SIST ISO 12179:2022
(Main)Geometrical product specifications (GPS) - Surface texture: Profile method - Calibration of contact (stylus) instruments
Geometrical product specifications (GPS) - Surface texture: Profile method - Calibration of contact (stylus) instruments
This document specifies the calibration and adjustment of the metrological characteristics of contact (stylus) instruments for the measurement of surface texture by the profile method as defined in ISO 3274. The calibration and adjustment is intended to be carried out with the aid of measurement standards.
Annex B specifies the calibration and adjustment of metrological characteristics of simplified operator contact (stylus) instruments which do not conform with ISO 3274.
Spécification géométrique des produits (GPS) - État de surface: Méthode du profil - Étalonnage des instruments à contact (palpeur)
Le présent document spécifie l'étalonnage et l’ajustage des caractéristiques métrologiques des instruments à contact (stylet) pour le mesurage de l'état de surface par la méthode du profil comme défini dans l'ISO 3274. L'étalonnage et et l’ajustage s’effectuent à l'aide d'étalons de mesure.
L'Annexe B spécifie l'étalonnage et le réglage des caractéristiques métrologiques des instruments à contact (stylet) à utilisation simplifiée qui ne sont pas conformes à l'ISO 3274.
Specifikacija geometrijskih veličin izdelka - Tekstura površine: Profilna metoda - Umerjanje kontaktnih (s tipalom) instrumentov
Ta dokument določa umerjanje in prilagajanje meroslovnih značilnosti kontaktnih (s tipalom) instrumentov, ki se uporabljajo za merjenje teksture površine s profilno metodo, kot je opredeljeno v standardu ISO 3274. Umerjanje in prilagajanje naj bi se izvedlo s pomočjo standardov merjenja.
Dodatek B določa umerjanje in prilagajanje meroslovnih značilnosti poenostavljenih kontaktnih (s tipalom) instrumentov, ki niso skladni s standardom ISO 3274.
General Information
Relations
Standards Content (Sample)
SLOVENSKI STANDARD
01-april-2022
Specifikacija geometrijskih veličin izdelka - Tekstura površine: Profilna metoda -
Umerjanje kontaktnih (s tipalom) instrumentov
Geometrical product specifications (GPS) - Surface texture: Profile method - Calibration
of contact (stylus) instruments
Spécification géométrique des produits (GPS) - État de surface: Méthode du profil -
Étalonnage des instruments à contact (palpeur)
Ta slovenski standard je istoveten z: ISO 12179:2021
ICS:
17.040.30 Merila Measuring instruments
17.040.40 Specifikacija geometrijskih Geometrical Product
veličin izdelka (GPS) Specification (GPS)
2003-01.Slovenski inštitut za standardizacijo. Razmnoževanje celote ali delov tega standarda ni dovoljeno.
INTERNATIONAL ISO
STANDARD 12179
Second edition
2021-12
Geometrical product specifications
(GPS) — Surface texture: Profile
method — Calibration of contact
(stylus) instruments
Spécification géométrique des produits (GPS) — État de surface:
Méthode du profil — Étalonnage des instruments à contact (palpeur)
Reference number
© ISO 2021
All rights reserved. Unless otherwise specified, or required in the context of its implementation, no part of this publication may
be reproduced or utilized otherwise in any form or by any means, electronic or mechanical, including photocopying, or posting on
the internet or an intranet, without prior written permission. Permission can be requested from either ISO at the address below
or ISO’s member body in the country of the requester.
ISO copyright office
CP 401 • Ch. de Blandonnet 8
CH-1214 Vernier, Geneva
Phone: +41 22 749 01 11
Email: copyright@iso.org
Website: www.iso.org
Published in Switzerland
ii
Contents Page
Foreword .v
Introduction . vi
1 Scope . 1
2 Normative references . 1
3 Terms and definitions . 1
4 Conditions of use .3
4.1 Components and configurations of the contact (stylus) instrument . 3
4.2 Calibration of a configuration . 3
4.3 Place of calibration . 3
4.4 Defects . 3
5 Measurement standards . .3
6 Contact (stylus) instrument metrological characteristics . 6
6.1 General . 6
6.2 Residual profile calibration . 6
6.3 Vertical profile component calibration . 6
6.4 Horizontal profile component calibration . 6
6.5 Profile coordinate system calibration . 6
6.6 Total contact (stylus) instrument calibration . 6
7 Calibration .7
7.1 Preparation for calibration . 7
7.2 E valuation of the residual profile . 7
7.3 Calibration of the vertical profile component . 7
7.3.1 Overall objective . 7
7.3.2 Procedure . 7
7.4 Calibration of the horizontal profile component . . 8
7.4.1 Overall objective . 8
7.4.2 Procedure . 8
7.5 Calibration of the profile coordinate system . 8
7.5.1 Overall objective . 8
7.5.2 Procedure . 8
7.6 Calibration of the total contact (stylus) instrument . 8
7.6.1 Overall objective . 8
7.6.2 Procedure . 9
7.7 Other calibrations . 9
8 Measurement uncertainty .9
8.1 Information from the calibration certificate for a measurement standard . 9
8.2 The uncertainty of the values measured during calibration of a measuring
instrument using a measurement standard. 9
9 Contact (stylus) instrument calibration certificate .10
10 General information .10
Annex A (normative) Calibration of instruments measuring parameters of the motifs
method .11
Annex B (normative) Calibration of simplified operator instruments for the measurements
of surface texture .13
Annex C (informative) Example: roughness measurement standard parameter Ra .14
Annex D (informative) Concept diagram .17
Annex E (informative) Overview of profile and areal standards in the GPS matrix model .18
iii
Annex F (informative) Relation to the GPS matrix model .19
Bibliography .20
iv
Foreword
ISO (the International Organization for Standardization) is a worldwide federation of national standards
bodies (ISO member bodies). The work of preparing International Standards is normally carried out
through ISO technical committees. Each member body interested in a subject for which a technical
committee has been established has the right to be represented on that committee. International
organizations, governmental and non-governmental, in liaison with ISO, also take part in the work.
ISO collaborates closely with the International Electrotechnical Commission (IEC) on all matters of
electrotechnical standardization.
The procedures used to develop this document and those intended for its further maintenance are
described in the ISO/IEC Directives, Part 1. In particular, the different approval criteria needed for the
different types of ISO documents should be noted. This document was drafted in accordance with the
editorial rules of the ISO/IEC Directives, Part 2 (see www.iso.org/directives).
Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this document may be the subject of
patent rights. ISO shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights. Details of
any patent rights identified during the development of the document will be in the Introduction and/or
on the ISO list of patent declarations received (see www.iso.org/patents).
Any trade name used in this document is information given for the convenience of users and does not
constitute an endorsement.
For an explanation of the voluntary nature of standards, the meaning of ISO specific terms and
expressions related to conformity assessment, as well as information about ISO's adherence to
the World Trade Organization (WTO) principles in the Technical Barriers to Trade (TBT), see
www.iso.org/iso/foreword.html.
This document was prepared by Technical Committee ISO/TC 213, Dimensional and geometrical product
specifications and verification, in collaboration with the European Committee for Standardization (CEN)
Technical Committee CEN/TC 290, Dimensional and geometrical product specification and verification, in
accordance with the Agreement on technical cooperation between ISO and CEN (Vienna Agreement).
This second edition cancels and replaces the first edition (ISO 12179:2000), which has been technically
revised. It also incorporates Technical Corrigendum ISO 12179:2000/Cor. 1:2003.
The main changes to the previous edition are as follows:
— Annex C has been amended.
Any feedback or questions on this document should be directed to the user’s national standards body. A
complete listing of these bodies can be found at www.iso.org/members.html.
v
Introduction
This document is a geometrical product specification (GPS) standard and is to be regarded as a general
GPS standard (see ISO 14638). It influences chain link G of the chain of standards on profile surface
texture.
The ISO GPS matrix model is given in ISO 14638, For more detailed information on the relationship of
this document to the GPS matrix model, see Annex F. An overview of standards on profiles and areal
surface texture is given in Annex E.
This document introduces calibration of contact (stylus) instruments as defined in ISO 3274. The
calibration is carried out with the aid of measurement standards.
vi
INTERNATIONAL STANDARD ISO 12179:2021(E)
Geometrical product specifications (GPS) — Surface
texture: Profile method — Calibration of cont
...
INTERNATIONAL ISO
STANDARD 12179
Second edition
2021-12
Geometrical product specifications
(GPS) — Surface texture: Profile
method — Calibration of contact
(stylus) instruments
Spécification géométrique des produits (GPS) — État de surface:
Méthode du profil — Étalonnage des instruments à contact (palpeur)
Reference number
© ISO 2021
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Published in Switzerland
ii
Contents Page
Foreword .v
Introduction . vi
1 Scope . 1
2 Normative references . 1
3 Terms and definitions . 1
4 Conditions of use .3
4.1 Components and configurations of the contact (stylus) instrument . 3
4.2 Calibration of a configuration . 3
4.3 Place of calibration . 3
4.4 Defects . 3
5 Measurement standards . .3
6 Contact (stylus) instrument metrological characteristics . 6
6.1 General . 6
6.2 Residual profile calibration . 6
6.3 Vertical profile component calibration . 6
6.4 Horizontal profile component calibration . 6
6.5 Profile coordinate system calibration . 6
6.6 Total contact (stylus) instrument calibration . 6
7 Calibration .7
7.1 Preparation for calibration . 7
7.2 E valuation of the residual profile . 7
7.3 Calibration of the vertical profile component . 7
7.3.1 Overall objective . 7
7.3.2 Procedure . 7
7.4 Calibration of the horizontal profile component . . 8
7.4.1 Overall objective . 8
7.4.2 Procedure . 8
7.5 Calibration of the profile coordinate system . 8
7.5.1 Overall objective . 8
7.5.2 Procedure . 8
7.6 Calibration of the total contact (stylus) instrument . 8
7.6.1 Overall objective . 8
7.6.2 Procedure . 9
7.7 Other calibrations . 9
8 Measurement uncertainty .9
8.1 Information from the calibration certificate for a measurement standard . 9
8.2 The uncertainty of the values measured during calibration of a measuring
instrument using a measurement standard. 9
9 Contact (stylus) instrument calibration certificate .10
10 General information .10
Annex A (normative) Calibration of instruments measuring parameters of the motifs
method .11
Annex B (normative) Calibration of simplified operator instruments for the measurements
of surface texture .13
Annex C (informative) Example: roughness measurement standard parameter Ra .14
Annex D (informative) Concept diagram .17
Annex E (informative) Overview of profile and areal standards in the GPS matrix model .18
iii
Annex F (informative) Relation to the GPS matrix model .19
Bibliography .20
iv
Foreword
ISO (the International Organization for Standardization) is a worldwide federation of national standards
bodies (ISO member bodies). The work of preparing International Standards is normally carried out
through ISO technical committees. Each member body interested in a subject for which a technical
committee has been established has the right to be represented on that committee. International
organizations, governmental and non-governmental, in liaison with ISO, also take part in the work.
ISO collaborates closely with the International Electrotechnical Commission (IEC) on all matters of
electrotechnical standardization.
The procedures used to develop this document and those intended for its further maintenance are
described in the ISO/IEC Directives, Part 1. In particular, the different approval criteria needed for the
different types of ISO documents should be noted. This document was drafted in accordance with the
editorial rules of the ISO/IEC Directives, Part 2 (see www.iso.org/directives).
Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this document may be the subject of
patent rights. ISO shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights. Details of
any patent rights identified during the development of the document will be in the Introduction and/or
on the ISO list of patent declarations received (see www.iso.org/patents).
Any trade name used in this document is information given for the convenience of users and does not
constitute an endorsement.
For an explanation of the voluntary nature of standards, the meaning of ISO specific terms and
expressions related to conformity assessment, as well as information about ISO's adherence to
the World Trade Organization (WTO) principles in the Technical Barriers to Trade (TBT), see
www.iso.org/iso/foreword.html.
This document was prepared by Technical Committee ISO/TC 213, Dimensional and geometrical product
specifications and verification, in collaboration with the European Committee for Standardization (CEN)
Technical Committee CEN/TC 290, Dimensional and geometrical product specification and verification, in
accordance with the Agreement on technical cooperation between ISO and CEN (Vienna Agreement).
This second edition cancels and replaces the first edition (ISO 12179:2000), which has been technically
revised. It also incorporates Technical Corrigendum ISO 12179:2000/Cor. 1:2003.
The main changes to the previous edition are as follows:
— Annex C has been amended.
Any feedback or questions on this document should be directed to the user’s national standards body. A
complete listing of these bodies can be found at www.iso.org/members.html.
v
Introduction
This document is a geometrical product specification (GPS) standard and is to be regarded as a general
GPS standard (see ISO 14638). It influences chain link G of the chain of standards on profile surface
texture.
The ISO GPS matrix model is given in ISO 14638, For more detailed information on the relationship of
this document to the GPS matrix model, see Annex F. An overview of standards on profiles and areal
surface texture is given in Annex E.
This document introduces calibration of contact (stylus) instruments as defined in ISO 3274. The
calibration is carried out with the aid of measurement standards.
vi
INTERNATIONAL STANDARD ISO 12179:2021(E)
Geometrical product specifications (GPS) — Surface
texture: Profile method — Calibration of contact (stylus)
instruments
1 Scope
This document specifies the calibration and adjustment of the metrological characteristics of contact
(stylus) instruments for the measurement of surface texture by the profile method as defined in
ISO 3274. The calibration and adjustment is intended to be carried out with the aid of measurement
standards.
Annex B specifies the calibration and adjustment of metrological characteristics of simplified operator
contact (stylus) instruments which do not conform with ISO 3274.
2 Normative references
The following documents are referred to in the text in such a way that some or all of their content
constitutes requirements of this document. For dated references, only the edition cited applies. For
undated references, the latest edition of the referenced document (including any amendments) applies.
ISO 3274, Geometrical Product Specifications (GPS) — Surface texture: Profile method — Nominal
characteristics of contact (stylus) instruments
ISO 5436-1:2000, Geometrical Product Specifications (GPS) — Su
...
INTERNATIONAL ISO
STANDARD 12179
Second edition
2021-12
Geometrical product specifications
(GPS) — Surface texture: Profile
method — Calibration of contact
(stylus) instruments
Spécification géométrique des produits (GPS) — État de surface:
Méthode du profil — Étalonnage des instruments à contact (palpeur)
Reference number
© ISO 2021
All rights reserved. Unless otherwise specified, or required in the context of its implementation, no part of this publication may
be reproduced or utilized otherwise in any form or by any means, electronic or mechanical, including photocopying, or posting on
the internet or an intranet, without prior written permission. Permission can be requested from either ISO at the address below
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ISO copyright office
CP 401 • Ch. de Blandonnet 8
CH-1214 Vernier, Geneva
Phone: +41 22 749 01 11
Email: copyright@iso.org
Website: www.iso.org
Published in Switzerland
ii
Contents Page
Foreword .v
Introduction . vi
1 Scope . 1
2 Normative references . 1
3 Terms and definitions . 1
4 Conditions of use .3
4.1 Components and configurations of the contact (stylus) instrument . 3
4.2 Calibration of a configuration . 3
4.3 Place of calibration . 3
4.4 Defects . 3
5 Measurement standards . .3
6 Contact (stylus) instrument metrological characteristics . 6
6.1 General . 6
6.2 Residual profile calibration . 6
6.3 Vertical profile component calibration . 6
6.4 Horizontal profile component calibration . 6
6.5 Profile coordinate system calibration . 6
6.6 Total contact (stylus) instrument calibration . 6
7 Calibration .7
7.1 Preparation for calibration . 7
7.2 E valuation of the residual profile . 7
7.3 Calibration of the vertical profile component . 7
7.3.1 Overall objective . 7
7.3.2 Procedure . 7
7.4 Calibration of the horizontal profile component . . 8
7.4.1 Overall objective . 8
7.4.2 Procedure . 8
7.5 Calibration of the profile coordinate system . 8
7.5.1 Overall objective . 8
7.5.2 Procedure . 8
7.6 Calibration of the total contact (stylus) instrument . 8
7.6.1 Overall objective . 8
7.6.2 Procedure . 9
7.7 Other calibrations . 9
8 Measurement uncertainty .9
8.1 Information from the calibration certificate for a measurement standard . 9
8.2 The uncertainty of the values measured during calibration of a measuring
instrument using a measurement standard. 9
9 Contact (stylus) instrument calibration certificate .10
10 General information .10
Annex A (normative) Calibration of instruments measuring parameters of the motifs
method .11
Annex B (normative) Calibration of simplified operator instruments for the measurements
of surface texture .13
Annex C (informative) Example: roughness measurement standard parameter Ra .14
Annex D (informative) Concept diagram .17
Annex E (informative) Overview of profile and areal standards in the GPS matrix model .18
iii
Annex F (informative) Relation to the GPS matrix model .19
Bibliography .20
iv
Foreword
ISO (the International Organization for Standardization) is a worldwide federation of national standards
bodies (ISO member bodies). The work of preparing International Standards is normally carried out
through ISO technical committees. Each member body interested in a subject for which a technical
committee has been established has the right to be represented on that committee. International
organizations, governmental and non-governmental, in liaison with ISO, also take part in the work.
ISO collaborates closely with the International Electrotechnical Commission (IEC) on all matters of
electrotechnical standardization.
The procedures used to develop this document and those intended for its further maintenance are
described in the ISO/IEC Directives, Part 1. In particular, the different approval criteria needed for the
different types of ISO documents should be noted. This document was drafted in accordance with the
editorial rules of the ISO/IEC Directives, Part 2 (see www.iso.org/directives).
Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this document may be the subject of
patent rights. ISO shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights. Details of
any patent rights identified during the development of the document will be in the Introduction and/or
on the ISO list of patent declarations received (see www.iso.org/patents).
Any trade name used in this document is information given for the convenience of users and does not
constitute an endorsement.
For an explanation of the voluntary nature of standards, the meaning of ISO specific terms and
expressions related to conformity assessment, as well as information about ISO's adherence to
the World Trade Organization (WTO) principles in the Technical Barriers to Trade (TBT), see
www.iso.org/iso/foreword.html.
This document was prepared by Technical Committee ISO/TC 213, Dimensional and geometrical product
specifications and verification, in collaboration with the European Committee for Standardization (CEN)
Technical Committee CEN/TC 290, Dimensional and geometrical product specification and verification, in
accordance with the Agreement on technical cooperation between ISO and CEN (Vienna Agreement).
This second edition cancels and replaces the first edition (ISO 12179:2000), which has been technically
revised. It also incorporates Technical Corrigendum ISO 12179:2000/Cor. 1:2003.
The main changes to the previous edition are as follows:
— Annex C has been amended.
Any feedback or questions on this document should be directed to the user’s national standards body. A
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v
Introduction
This document is a geometrical product specification (GPS) standard and is to be regarded as a general
GPS standard (see ISO 14638). It influences chain link G of the chain of standards on profile surface
texture.
The ISO GPS matrix model is given in ISO 14638, For more detailed information on the relationship of
this document to the GPS matrix model, see Annex F. An overview of standards on profiles and areal
surface texture is given in Annex E.
This document introduces calibration of contact (stylus) instruments as defined in ISO 3274. The
calibration is carried out with the aid of measurement standards.
vi
INTERNATIONAL STANDARD ISO 12179:2021(E)
Geometrical product specifications (GPS) — Surface
texture: Profile method — Calibration of contact (stylus)
instruments
1 Scope
This document specifies the calibration and adjustment of the metrological characteristics of contact
(stylus) instruments for the measurement of surface texture by the profile method as defined in
ISO 3274. The calibration and adjustment is intended to be carried out with the aid of measurement
standards.
Annex B specifies the calibration and adjustment of metrological characteristics of simplified operator
contact (stylus) instruments which do not conform with ISO 3274.
2 Normative references
The following documents are referred to in the text in such a way that some or all of their content
constitutes requirements of this document. For dated references, only the edition cited applies. For
undated references, the latest edition of the referenced document (including any amendments) applies.
ISO 3274, Geometrical Product Specifications (GPS) — Surface texture: Profile method — Nominal
characteristics of contact (stylus) instruments
ISO 5436-1:2000, Geometrical Product Specifications (GPS) — Su
...
NORME ISO
INTERNATIONALE 12179
Deuxième édition
2021-12
Spécification géométrique des
produits (GPS) — État de surface:
Méthode du profil — Étalonnage des
instruments à contact (palpeur)
Geometrical product specifications (GPS) — Surface texture: Profile
method — Calibration of contact (stylus) instruments
Numéro de référence
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y compris la photocopie, ou la diffusion sur l’internet ou sur un intranet, sans autorisation écrite préalable. Une autorisation peut
être demandée à l’ISO à l’adresse ci-après ou au comité membre de l’ISO dans le pays du demandeur.
ISO copyright office
Case postale 401 • Ch. de Blandonnet 8
CH-1214 Vernier, Genève
Tél.: +41 22 749 01 11
E-mail: copyright@iso.org
Web: www.iso.org
Publié en Suisse
ii
Sommaire Page
Avant-propos .v
Introduction . vi
1 Domaine d'application .1
2 Références normatives .1
3 Termes et définitions .1
4 Conditions d'utilisation .3
4.1 Composants et configurations d'un instrument à contact (palpeur) . 3
4.2 Étalonnage d'une configuration . 3
4.3 Lieu de l'étalonnage . 3
4.4 Défauts . 3
5 Étalons de mesure .3
6 Caractéristiques métrologiques des instruments à contact (palpeur) .6
6.1 Généralités . 6
6.2 Étalonnage du profil résiduel . 6
6.3 Étalonnage de la composante verticale du profil . 6
6.4 Étalonnage de la composante horizontale du profil . 6
6.5 Étalonnage du système de coordonnées du profil . 6
6.6 Étalonnage de l'instrument à contact (palpeur) dans son ensemble . 6
7 Étalonnage .7
7.1 Préparation de l'étalonnage . 7
7.2 Évaluation du profil résiduel . 7
7.3 Étalonnage du profil de la composante verticale du profil . 7
7.3.1 Objectif global . 7
7.3.2 Procédure . 7
7.4 Étalonnage de la composante horizontale du profil . 8
7.4.1 Objectif global . 8
7.4.2 Procédure . 8
7.5 Étalonnage du système de coordonnées du profil . 8
7.5.1 Objectif global . 8
7.5.2 Mode opératoire . 8
7.6 Étalonnage de l'instrument à contact (palpeur) dans son ensemble . 8
7.6.1 Objectif global . 8
7.6.2 Mode opératoire . 8
7.7 Autres étalonnages . 9
8 Incertitude de mesure.9
8.1 Information issue du certificat d'étalonnage d'un étalon . 9
8.2 Incertitude sur les valeurs mesurées pendant l'étalonnage d’un instrument de
mesure utilisant un étalon . 9
9 Certificat d'étalonnage des instruments à contact (palpeur) .10
10 Information générale .10
Annexe A (normative) Étalonnage des instruments mesurant les paramètres liés aux motifs .11
Annexe B (normative) Étalonnage d'instruments liés à l’opérateur simplifié pour la mesure
d'état de surface .13
Annexe C (informative) Exemple: paramètre Ra d'étalon de rugosité .14
Annexe D (informative) Schéma conceptuel.17
Annexe E (informative) Vue d’ensemble des normes de profil et de surface dans le modèle
de matrice GPS . .18
iii
Annexe F (informative) Relation avec le modèle de matrice GPS .19
Bibliographie .20
iv
Avant-propos
L'ISO (Organisation internationale de normalisation) est une fédération mondiale d'organismes
nationaux de normalisation (comités membres de l'ISO). L'élaboration des Normes internationales est
en général confiée aux comités techniques de l'ISO. Chaque comité membre intéressé par une étude
a le droit de faire partie du comité technique créé à cet effet. Les organisations internationales,
gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec l'ISO participent également aux travaux.
L'ISO collabore étroitement avec la Commission électrotechnique internationale (IEC) en ce qui
concerne la normalisation électrotechnique.
Les procédures utilisées pour élaborer le présent document et celles destinées à sa mise à jour sont
décrites dans les Directives ISO/IEC, Partie 1. Il convient, en particulier, de prendre note des différents
critères d'approbation requis pour les différents types de documents ISO. Le présent document a
été rédigé conformément aux règles de rédaction données dans les Directives ISO/IEC, Partie 2 (voir
www.iso.org/directives).
L'attention est attirée sur le fait que certains des éléments du présent document peuvent faire l'objet de
droits de propriété intellectuelle ou de droits analogues. L'ISO ne saurait être tenue pour responsable
de ne pas avoir identifié de tels droits de propriété et averti de leur existence. Les détails concernant
les références aux droits de propriété intellectuelle ou autres droits analogues identifiés lors de
l'élaboration du document sont indiqués dans l'Introduction et/ou dans la liste des déclarations de
brevets reçues par l'ISO (voir www.iso.org/brevets).
Les appellations commerciales éventuellement mentionnées dans le présent document sont données
pour information, par souci de commodité, à l’intention des utilisateurs et ne sauraient constituer un
engagement.
Pour une explication de la nature volontaire des normes, la signification des termes et expressions
spécifiques de l'ISO liés à l'évaluation de la conformité, ou pour toute information au sujet de l'adhésion
de l'ISO aux principes de l’Organisation mondiale du commerce (OMC) concernant les obstacles
techniques au commerce (OTC), voir www.iso.org/avant-propos.
Le présent document a été élaboré par le comité technique ISO/TC 213, Spécifications et vérification
dimensionnelles et géométriques des produits, en collaboration avec le comité technique CEN/TC 290,
Spécification dimensionnelle et géométrique des produits, et vérification correspondante, du Comité
européen de normalisation (CEN) conformément à l’Accord de coopération technique entre l’ISO et le
CEN (Accord de Vienne).
Cette deuxième édition annule et remplace la première édition (ISO 12179:2000), qui a fait l’objet d’une
révision technique. Elle incorpore également le Rectificatif technique ISO 12179:2000/Cor. 1:2003.
Les principales modifications sont les suivantes:
— l'Annexe C a été amendée.
Il convient que l’utilisateur adresse tout retour d’information ou toute question concernant le présent
document à l’organisme national de normalisation de son pays. Une liste exhaustive desdits organismes
se trouve à l’adresse www.iso.org/fr/members.html.
v
Introduction
Le présent document est une norme de spécification géométrique des produits (GPS) et doit être
considérée comme une norme GPS générale (voir l'ISO 14638). Il influence le maillon G des chaînes de
normes sur la rugosité, l'ondulation et le profil primaire.
Le modèle de matrice ISO/GPS est donné dans l'ISO 14638. Pour de plus amples informations sur la
relation du présent document avec le modèle de matrice GPS, voir l'Annexe F. Une vue d’ensemble des
normes relatives aux profils et à l’état de surface est donnée dans l'Annexe E.
Le présent document introduit l'étalonnage des instruments à contact (palpeur) comme défini dans
l'ISO 3274. L'étalonnage est effectué à l'aide d'étalons de mesure.
vi
NORME INTERNATIONALE ISO 12179:2021(F)
Spécification géométrique des produits (GPS) — État de
surface: Méthode du profil — Étalonnage des instruments
à contact (palpeur)
1 Domaine d'application
Le présent document spécifie l'étalonnage et l’ajustage des caractéristiques métrologiques des
instruments à contact (stylet) pour le mesurage de l'état de surface par la méthode du profil comme
défini dans l'ISO 3274. L'étalonnage et et l’ajustage s’effectuent à l'aide d'étalons de mesure.
L'Annexe B spécifie l'étalonnage et le réglage des caractéristiques métrologiques des instruments à
contact (stylet) à utilisation simplifiée qui ne sont pas conformes à l'ISO 3274.
2 Références normatives
Les documents suivants sont cités dans le texte de sor
...
NORME ISO
INTERNATIONALE 12179
Deuxième édition
2021-12
Spécification géométrique des
produits (GPS) — État de surface:
Méthode du profil — Étalonnage des
instruments à contact (palpeur)
Geometrical product specifications (GPS) — Surface texture: Profile
method — Calibration of contact (stylus) instruments
Numéro de référence
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publication ne peut être reproduite ni utilisée sous quelque forme que ce soit et par aucun procédé, électronique ou mécanique,
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CH-1214 Vernier, Genève
Tél.: +41 22 749 01 11
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Publié en Suisse
ii
Sommaire Page
Avant-propos .v
Introduction . vi
1 Domaine d'application .1
2 Références normatives .1
3 Termes et définitions .1
4 Conditions d'utilisation .3
4.1 Composants et configurations d'un instrument à contact (palpeur) . 3
4.2 Étalonnage d'une configuration . 3
4.3 Lieu de l'étalonnage . 3
4.4 Défauts . 3
5 Étalons de mesure .3
6 Caractéristiques métrologiques des instruments à contact (palpeur) .6
6.1 Généralités . 6
6.2 Étalonnage du profil résiduel . 6
6.3 Étalonnage de la composante verticale du profil . 6
6.4 Étalonnage de la composante horizontale du profil . 6
6.5 Étalonnage du système de coordonnées du profil . 6
6.6 Étalonnage de l'instrument à contact (palpeur) dans son ensemble . 6
7 Étalonnage .7
7.1 Préparation de l'étalonnage . 7
7.2 Évaluation du profil résiduel . 7
7.3 Étalonnage du profil de la composante verticale du profil . 7
7.3.1 Objectif global . 7
7.3.2 Procédure . 7
7.4 Étalonnage de la composante horizontale du profil . 8
7.4.1 Objectif global . 8
7.4.2 Procédure . 8
7.5 Étalonnage du système de coordonnées du profil . 8
7.5.1 Objectif global . 8
7.5.2 Mode opératoire . 8
7.6 Étalonnage de l'instrument à contact (palpeur) dans son ensemble . 8
7.6.1 Objectif global . 8
7.6.2 Mode opératoire . 8
7.7 Autres étalonnages . 9
8 Incertitude de mesure.9
8.1 Information issue du certificat d'étalonnage d'un étalon . 9
8.2 Incertitude sur les valeurs mesurées pendant l'étalonnage d’un instrument de
mesure utilisant un étalon . 9
9 Certificat d'étalonnage des instruments à contact (palpeur) .10
10 Information générale .10
Annexe A (normative) Étalonnage des instruments mesurant les paramètres liés aux motifs .11
Annexe B (normative) Étalonnage d'instruments liés à l’opérateur simplifié pour la mesure
d'état de surface .13
Annexe C (informative) Exemple: paramètre Ra d'étalon de rugosité .14
Annexe D (informative) Schéma conceptuel.17
Annexe E (informative) Vue d’ensemble des normes de profil et de surface dans le modèle
de matrice GPS . .18
iii
Annexe F (informative) Relation avec le modèle de matrice GPS .19
Bibliographie .20
iv
Avant-propos
L'ISO (Organisation internationale de normalisation) est une fédération mondiale d'organismes
nationaux de normalisation (comités membres de l'ISO). L'élaboration des Normes internationales est
en général confiée aux comités techniques de l'ISO. Chaque comité membre intéressé par une étude
a le droit de faire partie du comité technique créé à cet effet. Les organisations internationales,
gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec l'ISO participent également aux travaux.
L'ISO collabore étroitement avec la Commission électrotechnique internationale (IEC) en ce qui
concerne la normalisation électrotechnique.
Les procédures utilisées pour élaborer le présent document et celles destinées à sa mise à jour sont
décrites dans les Directives ISO/IEC, Partie 1. Il convient, en particulier, de prendre note des différents
critères d'approbation requis pour les différents types de documents ISO. Le présent document a
été rédigé conformément aux règles de rédaction données dans les Directives ISO/IEC, Partie 2 (voir
www.iso.org/directives).
L'attention est attirée sur le fait que certains des éléments du présent document peuvent faire l'objet de
droits de propriété intellectuelle ou de droits analogues. L'ISO ne saurait être tenue pour responsable
de ne pas avoir identifié de tels droits de propriété et averti de leur existence. Les détails concernant
les références aux droits de propriété intellectuelle ou autres droits analogues identifiés lors de
l'élaboration du document sont indiqués dans l'Introduction et/ou dans la liste des déclarations de
brevets reçues par l'ISO (voir www.iso.org/brevets).
Les appellations commerciales éventuellement mentionnées dans le présent document sont données
pour information, par souci de commodité, à l’intention des utilisateurs et ne sauraient constituer un
engagement.
Pour une explication de la nature volontaire des normes, la signification des termes et expressions
spécifiques de l'ISO liés à l'évaluation de la conformité, ou pour toute information au sujet de l'adhésion
de l'ISO aux principes de l’Organisation mondiale du commerce (OMC) concernant les obstacles
techniques au commerce (OTC), voir www.iso.org/avant-propos.
Le présent document a été élaboré par le comité technique ISO/TC 213, Spécifications et vérification
dimensionnelles et géométriques des produits, en collaboration avec le comité technique CEN/TC 290,
Spécification dimensionnelle et géométrique des produits, et vérification correspondante, du Comité
européen de normalisation (CEN) conformément à l’Accord de coopération technique entre l’ISO et le
CEN (Accord de Vienne).
Cette deuxième édition annule et remplace la première édition (ISO 12179:2000), qui a fait l’objet d’une
révision technique. Elle incorpore également le Rectificatif technique ISO 12179:2000/Cor. 1:2003.
Les principales modifications sont les suivantes:
— l'Annexe C a été amendée.
Il convient que l’utilisateur adresse tout retour d’information ou toute question concernant le présent
document à l’organisme national de normalisation de son pays. Une liste exhaustive desdits organismes
se trouve à l’adresse www.iso.org/fr/members.html.
v
Introduction
Le présent document est une norme de spécification géométrique des produits (GPS) et doit être
considérée comme une norme GPS générale (voir l'ISO 14638). Il influence le maillon G des chaînes de
normes sur la rugosité, l'ondulation et le profil primaire.
Le modèle de matrice ISO/GPS est donné dans l'ISO 14638. Pour de plus amples informations sur la
relation du présent document avec le modèle de matrice GPS, voir l'Annexe F. Une vue d’ensemble des
normes relatives aux profils et à l’état de surface est donnée dans l'Annexe E.
Le présent document introduit l'étalonnage des instruments à contact (palpeur) comme défini dans
l'ISO 3274. L'étalonnage est effectué à l'aide d'étalons de mesure.
vi
NORME INTERNATIONALE ISO 12179:2021(F)
Spécification géométrique des produits (GPS) — État de
surface: Méthode du profil — Étalonnage des instruments
à contact (palpeur)
1 Domaine d'application
Le présent document spécifie l'étalonnage et l’ajustage des caractéristiques métrologiques des
instruments à contact (stylet) pour le mesurage de l'état de surface par la méthode du profil comme
défini dans l'ISO 3274. L'étalonnage et et l’ajustage s’effectuent à l'aide d'étalons de mesure.
L'Annexe B spécifie l'étalonnage et le réglage des caractéristiques métrologiques des instruments à
contact (stylet) à utilisation simplifiée qui ne sont pas conformes à l'ISO 3274.
2 Références normatives
Les documents suivants sont cités dans le texte de sor
...
Questions, Comments and Discussion
Ask us and Technical Secretary will try to provide an answer. You can facilitate discussion about the standard in here.