ISO 3882:2024
(Main)Metallic and other inorganic coatings — Review of methods of measurement of thickness
Metallic and other inorganic coatings — Review of methods of measurement of thickness
This document reviews methods for measuring the thickness of metallic and other inorganic coatings on both metallic and non-metallic substrates (see Tables 1, A.1 and A.2). It is limited to tests already specified, or to be specified, in International Standards and excludes certain tests that are used for special applications.
Revêtements métalliques et autres revêtements inorganiques — Revue des méthodes de mesurage de l’épaisseur
Le présent document donne une vue d’ensemble des méthodes de mesurage de l’épaisseur de revêtements métalliques et autres revêtements inorganiques déposés sur des substrats métalliques ou non métalliques (voir Tableaux 1, A.1 et A.2). Il se limite aux essais déjà spécifiés, ou qui devront être spécifiés, dans des Normes internationales, et il exclut certains essais utilisés à des fins spéciales.
General Information
Relations
Standards Content (Sample)
International
Standard
ISO 3882
Fourth edition
Metallic and other inorganic
2024-01
coatings — Review of methods of
measurement of thickness
Revêtements métalliques et autres revêtements inorganiques —
Revue des méthodes de mesurage de l’épaisseur
Reference number
© ISO 2024
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Email: copyright@iso.org
Website: www.iso.org
Published in Switzerland
ii
Contents Page
Foreword .iv
Introduction .v
1 Scope . 1
2 Normative references . 1
3 Terms and definitions . 1
4 Overview . 1
5 Non-destructive methods . 2
5.1 Split beam microscope (light section) method, ISO 2128 .2
5.2 Magnetic methods, ISO 2178 and ISO 2361 .2
5.3 Eddy current methods, ISO 2360 and ISO 21968 .2
5.4 X-ray spectrometric method, ISO 3497 .3
5.5 Beta backscatter method, ISO 3543 . .3
6 Destructive methods . 4
6.1 Microscopical (optical) method, ISO 1463 .4
6.2 Fizeau multiple-beam interferometry method, ISO 3868 .4
6.3 Profilometric method, ISO 4518 .4
6.4 Scanning electron microscope method, ISO 9220 .4
6.5 Dissolution methods .4
6.5.1 Coulometric method, ISO 2177 .4
6.5.2 Gravimetric (strip and weigh) method, ISO 10111 .5
6.5.3 Gravimetric (analytical) method, ISO 10111 .5
Annex A (informative) Typical measuring application and range. 6
Bibliography . 9
iii
Foreword
ISO (the International Organization for Standardization) is a worldwide federation of national standards
bodies (ISO member bodies). The work of preparing International Standards is normally carried out through
ISO technical committees. Each member body interested in a subject for which a technical committee
has been established has the right to be represented on that committee. International organizations,
governmental and non-governmental, in liaison with ISO, also take part in the work. ISO collaborates closely
with the International Electrotechnical Commission (IEC) on all matters of electrotechnical standardization.
The procedures used to develop this document and those intended for its further maintenance are described
in the ISO/IEC Directives, Part 1. In particular, the different approval criteria needed for the different types
of ISO document should be noted. This document was drafted in accordance with the editorial rules of the
ISO/IEC Directives, Part 2 (see www.iso.org/directives).
ISO draws attention to the possibility that the implementation of this document may involve the use of (a)
patent(s). ISO takes no position concerning the evidence, validity or applicability of any claimed patent
rights in respect thereof. As of the date of publication of this document, ISO had not received notice of (a)
patent(s) which may be required to implement this document. However, implementers are cautioned that
this may not represent the latest information, which may be obtained from the patent database available at
www.iso.org/patents. ISO shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights.
Any trade name used in this document is information given for the convenience of users and does not
constitute an endorsement.
For an explanation of the voluntary nature of standards, the meaning of ISO specific terms and expressions
related to conformity assessment, as well as information about ISO's adherence to the World Trade
Organization (WTO) principles in the Technical Barriers to Trade (TBT), see www.iso.org/iso/foreword.html.
This document was prepared by Technical Committee ISO/TC 107, Metallic and other inorganic coatings, in
collaboration with the European Committee for Standardization (CEN) Technical Committee CEN/TC 262,
Metallic and other inorganic coatings, including for corrosion protection and corrosion testing of metals and
alloys, in accordance with the Agreement on technical cooperation between ISO and CEN (Vienna Agreement).
This fourth edition cancels and replaces the third edition (ISO 3882:2003), which has been technically
revised.
The main changes are as follows:
— editorial revisions;
— restructuring of the document;
— former Tables 2 and 3 moved to Annex A;
— new subclause 6.5.1.2 for the STEP method;
— review of measurement uncertainties;
— phase-sensitive eddy current, as described in ISO 21968, added to measurement methods and Tables A.1
and A.2.
Any feedback or questions on this document should be directed to the user’s national standards body. A
complete listing of these bodies can be found at www.iso.org/members.html.
iv
Introduction
This document summarizes the various methods used for the measurement of coating thickness and
describes their working principles. Methods of measuring coating thickness are either destructive or non-
destructive (see Table 1). The information given in Annex A, Table A.1 will assist in the choice of typical
instrumental methods suitable for thickness measurements. For all instrumental methods, manufacturers’
instructions contain useful information on the correct handling of the instruments.
The thickness ranges covered by the different methods depend on the coating materials, thickness of the
coating, substrates and instruments used (see Annex A, Table A.2); for example, although X-ray spectrometry
can be used to measure the thickness of a chromium coating, thicknesses of 20 µm or more cannot be
measured with sufficient precision. Similarly, while magnetic methods can be used to measure the thickness
of a gold coating over a magnetic steel substrate, many magnetic instruments do not have the sensitivity to
measure accurately thicknesses of gold coatings less than 2 µm.
Where a referee method is required, the appropriate coating specification can contain useful information on
the preferred method.
v
International Standard ISO 3882:2024(en)
Metallic and other inorganic coatings — Review of methods of
measurement of thickness
1 Scope
This document reviews methods for measuring the thickness of metallic and other inorganic coatings on
both metallic and non-metallic substrates (see Tables 1, A.1 and A.2). It is limited to tests already specified,
or to be specified, in International Standards and excludes certain tests that are used for special applications.
2 Normative references
The following documents are referred to in the text in such a way that some or all of their content constitutes
requirements of this document. For dated references, only the edition cited applies. For undated references,
the latest edition of the referenced document (including any amendments) applies.
ISO 2064, Metallic and other inorganic coatings — Definitions and conventions concerning the measurement of
thickness
3 Terms and definitions
For the purposes of this document, the terms and definitions given in ISO 2064 apply.
ISO and IEC maintain terminology databases for use in standardization at the following addresses:
— ISO Online browsing platform: available at https:// www .iso .org/ obp
— IEC Electropedia: available at https:// www .electropedia .org/
4 Overview
Table 1 summarizes the methods of measuring coating thickness that are discussed in this document.
Table 1 — Methods of measuring coating thickness
Non-destructive Destructive
a
Split beam microscope (light section) ISO 2128 Microscopical (optical) ISO 1463
b
Magnetic ISO 2178 and Fizeau multiple-beam interferometry ISO 3868
ISO 2361
b
Eddy current — amplitude-sensitive ISO 2360 Profilometric (stylus and optical) ISO 4518
— phase-sensitive ISO 21968
X-ray spectrometric ISO 3497 Scanning electron microscope ISO 9220
Beta backscatter ISO 3543 Dissolution methods:
Gravimetric strip and weigh method and ISO 10111
gravimetric analytical method
Coulometric method ISO 2177
STEP method ISO 16866
a
Can be destructive in some applications.
b
Can be non-destructive in some applications.
5 Non-destructive methods
5.1 Split beam microscope (light section) method, ISO 2128
This equipment, originally designed for the measurement of surface roughness, is used for measuring the
thickness of transparent and translucent coatings, in particular anodic oxide coatings on aluminium. A light
beam is projected on to the surface at an angle of 45°. Part of the beam is reflected from the surface of
the coating and the rest penetrates the coating and is reflected from the coating–metal substrate interface.
The distance that separates the two images observed in the eyepiece of the microscope is proportional to
the thickness of the coating and can be measured by means of a Vernier screw that controls a calibrated
graticule. The method can be used where sufficient light is reflected from the coating–metal substrate
interface to give a clear image in the microscope. For transparent or translucent coatings, such as anodic
oxide films, this method is non-destructive.
For measuring the thickness of opaque coatings, a small area of the coating is removed; in this application,
the method is destructive. The step between the surface of the coating and the basis metal produces a
deflection of the light beam that gives an absolute measure of the coating thickness.
The method is not suitable for hard anodic coatings or for coatings that are very thin (less than 2 µm thick),
very thick (greater than 100 µm thick) or rough. It is not suitable for coatings on heavily shot-blasted
surfaces. Other methods, such as eddy current (see ISO 2360), interference microscope (see ISO 3868) and
microscopical (see ISO 1463), can be applicable for thickness measurement where the split beam microscope
method cannot be used.
The method is best suited to small parts because of the ease with which they can be set up on the microscope
stage.
The measurement uncertainty of the method is usually less than 10 % of the thickness.
5.2 Magnetic methods, ISO 2178 and ISO 2361
Instruments for these methods measure either the magnetic attraction between a magnet and the basis
metal, as influenced by the presence of the coating (see ISO 2361), or the reluctance of a magnetic flux path
passing through the coating and the basis metal (see ISO 2178).
All instruments using magnetic methods are sensitive to the magnetic condition and properties of the test
specimen, surface curvature, surface cleanliness, surface roughness and thickness of the basis metal and of
the coating. Additionally, different materials can look the same but have different permeability, μ . Usually,
r
this effect is determined by calibration at the test specimen.
These methods are limited in practice to non-magnetic coatings on a magnetic substrate (see ISO 2178) and
to electroplated nickel coatings on a magnetic or non-magnetic substrate (see ISO 2361).
The measurement uncertainty of the method is less than 10 % of the thickness or 1,5 µm, whichever is the
greater.
5.3 Eddy current methods, ISO 2360 and ISO 21968
ISO 2360 describes an amplitude-sensitive method and is based on differences in electrical conductivity
between coatings and substrates. The method is used primarily for measuring the thickness of non-
conductive coatings on non-magnetic metals and of single layer metal coatings on non-conductors. If this
method is used for measuring thicknesses of metallic coatings on metallic substrates, great care is necessary
if acceptable results are to be obtained. In the latter case, the phase-sensitive method as described in
ISO 21968 is more suitable. The phase-sensitive eddy current method is also more suitable for metallic
coatings on non-conductive base materials than the amplitude-sensitive method. Furthermore, within
certain limits it can deal with non-magnetic metallic coatings on magnetic base materials and with magnetic
coatings on non-conductive or conductive base materials.
The method is ideal for rapid determination of anodic coating thickness measurements on aluminium and
its alloys and is well suited for use in field measurements. For autocatalytic nickel coatings, this method
gives erratic measurements due to variations in conductivity of the coatings with changes in phosphorous
content.
The measurement uncertainty of the method is usually less than 10 % of the thickness or 0,5 µm, whichever
is the greater.
5.4 X-ray spectrometric method, ISO 3497
This method uses emission and absorption X-ray spectrometry for determining the mass per unit area of
metallic coatings, which, provided that the test specimen is of uniform density, is directly proportional to
the thickness. In principle, the method can also determine the composition of an alloy coating. Within its
...
Norme
internationale
ISO 3882
Quatrième édition
Revêtements métalliques et autres
2024-01
revêtements inorganiques — Revue
des méthodes de mesurage de
l’épaisseur
Metallic and other inorganic coatings — Review of methods of
measurement of thickness
Numéro de référence
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Tous droits réservés. Sauf prescription différente ou nécessité dans le contexte de sa mise en œuvre, aucune partie de cette
publication ne peut être reproduite ni utilisée sous quelque forme que ce soit et par aucun procédé, électronique ou mécanique,
y compris la photocopie, ou la diffusion sur l’internet ou sur un intranet, sans autorisation écrite préalable. Une autorisation peut
être demandée à l’ISO à l’adresse ci-après ou au comité membre de l’ISO dans le pays du demandeur.
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CH-1214 Vernier, Genève
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Web: www.iso.org
Publié en Suisse
ii
Sommaire Page
Avant-propos .iv
Introduction .v
1 Domaine d’application . 1
2 Références normatives . 1
3 Termes et définitions . 1
4 Vue d’ensemble . 1
5 Méthodes non destructives . 2
5.1 Méthode par microscope à coupe optique, ISO 2128.2
5.2 Méthodes magnétiques, ISO 2178 et ISO 2361 .3
5.3 Méthode par courants de Foucault, ISO 2360 et ISO 21968 .3
5.4 Méthode par spectrométrie de rayons X, ISO 3497 .3
5.5 Méthode par rétrodiffusion des rayons bêta, ISO 3543 .4
6 Méthodes destructives . 4
6.1 Méthode par coupe micrographique (optique), ISO 1463 .4
6.2 Méthode basée sur le principe de Fizeau d’interférométrie à faisceaux multiples,
ISO 3868 .4
6.3 Méthode profilométrique (par palpeur), ISO 4518 .5
6.4 Méthode au microscope électronique à balayage, ISO 9220 .5
6.5 Méthodes par mise en solution .5
6.5.1 Méthode coulométrique, ISO 2177 .5
6.5.2 Méthode gravimétrique (attaque chimique et pesée), ISO 10111 .6
6.5.3 Méthode gravimétrique (analytique), ISO 10111 .6
Annexe A (informative) Application et gamme de mesurage courantes . 7
Bibliographie . 10
iii
Avant-propos
L’ISO (Organisation internationale de normalisation) est une fédération mondiale d’organismes nationaux
de normalisation (comités membres de l’ISO). L’élaboration des Normes internationales est en général
confiée aux comités techniques de l’ISO. Chaque comité membre intéressé par une étude a le droit de faire
partie du comité technique créé à cet effet. Les organisations internationales, gouvernementales et non
gouvernementales, en liaison avec l’ISO participent également aux travaux. L’ISO collabore étroitement avec
la Commission électrotechnique internationale (IEC) en ce qui concerne la normalisation électrotechnique.
Les procédures utilisées pour élaborer le présent document et celles destinées à sa mise à jour sont
décrites dans les Directives ISO/IEC, Partie 1. Il convient, en particulier de prendre note des différents
critères d’approbation requis pour les différents types de documents ISO. Le présent document
a été rédigé conformément aux règles de rédaction données dans les Directives ISO/IEC, Partie 2
(voir www.iso.org/directives).
L’ISO attire l’attention sur le fait que la mise en application du présent document peut entraîner l’utilisation
d’un ou de plusieurs brevets. L’ISO ne prend pas position quant à la preuve, à la validité et à l’applicabilité de
tout droit de propriété revendiqué à cet égard. À la date de publication du présent document, l’ISO n’avait pas
reçu notification qu’un ou plusieurs brevets pouvaient être nécessaires à sa mise en application. Toutefois,
il y a lieu d’avertir les responsables de la mise en application du présent document que des informations
plus récentes sont susceptibles de figurer dans la base de données de brevets, disponible à l'adresse
www.iso.org/brevets. L’ISO ne saurait être tenue pour responsable de ne pas avoir identifié tout ou partie de
tels droits de propriété.
Les appellations commerciales éventuellement mentionnées dans le présent document sont données pour
information, par souci de commodité, à l’intention des utilisateurs et ne sauraient constituer un engagement.
Pour une explication de la nature volontaire des normes, la signification des termes et expressions
spécifiques de l’ISO liés à l’évaluation de la conformité, ou pour toute information au sujet de l’adhésion de
l’ISO aux principes de l’Organisation mondiale du commerce (OMC) concernant les obstacles techniques au
commerce (OTC), voir le lien suivant: www.iso.org/iso/fr/avant-propos.html.
Le présent document a été élaboré par le comité technique ISO/TC 107, Revêtements métalliques et autres
revêtements inorganiques, en collaboration avec le comité technique CEN/TC 262, Revêtements métalliques
et inorganiques, incluant ceux pour la protection contre la corrosion et les essais de corrosion des métaux et
alliages, du Comité européen de normalisation (CEN) conformément à l’Accord de coopération technique
entre l’ISO et le CEN (Accord de Vienne).
Cette quatrième édition annule et remplace la troisième édition (ISO 3882:2003), qui a fait l’objet d’une
révision technique.
Les principales modifications par rapport à l’édition précédente sont les suivantes:
— révisions d’ordre rédactionnel;
— restructuration du document;
— déplacement en Annexe A des anciens Tableau 2 et Tableau 3;
— nouveau paragraphe 6.5.1.2 sur la méthode STEP;
— revue des incertitudes de mesure;
— ajout de la méthode par courants de Foucault sensible aux variations de phase, comme décrit dans
l’ISO 21968, dans les méthodes de mesurage et dans les Tableaux A.1 et A.2.
Il convient que l’utilisateur adresse tout retour d’information ou toute question concernant le présent
document à l’organisme national de normalisation de son pays. Une liste exhaustive desdits organismes se
trouve à l’adresse www.iso.org/members.html.
iv
Introduction
Le présent document résume les diverses méthodes utilisées pour le mesurage de l’épaisseur des
revêtements et décrit leurs principes de fonctionnement. Les méthodes de mesurage de l’épaisseur des
revêtements sont soit destructives soit non destructives (voir Tableau 1). Les données figurant à l’Annexe A,
Tableau A.1 aideront à choisir la méthode instrumentale propre adaptée au mesurage de l’épaisseur. Pour
toutes les méthodes instrumentales, les indications du constructeur contiennent des informations utiles sur
la manipulation correcte des instruments.
Les gammes d’épaisseurs couvertes par les différentes méthodes dépendent du matériau de revêtement, de
l’épaisseur du revêtement, du substrat et des instruments utilisés (voir Annexe A, Tableau A.2). Par exemple,
bien que la spectrométrie de rayons X puisse être utilisée pour mesurer l’épaisseur d’un revêtement
de chrome, les épaisseurs de 20 µm ou plus ne peuvent pas être mesurées avec une précision suffisante.
De même, alors que les méthodes magnétiques pourraient être utilisées pour mesurer l’épaisseur d’un
revêtement d’or déposé sur un substrat d’acier magnétique, beaucoup d’instruments magnétiques n’ont pas
la sensibilité suffisante pour mesurer avec précision des épaisseurs de revêtements d’or inférieures à 2 µm.
Quand une méthode de référence est exigée, les spécifications propres au revêtement peuvent contenir des
informations utiles sur la méthode préférée.
v
Norme internationale ISO 3882:2024(fr)
Revêtements métalliques et autres revêtements
inorganiques — Revue des méthodes de mesurage de
l’épaisseur
1 Domaine d’application
Le présent document donne une vue d’ensemble des méthodes de mesurage de l’épaisseur de revêtements
métalliques et autres revêtements inorganiques déposés sur des substrats métalliques ou non métalliques
(voir Tableaux 1, A.1 et A.2). Il se limite aux essais déjà spécifiés, ou qui devront être spécifiés, dans des
Normes internationales, et il exclut certains essais utilisés à des fins spéciales.
2 Références normatives
Les documents suivants sont cités dans le texte de sorte qu’ils constituent, pour tout ou partie de leur
contenu, des exigences du présent document. Pour les références datées, seule l’édition citée s’applique. Pour
les références non datées, la dernière édition du document de référence s’applique (y compris les éventuels
amendements).
ISO 2064, Metallic and other inorganic coatings — Definitions and conventions concerning the measurement of
thickness
3 Termes et définitions
Pour les besoins du présent document, les termes et définitions de l’ISO 2064 s’appliquent.
L’ISO et l’IEC tiennent à jour des bases de données terminologiques destinées à être utilisées en normalisation,
consultables aux adresses suivantes:
— ISO Online browsing platform: disponible à l’adresse https:// www .iso .org/ obp
— IEC Electropedia: disponible à l’adresse https:// www .electropedia .org/
4 Vue d’ensemble
Le Tableau 1 résume les méthodes de mesurage de l’épaisseur de revêtement qui sont abordées dans ce
document.
Tableau 1 — Méthodes de mesurage de l’épaisseur de revêtement
Non destructives Destructives
a
Méthode par microscope à coupe optique ISO 2128 Méthode par coupe micrographique ISO 1463
(optique)
b
Méthode magnétique ISO 2178 et Méthode basée sur le principe de Fizeau ISO 3868
d’interférométrie à faisceaux multiples
ISO 2361
b
Méthode par cou- – sensible aux variations ISO 2360 Méthode profilométrique (par palpeur et ISO 4518
rants de Foucault d’amplitude optique)
– sensible aux variations ISO 21968
de phase
Méthodes par spectrométrie de rayons X ISO 3497 Méthode au microscope électronique à ISO 9220
balayage
Méthode par rétrodiffusion des rayons bêta ISO 3543 Méthodes par mise en solution:
Méthode gravimétrique (attaque chimique ISO 10111
et pesée) et méthode gravimétrique analy-
tique
Méthode coulométrique ISO 2177
Méthode STEP ISO 16866
a Peut être destructive dans certains cas d’application.
b Peut être non destructive dans certains cas d’application.
5 Méthodes non destructives
5.1 Méthode par microscope à coupe optique, ISO 2128
L’appareillage, à l’origine conçu pour mesurer la rugosité de surface, est utilizé pour mesurer l’épaisseur de
revêtements transparents et translucides, notamment les couches d’oxydation anodique sur l’aluminium. Un
faisceau lumineux est projeté sur une surface sous un angle de 45°. Une partie de ce faisceau est réfléchie
par la surface du revêtement, pendant que l’autre traverse le revêtement et est réfléchie par l’interface entre
le revêtement et le substrat métallique. La distance qui sépare les deux images observées dans l’oculaire
du microscope est proportionnelle à l’épaisseur du revêtement et peut être mesurée à l’aide d’une vis de
vernier comportant un graticule étalonné. La méthode est utilizable si l’interface entre le revêtement et le
substrat métallique réfléchit suffisamment de lumière pour donner une image claire au microscope. Pour les
revêtements transparents ou translucides, tels que les couches d’oxydation anodique, cette méthode est non
destructive.
Pour mesurer l’épaisseur des revêtements opaques, une petite surface du revêtement est enlevée et, dans ce
cas, la méthode est destructive. La marche entre la surface du revêtement et le métal de base produit une
déflexion du faisceau lumineux représentant la mesure de la valeur absolue de l’épaisseur de revêtement.
La méthode ne convient pas aux revêtements anodiques durs et aux revêtements très fins (moins de 2 µm
d’épaisseur), très épais (plus de 100 µm d’épaisseur) ou rugueux. Elle ne convient pas aux revêtements
qui recouvrent des surfaces fortement grenaillées. D’autres méthodes, telles que la méthode par courants
de Foucault (voir ISO 2360), la méthode par microscope interférométrique (voir ISO 3868) ou la méthode
par coupe micrographique (voir ISO 1463) peuvent s’appliquer pour le mesurage de l’épaisseur lorsque la
méthode par microscope à coupe optique ne peut pas être utilizée.
La méthode convient mieux aux pièces de petite taille étant donné la facilité avec laquelle elles peuvent être
placées sur le porte-objet du microscope.
L’incertitude de mesure de la méthode est en général inférieure à 10 % de l’épaisseur.
5.2 Méthodes magnétiques, ISO 2178 et ISO 2361
Les instruments pour ce type de méthodes mesurent soit l’attraction magnétique, entre un aimant et le métal
de base, influencée par la présence du revêtement (voir ISO 2361), soit la réluctance d’un flux magnétique
traversant le revêtement et le métal de base (voir ISO 2178).
Tous les instruments utilisés par les méthodes magnétiques sont sensibles au magnétisme et aux propriétés
de l’éprouvette, à la courbure, à la propreté, à la rugosité de la surface, à l’épaisseur du métal de base et à celle
du revêtement. De plus, des matériaux différents peuvent sembler similaires, mais ont une perméabilité µ
r
différente. Habituellement, cet effet est déterminé par étalonnage sur l’éprouvette.
En pratique, ces méthodes sont limitées aux revêtements non magnétiques sur substrat magnétique
(voir ISO 2178) et aux revêtements électrolytiques de nickel sur substrat magnétique ou non magnétique
(voir ISO 2361).
L’incertitude de mesure de la méthode est inférieure à 10 % de l’épaisseur ou à 1,5 µm, la plus grande de ces
valeurs étant retenue.
5.3 Méthode par courants de Foucault, ISO 2360 et ISO 21968
L’ISO 2360 donne une méthode sensible aux variations d’amplitude et elle est fondée sur les différences de
conductivité électrique entre le revêtement et le substrat. Elle sert principalement à mesurer l’épaisseur
des revêtements non conducteurs déposés sur des métaux non magnétiques et des revêtements métalliques
monocouches déposés sur des matériaux non conducteurs. Pour obtenir des résultats acceptables, il est
nécessaire d’opérer avec le plus grand soin pour le mesurage de l’épaisseur des revêtements métalliques sur
des substrats métalliques. Dans ce dernier cas, la méthode sensible aux variations de phase telle que décrite
dans l’ISO 21968 est plus appropriée. La méthode par courants de Foucault sensible aux variations de phase
est également plus appropriée pour les revêtements métalliques sur des matériaux de base non conducteurs
que la méthode sensible aux variations d’amplitude. En outre, dans certaines limites, elle peut être utilisée
pour des revêtements métalliques non magnétiques sur des matériaux de base magnétiques et pour des
revêtements magnétiques sur des matériaux de base non conducteurs ou conducteurs.
La méthode est idéale pour une rapide détermination de l’épaisseur des couches anodiques sur l’aluminium
et ses alliages, et elle est bien adaptée à des mesurages sur le terrain. Pour des revêtements de nickel
autocatalytiques, cette méthode donne des mesurages erronés dus aux variations de conductivité des
revêtements en fonction des changements de teneur en phosphore.
L’incertitude de mesure de la méthode est généralement inférieure à 10 % de l’épaisseur ou à 0,5 µm, la plus
grande de ces valeurs étant retenue.
5.4 Méthode par spectrométrie de rayons X, ISO 3497
Cette méthode utilise la spectrométrie d’émission et d’absorption de rayons X pour déterminer la masse
surfacique des revêtements métalliques qui, pourvu que l’éprouvette soit de masse volumique uniforme, est
directement proportionnelle à l’épaisseur. En principe, la méthode peut également déterminer la composit
...
Questions, Comments and Discussion
Ask us and Technical Secretary will try to provide an answer. You can facilitate discussion about the standard in here.
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