ISO/CIE 19476:2014
(Main)Characterization of the performance of illuminance meters and luminance meters
Characterization of the performance of illuminance meters and luminance meters
ISO/CIE 19476:2014 is applicable to illuminance and luminance meters. It defines quality indices characterizing the performance of such devices in a general lighting measurement situation, as well as measurement procedures for the individual indices and standard calibration conditions. Measurements of illuminance or luminance and their accuracy are influenced by various parameters, such as operational conditions, properties of light sources, as well as characteristics of the applied photometers. The characteristics of these photometers alone do not allow the determination of the measurement uncertainty for a specific measurement task. Nevertheless, it is generally true that instruments with "better" characteristics in most cases produce smaller uncertainties than instruments with "worse" properties.
Caractérisation des performances des luxmètres et des luminancemètres
ISO/CIE 19476:2014 définit les indices de qualité caractérisant les performances des luxmètres et des luminancemètres lorsqu'ils sont utilisés pour des mesures d'éclairage général. Elle définit également les procédures de mesure de chacun de ces indices et les conditions normalisées d'étalonnage. Les mesures d'éclairement et de luminance ainsi que leur exactitude sont influencées par divers paramètres, tels que les conditions opérationnelles, les propriétés des sources de lumière, autant que par les caractéristiques des photomètres utilisés. Les caractéristiques de ces photomètres à elles seules ne permettent pas la détermination de l'incertitude de mesure pour une action de mesure particulière. Néanmoins, il est généralement vrai qu'un instrument avec de "meilleures" caractéristiques, dans la plupart des cas, donne une incertitude plus faible qu'un instrument avec de "plus mauvaises" propriétés. Cette norme a été écrite pour: — donner des définitions claires et non ambigües pour chacun des indices de qualité; — définir les procédures et les méthodes de mesure pour une évaluation numérique de ces indices de qualité. — définir les conditions d'étalonnage pour les luxmètres et les luminancemètres. Les définitions des indices de qualité ainsi que les procédures et les méthodes pour l'évaluation numérique associée données dans cette norme remplacent, lorsqu'elles sont différentes, celles données dans la publication CIE 53-1982. La publication CIE 69-1987 doit être remplacée par cette norme.
General Information
Relations
Overview
ISO/CIE 19476:2014 - Characterization of the performance of illuminance meters and luminance meters - defines a harmonized framework for describing and testing the performance of photometric instruments used in general lighting measurements. The standard specifies quality indices that characterize instrument behavior, measurement procedures to determine those indices, and standard calibration conditions. It emphasizes that measurement accuracy depends on operational conditions, light-source properties and instrument characteristics, and that better instrument characteristics generally lead to smaller measurement uncertainties.
Key Topics
The standard addresses practical, testable properties of photometers and imaging luminance meters, including:
- Quality indices that quantify instrument performance for typical lighting tasks
- Calibration conditions and guidance on calibration uncertainty and initial adjustment
- Spectral properties (luminous responsivity, spectral mismatch, colour-correction factors) and characterization of UV and IR response
- Directional (cosine) response for planar, spherical, cylindrical and other illuminance meter geometries
- Directional response and surround-field effects for luminance meters
- Linearity, range change, and display unit behavior across measurement ranges
- Environmental and operational influences: temperature dependence, humidity resistance, fatigue (stability), and modulated light response
- Polarization dependence, spatial non-uniformity, and (for luminance meters) focusing distance characterization
- Measurement procedures and indices for reporting performance and informing measurement uncertainty
Applications
ISO/CIE 19476:2014 is directly applicable to professionals and organizations involved in lighting measurement and instrumentation:
- Calibration laboratories and quality assurance facilities establishing or verifying instrument performance
- Instrument manufacturers testing and specifying photometer and luminance meter performance for datasheets and compliance claims
- Lighting designers, engineers and researchers who need reliable metrics to select instruments appropriate to measurement tasks
- Procurement and standards bodies specifying minimum measurement performance for contracts, tenders or conformity assessment
- Educational and research institutions teaching photometry and instrument characterization
Using the standard helps reduce ambiguity in instrument specifications, supports traceable calibration, and improves comparability of illuminance and luminance measurements across projects and labs.
Related standards and references
- Prepared by CIE Technical Committee 2‑40 and ISO/TC 274 (Light and lighting)
- Intended to supersede earlier CIE Publication 69‑1987 (see Foreword)
- For purchase and full technical detail, consult ISO (www.iso.org) or CIE (www.cie.co.at)
Keywords: ISO/CIE 19476:2014, illuminance meters, luminance meters, photometers, quality indices, calibration, spectral response, measurement uncertainty.
Standards Content (Sample)
INTERNATIONAL ISO/CIE
STANDARD 19476
First edition
2014-06-01
Characterization of the performance of
illuminance meters and luminance meters
Caractérisation des performances des luxmètres et des
luminancemètres
Reference number
©
ISO/CIE 2014
© ISO/CIE 2014
All rights reserved. Unless otherwise specified, no part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means,
electronic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing from either ISO or CIE at the respective
address below.
ISO copyright office CIE Central Bureau
Case postale 56 CH-1211 Geneva 20 Babenbergerstraße 9/9A A-1010 Vienna
Tel. + 41 22 749 01 11 Tel. + 43 1 714 3187
Fax + 41 22 749 09 47
E-mail copyright@iso.org E-mail ciecb@cie.co.at
Web www.iso.org Web www.cie.co.at
Published in Switzerland
ii © ISO/CIE 2014 – All rights reserved
Foreword
ISO (the International Organization for Standardization) is a worldwide federation of national standards bodies
(ISO member bodies). The work of preparing International Standards is normally carried out through ISO
technical committees. Each member body interested in a subject for which a technical committee has been
established has the right to be represented on that committee. International organizations, governmental and
non-governmental, in liaison with ISO, also take part in the work. ISO collaborates closely with the
International Electrotechnical Commission (IEC) on all matters of electrotechnical standardization.
The procedures used to develop this document and those intended for its further maintenance are described
in the ISO/IEC Directives, Part 1. In particular the different approval criteria needed for the different types of
ISO documents should be noted. This document was drafted in accordance with the editorial rules of the
ISO/IEC Directives, Part 2 (see www.iso.org/directives).
Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this document may be the subject of patent
rights. ISO shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights. Details of any patent
rights identified during the development of the document will be in the Introduction and/or on the ISO list of
patent declarations received (see www.iso.org/patents).
Any trade name used in this document is information given for the convenience of users and does not
constitute an endorsement.
For an explanation on the meaning of ISO specific terms and expressions related to conformity assessment,
as well as information about ISO's adherence to the WTO principles in the Technical Barriers to Trade (TBT)
see the following URL: Foreword - Supplementary information
ISO/CIE 19476 was prepared by CIE Technical Committee 2-40: Characterizing the performance of
illuminance and luminance meters, as CIE S 023. The committee responsible for this document is ISO/TC 274,
Light and lighting.
CIE S 023/E:2013
International Standard
Characterization of the Performance of
Illuminance Meters and Luminance Meters
Caractérisation des performances des luxmètres et des luminancemètres
Kennzeichnung der Güte von Beleuchtungsstärke- und Leuchtdichtemessgeräten
CIE International Standards are copyrighted and shall not be reproduced in any form, entirely
or partly, without the explicit agreement of the CIE.
CIE Central Bureau, Vienna
CIE S 023/E:2013
Babenbergerstraße 9/9A • A-1010 Vienna
UDC: 535.24 Descriptor: Photometry
535.241.5 Quantities related to photometric and
other measurements
535.241.535 Calibration
v
© ISO/CIE 2014 – All rights reserved
CIE 2013
This document is a CIE International Standard and is copyright-protected by CIE.
All rights reserved. Unless otherwise specified, no part of this publication may be reproduced
or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical, including photocopying and
microfilm, without permission in writing from CIE Central Bureau at the address below.
CIE Central Bureau
Babenbergerstraße 9/9A
A-100 Vienna
Austria
Tel.: +43 1 714 3187
e-mail: ciecb@cie.co.at
www.cie.co.at
vi © ISO/CIE 2014 – All rights reserved
Foreword
International Standards produced by the Commission Internationale de l’Eclairage are concise
documents on aspects of light and lighting that require a unique definition. They are a primary
source of internationally accepted and agreed data which can be taken, essentially unaltered,
into universal standard systems.
This CIE International Standard has been prepared by CIE Technical Committee 2-40
“Characterizing the Performance of Illuminance and Luminance Meters”. It has been approved
by the Board of Administration and Division 2 of the Commission Internationale de l'Eclairage
as well as by the CIE National Committees. It is supposed to supersede CIE Publication 69-
1987.
—————————
This TC was chaired by R. Rattunde † (DE) and P. Blattner (CH).
Members were: R. Austin (US), J. Bastie, (FR), T. Bergen (AU), G. Czibula (DE), G. Dezsi (HU),
T. Goodman (GB), K.C. Khandelwal (IN), T.Q. Khanh (DE), U. Krüger (DE), J. Mahidharia (IN),
Y. Ohno (US), J. Pan (CN), J. Pietrzykowski (PL), I. Saito (JP), G. Sauter (DE), J. Schanda (HU),
H. Shitomi (JP), A. Sperli ng (DE), W. Steudtner (DE), R. Stolyarevskaya (RU), H.-G. Ulrich (DE),
G. Vandermeersch (BE), P. Vukadin (RS), X. Gan (SG), R. Young (GB).
© ISO/CIE 2014 – All rights reserved vii
CONTENTS
Foreword . vii
1 Scope . 1
2 Normative References . 1
3 Definitions . 2
3.1 General Definitions . 2
3.2 Quality Indices . 4
4 Calibration . 7
4.1 Conditions . 7
4.2 Illuminance Meters . 7
4.2.1 General . 7
4.2.2 (Planar) Illuminance E . 7
4.2.3 Spherical Illuminance E . 8
4.2.4 Cylindrical Illuminance E . 8
c
4.2.5 Semi-Cylindrical Illuminance E . 8
sc
4.2.6 Semi-Spherical Illuminance E . 9
2
4.3 Luminance Meters . 9
4.4 Calibration Uncertainties . 9
4.5 Initial Adjustment . 10
4.6 Checking of Photometers . 10
5 Properties of Illuminance Meters and Luminance Meters . 11
5.1 General Considerations . 11
5.2 Spectral Properties . 11
5.2.1 General . 11
5.2.2 Measurement . 11
5.2.3 Luminous Responsivity . 12
5.2.4 Relative Luminous Responsivity and Spectral Mismatch Correction
Factor . 12
5.2.5 Colour Correction Factor and Mismatch Exponent . 13
5.2.6 Specific Mismatch Index . 13
'
5.2.7 General V Mismatch Index f . 13
5.3 UV Response . 14
5.3.1 General . 14
5.3.2 Measurement . 14
5.3.3 Characterization . 15
5.4 IR Response. 16
5.4.1 General . 16
5.4.2 Measurement . 16
5.4.3 Characterization . 16
5.5 Directional Response for Illuminance Meters . 17
5.5.1 General . 17
5.5.2 Measurement . 17
5.5.3 Characterization for (Planar) Illuminance Meters . 17
5.5.4 Characterization for Spherical Illuminance Meter . 18
5.5.5 Characterization for Cylindrical Illuminance Meter . 19
© ISO/CIE 2014 – All rights reserved
viii
5.5.6 Characterization for Semi-Cylindrical Illuminance Meter . 20
5.5.7 Characterization for Semi-Spherical Illuminance Meter . 21
5.6 Directional Response for Luminance Meter . 22
5.6.1 General . 22
5.6.2 Measurement . 22
5.6.3 Characterization . 22
5.6.4 Measurement of the Effect of the Surrounding Field . 24
5.7 Linearity . 25
5.7.1 General . 25
5.7.2 Measurement . 25
5.7.3 Characterization . 25
5.8 Display - Unit . 26
5.8.1 General . 26
5.8.2 Characterization . 26
5.9 Fat i gue . 27
5.9.1 General . 27
5.9.2 Measurement . 27
5.9.3 Characterization . 27
5.10 Temperat ure . 27
5.10.1 General . 27
5.10.2 Measurement . 28
5.10.3 Characterization . 28
5.11 Humidity Resistance . 28
5.11.1 General . 28
5.11.2 Measurement . 28
5.11.3 Characterization . 29
5.12 Modulated Light . 29
5.12.1 General . 29
5.12.2 Measurement . 29
5.12.3 Characterization . 30
5.13 Polarization Dependence . 30
5.13.1 General . 30
5.13.2 Measurement . 30
5.13.3 Characterization . 31
5.14 Spatial Non-Uniformity Response . 31
5.14.1 General . 31
5.14.2 Measurement . 31
5.14.3 Characterization . 31
5.15 Range Change . 32
5.15.1 General . 32
5.15.2 Measurement . 32
5.15.3 Characterization . 32
5.16 Focusing Distance (luminance meter only) . 32
5.16.1 General . 32
5.16.2 Measurement . 33
5.16.3 Characterization . 33
6 Acronyms . 33
© ISO/CIE 2014 – All rights reserved
ix
Annex A (normative) Sources and Filters Used for the Determination of the UV and IR
Respons e . 34
Annex B (informative) General Comments . 36
B.1 General . 36
B.2 Quality Indices . 36
B.2.1 V Mismatch f . 36
B.2.2 UV Response f . 36
UV
B.2.3 IR Response f . 36
IR
B.2.4 Cosine Response f (illuminance meter only) . 36
B.2.5 Directional Response f and Surround Field f (luminance meter
2,g 2,u
only) . 37
B.2.6 Linearity f . 37
B.2.7 Display-Unit f . 37
B.2.8 Fatigue f . 37
B.2.9 Temperature Dependence f . 37
6,T
B.2.10 Humidity Resistance f . 37
6,H
B.2.11 Modulated Light f . 37
B.2.12 Polarization f . 37
B.2.13 Spatial Non-Uniformity Response f . 38
B.2.14 Range Change f . 38
B.2.15 Focusing Distance f (luminance meter only) . 38
x
© ISO/CIE 2014 – All rights reserved
Characterization of the Performance of Illuminance Meters and Luminance
Meters
1 Scope
This CIE International Standard is a pplicable to illuminance and luminance meters. The
Standard defines quality indices characterizing the performance of such devices in a general
lighting measurement situation, as well as measurement procedures for the individual indices
and standard calibration conditions.
Measurements of illuminance or luminance and their accuracy are influenced by various
parameters, such as operational conditions, properties of light sources, as we ll as
characteristics of the applied photometers. The characteristics of these photometers alone do
not allow the determination of the measurement uncertainty for a specific measurement task.
Nevertheless, it is generally true that instruments with “better” characteristics in most cases
produce smaller uncertainties than instruments with “worse” properties. This Standard has
been written to:
give clear and unambiguous definitions for the individual quality indices;
define measurement procedures and methods for numerical evaluation of these quality
indices;
define calibration conditions for illuminance meters and luminance meters.
Where different, the definitions of the quality indices and the associated measurement
procedures and methods for numerical evaluation given in this Standard supersede those
given in CIE Publication 53-1982. CIE publication 69-1987 shall be superseded by this
Standard.
2 Normative References
The following documents, in whole or in part, are normatively referenced in this document and
are indispensable for its application. For dated references, only the edition cited applies. For
undated references, the latest edition of the referenced document (including any
amendments) applies.
CIE 202:2011 Spectral Responsivity Measurement of Detectors, Radiometers and
Photometers
CIE S 017/E:2011 ILV: International Lighting Vocabulary
ISO 11664-2:2007/CIE S 014-2:2006 Colorimetry – Part 2: CIE Standard Illuminants
ISO 23539:2005/CIE S 010:2004 Photometry – The CIE System of Physical Photometry
CIE 198:2011 Determination of Measurement Uncertainties in Photometry
CIE 114/4-1994 CIE Collection in Photometry and Colorimetry - Distribution Temperature and
Ratio Temperature
IEC 60051-1:1997 Direct acting indicating analogue electrical measuring instruments and
their accessories – Part 1: Definitions and general requirements common to all parts
ISO/IEC Guide 98-3:2008 Uncertainty of measurement -- Part 3: Guide to the expression of
uncertainty in measurement (GUM:1995)
ISO/IEC Guide 99:2007 International Vocabulary of Metrology — Ba sic and General
Concepts and Associated Terms (VIM).
—————————
Also referred as JCGM 100:2008, available from BIPM webpage.
Also referred as JCGM 200:2008, available from BIPM webpage.
© ISO/CIE 2014 – All rights reserved 1
3 Definitions
For the purposes of this document, the terms and definitions given in CIE S 017/E:2011
(International Lighting Vocabulary) and the following apply.
3.1 General Definitions
3.1.1
measurement accuracy
closeness of agreement between a measured quantity value and a true quantity value of a
measurand
Note 1 to entry: The concept ‘measurement accuracy’ is not a quan tity and is not given a numerical
quantity value. A measurement is said to be more a ccurate when it offers a smaller
measurement error.
Note 2 to entry: The term “measurement accuracy” should not be used for measurement trueness and
the term measurement precision should not be used for ‘measu rement accuracy’,
which, however, is related to both these concepts.
Note 3 to entry: ‘Measurement accuracy’ is sometimes understood as closeness of agreement
between measured quantity values that are being attributed to the measurand.
[Source: ISO/IEC Guide 99:2007 (VIM), 2.13]
3.1.2
measurement error
measured quantity value minus a reference quantity value
Note 1 to entry: The concept of ‘measurement error’ can be used both
a) when there is a single re ference quantity value to refer to, which occurs if a
calibration is made b y means of a measurement standard with a measured
quantity value having a negligible measurement uncertainty or if a conventional
quantity value is given, in which case the measurement error is known, and
b) if a measurand is supposed to be represented by a unique true quantity value or a
set of true quantity values of negligible range, in w hich case the measuremen t
error is not known.
Note 2 to entry: Measurement error should not be confused with production error or mistake.
[Source: ISO/IEC Guide 99:2007 (VIM), 2.16]
3.1.3
calibration
operation that, under specified conditions, in a first step, establishes a relation between the
quantity values with measurement uncertainties provided by measurement standards and
corresponding indications with associated measurement uncertainties and, in a second step,
uses this information to e stablish a r elation for o btaining a measurement result from an
indication
Note 1 to entry: A calibration may be e xpressed by a statement, calibration function, calibration
diagram, calibration curve, or calibration table. In some cases, it may consist of an
additive or multiplicative correction of the indication with associated measurement
uncertainty.
Note 2 to entry: Calibration should not be confused with adjustment of a measuring sy stem, often
mistakenly called “self-calibration”, nor with verification of calibration.
Note 3 to entry: Often, the first step alone in the above definition is perceived as being calibration.
[Source: ISO/IEC Guide 99:2007 (VIM), 2.39]
3.1.4
adjustment of a measuring system
set of operations carried out on a measuring system so that it provides prescribed indications
corresponding to given values of a quantity to be measured
2 © ISO/CIE © ISO/CIE 2014 – All rights reserved2014 – All rights reserved
Note 1 to entry: Types of adjustment of a measuring system include zero adjustment of a mea suring
system, offset adjustment, and span adjustment (sometimes called gain adjustment).
Note 2 to entry: Adjustment of a measuring system should not be confused with calibration, which is a
prerequisite for adjustment.
Note 3 to entry: After an adjustment of a measuring system, the measuring system must usually be
recalibrated.
[Source: ISO/IEC Guide 99:2007 (VIM), 3.11]
3.1.5
(metrological) traceability
property of a measurement result whereby the result can be related to a reference through a
documented unbroken chain of calibrations, each contributing to the measurement uncertainty
Note 1 to entry: For this definition, a ‘reference’ can be a definition of a measurement unit through its
practical realization, or a measurement procedure including the measurement unit for
a non-ordinal quantity, or measurement standard.
Note 2 to entry: Metrological traceability requires an established calibration hierarchy.
Note 3 to entry: Specification of the reference must include the time at which this reference was used
in establishing the calibration hierarchy, along with any other relevant metrological
information about the reference, such as when the first calibra tion in the calibration
hierarchy was performed.
Note 4 to entry: For measurements with more than one input quantity in the measuremen t model,
each of the input quantity values should itself be metrologically traceable and th e
calibration hierarchy involved may form a branched structure or a network. The effort
involved in establishing metrological traceability for each input qua ntity value should
be commensurate with its relative contribution to the measurement result.
Note 5 to entry: Metrological traceability of a measurement result does not ensure that th e
measurement uncertainty is adequate for a given purpose or that there is an absence
of mistakes.
Note 6 to entry: A comparison between two measurement standards may be viewed as a calibration if
the comparison is used to check and, i f necessary, correct the quantity value and
measurement uncertainty attributed to one of the measurement standards.
Note 7 to entry: The ILAC considers the elements for confirming me trological traceability to be an
unbroken metrological traceability chain to an international measurement standard or
a national measurement standard, a documented meas urement uncertainty, a
documented measurement procedure, accredited technical competence, metrological
traceability to the SI, and calibration intervals (see ILAC P-10:2002).
Note 8 to entry: The abbreviated term “traceability” is some times used to mean ‘metrolo gical
traceability’ as well as other concepts, such as ‘sample traceability’ or ‘document
traceability’ or ‘instrument traceability’ or ‘material traceability ’, where the hi story
(“trace”) of an item is meant. Therefore, the full term of “metrolo gical traceability” is
preferred if there is any risk of confusion.
[Source: ISO/IEC Guide 99:2007 (VIM), 2.41]
3.1.6
photometer
instrument for measuring photometric quantities
[Source: CIE S 017/E:2011, 17-909]
Note 1 to entry: A photometer consists of a photometer head, a signal converter, an output device and
a power supply. The different parts can be built t o a single device or split into
separate housings. Within this Standard, the term photometer refers to illuminance
and luminance mete rs having a single detecto r that measure s light spe ctrally
integrated.
3.1.7
reference plane (of a photometer or light source)
plane associated with a photometer or a light source for the purpose of measuring the
distance between them
© ISO/CIE 2014 – All rights reserved 3
Note 1 to entry: For a photometer this is the plane perpendicular to the optical axis of the photometer
head at which the photometer or photometer head is calibrated. The reference plane
of a photometer should ideally coincide with the effective reference plane.
3.1.8
effective reference plane (of a photometer)
plane perpendicular to the optical axis of the photometer head where the inverse square law
holds when illuminance from a point source is measured and the distance to the source is
measured from this plane
Note 1 to entry: The effective reference plane may vary with wavelength. In such a case the type of
light source (i.e. CIE Standard Illuminant A) shall be stated together with the effective
reference plane.
3.1.9
limiting photometric distance
shortest distance between the reference plane of a light source and the effective reference
plane of a photometer, for a g iven acceptable error considering the photometric inverse
square law
Note 1 to entry: The limiting photometric distance is determined mainly from the geometrical
properties of the photometer and the source.
3.1.10
acceptance aperture
acceptance area of the photometer head of an illuminance meter or the measurement field of
a luminance meter
Note 1 to entry: Usually the acceptance aperture is at the effective reference plane of the photometer.
3.2 Quality Indices
A set of quality indices is used to ch aracterize the performance of photometers. Quality
indices are physical quantities characterizing selected properties of a photometer. They are
normalized response values, which do not describe errors directly and thus cannot be used
for correction. The name for each index has been taken from the physical effect influencing its
value to make it easier to memorize and understand its meaning
A quality index is symbolized by the symbol " f " where the subscript " x" specifies the
x
considered property. The values are:
evaluated by formulas specific for each property, from data determined under specified
measurement conditions;
stated as a percentage, with associated uncertainties; and
ideally zero.
The quality indices of these photometers alone do not allow the es timation of the
measurement uncertainty for a specific measurement task. Nevertheless, it is generally true
f -values, in most cases, allow smaller measurement
that instruments with smaller
x
uncertainties than instruments with larger values.
3.2.1
initial adjustment index
f
adj
index describing the absolute relative deviation of the photometer indication from the
corresponding reference value
4 © ISO/CIE © ISO/CIE 2014 – All rights reserved2014 – All rights reserved
3.2.2
general V() mismatch index
'
f
index describing the deviation of the relative spectral responsivity of the photometer from the
V function
3.2.3
UV response index
f
UV
index describing the responsivity of the photometer to UV radiation
3.2.4
IR response index
f
IR
index describing the responsivity of the photometer to IR radiation
3.2.5 (illuminance meter only)
directional response index for illuminance
f
index describing the responsivity of the photometer to light incident at an angle other than
normal (the cosine law for general purpose illuminance meters)
3.2.6 (illuminance meter only)
directional response index for spherical illuminance
f
2,0
index describing the responsivity of the photometer to light incident at an angle other than
normal
3.2.7 (illuminance meter only)
directional response index for cylindrical illuminance
f
2,c
index describing the responsivity of the photometer to light incident at an angle other than
normal
3.2.8 (illuminance meter only)
directional response index for semi-cylindrical illuminance
f
2,sc
index describing the responsivity of the photometer to light incident at an angle other than
normal
3.2.9 (illuminance meter only)
directional response index for semi-spherical illuminance
f
2,2
index describing the responsivity of the photometer to light incident at an angle other than
normal
3.2.10 (luminance meter only)
directional response index for luminance
f
2,g
index describing the responsivity of the photometer to light incident at an angle other than
normal
—————————
Previously used symbol f .
2,z
© ISO/CIE 2014 – All rights reserved 5
3.2.11 (luminance meter only)
directional symmetry index
f
2,s
index describing the influence of the angle of light incidence within the measuring field of a
luminance meter
3.2.12 (luminance meter only)
surrounding field effect index
f
2,u
index describing the influence of the ambient luminance outside the measuring field of a
luminance meter
3.2.13
linearity index
f
index describing the deviation of the photometer response to illuminance or luminance at
different levels
3.2.14
display-unit index
f
index describing the influence of the analogue or digital display of photometers
3.2.15
fatigue index
f
index describing the stability of the photometer responsivity for constant illumination over long
periods
3.2.16
temperature dependence index
f
6,T
index describing the influence of ambient temperature on the photometer responsivity when
the ambient temperature differs from that at the time of calibration
3.2.17
humidity test index
f
6,H
index describing the stability of the photometer with respect to humidity
3.2.18
modulated light index
f
index describing the influence of modulated light at various frequencies, compared to the
response for a constant illumination condition
3.2.19
polarization response index
f
index describing the influence of polarized light on the responsivity of the photometer
3.2.20
spatial response index
f
index describing the influence of non-uniform illumination incident on the photometer within
the acceptance aperture
6 © ISO/CIE © ISO/CIE 2014 – All rights reserved2014 – All rights reserved
3.2.21
range change index
f
index describing the influence of range settings of display-units or amplifiers
3.2.22 (luminance meter only)
focusing distance index
f
index describing the influence of deviations of the test distance from the focus distance for
luminance meters
4 Calibration
4.1 Conditions
Photometers shall be calibrated by sources or detectors certified as reference standards and
whose calibration is traceable to the International System of Units (SI). Traceability means an
unbroken chain of calibrations or comparisons, linking them to relevant primary standards of
the SI-units of the measurement as published in the CMC lists of the BIPM and carried out by
laboratories with accredited competence.
Photometers shall be calibrated at an ambient temperature of 25 °C with unpolarized light
from an incandescent lamp with a correlated colour temperature of 2 856 K (CIE Source A).
Prior to commencing calibration, the photometer shall be allowed to thermally stabilize in the
ambient conditions for at least one hour. The entrance window of the photometer shall be
uniformly illuminated and overfilled.
Photometers shall be regularly recalibrated:
at the interval recommended by the manufacturer; or
at least every 2 years; or
if it is suspected that the instrument’s performance has changed.
NOTE In practical terms, correlated colour temperature and distribution temperature are equivalent
when establishing a lamp as CIE Source A.
4.2 Illuminance Meters
4.2.1 General
Illuminance meters shall be calibrated with light incident normal to the effective reference
plane where the light source is located at a distance greater than the limiting photometric
distance.
If the illuminance meter is calibrated against a reference photometer, the effective reference
plane of the illuminance meter shall be positioned at the identical location and orientation as
was the effective reference plane of the reference photometer. If the illuminance meter is
calibrated using a standard lamp, the calibration distance is given by the distance from the
reference plane of the standard lamp to the effective reference plane of the illuminance meter.
4.2.2 (Planar) Illuminance E
EE (1)
x
where
E is the illuminance on the effective reference plane.
x
The location of the effective reference plane with respect to the front area of the photometer
shall be declared by the manufacturer. For illuminance meters with flat diffusers, the effective
reference plane is usually at the front plane of the diffuser.
© ISO/CIE 2014 – All rights reserved 7
4.2.3 Spherical Illuminance E
EE (2)
0x
where
E is the illuminance on the effective reference plane.
x
The effective reference plane is located within the spherical adapter, at a distance of
= 0,146 times the diameter, d, of the spherical adapter from the sphere zenith.
NOTE The factor is determined such tha t the area cut o ut from the effective reference plane is
just half the area of the p rojected entrance window of the photometer. The solution is found
from geometrical relations: 1 cos (arcsin (1/ 2)) 2 0,146 .
2, 3
4.2.4 Cylindrical Illuminance E
c
EE (3)
cx
where
E is the illuminance on the effective reference plane.
x
The effective reference plane is located within the cylindrical adapter, parallel to the entrance
window of the photometer, at a distance of = 0,067 times the diameter, d, of the cylindrical
c
adapter from the lateral area (see Figure 1).
NOTE The factor is determined such that the area taken out of the e ffective reference plane is
c
just half the area of the p rojected entrance window of the photometer. The solution is found
from geometrical relations: 1cos(arcsin(1/2)) 20,067 .
c
4.2.5 Semi-Cylindrical Illuminance E
sc
EE (4)
sc x
where
E is the illuminance on the effective reference plane.
x
The effective reference plane is located within the semi-cylindrical adapter, parallel to the
entrance window of the photometer, at a distance of = 0,067 times the diameter, d, of the
c
semi-cylindrical adapter from the lateral area (see Figure 1).
NOTE The factor is determined such that the area taken out of the effective reference plane is just
c
half the area of the projected entrance window of the photometer. The solution is found from
geometrical relations: 1 cos (arcsin (1/ 2)) 2 0,067 .
c
—————————
For the definition of ”spherical illuminance“ see CIE S 017/E:2011, 17-1244 and 17-1245 respectively.
E
Previously used symbol .
z
For the definition of ”cylindrical illuminance“ see CIE S 017/E:2011, 17-273 and 17-274 respectively.
For the definition of ”semi-cylindrical illuminance“ see CIE S 017/E:2011, 17-1160.
8 © ISO/CIE © ISO/CIE 2014 – All rights reserved2014 – All rights reserved
0,067d
d
d/4
d/2
d/4
effective
reference
plane
Figure 1 — Effective reference plane for a (semi-)cylindrical illuminance meter
4.2.6 Semi-Spherical Illuminance E
EE (5)
2 x
where
E is illuminance on the effective reference plane.
x
The effective reference plane is located within the semi-spherical adapter, parallel to the
entrance window of the photometer, at a distance of � 0,146 times the diameter, d ,of the
semi-spherical adapter from the sphere zenith.
�OTE The factor is determined such tha t the area cut o ut from the effective reference plane is
just half the area of the p rojected entrance window of the photometer. The solution is found
from geometrical relations: 1 cos (arcsin (1/ 2)) 2 0,146 .
0
4.3 Luminance Meters
�uminance meters shall be calibrated with a luminance standard using a uniform luminous
surface significantly larger than the measuring field of the luminance meter. �niformity of the
luminance standard shall be such that any non-uniformity does not significantly affect the
calibration or is corrected for.
4.4 Calibration Uncertainties
The uncertainty associated with the calibration factor of a photometer is a combination of the
uncertainties arising from the measurement process and the uncertainties associated with the
certified value of the reference standard. The overall uncertainty associated with the
calibration factor of the photometer shall be stated.
The uncertainty associated with the certified value of t he reference standard shall be taken
from the calibration certificate of the standard. �dditional uncertainty contributions arising
during the measurement process can result from:
© ISO/CIE 2014 – All rights reserved 9
uncertainty associated with the value of the working standard;
ageing of the standard;
the spectral mismatch to the V() function for the source being measured (in the case of
the source used for calibration of the photometer, which, as stated in 4.1, is a n
incandescent lamp with a correlated colour temperature of 2 856 K, this can be
characterized, for example, by the mismatch exponent m in Equation (9));
uncertainties associated with the measured values of the electrical quantities of both the
standard and the device under test;
uncertainties associated with the geometrical adjustments (the mutual position of t he
effective reference planes and angular alignments);
stray light;
ambient temperature change;
temperature change of the photometer due to heating from the radiance of the source; and
finite resolution of the display.
As in general corrections, if any of the parameters mentioned above or other contributions to
uncertainty can be quantified, and if the change of the photometer signal resulting from the
change of the parameter is known (e.g. through a sensitivity coefficient), then the reading
shall be corrected and the overall uncertainty decreased accordingly.
Uncertainties shall be estimated in accor dance with the procedures given in the ISO/IEC
Guide 98-3:2008 (GUM) and its supplements. Detailed considerations of measurement
uncertainties can be found in CIE 198:2011.
4.5 Initial Adjustment
The initial adjustment index is the absolute value of the relative deviation of the photometer
indication from the corresponding reference value. The quality index for initial adjustment
'
fY Y1 is the absolute value of the relative deviation of the photometer indication
adj cal cal
'
Y from the corresponding reference value Y .
cal cal
The manufacturer will usually adjust the photometer indication to the reference value, and in
this case f 0, but the associated uncertainty of f will correspond to the uncertainty of
adj adj
the initial calibration process; this uncertainty shall be stated together with the value of the
index f (see 4.4).
adj
NOTE For low cost photometers, the procedures for the adjustment of their indications are often
simplified, and the uncertainties associated with the
...
NORME ISO/CIE
INTERNATIONALE 19476
Première édition
2014-06-01
Caractérisation des performances des
luxmètres et des luminancemètres
Characterization of the performance of illuminance meters and
luminance meters
Numéro de référence
©
ISO/CIE 2014
DOCUMENT PROTÉGÉ PAR COPYRIGHT
© ISO/CIE 2014
All rights reserved. Unless otherwise specified, no part of this publication may be reproduced or utilized otherwise in any form or by any
means, electronic or mechanical, including photocopying, or posting on the internet or an intranet, without prior written permission.
Permission can be requested from either ISO or CIE at the respective addresses below.
ISO copyright office CIE Central Bureau
Case postale 56 CH-1211 Geneva 20 Babenbergerstraße 9/9A A-1010 Vienna
Tel. + 41 22 749 01 11 Tel. + 43 1 714 3187
Fax + 41 22 749 09 47
E-mail copyright@iso.org E-mail ciecb@cie.co.at
Web www.iso.org Web www.cie.co.at
Publié en Suisse
ii © ISO/CIE 2014 – All rights reserved
ISO/CIE19476:2014(F)
Avant-propos
L'ISO (Organisation internationale de normalisation) est une fédération mondiale d'organismes nationaux de
normalisation (comités membres de l'ISO). L'élaboration des Normes internationales est en général confiée
aux comités techniques de l'ISO. Chaque comité membre intéressé par une étude a le droit de faire partie du
comité technique créé à cet effet. Les organisations internationales, gouvernementales et non
gouvernementales, en liaison avec l'ISO participent également aux travaux. L'ISO collabore étroitement avec
la Commission électrotechnique internationale (IEC) en ce qui concerne la normalisation électrotechnique.
Les procédures utilisées pour élaborer le présent document et celles destinées à sa mise à jour sont décrites
dans les Directives ISO/IEC, Partie 1. Il convient, en particulier de prendre note des différents critères
d'approbation requis pour les différents types de documents ISO. Le présent document a été rédigé
conformément aux règles de rédaction données dans les Directives ISO/IEC, Partie 2
(voir www.iso.org/directives).
L'attention est appelée sur le fait que certains des éléments du présent document peuvent faire l'objet de
droits de propriété intellectuelle ou de droits analogues. L'ISO ne saurait être tenue pour responsable de ne
pas avoir identifié de tels droits de propriété et averti de leur existence. Les détails concernant les références
aux droits de propriété intellectuelle ou autres droits analogues identifiés lors de l'élaboration du document
sont indiqués dans l'Introduction et/ou dans la liste des déclarations de brevets reçues par l'ISO (voir
www.iso.org/brevets).
Les appellations commerciales éventuellement mentionnées dans le présent document sont données pour
information, par souci de commodité, à l’intention des utilisateurs et ne sauraient constituer un engagement.
Pour une explication de la signification des termes et expressions spécifiques de l'ISO liés à l'évaluation de la
conformité, ou pour toute information au sujet de l'adhésion de l'ISO aux principes de l'OMC concernant les
obstacles techniques au commerce (OTC), voir le lien suivant: Avant-propos — Informations supplémentaires.
L'ISO/CIE 19476 a été élaborée par le Comité Technique CIE 2-40: Caractérisation des Performances des
Luxmètres et des Luminancemètres, en tant que CIE S 023. Le comité chargé de l'élaboration du présent
document est l'ISO/TC 274, Lumière et éclairage.
© ISO/CIE 2014 – Tous droits réservés iii
ISO/CIE19476:2014(F)
CIE S 023/F:2013
Norme Internationale
Caractérisation des performances des
luxmètres et des luminancemètres
Characterization of performance of illuminance meters and luminance meters
Kennzeichnung der Güte von Beleuchtungsstärke- und Leuchtdichtemessgeräten
Les normes CIE sont protégées par le copyright et ne doivent pas être reproduites sous
quelque forme que ce soit, entièrement ni partiellement, sans l'accord explicite de la CIE.
CIE Central Bureau, Vienna CIE S 023/F:2013
Babenbergerstraße 9/9A • A-1010 Vienna
UDC: 535.24 Descripteur: Photométrie
535.241.5 Grandeurs en rapport avec les mesures
photométriques et autres mesures
535.241.535 Etalonnage
V
© ISO/CIE 2014 – All rights reserved
ISO/CIE19476:2014(F)
CIE 2013
Ce document est une norme internationale CIE protégée par le copyright de la CIE.
Tous droits réservés. Sauf mention contraire, aucune partie de cette publication ne peut être
reproduite ou utilisée sous quelque forme que ce soit, ni par quelque moyen que ce soit,
électronique ou mécanique, y compris la photocopie et le microfilm, sans l'autorisation du
Bureau Central de la CIE obtenue en écrivant à l'adresse ci-dessous.
CIE Central Bureau
Babenbergerstraß e 9/9A
A-1010 Vienne
Autriche
Tel.: +43 1 714 3187
e-mail: ciecb@cie.co.at
www.cie.co.at
vi
© ISO/CIE 2014 – All rights reserved
ISO/CIE19476:2014(F)
Avant Propos
Les normes élaborées par la Commission Internationale de l'Eclairage sont des documents
d'information concis, relatifs à la lumière et à l'éclairage, pour lesquels des définitions de
référence sont requises. Les normes CIE fournissent une source première d'informations,
internationalement reconnues et acceptées, pouvant être introduites pratiquement sans
modification dans des ensembles de normes universelles.
Cette norme internationale CIE a été préparée par le Comité Technique CIE TC 2-40
“Caractérisation des Performances des Luxmètres et des Luminancemètres”. Elle a été
approuvée par le Bureau d’Administration, par la Division 2 de la Commission Internationale
de l'Eclairage et par les Comités Nationaux de la CIE. Elle est supposée remplacer la
Publication CIE 69-1987.
Ce TC fut présidé par R. Rattunde † (DE) and P. Blattner (CH).
Les membres étaient: R. Austin (US), J. Bastie, (FR), T. Bergen (AU), G. Czibula (DE), G. Dezsi (HU),
T. Goodman (GB), K.C. Khandelwal (IN), T.Q. Khanh (DE), U. Krüger (DE), J. Mahidharia (IN),
Y. Ohno (US), J. Pan (CN), J. Pietrzykowski (PL), I. Saito (JP), G. Sauter (DE), J. Schanda (HU),
H. Shitomi (JP), A. Sperling (DE), W. Steudtner (DE), R. Stolyarevskaya (RU), H.-G. Ulrich (DE),
G. Vandermeersch (BE), P. Vukadin (RS), X. Gan (SG), R. Young (GB).
© ISO/CIE 2014 – All rights reserved
vii
ISO/CIE19476:2014(F)
TABLE DES MATIERES
Avant Propos . viii
1 Domaine d’application . 1
2 Références normatives . 1
3 Définitions . 2
3.1 Définitions générales . 2
3.2 Indices de qualité . 4
4 Etalonnage . 7
4.1 Conditions . 7
4.2 Luxmètres . 7
4.2.1 Généralités . 7
4.2.2 Eclairement (plan) E . 7
4.2.3 Eclairement sphérique E . 8
,
4.2.4 Eclairement cylindrique E . 8
c
4.2.5 Eclairement semi-cylindrique E . 8
sc
4.2.6 Eclairement hémisphérique E . 9
π
4.3 Luminancemètre . 9
4.4 Incertitude d’étalonnage . 9
4.5 Ajustement initial . 10
4.6 Vérification des photomètres . 10
5 Propriétés des luxmètres et des luminancemètres . 11
5.1 Considérations générales . 11
5.2 Propriétés spectrales. 11
5.2.1 Généralité . 11
5.2.2 Mesure . 11
5.2.3 Sensibilité lumineuse . 12
5.2.4 Sensibilité lumineuse relative et facteur de correction d’adaptation
spectrale . 12
5.2.5 Facteur de correction de couleur et exposant d’adaptation . 13
5.2.6 Indice spécifique d’adaptation . 14
'
5.2.7 Indice général d’adaptation à V(λ): . 14
f
5.3 Réponse aux rayonnements UV . 14
5.3.1 Généralités . 14
5.3.2 Mesure . 15
5.3.3 Caractérisation . 16
5.4 Réponse aux rayonnements IR . 16
5.4.1 Généralités . 16
5.4.2 Mesure . 16
5.4.3 Caractérisation . 16
5.5 Réponse directionnelle pour les luxmètres . 17
5.5.1 Généralité . 17
5.5.2 Mesure . 17
5.5.3 Caractérisation des luxmètres (plan) . 18
5.5.4 Caractérisation pour les luxmètres sphériques . 18
5.5.5 Caractérisation des luxmètres cylindriques . 19
viii
© ISO/CIE 2014 – All rights reserved
ISO/CIE19476:2014(F)
5.5.6 Caractérisation des luxmètres semi-cylindrique . 20
5.5.7 Caractérisation des luxmètres hémisphériques . 21
5.6 Réponse directionnelle pour les luminancemètres . 22
5.6.1 Généralités . 22
5.6.2 Mesure . 22
5.6.3 Caractérisation . 23
5.6.4 Mesure de l’effet du champ environnant . 25
5.7 Linéarité . 25
5.7.1 Généralités . 25
5.7.2 Mesure . 25
5.7.3 Caractérisation . 26
5.8 Afficheur. 26
5.8.1 Généralité . 26
5.8.2 Caractérisation . 26
5.9 Fatigue . 27
5.9.1 Généralités . 27
5.9.2 Mesure . 27
5.9.3 Caractérisation . 27
5.10 Température . 28
5.10.1 Généralités . 28
5.10.2 Mesure . 28
5.10.3 Caractérisation . 28
5.11 Resistance à l’humidité . 29
5.11.1 Généralité . 29
5.11.2 Mesure . 29
5.11.3 Caractérisation . 29
5.12 Lumière modulée . 29
5.12.1 Généralités . 29
5.12.2 Mesure . 30
5.12.3 Caractérisation . 30
5.13 Dépendance à la polarisation . 31
5.13.1 Généralités . 31
5.13.2 Mesure . 31
5.13.3 Caractérisation . 31
5.14 Réponse spatiale non-uniforme . 32
5.14.1 Généralité . 32
5.14.2 Mesure . 32
5.14.3 Caractérisation . 32
5.15 Changement de calibre . 32
5.15.1 Généralité . 32
5.15.2 Mesure . 32
5.15.3 Caractérisation . 33
5.16 Distance de focalisation (luminancemètre uniquement) . 33
5.16.1 Généralité . 33
5.16.2 Mesure . 33
5.16.3 Caractérisation . 33
6 Acronymes . 33
© ISO/CIE 2014 – All rights reserved
ix
ISO/CIE19476:2014(F)
Annex A (normative) Sources et filtres utilisés pour la détermination de la réponse aux
rayonnements UV et aux rayonnements IR . 35
Annex B (informative) Commentaires généraux . 37
B.1 Généralité . 37
B.2 Indices de qualité . 37
′
B.2.1 Adaptation à V(λ), f . 37
B.2.2 Réponse aux rayonnements UV f . 37
UV
B.2.3 Réponse aux rayonnements IR f . 37
IR
B.2.4 Réponse cosinus f (luxmètre uniquement) . 38
B.2.5 Réponse directionnelle f et champ environnant f
2,g 2,u
(luminancemètre uniquement) . 38
B.2.6 Linéarité f . 38
B.2.7 Afficheur f . 38
B.2.8 Fatigue f . 38
B.2.9 Dépendance à la température f . 38
6,T
B.2.10 Résistance à l’humidité f . 38
6,H
B.2.11 Lumière modulée f . 38
B.2.12 Polarisation f . 39
B.2.13 Non-uniformité spatiale de la réponse f . 39
B.2.14 Changement de calibre f . 39
B.2.15 Distance de focalisation f (luminancemètre uniquement) . 39
x
© ISO/CIE 2014 – All rights reserved
ISO/CIE19476:2014(F)
Caractérisation des performances des luxmètres et des luminancemètres
1 Domaine d’application
Cette norme internationale de la CIE définit les indices de qualité caractérisant les
performances des luxmètres et des luminancemètres lorsqu’ils sont utilisés pour des mesures
d’éclairage général. Elle définit également les procédures de mesure de chacun de ces
indices et les conditions normalisées d’étalonnage.
Les mesures d’éclairement et de luminance ainsi que leur exactitude sont influencées par
divers paramètres, tels que les conditions opérationnelles, les propriétés des sources de
lumière, autant que par les caractéristiques des photomètres utilisés. Les caractéristiques de
ces photomètres à elles seules ne permettent pas la détermination de l’incertitude de mesure
pour une action de mesure particulière. Néanmoins, il est généralement vrai qu’un instrument
avec de “meilleures” caractéristiques, dans la plupart des cas, donne une incertitude plus
faible qu’un instrument avec de “plus mauvaises” propriétés. Cette norme a été écrite pour:
• donner des définitions claires et non ambigües pour chacun des indices de qualité;
• définir les procédures et les méthodes de mesure pour une évaluation numérique de
ces indices de qualité.
• définir les conditions d’étalonnage pour les luxmètres et les luminancemètres.
Les définitions des indices de qualité ainsi que les procédures et les méthodes pour
l’évaluation numérique associée données dans cette norme remplacent, lorsqu’elles sont
différentes, celles données dans la publication CIE 53-1982. La publication CIE 69-1987 doit
être remplacée par cette norme.
2 Références normatives
Les documents suivants, en entier ou en partie, sont référencés de manière normative dans
ce document et sont indispensables à son application. Pour les références datées,
uniquement l’édition citée s’applique. Pour les références non datées, l’édition la plus récente
du document référencé (y compris les amendements) s’applique.
CIE 202:2011 Spectral Responsivity Measurement of Detectors, Radiometers and
Photometers
CIE S 017:2011 ILV: International Lighting Vocabulary
ISO 11664-2:2007/CIE S 014-2:2006 Colorimétrie – Partie 2: Illuminants CIE Normalisés
ISO 23539:2005/CIE S 010:2004 Photométrie – Le Système CIE de Photométrie Physique
CIE 198:2011 Determination of Measurement Uncertainties in Photometry
CIE 114/4-1994 CIE Collection in Photometry and Colorimetry - Distribution Temperature and
Ratio Temperature
IEC 60051-1:1997 Appareils mesureurs électriques indicateur analogique à action directe et
leurs accessoires – Partie 1: Définitions et prescriptions générales communes à toutes les
parties
ISO/IEC Guide 98-3:2008 Incertitude de mesure -- Partie 3: Guide pour l’expression de
l’incertitude de mesure (GUM:1995)
ISO/IEC Guide 99:2007 Vocabulaire International de Métrologie — Concepts Fondamentaux
et Généraux et Termes Associés (VIM)
Egalement référencé JCGM 100:2008, disponible sur la page web du BIPM.
Egalement référencé JCGM 200:2008, disponible sur la page web du BIPM.
© ISO/CIE 2014 – All rights reserved 1
ISO/CIE19476:2014(F)
3 Définitions
Pour les besoins du présent document les termes et les définitions donnés dans la norme CIE
S 017/E:2011 (Vocabulaire International de l’Eclairage) et ci-dessous s’appliquent.
3.1 Définitions générales
3.1.1
exactitude de mesure
étroitesse de l'accord entre une valeur mesurée et une valeur vraie d'un mesurande
Note 1 à l'article: L'exactitude de mesure n'est pas une grandeur et ne s'exprime pas numériquement.
Un mesurage est quelquefois dit plus exact s'il fournit une pl us petite erreur de
mesure.
Note 2 à l'article: Il convient de ne pas utiliser le terme «exactitude de mesure» pour la justesse de
mesure et le terme «fidélité de mesure» pour l'exactitude de mesure. Celle-ci est
toutefois liée aux concepts de justesse et de fidélité.
Note 3 à l'article: L'exactitude de m esure est quelquefois interprétée comme l'étroitesse de l 'accord
entre les valeurs mesurées qui sont attribuées au mesurande.
[Source: ISO/IEC Guide 99:2007 (VIM), 2.13]
3.1.2
erreur de mesure
différence entre la valeur mesurée d'une grandeur et une valeur de référence
Note 1 à l'article: Le concept d’erreur peut être utilisé
a) Lorsqu’il existe une valeur de référence unique à laquelle se reporter ce qui a lieu
si on effectue un étalonnage au moyen d’un étalon dont la valeur mesurée a une
incertitude de mesure négligeable ou s i on prend une valeur conventionnelle,
l’erreur est alors connue.
b) Si on s uppose le mesurande représenté par une v aleur vraie unique ou un
ensemble de valeurs vraies d’étendue négligeable, l’erreur étant alors inconnue.
Note 2 à l'article: Il convient de ne pas confondre l’erreur de mesure avec une erreur de production ou
une erreur humaine.
[Source: ISO/IEC Guide 99:2007 (VIM), 2.16]
3.1.3
étalonnage
opération qui, dans des conditions spécifiées, établit en une pr emière étape une relation entre les
valeurs et les incertitudes de mesure associées qui sont fournies par des étalons et les indications
correspondantes avec les incertitudes associées, puis utilise en une seconde étape cette information
pour établir une relation permettant d'obtenir un résultat de mesure à partir d'une indication
Note 1 à l'article: Un étalonnage peut être exprimé sous la forme d'un énoncé, d'une fonction d'étalonnage, d'un
diagramme d'étalonnage, d'une courbe d'étalonnage ou d'une table d'étalonnage. Dans
certains cas, il peut consister en une correction additive ou multiplicative de l'indication avec
une incertitude de mesure associée.
Note 2 à l'article: Il convient de ne pas confondre l'étalonnage avec l'ajustage d'un système de mesure, souvent
appelé improprement «auto-étalonnage», ni avec la vérification de l’étalonnage.
Note 3 à l'article: La seule première étape dans la définition est souvent perçue comme étant l'étalonnage.
[Source: ISO/IEC Guide 99:2007 (VIM), 2.39]
3.1.4
ajustage d'un système de mesure
ensemble d'opérations réalisées sur un s ystème de m esure pour qu'il fournisse des indications
prescrites correspondant à des valeurs données des grandeurs à mesurer
Note 1 à l'article: Divers types d'ajustage d'un système de mesure sont le réglage de zéro, le réglage de
décalage, le réglage d'étendue (appelé aussi réglage de gain).
2 © ISO/CIE 2014 – All rights reserved
ISO/CIE19476:2014(F)
Note 2 à l'article: Il convient de ne pas confondre l'ajustage d'un système de mesure avec son étalonnage, qui
est un préalable à l'ajustage.
Note 3 à l'article: Après un ajustage d'un système de m esure, le système demande généralement à être
réétalonné.
[Source: ISO/IEC Guide 99:2007 (VIM), 3.11]
3.1.5
traçabilité (métrologique)
propriété d'un résultat de mesure selon laquelle ce résultat peut être relié à une r éférence par
l'intermédiaire d'une chaîne ininterrompue et documentée d'étalonnages dont chacun contribue à
l'incertitude de mesure
Note 1 à l'article: La référence mentionnée dans la définition peut être une définition d'une unité de mesure
sous la forme de sa réalisation pratique, une procédure de mesure, qui indique l'unité de
mesure dans le cas d'une grandeur autre qu'une grandeur ordinale, ou un étalon.
Note 2 à l'article: La traçabilité métrologique nécessite l'existence d'une hiérarchie d'étalonnage.
Note 3 à l'article: La spécification de la référence doit comprendre la date où cette référence a été utilisée dans
l'établissement d'une hiérarchie d'étalonnage, ainsi que d'autres informations métrologiques
pertinentes concernant la référence, telles que la date où a été effectué le premier étalonnage
de la hiérarchie.
Note 4 à l'article: Pour des mesurages comportant plus d'une seule grandeur d'entrée dans le modèle de
mesure, chaque valeur d'entrée devrait être elle-même métrologiquement traçable et la
hiérarchie d'étalonnage peut prendre la forme d'une structure ramifiée ou d'un réseau. Il
convient que l'effort consacré à établir la traçabilité métrologique de chaque valeur d'entrée
soit proportionné à sa contribution relative au résultat de mesure.
Note 5 à l'article: La traçabilité métrologique d'un résultat de mesure n'assure pas l'adéquation de l'incertitude
de mesure à un but donné ou l'absence d'erreurs humaines.
Note 6 à l'article: Une comparaison entre deux étalons peut être considérée comme un étalonnage si elle sert à
vérifier et, si nécessaire, à corriger la valeur et l'incertitude attribuées à l'un des étalons.
Note 7 à l'article: L'ILAC considère que les éléments nécessaires pour confirmer la traçabilité métrologique sont
une chaîne de traçabilité métrologique ininterrompue à un étalon international ou un étalon
national, une incertitude de mesure documentée, une procédure de mesure documentée, une
compétence technique reconnue, la traçabilité métrologique au SI et des intervalles entre
étalonnages (voir ILAC P-10:2002).
Note 8 à l'article: Le terme abrégé «traçabilité» est quelquefois employé pour désigner la traçabilité
métrologique, ainsi que d'autres concepts tels que la traçabilité d'un spécimen, d'un
document, d'un instrument ou d'un matériau, où intervient l'historique (la trace) d'une entité. Il
est donc préférable d'utiliser le terme complet «traçabilité métrologique » s'il y a risque de
confusion.
[Source: ISO/IEC Guide 99:2007 (VIM), 2.41]
3.1.6
photomètre
instrument pour mesurer les grandeurs photométriques
[Source: CIE S 017/E:2011, 17-909]
Note 1 à l'article: Un photomètre est composé d’une tête photométrique, d’un convertisseur de signal,
d’un afficheur et d’une alimentation électrique. Ces différentes parties peuvent être
regroupées dans un boitier unique ou réparties entre plusieurs boitiers. Pour cette
Norme, le terme photomètre désigne un luxmètre ou un luminancemètre équipé d’un
détecteur unique qui mesure la lumière spectralement intégrée.
3.1.7
plan de référence (d’un photomètre ou d’une source de lumière)
plan associé à un photomètre ou à une source de lumière et destiné à mesurer la distance qui
les sépare.
Note 1 à l'article: Pour un photomètre c’est le plan perpendiculaire à l’axe optique de la tête
photométrique utilisé pour l’étalonnage. Le plan de référence d’un photomètre devrait
idéalement coïncider avec le plan de référence effectif.
© ISO/CIE 2014 – All rights reserved 3
ISO/CIE19476:2014(F)
3.1.8
plan de référence effectif (d’un photomètre)
plan perpendiculaire à l’axe optique de la tête photométrique à partir duquel la loi de l’inverse
carré de la distance s’applique lorsque l’éclairement d’une source ponctuelle est mesurée et
la distance à la source est mesurée à partir de ce plan.
Note 1 à l'article: La position du plan de référence effectif peut varier avec la longueur d’onde. Dans ce
cas le type de source (c.à.d. l’illuminant A de la CIE) doit être spécifié en même
temps que le plan de référence.
3.1.9
distance photométrique limite
plus courte distance entre le plan de référence d’une source de lumière et le plan de
référence effectif d’un photomètre, pour une erreur acceptable donnée par rapport à la loi
photométrique de l’inverse carré de la distance.
Note 1 à l'article: La distance photométrique limite est principalement déterminée à partir des
propriétés géométriques du photomètre et de la source.
3.1.10
ouverture utile
surface utile de la tête photométrique d’un luxmètre ou champs de mesure d’un
luminancemètre.
Note 1 à l'article: Habituellement l’ouverture utile est située dans le plan de référence effectif du
photomètre.
3.2 Indices de qualité
Un jeu d’indices de qualité est utilisé pour caractériser la performance d’un photomètre. Les
indices de qualité sont des grandeurs physiques caractérisant des propriétés sélectionnées
d’un photomètre. Ce sont des valeurs de réponses normalisées, qui ne décrivent pas l’erreur
directement et ne peuvent donc pas être utilisées pour effectuer des corrections. Le nom de
chaque indice a été défini à partir de l’effet physique agissant sur sa valeur afin de rendre
plus facile sa mémorisation et la compréhension de sa signification.
Un indice de qualité est représenté par le symbole " f " où l’indice " x " spécifie la propriété
x
considérée. Les valeurs sont:
• évaluées par des formules spécifiques pour chaque propriété, à par tir de données
déterminées dans des conditions de mesure spécifiées,
• présentées sous forme d’un pourcentage, avec une incertitude associée; et
• idéalement égales à zéro.
A eux seuls les indices de qualité de ces photomètres ne permettent pas l’estimation de
l’incertitude de mesure pour un type de mesure particulier. Néanmoins, il est généralement
vrai qu’un instrument avec une plus petite valeur de f , dans la plupart des cas, donne une
x
incertitude plus faible qu’un instrument avec une plus grande valeur.
3.2.1
indice d’ajustement initial
f
adj
indice décrivant la valeur absolue de l’écart relatif de l’indication du photomètre par rapport à
la valeur de référence correspondante.
3.2.2
indice général d’adaptation à V(λ)
'
f
indice décrivant l’écart de la sensibilité spectrale relative du photomètre à la fonction V (λ)
4 © ISO/CIE 2014 – All rights reserved
ISO/CIE19476:2014(F)
3.2.3
indice de sensibilité aux UV
f
UV
indice décrivant la sensibilité du photomètre aux rayonnements UV
3.2.4
Indice de sensibilité aux IR
f
IR
indice décrivant la sensibilité du photomètre aux rayonnements IR
3.2.5 (luxmètre uniquement)
Indice de réponse directionnelle à l’éclairement
f
indice décrivant la sensibilité du photomètre à la lumière incidente sous un angle différent de
la normale (la loi du cosinus pour les luxmètres d’usage général)
3.2.6 (luxmètre uniquement)
indice de réponse directionnelle à l’éclairement sphérique
f
2,0
indice décrivant la sensibilité du photomètre à la lumière incidente sous un angle différent de
la normale
3.2.7 (luxmètre uniquement)
indice de réponse directionnelle à l’éclairement cylindrique
f
2,c
indice décrivant la sensibilité du photomètre à la lumière incidente sous un angle différent de
la normale
3.2.8 (luxmètre uniquement)
indice de réponse directionnelle à l’éclairement semi-cylindrique
f
2,sc
indice décrivant la sensibilité du photomètre à la lumière incidente sous un angle différent de
la normale
3.2.9 (luxmètre uniquement)
indice de réponse directionnelle à l’éclairement hémisphérique
f
2,2π
indice décrivant la sensibilité du photomètre à la lumière incidente sous un angle différent de
la normale
3.2.10 (luminancemètre uniquement)
indice de réponse directionnelle pour la luminance
f
2,g
indice décrivant la sensibilité du photomètre à la lumière incidente sous un angle différent de
la normale
3.2.11 (luminancemètre uniquement)
indice de symétrie directionnelle
f
2,s
indice décrivant l’influence de l’angle de la lumière incidente par rapport au champ de mesure
du luminancemètre
symbole utilisé précédemment f .
2,z
© ISO/CIE 2014 – All rights reserved 5
ISO/CIE19476:2014(F)
3.2.12 (luminancemètre uniquement)
indice d’effet du champ environnant
f
2,u
indice décrivant l’influence de la luminance ambiante à l’extérieur du champ de mesure d’un
luminancemètre
3.2.13
indice de linéarité
f
indice décrivant l’écart de la réponse du photomètre en éclairement ou en luminance pour
différents niveaux
3.2.14
indice d’afficheur
f
indice décrivant l’influence de l’afficheur analogique ou numérique du photomètre
3.2.15
indice de fatigue
f
indice décrivant la stabilité de la sensibilité du photomètre soumis à un e illumination
constante sur une longue période de temps
3.2.16
indice de dépendance à la température
f
6,T
indice décrivant l’influence de la température ambiante sur la sensibilité du photomètre
lorsque la température ambiante est différente de celle au moment de l’étalonnage
3.2.17
indice de test d’humidité
f
6,H
indice décrivant la stabilité du photomètre par rapport à l’humidité
3.2.18
indice de modulation de la lumière
f
indice décrivant l’influence de la modulation de la lumière à différentes fréquences, comparée
à la réponse dans des conditions d’illumination constante
3.2.19
indice de sensibilité à la polarisation
f
indice décrivant l’influence de la lumière polarisée sur la sensibilité du photomètre
3.2.20
indice de réponse spatiale
f
indice décrivant l’influence de la non-uniformité de l’éclairement incident sur l’ouverture utile
du photomètre
3.2.21
indice de changement de calibre
f
indice décrivant l’influence du choix des calibres des afficheurs ou des amplificateurs
6 © ISO/CIE 2014 – All rights reserved
ISO/CIE19476:2014(F)
3.2.22 (luminancemètre uniquement)
indice de distance de focalisation
f
indice décrivant l’influence de l’écart entre la distance d’utilisation et la distance de
focalisation pour les luminancemètres
4 Etalonnage
4.1 Conditions
Les photomètres doivent être étalonnés par des sources ou des détecteurs certifiés comme
étant des étalons de référence et dont l’étalonnage est traçable au système international
d’unité (SI). La traçabilité signifie qu’il existe une chaine ininterrompue d’étalonnages ou de
comparaisons, les reliant aux étalons primaires pertinents matérialisant les unités SI de
mesure telles qu’elles sont publiées dans la liste des CMC du BIPM et réalisées par des
laboratoires avec des compétences accréditées.
Les photomètres doivent être étalonnés à une température ambiante de 25 °C avec une
lumière non polarisée provenant d’une lampe à incandescence ayant une température de
couleur proximale de 2856 K (source A de la CIE). Avant de commencer l’étalonnage, le
photomètre doit être stabilisé thermiquement en étant maintenu, au moins pendant une heure
dans les conditions ambiantes. La f enêtre d’entrée du photomètre doit être uniformément
éclairée sur une surface plus grande que la surface de cette fenêtre.
Les photomètres doivent être régulièrement réétalonnés:
• avec la périodicité recommandée par le fabricant, ou
• au minimum tous les 2 ans, ou
• si les performances de l’instrument sont suspectées d’avoir changées.
NOTE En pratique, la température de c ouleur proximale et la température de di stribution sont
équivalente pour une lampe réalisant la source A de la CIE.
4.2 Luxmètres
4.2.1 Généralités
Les luxmètres doivent être étalonnés avec une lumière incidente normale au plan de
référence effectif et la source doit être située à une distance supérieure à la distance
photométrique limite.
Si le luxmètre est étalonné par comparaison à un photomètre étalon, le plan de référence
effectif du photomètre doit être placé exactement à la même position et avec la même
orientation que celui du photomètre étalon. Si le luxmètre est étalonné en utilisant une lampe
étalon, la distance d’étalonnage est donnée par la distance entre le plan de référence de la
lampe étalon et le plan de référence effectif du luxmètre.
4.2.2 Eclairement (plan) E
EE= (1)
x
où
E est l’éclairement sur le plan de référence effectif.
x
La position du plan de référence effectif par rapport à la surface frontale du photomètre doit
être définie par le fabricant. Pour les luxmètres munis d’un diffuseur plan, le plan de référence
effectif est généralement sur le plan frontal du diffuseur.
© ISO/CIE 2014 – All rights reserved 7
ISO/CIE19476:2014(F)
4.2.3 Eclairement sphérique E
EE= (2)
0x
où
E est l’éclairement sur le plan de référence effectif.
x
Le plan de référence effectif est situé à l’intérieur de l’adaptateur sphérique, à une distance
de γ = 0,146 fois le diamètre, d, de l’adaptateur sphérique à partir du zénith.
NOTE Le facteur γ est déterminé de manière à ce que l’aire découpée sur le plan de référence
effectif soit exactement la moitié de l ’aire de la projection de l a fenêtre d’entrée du
photomètre. La solution vient de la relation géométrique:
γ =1−=cos (arcsin (1/ 2)) 2 0,146 .
( )
2, 3
4.2.4 Eclairement cylindrique E
c
EE= (3)
cx
π
où
E est l’éclairement sur le plan de référence effectif.
x
Le plan de référence effectif est situé à l’intérieur de l’adaptateur cylindrique, parallèle à la
fenêtre d’entrée du photomètre, à une distance de γ = 0,067 fois le diamètre, d, de
c
l’adaptateur cylindrique à partir de la surface latérale (voir figure 1).
NOTE Le facteur γ est déterminé de manière à ce que l’aire découpée sur le plan de référence
c
effectif soit exactement la moitié de l ’aire de la projection de l a fenêtre d’entrée du
photomètre. La solution vient de la relation géométrique:
γ =1−=cos (arcsin (1/ 2)) 2 0,067
( )
c
4.2.5 Eclairement semi-cylindrique E
sc
EE= (4)
sc x
π
où
E est l’éclairement sur le plan de référence effectif.
x
Le plan de référence effectif est situé à l’intérieur de l’adaptateur semi-cylindrique, parallèle à
la fenêtre d’entrée du photomètre, à une distance de γ = 0,067 fois le diamètre, d, de
c
l’adaptateur semi-cylindrique à partir de la surface latérale (voir figure 1).
NOTE Le facteur γ est déterminé de manière à ce que l’aire découpée sur le plan de référence
c
effectif soit exactement la moitié de l ’aire de la projection de l a fenêtre d’entrée du
photomètre. La solution vient de la relation géométrique:
γ =(1−=cos (arcsin (1/ 2))) 2 0,067
c
Pour la définition de ”éclairement sphérique“ voir CIE S 017/E:2011, 17-1244 et 17-1245 respectivement.
Symbole utilisé précédemment E .
z
Pour la définition de ”éclairement cylindrique“ voir CIE S 017/E:2011, 17-273 et 17-274 respectivement.
Pour la définition de ”l’éclairement semi-cylindrique“ voir CIE S 017/E:2011, 17-1160.
8 © ISO/CIE 2014 – All rights reserved
ISO/CIE19476:2014(F)
�����⋅d�
�
�
d�
d���
d���
d���
��������
����������
���������
�
Figure 1 — Plan de référence effectif pour un luxmètre (semi-)cylindrique
�
4.2.6 Eclairement hémisphérique E
π
�
�
EE= ����
��π
�
�
���
�
������������������������������������������������������
E
�
������������������������������������������������������������������������������������ ��������������
�������� ��������� ��� ����������� ���γ �������������������������� ������ �d����� ���������
�
�����������������������������������������������
����� ��������������������������������������������������������������������������������������
�
��������� ����� ����������� ��� ������� ���� ������ ��� ��� ����������� ���� �� �������� ��������� ���
����������������������������������������������������������
γ = �−=������������� ������ �����
( )
�
4.3 Luminancemètre
�������������������������������������������������������������� ������������������������
�������� ���������� ��������� ������������������ ����� ������� ���� ��� ������ ��� ������� ���
����������������������������������������������������������������������������������������������
���������������������������������������������������������������������������
4.4 Incertitude d’étalonnage
���������������������������������������������������������������������������������������
����������������������������������������������������������������������������������������
������������������������������������������������������������������������������������������������
����������������
© ISO/CIE 2014 – All rights reserved 9
ISO/CIE19476:2014(F)
L’incertitude associée à la valeur certifiée de l’étalon de référence doit être prise du certificat
d’étalonnage de l’étalon. La contribution des incertitudes additionnelles provenant du
processus de mesure peuvent avoir pour origine:
• l’incertitude associée à la valeur de l’étalon de travail;
• le vieillissement de l’étalon;
• l’adaptation spectrale à la fonction V(λ) pour la source à mesurer (dans le cas où la
source utilisée pour l’étalonnage du photomètre, qui, comme spécifié en 4.1, est une
lampe à incandescence avec une couleur de température proximale de 2 856 K, on
peut la caractériser, par exemple, par l’exposant d’adaptation m donné dans l’Equation
(9));
• l’incertitude associée aux valeurs
...
МЕЖДУНАРОДНЫЙ ISO/CIE
СТАНДАРТ 19476
Первое издание
2014-06-01
Измерители освещенности и яркости.
Определение рабочих характеристик
Characterization of the performance of illuminance meters and
luminance meters
Ответственность за подготовку русской версии несёт GOST R
(Российская Федерация) в соответствии со статьёй 18.1 Устава ISO
Ссылочный номер
©
ISO/CIE 2014
ДОКУМЕНТ ЗАЩИЩЁН АВТОРСКИМ ПРАВОМ
© ISO/CIE 2014
Все права сохраняются. Если не указано иное, никакую часть настоящей публикации нельзя копировать или использовать в
какой-либо форме или каким-либо электронным или механическим способом, включая фотокопии и микрофильмы, без
предварительного письменного согласия ISO или CIE по адресам, указанны ниже.
ISO copyright office CIE Central Bureau
Case postale 56 CH-1211 Geneva 20 Babenbergerstraße 9/9A A-1010 Vienna
Tel. + 41 22 749 01 11 Tel. + 43 1 714 3187
Fax + 41 22 749 09 47
E-mail copyright@iso.org E-mail ciecb@cie.co.at
Web www.iso.org Web www.cie.co.at
Опубликовано в Швейцарии
ii © ISO/CIE 2014 — Все права сохраняются
Предисловие
Международная организация по стандартизации (ISO) является всемирной федерацией национальных
организаций по стандартизации (комитетов-членов ISO). Разработка международных стандартов
обычно осуществляется техническими комитетами ISO. Каждый комитет-член, заинтересованный в
деятельности, для которой был создан технический комитет, имеет право быть представленным в этом
комитете. Международные правительственные и неправительственные организации, имеющие связи с
ISO, также принимают участие в работах. ISO работает в тесном сотрудничестве с Международной
электротехнической комиссией (IEC) по всем вопросам стандартизации в области электротехники.
Процедуры, использованные для разработки данного документа и предназначенные для его
дальнейшей поддержки, описаны в Части 1 Директив ISO/IEC. В частности, должны быть указаны
различные критерии утверждения, необходимые для различных типов документов ISO. Данный
документ был разработан в соответствии с правилами редактирования Части 2 Директив ISO/IEC
(см. www.iso.org/directives).
Необходимо обратить внимание на то, что некоторые элементы данного документа могут быть
объектом патентных прав. ISO не должна нести ответственность за идентификацию каких-либо или
всех таких патентных прав. Подробные сведения о каких-либо патентных правах, установленных при
разработке данного документа, будут содержаться во введении и/или перечне ISO полученных
патентных деклараций (см. www.iso.org/patents).
Любые торговые наименования, использованные в данном документе, предоставлены для удобства
пользователей и не являются подтверждением.
Пояснение значений специальных терминов и выражений ISO, относящихся к оценке соответствия, а
также информации относительно поддержки ISO принципов WTO в области технических барьеров в
торговле (TBT), см. по следующему адресу URL: Foreword — Supplementary information.
Стандарт ISO/CIE 19476 разработан Техническим Комитетом CIE 2-40 Измерители освещенности и
яркости, как CIE S 023. Комитет, несущий ответственность за данный документ, — ISO/TC 274, Свет и
освещение.
© ISO/CIE 2014 — Все права сохраняются iii
CIE S 023/E 2013
Международный стандарт
Измерители освещенности и яркости. Определение рабочих
характеристик
Characterization of the performance of illuminance meters and luminance meters
Kennzeichnung der Güte von Beleuchtungsstärke- und Leuchtdichtemessgeräten
Международные стандарты CIE защищены авторским правом и не могут быть воспроизведены в
любой форме, полностью или частично, без ясного разрешения CIE
Центральное Бюро CIE, Вена
Babenbergerstraße 9/9A• A-1010 Vienna CIE S 023/E 2013
УДК: 535.24 Дескриптор: Фотометрия
535.241.5 Величины, относящиеся
к фотометрии и другим
измерениям
535.241.535
Калибровка
© ISO/CIE 2014 – Все права сохраняются v
© CIE 2013
Данный документ является международным стандартом CIE и защищён авторскими правами.
Все права сохраняются. Если не установлено иное, никакая часть данной публикации не может быть
воспроизведена или использована в какой-либо форме или каким-либо способом, электронным или
механическим, включая фотокопирование и микрофильмы, без письменного разрешения Центрального
Бюро CIE по указанному ниже адресу.
Центральное Бюро CIE
Babenbergerstraße 9/9A• A-1010 Vienna
Austria
Tel.: +43 1 714 3187
e-mail: ciecb@cie.co.at
www.cie.co.at
vi © ISO/CIE 2014 – Все права сохраняются
Предисловие
Международные стандарты, разработанные Международной комиссией по освещению, являются
точными документами по вопросам света и освещения, в которых требуется использовать
однозначные определения. Они являются первичным источником утверждённых на международном
уровне и согласованных данных, которые могут быть приняты в основном в неизменном виде в общих
системах стандартов.
1)
Данный международный стандарт CIE был подготовлен Техническим комитетом CIE 2-40
“Измерители освещенности и яркости. Определение рабочих характеристик”. Он был утверждён
Административным Советом Отделения 2 Международной комиссии по освещению, а также
Национальными Комитетами CIE, и предназначен для замены Публикации CIE 69-1987.
1)
Этот Технический Комитет работал под председательством R. Rattunde † (DE) и P. Blattner (CH).
Члены комитета — :R. Austin (US), J. Bastie, (FR), T. Bergen (AU), G. Czibula (DE), G. Dezsi (HU), T. Goodman (GB),
K.C. Khandelwal (IN), T.Q. Khanh (DE), U. Krüger (DE), J. Mahidharia (IN), Y. Ohno (US), J. Pan (CN), J. Pietrzykowski
(PL), I. Saito (JP), G. Sauter (DE), J. Schanda (HU), H. Shitomi (JP), A. Sperli ng (DE), W. Steudtner (DE),
R. Stolyarevskaya (RU), H.-G. Ulrich (DE), . Vandermeersch (BE), P. Vukadin (RS), X. Gan (SG), R. Young (GB).
© ISO/CIE 2014 – Все права сохраняются vii
Содержание Страница
Предисловие . iii
1 Область применения .1
2 Нормативные ссылки .1
3 Определения .2
3.1 Общие определения .2
3.2 Показатели качества .4
4 Калибровка .7
4.1 Условия .7
4.2 Измерители освещённости .8
4.2.1 Общие положения .8
4.2.2 (Плоскостная) освещённость .8
Сферическая освещённость E .8
4.2.3 0
4.2.4 Цилиндрическая освещённость E .9
c
4.2.5 Полуцилиндрическая освещённость E .9
sc
4.2.6 Полусферическая освещённость E .10
π
4.3 Измерители яркости .10
4.4 Погрешности калибровки .10
4.5 Начальная настройка .11
4.6 Проверка фотометров .11
5 Характеристики измерителей яркости и освещённости .11
5.1 Общие положения .11
5.2 Спектральные характеристики .12
5.2.1 Общие положения .12
5.2.2 Измерения .12
5.2.3 Чувствительность к яркости .12
5.2.4 Относительная световая чувствительность и Коэффициент коррекции
спектрального рассогласования .13
5.2.5 Коэффициент цветовой коррекции и экспонента рассогласования .14
5.2.6 Специальный коэффициент рассогласования .14
5.2.7 Общий V(λ) коэффициент рассогласования ƒ .14
5.3 Характеристика в области UV (ультрафиолетовое излучение) .15
5.3.1 Общие положения .15
5.3.2 Измерения .15
5.3.3 Характеристика .16
5.4 Характеристика в области IR .17
5.4.1 Общие положения .17
5.4.2 Измерение .17
5.4.3 Характеристика .17
5.5 Диаграмма направленности измерителя освещённости .18
5.5.1 Общие положения .18
5.5.2 Измерение .18
5.5.3 Характеристика (плоскостных) измерителей освещённости .19
5.5.4 Характеристика измерителя сферической освещённости .19
5.5.5 Характеристика измерителя цилиндрической освещённости .20
5.5.6 Характеристика измерителя полуцилиндрической освещённости .21
5.5.7 Характеристика измерителя полусферической освещённости .22
5.6 Характеристика по направлению измерителя яркости .24
5.6.1 Общие положения .24
5.6.2 Измерение .24
viii © ISO/CIE 2014 – Все права сохраняются
5.6.3 Характеристика . 24
5.6.4 Измерение влияния окружающего поля . 26
5.7 Линейность . 27
5.7.1 Общие положения. 27
5.7.2 Измерение . 27
5.7.3 Характеристика . 27
5.8 Блок дисплея . 28
5.8.1 Общие положения. 28
5.8.2 Характеристика . 28
5.9 Усталость . 29
5.9.1 Общие положения. 29
5.9.2 Измерение . 29
5.9.3 Характеристика . 29
5.10 Температура . 30
5.10.1 Общие положения. 30
5.10.2 Измерения . 30
5.10.3 Характеристика . 30
5.11 Стойкость к воздействию влажности . 31
5.11.1 Общие положения. 31
5.11.2 Измерение . 31
5.11.3 Характеристика . 31
5.12 Модулированный свет . 31
5.12.1 Общие положения. 31
5.12.2 Измерение . 32
5.12.3 Характеристика . 32
5.13 Зависимость от поляризации . 33
5.13.1 Общие положения. 33
5.13.2 Измерение . 33
5.13.3 Характеристика . 33
5.14 Характеристика пространственной неравномерности . 34
5.14.1 Общие положения. 34
5.14.2 Измерение . 34
5.14.3 Характеристика . 34
5.15 Изменение диапазона . 34
5.15.1 Общие положения. 34
5.15.2 Измерение . 35
5.15.3 Характеристика . 35
5.16 Расстояние фокусировки (только измеритель яркости) . 35
5.16.1 Общие положения. 35
5.16.2 Измерение . 35
5.16.3 Характеристика . 36
6 Сокращения . 36
Приложение A (нормативное) Источники и фильтры, используемые при определении
характеристик ультрафиолетового и инфракрасного излучения . 37
Приложение B (информативное) Общие комментарии . 39
B.1 Общие положения . 39
B.2 Индикаторы качества . 39
B.2.1 Рассогласование V(λ) ƒ' . 39
B.2.2 Характеристика в области UV ƒ . 39
uv
B.2.3 Характеристика в области инфракрасного излучения IR ƒ . 40
IR
B.2.4 Косинусная характеристика ƒ (только для измерителя освещённости) . 40
B.2.5 Характеристика по направлению ƒ и окружающее поле ƒ (только для
2,g 2,u
измерителей яркости) . 40
B.2.6 Линейность ƒ . 40
B.2.7 Блок дисплея ƒ . 40
B.2.8 Усталость ƒ . 40
© ISO/CIE 2014 – Все права сохраняются ix
B.2.9 Зависимость от температуры ƒ .40
6,7
B.2.10 Влагостойкость ƒ .41
G,H
B.2.11 Модулированный свет ƒ .41
B.2.12 Поляризация ƒ .41
B.2.13 Характеристика при пространственной неравномерности ƒ .41
B.2.14 Изменение диапазона ƒ .41
B.2.15 Расстояние фокусировки ƒ (только для измерителя яркости) .41
x © ISO/CIE 2014 – Все права сохраняются
Измерители освещенности и яркости. Определение рабочих характеристик
1 Область применения
Данный Международный стандарт CIE применяется к измерителям освещённости и яркости. Этот
стандарт определяет показатели качества, характеризующие параметры таких устройств в ситуации
общих измерений освещённости, а также методики измерений применяемые для определённых
показателей и стандартных условий калибровки.
На результаты измерения освещённости и яркости влияют многие параметры, например условия
работы, характеристики источников света, а также характеристики применяемых фотометров.
Характеристики этих фотометров рассматриваемые отдельно, не позволяют определить погрешность
измерений для конкретных задач измерения. Тем не менее, в целом правильно, что измерительные
приборы, имеющие “лучшие” характеристики, в большинстве случаев имеют меньшие погрешности
измерений по сравнению с приборами, имеющими “худшие” характеристики. Данный стандарт написан
в следующих целях:
предоставить ясные и недвусмысленные определения индивидуальных показателей качества;
определить методики измерений и методы числовой оценки показателей качества;
определить условия калибровки измерителей освещенности и измерителей яркости.
Если они являются различными, описанные в данном стандарте определения показателей качества и
ассоциированных методик измерения, а также методы числовой оценки, заменяют соответствующие
определения в публикации CIE 53-1982. Публикация CIE 69-1987 должна быть заменена данным
стандартом.
2 Нормативные ссылки
Следующие ссылочные документы, в целом или по частям, являются нормативными ссылками данного
документа и обязательны для применения. В случае датированных ссылок применяются только
цитированные издания. При недатированных ссылках используется последнее издание ссылочного
документа (включая все изменения).
CIE 202:2011, Измерения спектральной чувствительности детекторов, радиометров и фотометров
CIE S 017/E:2011 ILV: Международный словарь по освещению
ISO 11664-2:2007/CIE S 014-2:2006, Колориметрия. Часть 2. Осветители по стандарту CIE
ISO 23539:2005/CIE S 010:2004, Фотометрия. Система физической фотометрии CIE
CIE 198:2011, Определение погрешностей измерения в фотометрии
CIE 114/4-1994 CIE Сборник по фотометрии и колориметрии. Температура распределения и
температура отношения
IEC 60051:1997, Приборы аналоговые, электроизмерительные, показывающие, прямого действия и
части к ним. Часть 1. Определения и основные требования, общие для всех частей
1)
ISO/IEC Guide 98-3:2008 , Неопределенность измерений. Часть 3. Руководство по выражению
неопределенности измерений (GUM:1995)
2)
ISO/IEC Guide 99-3:2007 , Международный словарь по метрологии. Основные и общие понятия и
соответствующие термины (VIM.)
1)
Также ссылка JCGM 100:2008, на странице BIMP.
2)
Также ссылка JCGM 200:2008, на странице BIMP.
© ISO/CIE 2014 – Все права сохраняются 1
3 Определения
Для целей настоящего документа применяются термины и определения стандарта CIE S 017/E 2011
(международный словарь по освещению) и указанные ниже.
3.1 Общие определения
3.1.1 точность измерения
3.1.1 measurement accuracy
близость согласования между измеренным значением величины и истинным значением измеряемой
величины
Примечание 1 Понятие точности измерения не является величиной и не определяется числовым значением
величины. Измерение считается более точным когда имеет меньшую ошибку измерения.
Примечание 2: Термин “точность измерения” не должен использоваться в качестве показателя истинности
измерения и термин ‘сходимость измерения‘ не должен использоваться вместо термина
‘погрешность измерения’, который, однако, связан с обоими этими понятиями.
Примечание 3: Точность измерения’ иногда понимается как степень близости согласования между
измеренными значениями величин, которые относятся к измеряемой величине.
[Источник: ISO/IEC Guide 99:2007 (VIM), 2.13]
3.1.2
ошибка измерения
measurement error
измеренное значение величины минус принимаемое за исходное значение величины
Примечание 1: Концепция ‘ошибки измерения’ может быть использована в следующих случаях
a) когда существует единое номинальное значение величины для ссылки, которое возникает
если калибровка выполнена с использованием измерительного эталона, имеющего
измеренное количественное значение с пренебрежимо малой погрешностью измерения,
или если предоставлено условная стандартная величина, в случае чего известна ошибка
измерения, и
b) если измеряемая величина согласно предположению должна быть представлена единым
истинным значением величины, или набором истинных значений величин в пренебрежимом
диапазоне, в случае чего ошибка измерения не известна.
Примечание 2: Ошибку измерения не следует путать с погрешностью или ошибкой производства.
[Источник: ISO/IEC Guide 99:2007 (VIM), 2.16]
3.1.3
калибровка
calibration
операция, которая при специальных условиях, на первом этапе, устанавливает взаимосвязь между
значениями величины с погрешностями измерения, установленными стандартами измерений, и
соответствующими индикациями с ассоциированными погрешностями измерения, и на втором этапе,
использует эту информацию для определения взаимосвязи, позволяющей получить результаты
измерения по показаниям
Примечание 1: Калибровка может быть выражена в виде заявления, калибровочной функции, калибровочной
диаграммы, калибровочной кривой, калибровочной таблицы. В некоторых случаях она может
заключаться в виде аддитивной или мультипликативной коррекции показания с
ассоциированной погрешностью измерения.
Примечание 2: Калибровку нельзя ошибочно путать с настройкой измерительной системы, часто ошибочно
называемой “самокалибровкой”, или с поверкой калибровки.
Примечание 3: Часто только первый этап приведённого выше определения рассматривается как калибровка.
[Источник: ISO/IEC Guide 99:2007 (VIM), 2.39]
2 © ISO/CIE 2014 – Все права сохраняются
3.1.4
настройка измерительной системы
adjustment of a measuring system
набор операций, выполняемых в измерительной системе таким образом, чтобы обеспечить
предусматриваемые показания, соответствующие определённым значениям величин, подлежащих
измерениям
Примечание 1: Типы настройки измерительной системы включают коррекцию нуля измерительной системы,
корректировку смещения, регулировку диапазона (иногда называемую настройкой диапазона).
Примечание 2: Настройку измерительной системы не следует путать с калибровкой, которая является
предварительным условием настройки.
Примечание 3: После настройки измерительной системы она обычно должна быть повторно прокалибрована.
[Источник: ISO/IEC Guide 99:2007 (VIM), 3.11]
3.1.5
(метрологическая) прослеживаемость
(metrological) traceability
характеристика результата измерения, благодаря которой результат может быть связан с эталоном
через документально установленную неразрывную цепь калибровок, каждая из которых вносит вклад в
погрешность измерения
Примечание 1: Для этого определения, ‘эталон’ может быть определением единицы измерения, через его
практическую реализацию, или процедуру измерения, включающую измерительную единицу
для непорядковых величин, или измерительный стандарт.
Примечание 2: Метрологическая прослеживаемость требует установленной иерархии калибровки.
Примечание 3: Спецификация эталона должна включать время, при котором данный эталон был использован
для установления иерархии калибровки, совместно с любой другой существенной
метрологической информацией относительно эталона, такой, как указание времени, когда была
выполнена первая калибровка иерархии калибровки.
Примечание 4: В случае измерений с более чем одной входной величиной в модели изменения, каждое из
значений входных величин должно быть само метрологически прослеживаемым и
используемая иерархия калибровки может образовывать ветвистую структуру или сеть. Усилие,
применяемое для установления метрологической прослеживаемости для значения каждой
входной количественной величины, должно соответствовать её относительному вкладу в
результат измерения.
Примечание 5: Метрологическая прослеживаемость результата измерения не гарантирует, что погрешность
измерения адекватна заданной цели или отсутствие ошибок.
Примечание 6: Сравнение между двумя стандартами измерений можно рассматривать как калибровку, если
сравнение используется для проверки и, если необходимо, корректировки количественных
величин и погрешностей измерений, присвоенных одному из измерительных стандартов.
Примечание 7: ILAC учитывает элементы, используемые для подтверждения, что метрологическая
прослеживаемость соответствует ненарушенной цепочке до международного стандарта
измерения или национального стандарта измерения, документально подтверждённой
погрешности измерения, подтверждённой технической компетентности, метрологической
прослеживаемости до SI, и интервалам калибровки (см. ILAC P-10:2002).
Примечание 8: Сокращённый термин “прослеживаемость” иногда используется со значением ‘метрологическая
прослеживаемость’ а также в других концепциях, например ‘прослеживаемость на выборке’ или
‘документальная прослеживаемость’ или ‘инструментальная прослеживаемость’ или
‘прослеживаемость материала’, где имеется в виду история (“след”) объекта. В связи с эти
предпочтительно использовать полный термин “метрологическая прослеживаемость” для
исключения рисков неправильного понимания.
[Источник: ISO/IEC Guide 99:2007 (VIM), 2.41]
© ISO/CIE 2014 – Все права сохраняются 3
3.1.6
фотометр
photometer
прибор для измерения фотометрических величин
[Источник: CIE S 017/E:2011, 17-909]
Примечание 1: Фотометр состоит из фотометрической головки, преобразователя сигнала, выходного
устройства и источника питания. Различные части могут быть встроены в один прибор или
разделены на отдельные блоки. В данном стандарте термин фотометр относится к
измерителям освещённости и яркости, имеющим один детектор для измерения спектрально
интегрированного света.
3.1.7
плоскость начала отсчёта (фотометра или источника света)
reference plane (of a photometer or light source)
плоскость, относящаяся к фотометру или источнику света для целей измерения расстояния между ними
Примечание 1: В случае фотометра это плоскость, перпендикулярная оптической оси головки фотометра на
которой выполнена калибровка фотометра или головки фотометра. Плоскость начала отсчёта
фотометра должна идеально совпадать с эффективной плоскостью отсчёта.
3.1.8
эффективная плоскость начала отсчёта (фотометра)
effective reference plane (of a photometer)
плоскость, перпендикулярная оптической оси головки фотометра, на которой выполняется закон
обратных квадратов для освещённости от точки источника при измерении, и расстояние от источника
измеряется от этой плоскости
Примечание 1: Эффективная плоскость начала отсчёта может варьироваться в зависимости от длины волны.
В этом случае должен быть установлен совместно с эффективной плоскостью начала отсчёта
тип светового источника (например, Стандартный осветитель А CIE A).
3.1.9
предельное фотометрическое расстояние
limiting photometric distance
наиболее короткое расстояние между плоскостью начала отсчёта светового источника и эффективной
плоскостью начала отсчёта фотометра, при данной приемлемой ошибке, учитывающей
фотометрический закон обратных квадратов
Примечание 1: Предельное фотометрическое расстояние определяется в основном по геометрическим
характеристикам фотометра и источника
3.1.10
апертура приёма
acceptance aperture
площадь приёма фотометрической головки измерителя освещённости или поля измерения измерителя
яркости
Примечание 1: Обычно апертура приёма соответствует эффективной плоскости отсчёта фотометра
3.2 Показатели качества
Набор показателей качества используется для описания характеристик фотометров. Показатели
качества представляют собой физические величины, характеризующие выбранные характеристики
фотометра. Они представляют собой нормализованные величины сигналов, которые не дают прямого
описания ошибок и, таким образом, не могут быть использованы для корректировки. Наименование
каждого показателя было выбрано на основании физических эффектов, влияющих на его значение, в
целях облегчения запоминания и понимания его значения
Коэффициент качества обозначается символом "ƒ " где индекс "x" указывает рассматриваемую
x
характеристику. Значения коэффициентов следующие:
оцениваемые по формуле, установленной для каждой характеристики, по данным, полученным
при специальных условиях измерений;
4 © ISO/CIE 2014 – Все права сохраняются
установленные в виде процента, с соответствующими погрешностями; и
принимаемые равными точно нулю.
Показатели качества таких фотометров, рассматриваемые отдельно, не позволяют дать оценку
погрешности измерений для специальных задач измерения. Тем не менее, обычно правильно, что
инструменты, имеющие меньшие значения f , в большинстве случаев имеют меньшие величины
x
погрешности измерения по сравнению с имеющими бóльшие значения этих показателей.
3.2.1
коэффициент начальной настройки
initial adjustment index
f
adj
коэффициент, описывающий абсолютное относительное отклонение показания фотометра от
соответствующего эталонного значения
3.2.2
общий коэффициент отклонения V()
general V() mismatch index
ƒ´
коэффициент, описывающий отклонение относительной спектральной чувствительности фотометра от
функции V()
3.2.3
UV коэффициент чувствительности
UV response index
ƒ
uv
коэффициент, описывающий чувствительность фотометра в области ультрафиолетовой (UV)
радиации
3.2.4
IR коэффициент чувствительности
IR response index
ƒ
IR
коэффициент, описывающий чувствительность фотометра в области инфракрасной (IR) радиации
3.2.5 (только измеритель освещённости)
коэффициент чувствительности по направлению для освещённости
directional response index for illuminance
ƒ
коэффициент, описывающий чувствительность фотометра к свету, падающему под другим, чем
прямой, углом (закон косинуса для измерителей освещённости общего назначения)
3.2.6 (только для измерителей освещённости)
коэффициент чувствительности по направлению для сферической освещённости
directional response index for spherical illuminance
ƒ
2,0
коэффициент, описывающий чувствительность фотометра к свету, падающему под другим, чем
нормальный, углом
3.2.7 (только для измерителей освещённости)
коэффициент чувствительности по направлению для цилиндрической освещённости
directional response index for cylindrical illuminance
1)
ƒ
2,c
коэффициент, описывающий чувствительность фотометра к свету, падающему под другим, чем
нормальный, углом
1)
Ранее использованный символ — ƒ
2,z
© ISO/CIE 2014 – Все права сохраняются 5
3.2.8 (только для измерителей освещённости)
коэффициент чувствительности по направлению для полуцилиндрической освещённости
directional response index for semi-cylindrical illuminance
ƒ
2,sc
коэффициент, описывающий чувствительность фотометра к свету, падающему под другим, чем
нормальный, углом
3.2.9 (только для измерителей освещённости)
коэффициент чувствительности по направлению для полусферической освещённости
directional response index for semi-spherical illuminance
ƒ
2,2π
коэффициент, описывающий чувствительность фотометра к свету, падающему под другим, чем
нормальный, углом
3.2.10 (только для измерителей яркости)
коэффициент чувствительности по направлению для яркости
directional response index for luminance
ƒ
2,g
коэффициент, описывающий чувствительность фотометра к свету, падающему под другим, чем
нормальный, углом
3.2.11 (только для измерителей яркости)
коэффициент симметрии по направлению
directional symmetry index
ƒ
2,s
коэффициент, описывающий влияние угла падения света в поле измерения измерителя яркости
3.2.12 (только для измерителей яркости)
коэффициент влияния окружающего поля
surrounding field effect index
ƒ
2,u
коэффициент, описывающий влияние окружающей яркости вне поля измерения измерителя яркости
3.2.13
коэффициент линейности
linearity index
ƒ
коэффициент, описывающий отклонение отклика фотометра в зависимости от освещённости или
яркости различных уровней
3.2.14
коэффициент блока дисплея
display-unit index
ƒ
коэффициент, описывающий влияние аналогового или цифрового дисплея фотометров
3.2.15
коэффициент усталости
fatigue index
ƒ
коэффициент, описывающий стабильность чувствительности фотометра при постоянном освещении в
течение длительных периодов времени
3.2.16
коэффициент, описывающий влияние температуры
temperature dependence index
ƒ
6,T
коэффициент, описывающий влияние окружающей температуры на чувствительность, если
окружающая температура фотометра отличается от её величины во время калибровки
6 © ISO/CIE 2014 – Все права сохраняются
3.2.17
коэффициент влияния влажности
humidity test index
ƒ
6,H
коэффициент, описывающий стабильность фотометра при различной влажности
3.2.18
коэффициент влияния модуляции света
modulated light index
ƒ
коэффициент, описывающий влияние модуляции света на различных частотах, по сравнению с
откликом при постоянных условиях освещения
3.2.19
коэффициент влияния поляризации света
polarization response index
ƒ
коэффициент, описывающий влияние поляризации света на чувствительность фотометра
3.2.20
коэффициент влияния пространственного распределения
spatial response index
ƒ
коэффициент, описывающий влияние неоднородности освещения фотометра в пределах апертуры
воздействия
3.2.21
коэффициент влияния диапазона
range change index
ƒ
коэффициент, описывающий влияние установок диапазонов дисплеев или усилителей
3.2.22 (только измерители яркости)
коэффициент влияния расстояния фокусировки
focusing distance index
ƒ
коэффициент, описывающий влияние отклонений расстояния испытаний от фокусного расстояния
измерителей яркости
4 Калибровка
4.1 Условия
Фотометры должны быть прокалиброваны с помощью источников или детекторов, сертифицированных
в качестве эталонных стандартов, и калибровка которых является прослеживаемой до Международной
системы единиц (SI). Прослеживаемость означает существование неразрывной цепочки калибровок
или сравнений, связывающих их с соответствующими первичными стандартами единиц SI измерения,
соответствующими опубликованным в СМС перечням BIPM и выполняемыми лабораториями с
аккредитованной компетенцией.
Фотометры должны быть калиброваны при окружающей температуре 25 °C неполяризованным светом
от лампы накаливания с коррелированной цветовой температурой 2 856 K (CIE Источник A). Перед
началом калибровки фотометр должен быть выдержан в течение не менее часа при окружающей
температуре для тепловой стабилизации. Входное окно фотометра должно быть равномерно
освещено и заполнено.
Фотометры должны регулярно подвергаться повторной калибровке:
© ISO/CIE 2014 – Все права сохраняются 7
через интервалы, рекомендованные изготовителем; или
через каждые 2 года; или
если возникнут подозрения, что характеристики прибора изменились.
ПРИМЕЧАНИЕ Практически коррелированная цветовая температура и температура распределения
эквивалентны, когда установлена лампа типа Источника А CIE.
4.2 Измерители освещённости
4.2.1 Общие положения
Измерители освещённости должны быть калиброваны с помощью света, падающего по нормали к
эффективной контрольной плоскости, при расположении светового источника на расстоянии,
превышающем предельное фотометрическое расстояние.
Если измеритель освещённости калибруется по эталонному фотометру, эффективная контрольная
плоскость измерителя освещённости должна быть расположена при таком же расположении и
ориентации, какие были у эффективной контрольной плоскости эталонного фотометра. Если
измеритель освещённости калибруется с использованием стандартной лампы, расстояние калибровки
определяется расстоянием от контрольной плоскости стандартной лампы до эффективной
контрольной плоскости измерителя освещённости.
4.2.2 (Плоскостная) освещённость
E = E (1)
x
где
E — освещённость эффективной контрольной плоскости.
X
Расположение эффективной контрольной плоскости по отношению передней стороне фотометра
должно быть декларировано изготовителем. В случае измерителей освещённости с плоскими
диффузорами эффективная контрольная плоскость обычно располагается на передней плоскости
диффузора.
1)
Сферическая освещённость E
4.2.3 0
E = E (2)
0 x
где
E — освещённость эффективной контрольной плоскости.
X
Эффективная контрольная плоскость располагается внутри сферического адаптера, на расстоянии
γ = 0,146 диаметра, d, сферического адаптера от зенита сферы.
ПРИМЕЧАНИЕ Коэффициент γ определяется таким образом, чтобы площадь, вырезанная из эффективной
контрольной плоскости, была равна точно половине площади проекции входного окна
найдено по геометрическому соотношению:
фотометра. Это решение
.
1)
Определение ”сферическая освещённость “ см. в CIE S 017/E:2011, 17-1244 и 17-1245 соответственно
8 © ISO/CIE 2014 – Все права сохраняются
2) 3)
4.2.4 Цилиндрическая освещённость E
c
где
E — освещённость на эффективной контрольной плоскости.
x
Эффективная контрольная плоскость располагается внутри цилиндрического адаптера, параллельно
входному окну фотометра, на расстоянии γ = 0,067 диаметра, d, цилиндрического адаптера, от
c
боковой площади (см. Рисунок 1).
ПРИМЕЧАНИЕ Коэффициент γ определяется таким образом, чтобы площадь, выбранная на эффективной
c
контрольной плоскости, была равна точно половине площади проекции входного окна
фотометра. Такое решение определяется по геометрическим соотношениям:
.
4)
4.2.5 Полуцилиндрическая освещённость E
sc
где
E — освещённость на эффективной контрольной плоскости.
x
Эффективная контрольная плоскость располагается внутри полуцилиндрического адаптера,
параллельно входному окну фотометра, на расстоянии γ = 0,067 от диаметра, d, полуцилиндрического
c
адаптера, от боковой площади (см. Рисунок 1).
ПРИМЕЧАНИЕ Коэффициент γ определяется таким образом, чтобы площадь, выбранная на эффективной
c
контрольной плоскости, была равна точно половине площади проекции входного окна
определяется по геометрическим соотношениям:
фотометра. Такое решение
.
Рисунок 1 — Эффективная контрольная плоскость для измерителя
(полу-)цилиндрической освещённости
2)
Ранее использованный символ — E
x
3)
Определение ”цилиндрическая освещённость“ — см. в CIE S 017/E:2011, 17-273 и 17-274 соответственно.
4)
Определение ”полуцилиндрическая освещённость“ — см. в CIE S 017/E:2011, 17-1160. ISO/CIE 19476:2014(E)
© ISO/CIE 2014 – Все права сохраняются 9
4.2.6 Полусферическая освещённость E
π
где
E — освещённость на эффективной контрольной плоскости.
x
Эффективная контрольная плоскость располагается внутри полусферического адаптера, параллельно
входному окну фотометра, на расстоянии γ = 0,146 от диаметра, d, полусферического адап
...
Frequently Asked Questions
ISO/CIE 19476:2014 is a standard published by the International Organization for Standardization (ISO). Its full title is "Characterization of the performance of illuminance meters and luminance meters". This standard covers: ISO/CIE 19476:2014 is applicable to illuminance and luminance meters. It defines quality indices characterizing the performance of such devices in a general lighting measurement situation, as well as measurement procedures for the individual indices and standard calibration conditions. Measurements of illuminance or luminance and their accuracy are influenced by various parameters, such as operational conditions, properties of light sources, as well as characteristics of the applied photometers. The characteristics of these photometers alone do not allow the determination of the measurement uncertainty for a specific measurement task. Nevertheless, it is generally true that instruments with "better" characteristics in most cases produce smaller uncertainties than instruments with "worse" properties.
ISO/CIE 19476:2014 is applicable to illuminance and luminance meters. It defines quality indices characterizing the performance of such devices in a general lighting measurement situation, as well as measurement procedures for the individual indices and standard calibration conditions. Measurements of illuminance or luminance and their accuracy are influenced by various parameters, such as operational conditions, properties of light sources, as well as characteristics of the applied photometers. The characteristics of these photometers alone do not allow the determination of the measurement uncertainty for a specific measurement task. Nevertheless, it is generally true that instruments with "better" characteristics in most cases produce smaller uncertainties than instruments with "worse" properties.
ISO/CIE 19476:2014 is classified under the following ICS (International Classification for Standards) categories: 17.180.20 - Colours and measurement of light. The ICS classification helps identify the subject area and facilitates finding related standards.
ISO/CIE 19476:2014 has the following relationships with other standards: It is inter standard links to ISO 9017:2017. Understanding these relationships helps ensure you are using the most current and applicable version of the standard.
You can purchase ISO/CIE 19476:2014 directly from iTeh Standards. The document is available in PDF format and is delivered instantly after payment. Add the standard to your cart and complete the secure checkout process. iTeh Standards is an authorized distributor of ISO standards.
Questions, Comments and Discussion
Ask us and Technical Secretary will try to provide an answer. You can facilitate discussion about the standard in here.
Loading comments...