.
• Screening and Selection: Procedures for identifying defective units and ensuring compliance with preferred values and characteristics.
• Marking and Documentation: Requirements for labeling and certified test records facilitating traceability and compliance verification.
• Repair and Rework Policies: Guidelines to manage non-conformities without compromising overall quality.

Applications

This standard serves manufacturers, designers, and quality auditors involved in the production and evaluation of quartz crystal oscillators used in:

• Telecommunication equipment requiring stable frequency generation.
• Precision instrumentation and metrology where timing accuracy is essential.
• Consumer electronics dependent on reliable oscillators for clocking and signal generation.
• Aerospace and defense systems demanding rigorously tested and qualified components.
• Industrial automation systems where environmental and mechanical robustness are critical.

Adoption of IEC 60679-1:1997 ensures that quartz crystal oscillators meet internationally recognized quality benchmarks, enabling interoperability and long-term reliability across varied applications.

Related Standards

For a holistic approach to standardization and terminology related to quartz crystal oscillators and electro-technical components, IEC 60679-1:1997 references the following:

• IEC 60050 (International Electrotechnical Vocabulary): For standardized terminology.
• IEC 60027 (Letter Symbols in Electrical Technology): Defines symbols used in specifications.
• IEC 60417 (Graphical Symbols for Equipment): Standardizes graphical signs on devices.
• IEC 60617 (Graphical Symbols for Schematics): Provides symbols crucial for circuit diagrams.

Additional related standards cover quartz crystal components and oscillators, ensuring complementary guidelines are applied across all product stages.

---

By adhering to IEC 60679-1:1997, stakeholders can improve product quality, reduce risks of failure, and enhance confidence in quartz crystal oscillator performance through consistent testing and quality assessment frameworks. This standard is an essential tool for achieving excellence in electronic component manufacturing and reliability assurance.

Standards Content (Sample)

NORME
CEI
INTERNATIONALE
IEC
60679-1
INTERNATIONAL
QC 690000
STANDARD
Deuxième édition
Second edition
1997-12
Oscillateurs pilotés par quartz sous assurance
de la qualité –
Partie 1:
Spécification générique
Quartz crystal controlled oscillators
of assessed quality –
Part 1:
Generic specification
Numéro de référence
Reference number
CEI/IEC 60679-1:1997
Numéros des publications Numbering

Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI As from 1 January 1997 all IEC publications are issued

sont numérotées à partir de 60000. with a designation in the 60000 series.

Publications consolidées Consolidated publications

Les versions consolidées de certaines publications de Consolidated versions of some IEC publications
la CEI incorporant les amendements sont disponibles. including amendments are available. For example,

Par exemple, les numéros d’édition 1.0, 1.1 et 1.2 edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to

indiquent respectivement la publication de base, la the base publication, the base publication incorporating
publication de base incorporant l’amendement 1, et la amendment 1 and the base publication incorporating
publication de base incorporant les amendements 1 amendments 1 and 2.

et 2.
Validité de la présente publication Validity of this publication
Le contenu technique des publications de la CEI est The technical content of IEC publications is kept under
constamment revu par la CEI afin qu'il reflète l'état constant review by the IEC, thus ensuring that the
actuel de la technique. content reflects current technology.
Des renseignements relatifs à la date de reconfirmation Information relating to the date of the reconfirmation of
de la publication sont disponibles dans le Catalogue de the publication is available in the IEC catalogue.
la CEI.
Les renseignements relatifs à ces révisions, à l'établis- Information on the revision work, the issue of revised
sement des éditions révisées et aux amendements editions and amendments may be obtained from
peuvent être obtenus auprès des Comités nationaux de la IEC National Committees and from the following
CEI et dans les documents ci-dessous: IEC sources:
• Bulletin de la CEI • IEC Bulletin
• Annuaire de la CEI • IEC Yearbook
Accès en ligne* On-line access*
• Catalogue des publications de la CEI • Catalogue of IEC publications
Publié annuellement et mis à jour régulièrement Published yearly with regular updates
(Accès en ligne)* (On-line access)*
Terminologie, symboles graphiques Terminology, graphical and letter
et littéraux symbols
En ce qui concerne la terminologie générale, le lecteur For general terminology, readers are referred to
se reportera à la CEI 60050: Vocabulaire Electro- IEC 60050: International Electrotechnical Vocabulary
technique International (VEI). (IEV).
Pour les symboles graphiques, les symboles littéraux et For graphical symbols, and letter symbols and signs
les signes d'usage général approuvés par la CEI, le approved by the IEC for general use, readers are
referred to publications IEC 60027: Letter symbols to be
lecteur consultera la CEI 60027: Symboles littéraux à
utiliser en électrotechnique, la CEI 60417: Symboles used in electrical technology, IEC 60417: Graphical
graphiques utilisables sur le matériel. Index, relevé et symbols for use on equipment. Index, survey and
compilation des feuilles individuelles, et la CEI 60617: compilation of the single sheets and IEC 60617:
Symboles graphiques pour schémas. Graphical symbols for diagrams.

Publications de la CEI établies par IEC publications prepared by the same
le même comité d'études technical committee
L'attention du lecteur est attirée sur les listes figurant à The attention of readers is drawn to the end pages of
la fin de cette publication, qui énumèrent les this publication which list the IEC publications issued
publications de la CEI préparées par le comité d'études by the technical committee which has prepared the
qui a établi la présente publication. present publication.
* Voir adresse «site web» sur la page de titre. * See web site address on title page.

NORME
CEI
INTERNATIONALE
IEC
60679-1
INTERNATIONAL
QC 690000
STANDARD
Deuxième édition
Second edition
1997-12
Oscillateurs pilotés par quartz sous assurance
de la qualité –
Partie 1:
Spécification générique
Quartz crystal controlled oscillators
of assessed quality –
Part 1:
Generic specification
 IEC 1997 Droits de reproduction réservés  Copyright - all rights reserved
Aucune partie de cette publication ne peut être reproduite ni No part of this publication may be reproduced or utilized in
utilisée sous quelque forme que ce soit et par aucun any form or by any means, electronic or mechanical,
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copie et les microfilms, sans l'accord écrit de l'éditeur. writing from the publisher.
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CODE PRIX
Commission Electrotechnique Internationale
PRICE CODE XC
International Electrotechnical Commission
Pour prix, voir catalogue en vigueur
For price, see current catalogue

– 2 – 60679-1 © CEI:1997
SOMMAIRE
Pages
AVANT-PROPOS . 8

Articles
1 Généralités . 12

1.1 Domaine d'application. 12

1.2 Références normatives . 12

1.3 Ordre de priorité . 16
2 Terminologie et prescriptions générales . 16
2.1 Généralités . 16
2.2 Définitions . 16
2.3 Valeurs et caractéristiques préférentielles . 32
2.4 Marquage . 34
3 Procédures d'assurance de la qualité . 36
3.1 Etape initiale de fabrication . 36
3.2 Modèles associables. 36
3.3 Sous-traitance . 36
3.4 Composants incorporés . 36
3.5 Agrément du fabricant. 36
3.6 Procédures d'agrément . 38
3.7 Procédures pour l'agrément de savoir-faire . 38
3.8 Procédures pour l'homologation . 40
3.9 Méthodes d'essai . 40
3.10 Exigences de sélection . 40
3.11 Travaux de retouche et de réparation . 42
3.12 Rapports certifiés d'essai . 42
3.13 Validité de livraison. 42
3.14 Acceptation pour livraison . 42
3.15 Paramètres non contrôlés . 42
4 Procédures d'essai et de mesure . 42
4.1 Généralités . 42

4.2 Conditions d'essai et de mesure. 44
4.2.1 Conditions normales d'essai . 44
4.2.2 Conditions d'équilibre . 44
4.2.3 Conditions de circulation d'air pour les essais en température. 44
4.2.4 Sources d'alimentation. 44
4.2.5 Précision de la mesure . 46
4.2.6 Précautions . 46
4.2.7 Choix des méthodes d'essai . 46
4.3 Contrôle visuel. 46
4.4 Dimensions et calibrage. 46

60679-1 © IEC:1997 – 3 –
CONTENTS
Page
FOREWORD . 9

Clause
1 General. 13

1.1 Scope . 13

1.2 Normative references. 13

1.3 Order of precedence . 17
2 Terminology and general requirements. 17
2.1 General . 17
2.2 Definitions . 17
2.3 Preferred values for ratings and characteristics . 33
2.4 Marking . 35
3 Quality assessment procedures. 37
3.1 Primary stage of manufacture . 37
3.2 Structurally similar components. 37
3.3 Subcontracting. 37
3.4 Incorporated components. 37
3.5 Manufacturer's approval. 37
3.6 Approval procedures . 39
3.7 Procedures for capability approval. 39
3.8 Procedures for qualification approval. 41
3.9 Test procedures. 41
3.10 Screening requirements . 41
3.11 Rework and repair work . 43
3.12 Certified test records. 43
3.13 Validity of release . 43
3.14 Release for delivery . 43
3.15 Unchecked parameters . 43
4 Test and measurement procedures . 43
4.1 General . 43

4.2 Test and measurement conditions. 45
4.2.1 Standard conditions for testing. 45
4.2.2 Equilibrium conditions. 45
4.2.3 Air flow conditions for temperature tests . 45
4.2.4 Power supplies . 45
4.2.5 Precision of measurement . 47
4.2.6 Precautions . 47
4.2.7 Alternative test methods . 47
4.3 Visual inspection. 47
4.4 Dimensions and gauging procedures. 47

– 4 – 60679-1 © CEI:1997
Articles Pages
4.5 Méthodes d'essais électriques. 48

4.5.1 Résistance d'isolement . 48

4.5.2 Tension de tenue. 48

4.5.3 Puissance d'entrée . 50

4.5.4 Fréquence de sortie. 52

4.5.5 Caractéristiques fréquence/température. 56

4.5.6 Coefficient de charge de la fréquence. 60

4.5.7 Coefficient de tension de la fréquence . 60

4.5.8 Stabilité de la fréquence lors d'une variation transitoire de la température 60
4.5.9 Démarrage de l'oscillation. 62
4.5.10 Temps de stabilisation. 72
4.5.11 Gamme d'ajustage de la fréquence. 74
4.5.12 Caractéristiques de retraçabilité. 74
4.5.13 Tension de sortie de l'oscillateur (sinusoïdale) . 76
4.5.14 Tension de sortie de l'oscillateur (forme d'onde pulsée) . 76
4.5.15 Forme d'onde de sortie de l'oscillateur (sinusoïdale) . 78
4.5.16 Forme d'onde du signal de sortie (impulsion) . 82
4.5.17 Puissance de sortie de l'oscillateur (sinusoïdale). 82
4.5.18 Impédance de sortie de l'oscillateur (sinusoïdale) . 82
4.5.19 Couplage entre sorties. 84
4.5.20 Efficacité de coupure des oscillateurs à porte . 86
4.5.21 Caractéristiques de sortie trois états . 86
4.5.22 Caractéristiques de la modulation d'amplitude. 90
4.5.23 Caractéristiques de la modulation de fréquence . 104
4.5.24 Réponses parasites . 112
4.5.25 Bruit de phase . 112
4.5.26 Bruit de phase – vibration . 114
4.5.27 Bruit de phase – acoustique. 114
4.5.28 Seuil de bruit . 116
4.5.29 Pureté spectrale . 118
4.5.30 Modulation fortuite de fréquence. 118
4.5.31 Fluctuations relatives efficaces de fréquence . 122

4.5.32 Brouillage électromagnétique (par rayonnement). 128
4.6 Méthodes d'essais mécaniques et d'environnement. 136
4.6.1 Robustesse des sorties (destructif) . 136
4.6.2 Essais d'étanchéités (non destructif). 140
4.6.3 Brasage (brasabilité et résistance à la chaleur de brasage) (destructif) . 140
4.6.4 Variations rapides de température: choc thermique par immersion
dans un liquide (non destructif) . 142
4.6.5 Variations rapides de température: choc thermique dans l'air
(non destructif) . 142
4.6.6 Secousses (destructif) . 142
4.6.7 Vibrations (destructif) . 144
4.6.8 Chocs (destructif) . 144
4.6.9 Chute libre (destructif) . 146

60679-1 © IEC:1997 – 5 –
Clause Page
4.5 Electrical test procedures. 49

4.5.1 Insulation resistance. 49

4.5.2 Voltage proof. 49

4.5.3 Input power . 51

4.5.4 Output frequency. 53

4.5.5 Frequency/temperature characteristics . 57

4.5.6 Frequency/load coefficient . 61

4.5.7 Frequency/voltage coefficient . 61

4.5.8 Frequency stability with thermal transient. 61
4.5.9 Oscillation start-up. 63
4.5.10 Stabilization time . 73
4.5.11 Frequency adjustment range. 75
4.5.12 Retrace characteristics . 75
4.5.13 Oscillator output voltage (sinusoidal). 77
4.5.14 Oscillator output voltage (pulse waveform). 77
4.5.15 Oscillator output waveform (sinusoidal). 79
4.5.16 Oscillator output waveform (pulse). 83
4.5.17 Oscillator output power (sinusoidal) . 83
4.5.18 Oscillator output impedance (sinusoidal). 83
4.5.19 Re-entrant isolation . 85
4.5.20 Output suppression of gated oscillators. 87
4.5.21 Tri-state output characteristics. 87
4.5.22 Amplitude modulation characteristics . 91
4.5.23 Frequency modulation characteristics . 105
4.5.24 Spurious response. 113
4.5.25 Phase noise . 113
4.5.26 Phase noise – vibration. 115
4.5.27 Phase noise – acoustic . 115
4.5.28 Noise pedestal. 117
4.5.29 Spectral purity . 119
4.5.30 Incidental frequency modulation. 119
4.5.31 RMS fractional frequency fluctuations . 123

4.5.32 Electromagnetic interference (radiated). 129
4.6 Mechanical and environmental test procedures . 137
4.6.1 Robustness of terminations (destructive) . 137
4.6.2 Sealing tests (non-destructive). 141
4.6.3 Soldering (solderability and resistance to soldering heat) (destructive) . 141
4.6.4 Rapid change of temperature: severe shock by liquid
immersion (non-destructive) . 143
4.6.5 Rapid change of temperature: thermal shock in air (non-destructive). 143
4.6.6 Bump (destructive) . 143
4.6.7 Vibration (destructive). 145
4.6.8 Shock (destructive). 145
4.6.9 Free fall (destructive). 147

– 6 – 60679-1 © CEI:1997
Articles Pages
4.6.10 Accélération constante (non destructif) . 146

4.6.11 Accélération – 2g renversement. 146

4.6.12 Bruit acoustique. 146

4.6.13 Basse pression atmosphérique (non destructif) . 146

4.6.14 Chaleur sèche (non destructif) . 146

4.6.15 Chaleur humide, essai cyclique (destructif) . 146

4.6.16 Froid (non destructif) . 148

4.6.17 Séquence climatique (destructif) . 148

4.6.18 Essai continu de chaleur humide (destructif) . 148
4.6.19 Cycle brouillard salin (destructif) . 148
4.6.20 Moisissures (non destructif) . 148
4.6.21 Immersion dans les solvants de nettoyage (non destructif). 148
4.6.22 Durcissement aux radiations. 148
4.7 Méthodes d'essai d'endurance . 148
4.7.1 Vieillissement (non destructif) . 148
4.7.2 Vieillissement prolongé (non destructif). 150
4.7.3 Vieillissement de la consommation de puissance . 150
Annexes
A Circuit de charge pour circuits logiques . 152
B Bibliographie. 158

60679-1 © IEC:1997 – 7 –
Clause Page
4.6.10 Acceleration, steady-state (non-destructive). 147

4.6.11 Acceleration – 2g tip over . 147

4.6.12 Acoustic noise . 147

4.6.13 Low air pressure (non-destructive) . 147

4.6.14 Dry heat (non-destructive) . 147

4.6.15 Damp heat, cyclic (destructive) . 147

4.6.16 Cold (non-destructive) . 149

4.6.17 Climatic sequence (destructive) . 149

4.6.18 Damp heat, steady-state (destructive). 149
4.6.19 Salt mist, cyclic (destructive) . 149
4.6.20 Mould growth (non-destructive). 149
4.6.21 Immersion in cleaning solvents (non-destructive) . 149
4.6.22 Radiation hardness. 149
4.7 Endurance test procedure . 149
4.7.1 Ageing (non-destructive). 149
4.7.2 Extended ageing (non-destructive). 151
4.7.3 Power consumption ageing . 151
Annexes
A Load circuit for logic drive . 153
B Bibliography. 15 9

– 8 – 60679-1 © CEI:1997
COMMISSION ÉLECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE

––––––––––
OSCILLATEURS PILOTÉS PAR QUARTZ SOUS

ASSURANCE DE LA QUALITÉ –
Partie 1: Spécification générique

AVANT-PROPOS
1) La CEI (Commission Electrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de normalisation composée
de l'ensemble des comités électrotechniques nationaux (Comités nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de
favoriser la coopération internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de
l'électricité et de l'électronique. A cet effet, la CEI, entre autres activités, publie des Normes Internationales.
Leur élaboration est confiée à des comités d'études, aux travaux desquels tout Comité national intéressé par le
sujet traité peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en
liaison avec la CEI, participent également aux travaux. La CEI collabore étroitement avec l'Organisation
Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixées par accord entre les deux organisations.
2) Les décisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques, représentent, dans la mesure
du possible un accord international sur les sujets étudiés, étant donné que les Comités nationaux intéressés
sont représentés dans chaque comité d’études.
3) Les documents produits se présentent sous la forme de recommandations internationales. Ils sont publiés
comme normes, rapports techniques ou guides et agréés comme tels par les Comités nationaux.
4) Dans le but d'encourager l'unification internationale, les Comités nationaux de la CEI s'engagent à appliquer de
façon transparente, dans toute la mesure possible, les Normes internationales de la CEI dans leurs normes
nationales et régionales. Toute divergence entre la norme de la CEI et la norme nationale ou régionale
correspondante doit être indiquée en termes clairs dans cette dernière.
5) La CEI n’a fixé aucune procédure concernant le marquage comme indication d’approbation et sa responsabilité
n’est pas engagée quand un matériel est déclaré conforme à l’une de ses normes.
6) L’attention est attirée sur le fait que certains des éléments de la présente Norme internationale peuvent faire
l’objet de droits de propriété intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait être tenue pour
responsable de ne pas avoir identifié de tels droits de propriété et de ne pas avoir signalé leur existence.
La Norme internationale CEI 60679-1 a été établie par le comité d’études 49 de la CEI:
Dispositifs piézoélectriques et diélectriques pour la commande et le choix de la fréquence.
Cette deuxième édition annule et remplace la première édition parue en 1980 et constitue une
révision technique.
La Norme internationale CEI 60679-1 est en outre la première partie de la nouvelle édition de
la série CEI 60679 révisée pour incorporer les exigences d’essais du système IECQ; cette

publication est basée sur les normes CEI publiées.
Le texte de cette norme est issu des documents suivants:
FDIS Rapport de vote
49/385/FDIS 49/389/RVD
Le rapport de vote indiqué dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant
abouti à l'approbation de cette norme.

60679-1 © IEC:1997 – 9 –
INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION

––––––––––
QUARTZ CRYSTAL CONTROLLED OSCILLATORS

OF ASSESSED QUALITY –
Part 1: Generic specification
FOREWORD
1) The IEC (International Electrotechnical Commission) is a worldwide organization for standardization comprising
all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of the IEC is to promote
international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To
this end and in addition to other activities, the IEC publishes International Standards. Their preparation is
entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt with may
participate in this preparatory work. International, governmental and non-governmental organizations liaising
with the IEC also participate in this preparation. The IEC collaborates closely with the International Organization
for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by agreement between the two
organizations.
2) The formal decisions or agreements of the IEC on technical matters express, as nearly as possible, an
international consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representation
from all interested National Committees.
3) The documents produced have the form of recommendations for international use and are published in the form
of standards, technical reports or guides and they are accepted by the National Committees in that sense.
4) In order to promote international unification, IEC National Committees undertake to apply IEC International
Standards transparently to the maximum extent possible in their national and regional standards. Any
divergence between the IEC Standard and the corresponding national or regional standard shall be clearly
indicated in the latter.
5) The IEC provides no marking procedure to indicate its approval and cannot be rendered responsible for any
equipment declared to be in conformity with one of its standards.
6) Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this International Standard may be the subject
of patent rights. The IEC shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights.
International Standard IEC 60679-1 has been prepared by IEC technical committee 49:
Piezoelectric and dielectric devices for frequency control and selection.
The second edition cancels and replaces the first edition published in 1980 and constitutes a
technical revision.
International Standard IEC 60679-1 is the first part of a new edition of IEC series 60679
updated to include the test requirements of the IECQ system, and this edition is based on the

relevant IEC standards.
The text of this standard is based on the following documents:
FDIS Report on voting
49/385/FDIS 49/389/RVD
Full information on the voting for the approval of this standard can be found in the report on
voting indicated in the above table.

– 10 – 60679-1 © CEI:1997
La CEI 60679 comprend les parties suivantes présentées sous le titre général: Oscillateurs

pilotés par quartz sous assurance de la qualité:

Partie 1: Spécification générique (CEI 60679-1)

Partie 2: Guide pour l'utilisation des oscillateurs pilotés par quartz (CEI 60679-2)

Partie 3: Encombrements normalisés et connections des sorties (CEI 60679-3)

Partie 4 : Spécification intermédiaire – Agrément de savoir-faire (CEI 60679-4)

Partie 4-1: Spécification particulière cadre – Agrément de savoir-faire (CEI 60679-4-1)

Partie 5: Spécification intermédiaire – Homologation (CEI 60679-5)

Partie 5-1: Spécification particulière cadre – Homologation (CEI 60679-5-1)
Le numéro QC qui figure sur la page de couverture de la présente publication est le numéro de
spécification dans le Système CEI d'assurance de la qualité des composants électroniques
(IECQ).
L'annexe A fait partie intégrante de cette norme.
L'annexe B est donnée uniquement à titre d'information.

60679-1 © IEC:1997 – 11 –
IEC 60679 consists of the following parts under the general title: Quartz crystal controlled

oscillators of assessed quality:

Part 1: Generic specification (IEC 60679-1)

Part 2: Guide to the use of quartz crystal controlled oscillators (IEC 60679-2)

Part 3: Standard outlines and lead connections (IEC 60679-3)

Part 4: Sectional specification – Capability approval (IEC 60679-4)

Part 4-1: Blank detail specification – Capability approval (IEC 60679-4-1)

Part 5: Sectional specification – Qualification approval (IEC 60679-5)

Part 5-1: Blank detail specification – Qualification approval (IEC 60679-5-1)
The QC number which appears on the front cover of this publication in the specification number
is the IEC Quality Assessment System for Electronic Components (IECQ).
Annex A forms an integral part of the standard.
Annex B is for information only.

– 12 – 60679-1 © CEI:1997
OSCILLATEURS PILOTÉS PAR QUARTZ SOUS

ASSURANCE DE LA QUALITÉ –
Partie 1: Spécification générique

1 Généralités
1.1 Domaine d'application
La présente partie de la CEI 60679 spécifie les méthodes d'essai et les exigences générales
pour les oscillateurs pilotés par quartz dont la qualité est garantie par les procédures
d'agrément de savoir-faire ou par les procédures d'homologation.
1.2 Références normatives
Les documents normatifs suivants contiennent des dispositions qui, par suite de la référence
qui y est faite, constituent des dispositions valables pour la présente partie de la CEI 60679.
Au moment de la publication, les éditions indiquées étaient en vigueur. Tout document normatif
est sujet à révision et les parties prenantes aux accords fondés sur la présente partie de la
CEI 60679 sont invitées à rechercher la possibilité d'appliquer les éditions les plus récentes
des documents normatifs indiqués ci-après. Les membres de la CEI et de l'ISO possèdent le
registre des Normes internationales en vigueur.
CEI 60027, Symboles littéraux à utiliser en électrotechnique
CEI 60050-561:1991, Vocabulaire Electrotechnique International (VEI) – Partie 561: Dispositifs
piézoélectriques pour la stabilisation des fréquences et le filtrage
CEI 60068-1:1988, Essais d'environnement – Partie 1: Généralités et guide
Amendement 1 (1992)
CEI 60068-2-1:1990, Essais d'environnement – Partie 2: Essais – Essais A: Froid
Amendement 1 (1993)
Amendement 2 (1994)
CEI 60068-2-2:1974, Essais d'environnement – Partie 2: Essais – Essais B: Chaleur sèche
Amendement 1 (1993)
Amendement 2 (1994)
CEI 60068-2-3:1985, Essais d'environnement – Partie 2: Essais – Essais Ca: Essai continu de
chaleur humide
CEI 60068-2-6:1995, Essais d'environnement – Partie 2: Essais – Essais Fc: Vibrations
(sinusoïdales)
CEI 60068-2-7:1983, Essais d'environnement – Partie 2: Essais – Essais Ga et guide:
Accélération constante
Amendement 1 (1986)
CEI 60068-2-10:1988, Essais d'environnement – Partie 2: Essais – Essai J et guide:
Moisissures
CEI 60068-2-13:1983, Essais d'environnement – Partie 2: Essais – Essai M: Basse pression
atmosphérique
60679-1 © IEC:1997 – 13 –
QUARTZ CRYSTAL CONTROLLED OSCILLATORS

OF ASSESSED QUALITY –
Part 1: Generic specification
1 General
1.1 Scope
This part of IEC 60679 specifies the methods of test and general requirements for quartz
crystal controlled oscillators of assessed quality using either capability approval or qualification
approval procedures.
1.2 Normative references
The following normative documents contain provisions which, through reference in this text,
constitute provisions of this part of IEC 60679. At the time of publication, the editions indicated
were valid. All normative documents are subject to revision, and parties to agreements based
on this part of IEC 60679 are encouraged to investigate the possibility of applying the most
recent editions of the normative documents indicated below. Members of IEC and ISO maintain
registers of currently valid International Standards.
IEC 60027, Letter symbols to be used in electrical technology
IEC 60050-561:1991, International Electrotechnical Vocabulary (IEV) – Part 561: Piezoelectric
devices for frequency control and selection
IEC 60068-1:1988, Environmental testing – Part 1: General and guidance
Amendment 1 (1992)
IEC 60068-2-1:1990, Environmental testing – Part 2: Tests – Tests A: Cold
Amendment 1 (1993)
Amendment 2 (1994)
IEC 60068-2-2:1974, Environmental testing – Part 2: Tests – Tests B: Dry heat
Amendment 1 (1993)
Amendment 2 (1994)
IEC 60068-2-3:1985, Environmental testing – Part 2: Tests – Test Ca: Damp heat, steady state
IEC 60068-2-6:1995, Environmental testing – Part 2: Tests – Test Fc: Vibration (sinusoidal)
IEC 60068-2-7:1983, Environmental testing – Part 2: Tests – Test Ga and guidance:
Acceleration, steady state
Amendment 1 (1986)
IEC 60068-2-10:1988, Environmental testing – Part 2: Tests – Test J and guidance: Mould
growth
IEC 60068-2-13:1983, Environmental testing – Part 2: Tests – Test M: Low air pressure

– 14 – 60679-1 © CEI:1997
CEI 60068-2-14:1984, Essais d'environnement – Partie 2: Essais – Essai N: Variations de

température
Amendement 1 (1986)
CEI 60068-2-17:1994, Essais d'environnement – Partie 2: Essais – Essai Q: Etanchéité

CEI 60068-2-20:1979, Essais d'environnement – Partie 2: Essais – Essai T: Soudure

Amendement 2 (1987)
CEI 60068-2-21:1983, Essais d'environnement – Partie 2: Essais – Essai U: Robustesse des

sorties et des dispositifs de fixation

Amendement 2 (1991)
Amendement 3 (1992)
CEI 60068-2-27:1987, Essais d'environnement – Partie 2: Essais – Essai Ea et guide: Chocs
CEI 60068-2-29:1987, Essais d'environnement – Partie 2: Essais – Essai Eb et guide:
Secousses
CEI 60068-2-30:1980, Essais d'environnement – Partie 2: Essais – Essai Db et guide: Essai
cyclique de chaleur humide (cycle de 12 + 12 heures)
Amendement 1 (1985)
CEI 60068-2-32:1975, Essais d'environnement – Partie 2: Essais – Essai Ed: Chute libre
Amendement 2 (1990)
CEI 60068-2-36:1973, Essais d'environnement – Partie 2: Essais – Essai Fdb: Vibrations
aléatoires à large bande – Reproductibilité moyenne
Amendement 1 (1983)
CEI 60068-2-45:1980, Essais d'environnement – Partie 2: Essais – Essai XA et guide:
Immersion dans les solvants de nettoyage
Amendement 1 (1993)
CEI 60068-2-52:1996, Essais d'environnement – Partie 2: Essais – Essai Kb: Brouillard salin,
essai cyclique (solution de chlorure de sodium)
CEI 60068-2-58:1989, Essais d'environnement – Partie 2: Essais – Essai Td: Soudabilité,
résistance de la métallisation à la dissolution et résistance à la chaleur de soudage de
composants pour montage en surface (CMS)

CEI 60469-1:1987, Technique des impulsions et appareils – Partie 1: Termes et définitions
concernant les impulsions
CEI 60617, Symboles graphiques pour schémas
CEI 60679-4,— Oscillateurs pilotés par quartz sous assurance de la qualité – Partie 4:
1)
Spécification intermédiaire – Agrément de savoir-faire
CEI 60679-5,— Oscillateurs pilotés par quartz sous assurance de la qualité – Partie 5:
1)
Spécification intermédiaire – Homologation
––––––––
1)
A publier.
60679-1 © IEC:1997 – 15 –
IEC 60068-2-14:1984, Environmental testing – Part 2: Tests – Test N: Change of temperature

Amendment 1 (1986)
IEC 60068-2-17:1994, Environmental testing – Part 2: Tests – Test Q: Sealing

IEC 60068-2-20:1979, Environmental testing – Part 2: Tests – Test T: Soldering

Amendment 2 (1987)
IEC 60068-2-21:1983, Environmental testing – Part 2: Tests – Test U: Robustness of

terminations and integral mounting devices

Amendment 2 (1991)
Amendment 3 (1992)
IEC 60068-2-27:1987, Environmental testing – Part 2: Tests – Test Ea and guidance: Shock
IEC 60068-2-29:1987, Environmental testing – Part 2: Tests – Test Eb and guidance: Bump
IEC 60068-2-30:1980, Environmental testing – Part 2: Tests – Test Db and guidance: Damp
heat, cyclic (12 + 12-hour cycle)
Amendment 1 (1985)
IEC 60068-2-32:1975, Environmental testing – Part 2: Tests – Test Ed: Free fall
Amendment 2 (1990)
IEC 60068-2-36:1973, Environmental testing – Part 2: Tests – Test Fdb: Random vibration
wide band – Reproducibility medium
Amendment 1 (1983)
IEC 60068-2-45:1980, Environmental testing – Part 2: Tests – Test XA and guidance:
Immersion in cleaning solvents
Amendment 1 (1993)
IEC 60068-2-52:1996, Environmental testing – Part 2: Tests – Test Kb: Salt mist, cyclic
(sodium chloride solution)
IEC 60068-2-58:1989, Environmental testing – Part 2: Tests – Test Td: Solderability, resistance
to dissolution of metallization and to soldering heat of surface mounting devices (SMD)
IEC 60469-1:1987, Pulse techn
...