IEC 61650:1997

Reliability data analysis techniques - Procedures for comparison of two constant failure rates and two constant failure (event) intensities

Specifies procedures to compare two observed - failure rates; - failure intensities; - rates/intensities of relevant events. The procedures are used to determine whether an apparent difference between the two sets of observations can be considered statistically significant. Numerical methods and a graphical procedure are prescribed. Simple practical examples are provided to illustrate how the procedures can be applied.

Techniques d'analyse des données de fiabilité - Procédures pour la comparaison de deux taux de défaillance constants et de deux intensités de défaillance (événements) constantes

Spécifie les procédures destinées à comparer deux observations différentes faites sur - des taux de défaillance; - des intensités de défaillance; - des taux/intensités d'événements particuliers. Les procédures sont utilisées pour déterminer si une différence apparente entre les deux ensembles d'observations peut être considérée comme statistiquement significative. Des méthodes numériques et une procédure graphique sont prescrites. Des exemples pratiques simples sont fournis pour illustrer la façon suivant laquelle ces procédures peuvent être appliquées.

General Information

• Status: Published
• Publication Date: 05-Aug-1997
• ICS: 01 - GENERALITIES. TERMINOLOGY. STANDARDIZATION. DOCUMENTATION
• ICS: 03.120.01 - Quality in general
• ICS: 03.120.30 - Application of statistical methods
• Technical Committee: TC 56 - Dependability
• Drafting Committee: WG 4 - TC 56/WG 4
• Current Stage: PPUB - Publication issued
• Start Date: 31-Jul-1997
• Completion Date: 06-Aug-1997

Standards Content (Sample)

NORME
CEI
INTERNATIONALE
IEC
INTERNATIONAL
Première édition
STANDARD
First edition
1997-08
Techniques d'analyse des données de fiabilité –
Procédures pour la comparaison de deux taux
de défaillance constants et de deux intensités
de défaillance (événements) constantes
Reliability data analysis techniques –
Procedures for comparison of two constant failure
rates and two constant failure (event) intensities
Numéro de référence
Reference number
CEI/IEC 61650: 1997
Numéros des publications Numbering
Les publications de la CEI sont numérotées à partir de As from the 1st January 1997 all IEC publications are
60000 dès le 1er janvier 1997. issued with a designation in the 60000 series.
Publications consolidées Consolidated publications
Les versions consolidées de certaines publications de Consolidated versions of some IEC publications
la CEI incorporant amendements sont disponibles. Par including amendments are available. For example,
exemple, les numéros d’édition 1.0, 1.1 et 1.2 edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to
indiquent respectivement la publication de base, la the base publication, the base publication
publication de base incorporant l’amendement 1, et la incorporating amendment 1 and the base publication
publication de base incorporant les amendements 1 incorporating amendments 1 and 2.
et 2.
Validité de la présente publication Validity of this publication
Le contenu technique des publications de la CEI est The technical content of IEC publications is kept under
constamment revu par la CEI afin qu'il reflète l'état constant review by the IEC, thus ensuring that the
actuel de la technique. content reflects current technology.
Des renseignements relatifs à la date de Information relating to the date of the reconfirmation of
reconfirmation de la publication sont disponibles dans the publication is available in the IEC catalogue.
le Catalogue de la CEI.
Les renseignements relatifs à ces révisions, à l'établis- Information on the revision work, the issue of revised
sement des éditions révisées et aux amendements editions and amendments may be obtained from IEC
peuvent être obtenus auprès des Comités nationaux de National Committees and from the following IEC
la CEI et dans les documents ci-dessous: sources:
• Bulletin de la CEI • IEC Bulletin
• Annuaire de la CEI • IEC Yearbook
Accès en ligne* On-line access*
• Catalogue des publications de la CEI • Catalogue of IEC publications
Publié annuellement et mis à jour régulièrement Published yearly with regular updates
(Accès en ligne)* (On-line access)*
Terminologie, symboles graphiques Terminology, graphical and letter
et littéraux symbols
En ce qui concerne la terminologie générale, le lecteur For general terminology, readers are referred to IEC
se reportera à la CEI 60050: Vocabulaire Electro- 60050: International Electrotechnical Vocabulary
technique International (VEI). (IEV).
Pour les symboles graphiques, les symboles littéraux For graphical symbols, and letter symbols and signs
et les signes d'usage général approuvés par la CEI, le approved by the IEC for general use, readers are
lecteur consultera la CEI 60027: Symboles littéraux à referred to publications IEC 60027: Letter symbols to
utiliser en électrotechnique, la CEI 60417: Symboles be used in electrical technology, IEC 60417: Graphical
symbols for use on equipment. Index, survey and
graphiques utilisables sur le matériel. Index, relevé et
compilation des feuilles individuelles, et la CEI 60617: compilation of the single sheets and IEC 60617:
Symboles graphiques pour schémas. Graphical symbols for diagrams.
Publications de la CEI établies par IEC publications prepared by the same
le même comité d'études technical committee
L'attention du lecteur est attirée sur les listes figurant The attention of readers is drawn to the end pages of
à la fin de cette publication, qui énumèrent les this publication which list the IEC publications issued
publications de la CEI préparées par le comité by the technical committee which has prepared the
d'études qui a établi la présente publication. present publication.
* Voir adresse «site web» sur la page de titre. * See web site address on title page.

NORME
CEI
INTERNATIONALE
IEC
INTERNATIONAL
Première édition
STANDARD
First edition
1997-08
Techniques d'analyse des données de fiabilité –
Procédures pour la comparaison de deux taux
de défaillance constants et de deux intensités
de défaillance (événements) constantes
Reliability data analysis techniques –
Procedures for comparison of two constant failure
rates and two constant failure (event) intensities
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CODE PRIX
Commission Electrotechnique Internationale
R
PRICE CODE
International Electrotechnical Commission
Pour prix, voir catalogue en vigueur
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– 2 – 61650 © CEI:1997
SOMMAIRE
Pages
AVANT-PROPOS . 4
INTRODUCTION . 6
Articles
1  Domaine d'application. 8
2  Référence normative . 10
3  Définitions . 10
4  Symboles . 10
5  Hypothèses et domaine d'application . 12
6  Spécification de données d'entrée . 14
7  Procédures de calcul . 14
Tableaux
1 Critères de décision utilisant la distribution binomiale . 16
2 Critères de décision utilisant la distribution F . 18
3 Critères de décision utilisant les graphiques des figures A.1 ou A.2 de l’annexe A . 18
4 Critères de décision utilisant la distribution normale réduite . 20
5 Niveaux de signification (unilatéraux) utilisant la distribution normale réduite . 20
Figures
1 Exemple de calcul de T * pour une seule entité réparée T * = t + t + t + t . 12
i i 1 2 3 4
2 Exemple de calcul de T * pour cinq entités non réparées, T * = t + t + t + t + t . 14
i i 1 2 3 4 5
Annexes
A Tables de la distribution F – Graphiques pour la comparaison de deux taux/intensités
de défaillance pour T * = T *. 22
1 2
B Bases mathématiques. 30
C Exemples. 32
D Bibliographie. 38

61650 © IEC:1997 – 3 –
CONTENTS
Page
FOREWORD . 5
INTRODUCTION . 7
Clause
1  Scope. 9
2  Normative reference . 11
3  Definitions . 11
4  Symbols .11
5  Assumptions and area of application. 13
6  Specification of input data. 15
7  Calculation procedures . 15
Tables
1 Decision criteria using the binomial distribution. 17
2 Decision criteria using the F distribution . 19
3 Decision criteria using the graphs, figures A.1 or A.2 in annex A. 19
4 Decision criteria using the standard normal distribution. 21
5 Significance levels (one-sided) using the standard normal distribution . 21
Figures
1 Example of calculation of T * for one repaired item, T * = t + t + t + t . 13
i i 1 2 3 4
2 Example of calculation of T * for five non-repaired items, T * = t + t + t + t + t . 15
i i 1 2 3 4 5
Annexes
A Tables of the F distribution – Graphs for comparison of two failure
rates/intensities for
T * = T * . 23
1 2
B Mathematical background . 31
C Examples. 33
D Bibliography. 39

– 4 – 61650 © CEI:1997
COMMISSION ÉLECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE
___________
TECHNIQUES D'ANALYSE DES DONNÉES DE FIABILITÉ –
Procédures pour la comparaison de deux taux de défaillance constants
et de deux intensités de défaillance (événements) constantes
AVANT-PROPOS
1) La CEI (Commission Electrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de normalisation composée
de l'ensemble des comités électrotechniques nationaux (Comités nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de
favoriser la coopération internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de
l'électricité et de l'électronique. A cet effet, la CEI, entre autres activités, publie des Normes Internationales.
Leur élaboration est confiée à des comités d'études, aux travaux desquels tout Comité national intéressé par le
sujet traité peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en
liaison avec la CEI, participent également aux travaux. La CEI collabore étroitement avec l'Organisation
Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixées par accord entre les deux organisations.
2) Les décisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques, représentent, dans la mesure
du possible un accord international sur les sujets étudiés, étant donné que les Comités nationaux intéressés
sont représentés dans chaque comité d’études.
3) Les documents produits se présentent sous la forme de recommandations internationales. Ils sont publiés
comme normes, rapports techniques ou guides et agréés comme tels par les Comités nationaux.
4) Dans le but d'encourager l'unification internationale, les Comités nationaux de la CEI s'engagent à appliquer de
façon transparente, dans toute la mesure possible, les Normes internationales de la CEI dans leurs normes
nationales et régionales. Toute divergence entre la norme CEI et la norme nationale ou régionale
correspondante doit être indiquée en termes clairs dans cette dernière.
5) La CEI n’a fixé aucune procédure concernant le marquage comme indication d’approbation et sa responsabilité
n’est pas engagée quand un matériel est déclaré conforme à l’une de ses normes.
6) L’attention est attirée sur le fait que certains des éléments de la présente Norme internationale peuvent faire
l’objet de droits de propriété intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait être tenue pour
responsable de ne pas avoir identifié de tels droits de propriété et de ne pas avoir signalé leur existence.
La Norme internationale CEI 61650 a été établie par le comité d'études 56 de la CEI: Sûreté de
fonctionnement.
Le texte de cette norme est issu des documents suivants:
FDIS Rapport de vote
56/533/FDIS 56/580/RVD
Le rapport de vote indiqué dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant
abouti à l'approbation de cette norme.
L'annexe A fait partie intégrante de cette norme.
Les annexes B, C et D sont données uniquement à titre d'information.

61650 © IEC:1997 – 5 –
INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION
___________
RELIABILITY DATA ANALYSIS TECHNIQUES –
Procedures for comparison of two constant failure rates
and two constant failure (event) intensities
FOREWORD
1) The IEC (International Electrotechnical Commission) is a worldwide organization for standardization comprising
all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of the IEC is to promote
international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To
this end and in addition to other activities, the IEC publishes International Standards. Their preparation is
entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt with may
participate in this preparatory work. International, governmental and non-governmental organizations liaising
with the IEC also participate in this preparation. The IEC collaborates closely with the International Organization
for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by agreement between the two
organizations.
2) The formal d
...