Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 39: Measurement of moisture diffusivity and water solubility in organic materials used for semiconductor components

Detailed the procedures for the measurement of the characteristic properties of moisture diffusivity and water solubility in organic materials used in the packaging of semiconductor components. These two material properties are important parameters for the effective reliability performance of plastic packaged semiconductors after exposure to moisture and being subjected to high-temperature solder reflow.

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 39: Mesure de la diffusion d'humidité et de l'hydrosolubilité dans les matériaux organiques utilisés dans les composants à semiconducteurs

Détaille les procédures pour la mesure des propriétés caractéristiques de la diffusion d'humidité et de l'hydrosolubilité dans les matériaux organiques utilisés dans l'encapsulation des composants à semiconducteurs. Ces deux propriétés des matériaux sont des paramètres importants pour la performance de fiabilité des semiconducteurs sous boîtier en plastique après exposition à l'humidité et étant soumis à une refusion à température élevée au moment du brasage.

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Publication Date
23-Jul-2006
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DELPUB - Deleted Publication
Start Date
20-Oct-2020
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29-Nov-2021
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IEC 60749-39:2006 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 39: Measurement of moisture diffusivity and water solubility in organic materials used for semiconductor components
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NORME CEI
INTERNATIONALE
IEC



60749-39
INTERNATIONAL


Première édition
STANDARD

First edition
2006-07

Dispositifs à semiconducteurs –
Méthodes d'essais mécaniques
et climatiques –
Partie 39:
Mesure de la diffusion d'humidité et de
l'hydrosolubilité dans les matériaux organiques
utilisés dans les composants à semiconducteurs

Semiconductor devices –
Mechanical and climatic test methods –
Part 39:
Measurement of moisture diffusivity and
water solubility in organic materials used
for semiconductor components
Numéro de référence
Reference number
CEI/IEC 60749-39:2006

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Méthodes d'essais mécaniques
et climatiques –
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