IEC 60325:2002

Radiation protection instrumentation - Alpha, beta and alpha/beta (beta energy >60 keV) contamination meters and monitors

Lays down standard requirements and gives examples of acceptable methods, and also specifies general characteristics, general test conditions, radiation characteristics, electrical safety, environmental characteristics, and the requirements of the identification certificate for alpha, beta and alpha/beta contamination meters and monitors.

Instrumentation pour la radioprotection - Contaminamètres et moniteurs de contamination alpha, bêta et alpha/bêta (énergie des bêta >60 keV)

Etablit des exigences standards et donne des exemples de méthodes acceptables, ainsi que spécifie les caractéristiques générales, les conditions générales d'essai, les caractéristiques relatives aux rayonnements, à la sécurité électrique, à l'environnement, et les exigences concernant le certificat d'identification pour les contaminamètres et moniteurs de contamination alpha, bêta et alpha/bêta.

General Information

• Status: Published
• Publication Date: 12-Jun-2002
• ICS: 13.280 - Radiation protection
• Technical Committee: SC 45B - Radiation protection instrumentation
• Drafting Committee: WG 7 - TC 45/SC 45B/WG 7
• Current Stage: PPUB - Publication issued
• Start Date: 13-Jun-2002
• Completion Date: 31-Jul-2002

Standards Content (Sample)

NORME CEI
INTERNATIONALE IEC
INTERNATIONAL
Troisième édition
STANDARD
Third edition
2002-06
Instrumentation pour la radioprotection –
Contaminamètres et moniteurs de
contamination alpha, bêta et alpha/bêta
(énergie des bêta >60 keV)
Radiation protection instrumentation –
Alpha, beta and alpha/beta (beta energy
>60 keV) contamination meters and monitors
Numéro de référence
Reference number
CEI/IEC 60325:2002
Numérotation des publications Publication numbering
Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI As from 1 January 1997 all IEC publications are
sont numérotées à partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1 issued with a designation in the 60000 series. For
devient la CEI 60034-1. example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1.
Editions consolidées Consolidated editions
Les versions consolidées de certaines publications de la The IEC is now publishing consolidated versions of its
CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par publications. For example, edition numbers 1.0, 1.1
exemple, les numéros d’édition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent and 1.2 refer, respectively, to the base publication,
respectivement la publication de base, la publication de the base publication incorporating amendment 1 and
base incorporant l’amendement 1, et la publication de the base publication incorporating amendments 1
base incorporant les amendements 1 et 2. and 2.
Informations supplémentaires Further information on IEC publications
sur les publications de la CEI
Le contenu technique des publications de la CEI est The technical content of IEC publications is kept
constamment revu par la CEI afin qu'il reflète l'état under constant review by the IEC, thus ensuring that
actuel de la technique. Des renseignements relatifs à the content reflects current technology. Information
cette publication, y compris sa validité, sont dispo- relating to this publication, including its validity, is
nibles dans le Catalogue des publications de la CEI available in the IEC Catalogue of publications
(voir ci-dessous) en plus des nouvelles éditions, (see below) in addition to new editions, amendments
amendements et corrigenda. Des informations sur les and corrigenda. Information on the subjects under
sujets à l’étude et l’avancement des travaux entrepris consideration and work in progress undertaken by the
par le comité d’études qui a élaboré cette publication, technical committee which has prepared this
ainsi que la liste des publications parues, sont publication, as well as the list of publications issued,
également disponibles par l’intermédiaire de: is also available from the following:
• Site web de la CEI (www.iec.ch) • IEC Web Site (www.iec.ch)
• Catalogue des publications de la CEI • Catalogue of IEC publications
Le catalogue en ligne sur le site web de la CEI The on-line catalogue on the IEC web site
(www.iec.ch/catlg-f.htm) vous permet de faire des (www.iec.ch/catlg-e.htm) enables you to search
recherches en utilisant de nombreux critères, by a variety of criteria including text searches,
comprenant des recherches textuelles, par comité technical committees and date of publication. On-
d’études ou date de publication. Des informations line information is also available on recently
en ligne sont également disponibles sur les issued publications, withdrawn and replaced
nouvelles publications, les publications rempla- publications, as well as corrigenda.
cées ou retirées, ainsi que sur les corrigenda.
• IEC Just Published
• IEC Just Published
Ce résumé des dernières publications parues
This summary of recently issued publications
(www.iec.ch/JP.htm) est aussi disponible par
(www.iec.ch/JP.htm) is also available by email.
courrier électronique. Veuillez prendre contact
Please contact the Customer Service Centre (see
avec le Service client (voir ci-dessous) pour plus
below) for further information.
d’informations.
• Service clients
• Customer Service Centre
Si vous avez des questions au sujet de cette
If you have any questions regarding this
publication ou avez besoin de renseignements
publication or need further assistance, please
supplémentaires, prenez contact avec le Service
contact the Customer Service Centre:
clients:
Email: [e-mail]
Email: [e-mail]
Tél: [phone]
Tel: [phone]
Fax: [phone]
Fax: [phone]
.
NORME CEI
INTERNATIONALE IEC
INTERNATIONAL
Troisième édition
STANDARD
Third edition
2002-06
Instrumentation pour la radioprotection –
Contaminamètres et moniteurs de
contamination alpha, bêta et alpha/bêta
(énergie des bêta >60 keV)
Radiation protection instrumentation –
Alpha, beta and alpha/beta (beta energy
>60 keV) contamination meters and monitors
 IEC 2002 Droits de reproduction réservés  Copyright - all rights reserved
Aucune partie de cette publication ne peut être reproduite ni No part of this publication may be reproduced or utilized in any
utilisée sous quelque forme que ce soit et par aucun procédé, form or by any means, electronic or mechanical, including
électronique ou mécanique, y compris la photocopie et les photocopying and microfilm, without permission in writing from
microfilms, sans l'accord écrit de l'éditeur. the publisher.
International Electrotechnical Commission, 3, rue de Varembé, PO Box 131, CH-1211 Geneva 20, Switzerland
Telephone: [phone] Telefax: [phone] E-mail: [e-mail]  Web: www.iec.ch
CODE PRIX
W
PRICE CODE
Commission Electrotechnique Internationale
International Electrotechnical Commission
Международная Электротехническая Комиссия
Pour prix, voir catalogue en vigueur
For price, see current catalogue

– 2 – 60325  CEI:2002
SOMMAIRE
AVANT-PROPOS.6
1 Domaine d’application et objet.8
2 Références normatives.10
3 Termes et définitions .12
4 Unités.18
5 Classification des ensembles.18
6 Caractéristiques générales .20
6.1 Appareils de détection.20
6.2 Aptitude à la décontamination .20
6.3 Etanchéité .20
6.4 Seuil d’alarme .20
6.5 Affichage des appareils .22
6.6 Etendue de mesure .22
6.7 Afficheur.24
6.8 Chocs mécaniques .24
6.9 Mise en service et opérations de maintenance de l'électronique.24
7 Procédures générales d'essai.24
7.1 Essais .24
7.2 Généralités.26
7.3 Bruit de fond.
7.4 Fluctuations statistiques .28
8 Caractéristiques électriques .28
8.1 Fluctuations statistiques .28
8.2 Temps de réponse.30
8.3 Interdépendance entre le temps de réponse et les fluctuations statistiques .32
8.4 Dérive du seuil d’alarme.32
8.5 Essai de temps de préchauffage (pour ensembles portables) .34
8.6 Résolution en temps.36
8.7 Protection contre les surcharges .38
8.8 Palier de fonctionnement (pour ensembles de détection seulement).38
8.9 Seuil (pour ensembles de détection seulement).40
9 Caractéristiques sous rayonnement.40
9.1 Généralités.40
9.2 Rendement de l'appareil.40
9.3 Variation de la réponse à la surface du détecteur .42
9.4 Erreur relative intrinsèque .44
9.5 Variation de la réponse en taux d’émission surfacique avec l’énergie du
rayonnement .46
9.6 Réponses à d’autres rayonnements ionisants.48
9.7 Taux de comptage du bruit de fond .52
10 Influence de l'environnement .54
10.1 Température ambiante .54
10.2 Humidité relative .56
10.3 Alimentation électrique .56
10.4 Compatibilité électromagnétique.62

60325  IEC:2002 – 3 –
CONTENTS
FOREWORD.7
1 Scope and object.9
2 Normative references .11
3 Terms and definitions .13
4 Units.19
5 Classification of assemblies.19
6 General characteristics.21
6.1 Detection assemblies .21
6.2 Ease of decontamination .21
6.3 Sealing.21
6.4 Alarm threshold .21
6.5 Instrument indication .23
6.6 Effective range of measurement .23
6.7 Display.25
6.8 Mechanical shocks .25
6.9 Setting up and maintenance facilities for electronic equipment .25
7 General test procedures .25
7.1 Tests.25
7.2 General .27
7.3 Background .29
7.4 Statistical fluctuations .29
8 Electrical characteristics.29
8.1 Statistical fluctuations .29
8.2 Response time .31
8.3 Interrelationship between response time and statistical fluctuations .33
8.4 Alarm threshold drift .33
8.5 Warm-up time test (for portable assemblies).35
8.6 Resolution time .37
8.7 Overload protection .39
8.8 Operating plateau (for detection assemblies only) .39
8.9 Threshold (for detection assemblies only) .41
9 Radiation characteristics .41
9.1 General .41
9.2 Instrument efficiency .41
9.3 Variation of response over the surface of the detector.43
9.4 Relative intrinsic error .45
9.5 Variation of surface emission rate response with radiation energy.47
9.6 Response to other ionizing radiations.49
9.7 Background count rate .53
10 Environmental influences.55
10.1 Ambient temperature .55
10.2 Relative humidity.57
10.3 Power supply.57
10.4 Electromagnetic compatibility .63

– 4 – 60325  CEI:2002
11 Stockage .66
11.1 Cas général.66
11.2 Choc mécanique.66
12 Documentation .66
12.1 Certificat d’identification .66
Tableau 1 – Conditions de référence et conditions normales d’essai.70
Tableau 2 – Essais effectués dans les conditions normales d’essai .72
Tableau 3 – Essais effectués avec variation des grandeurs d’influence.74

60325  IEC:2002 – 5 –
11 Storage .67
11.1 General .67
11.2 Mechanical shock.67
12 Documentation .67
12.1 Identification certificate .67
Table 1 – Reference conditions and standard test conditions .71
Table 2 – Test performed under standard test conditions .73
Table 3 – Test performed with variation of influence quantities .75

– 6 – 60325  CEI:2002
COMMISSION ELECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE
____________
INSTRUMENTATION POUR LA RADIOPROTECTION –
CONTAMINAMÈTRES ET MONITEURS DE CONTAMINATION
ALPHA, BÊTA ET ALPHA/BÊTA (ÉNERGIE DES BÊTA >60 keV)
AVANT-PROPOS
1) La CEI (Commission Électrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de normalisation
composée de l'ensemble des comités électrotechniques nationaux (Comités nationaux de la CEI). La CEI a
pour objet de favoriser la coopération internationale pour toutes les questions de normalisation dans les
domaines de l'électricité et de l'électronique. A cet effet, la CEI, entre autres activités, publie des Normes
internationales. Leur élaboration est confiée à des comités d'études, aux travaux desquels tout Comité national
intéressé par le sujet traité peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non
gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent également aux travaux. La CEI collabore étroitement
avec l'Organisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixées par accord entre les deux
organisations.
2) Les décisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques représentent, dans la mesure
du possible, un accord international sur les sujets étudiés, étant donné que les Comités nationaux intéressés
sont représentés dans chaque comité d’études.
3) Les documents produits se présentent sous la forme de recommandations internationales. Ils sont publiés
comme normes, spécifications techniques, rapports techniques ou guides et agréés comme tels par les Comités
nationaux.
4) Dans le but d'encourager l'unification internationale, les Comités nationaux de la CEI s'engagent à appliquer de
façon transparente, dans toute la mesure possible, les Normes internationales de la CEI dans leurs normes
nationales et régionales. Toute divergence entre la norme de la CEI et la norme nationale ou régionale
correspondante doit être indiquée en termes clairs dans cette dernière.
5) La CEI n’a fixé aucune procédure concernant le marquage comme indication d’approbation et sa responsabilité
n’est pas engagée quand un matériel est déclaré conforme à l’une de ses normes.
6) L’attention est attirée sur le fait que certains des éléments de la présente Norme internationale peuvent faire
l’objet de droits de propriété intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait être tenue pour
responsable de ne pas avoir identifié de tels droits de propriété et de ne pas avoir signalé leur existence.
La Norme internationale CEI 60325 a été préparée par le sous-comité 45B: Instrumentation
pour la radioprotection, du comité d'études 45 de la CEI: Instrumentation nucléaire.
Cette troisième édition annule et remplace la deuxième édition, parue en 1981, dont elle
constitue une révision technique.
Le texte de cette norme est issu des documents suivants:
FDIS Rapport de vote
45B/354/FDIS 45B/363/RVD
Le rapport de vote indiqué dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant
abouti à l’approbation de cette norme.
Cette publication a été rédigée selon les directives ISO/CEI, Partie 3.
Le comité a décidé que le contenu de cette publication restait valable jusqu’en 2007. A cette
date, selon la décision du comité, la publication sera:
• reconfirmée;
•retirée;
• remplacée par une édition révisée, ou
• amendée.
60325  IEC:2002 – 7 –
INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION
____________
RADIATION PROTECTION INSTRUMENTATION –
ALPHA, BETA AND ALPHA/BETA (BETA ENERGY >60 keV)
CONTAMINATION METERS AND MONITORS
FOREWORD
1) The IEC (International Electrotechnical Commission) is a worldwide organization for standardization comprising
all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of the IEC is to promote
international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To
this end and in addition to other activities, the IEC publishes International Standards. Their preparation is
entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt with may
participate in this preparatory work. International, governmental and non-governmental organizations liaising
with the IEC also participate in this preparation. The IEC collaborates closely with the International
Organization for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by agreement between the
two organizations.
2) The formal decisions or agreements of the IEC on technical matters express, as nearly as possible, an
international consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representation
from all interested National Committees.
3) The documents produced have the form of recommendations for international use and are published in the form
of standards, technical specifications, technical reports or guides and they are accepted by the National
Committees in that sense.
4) In order to promote international unification, IEC National Committees undertake to apply IEC International
Standards transparently to the maximum extent possible in their national and regional standards. Any
divergence between the IEC Standard and the corresponding national or regional standard shall be clearly
indicated in the latter.
5) The IEC provides no marking procedure to indicate its approval and cannot be rendered responsible for any
equipment declared to be in conformity with one of its standards.
6) Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this International Standard may be the subject
of patent rights. The IEC shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights.
International Standard IEC 60325 has been prepared by subcommittee 45B: Radiation
protection instrumentation, of IEC technical committee 45: Nuclear instrumentation.
This third edition cancels and replaces the second edition published in 1981. This third edition
constitutes a technical revision.
The text of this standard is based on the following documents:
FDIS Report on voting
45B/354/FDIS 45B/363/RVD
Full information on the voting for the approval of this standard can be found in the report on
voting indicated in the above table.
This publication has been drafted in accordance with the ISO/IEC Directives, Part 3.
The committee has decided that the contents of this publication will remain unchanged until
2007. At this date, the publication will be
• reconfirmed;
• withdrawn;
• replaced by a revised edition, or
• amended.
– 8 – 60325  CEI:2002
INSTRUMENTATION POUR LA RADIOPROTECTION –
CONTAMINAMÈTRES ET MONITEURS DE CONTAMINATION
ALPHA, BÊTA ET ALPHA/BÊTA (ÉNERGIE DES BÊTA >60 keV)
1 Domaine d’application et objet
La présente Norme internationale est applicable aux radiamètres et moniteurs conçus pour la
mesure directe ou la détection directe de la contamination des surfaces par des radio-
nucléides émetteurs alpha et/ou bêta et qui comprennent au moins:
– un ensemble de détection (comprenant un compteur γ, un détecteur à scintillation ou un
détecteur à semi-conducteur, etc.) qui peut être soit connecté rigidement ou par un câble
flexible à un ensemble de mesure, soit intégré à cet ensemble;
– un ensemble de mesure.
Certains contaminamètres ou moniteurs sont constitués de plusieurs ensembles de détection
et de mesure. Il est possible, dans ce cas, d’interchanger les ensembles de mesures et de
détection. La conformité à la norme peut-être obtenue:
Lorsque toutes les combinaisons ensemble de détection et ensemble de mesure sont en
conformité avec les exigences de la présente norme.
ou
Lorsque chaque ensemble de détection et chaque ensemble de mesures pris séparément est
en conformité avec les exigences de la présente norme.
NOTE Dans ce dernier cas, l’application de ces critères assure la conformité à la présente norme, mais n'implique
pas que l’étalonnage d’une combinaison particulière d’instruments est valable pour une autre combinaison.
Dans ce dernier cas, l’application de ces critères pourrait permettre à un acheteur d’utiliser des combinaisons
d’ensembles provenant de différents constructeurs en toute confiance.
La norme est applicable aux appareils suivants:
– contaminamètres de surface pour les alpha;
– moniteurs de contamination de surface pour les alpha;
– contaminamètres de surface pour les bêta;
– moniteurs de contamination de surface pour les bêta;
– contaminamètres de surface pour les alpha/bêta;
– moniteurs de contamination de surface pour les alpha/bêta.
Ces deux derniers sont des équipements qui permettent de déterminer simultanément la
contamination alpha et bêta et d’indiquer la contribution de chacun de ces rayonnements à la
mesure:
– Contaminamètres de surface pour les alpha (bêta, alpha/bêta)
Ensemble comprenant un ou plusieurs détecteurs de rayonnement et les ensembles ou
éléments fonctionnels associés, et destinés à mesurer le taux d’émission surfacique alpha
(bêta, alpha/bêta) liée à la contamination de la surface contrôlée.
– Moniteur de contamination de surface pour les alpha (bêta, alpha/bêta).
La norme est également applicable aux ensembles destinés à des applications particulières et
aux ensembles spécifiquement conçus pour des surfaces de nature particulière. Cependant,
certaines exigences peuvent être modifiées ou complétées, selon les exigences spécifiques à
ces appareils.
60325  IEC:2002 – 9 –
RADIATION PROTECTION INSTRUMENTATION –
ALPHA, BETA AND ALPHA/BETA (BETA ENERGY >60 keV)
CONTAMINATION METERS AND MONITORS
1 Scope and object
This International Standard is applicable to radiation meters and monitors designed for the
direct measurement or the direct detection of surface contamination by alpha and/or beta
radiation emitting nuclides and which comprise at least:
– a detection assembly (comprising γ counter tube, scintillation detector or semiconductor
detector, etc), which may be connected either rigidly or by means of a flexible cable or
incorporated into a single assembly.
– a measurement assembly.
Some meters and monitors consist of detection assemblies and measurement assemblies
where it is possible to separate the detector assembly and use alternative detection
assemblies. Conformity with the standard can either be achieved by:
All combinations of the detection assembly and the measurement assembly conforming to the
requirements of this standard.
or
The detection assembly and the measurement assembly separately conforming to the
relevant parts of this standard in isolation.
NOTE The use of the latter criteria verifies conformance with this standard but does not infer that calibration of a
particular combination of instruments is interchangeable with any other combination.
The use of the latter criteria could allow a purchaser to use combinations of assemblies from different
manufacturers with confidence.
The standard is applicable to:
– alpha surface contamination meters;
– alpha surface contamination monitors;
– beta surface contamination meters;
– beta surface contamination monitors;
– alpha/beta surface contamination meters;
– alpha/beta surface contamination monitors.
The latter two are equipment capable of determining alpha and beta contamination
simultaneously and displaying the measurement of either:
– Alpha (beta, alpha/beta) surface contamination meter
An assembly including one or more radiation detectors and associated assemblies or
basic function units, designed to measure alpha (beta, alpha/beta) surface emission rate
associated with the contamination of the surface under examination.
– Alpha (beta, alpha/beta) surface contamination monitor.
This standard is also applicable to special purpose assemblies and to assemblies specifically
designed for a surface of a particular nature. However, some of the requirements may need to
be amended or supplemented according to the particular requirements applicable to such
assemblies.
– 10 – 60325  CEI:2002
Si un ensemble est conçu pour remplir plusieurs fonctions à la fois, il faut qu’il réponde aux
exigences concernant chaque fonction. Si, d’autre part, il est conçu pour remplir une seule
fonction et qu’il est en plus capable d’effectuer d’autres fonctions, il faut qu’il réponde aux
exigences concernant la première fonction; il convient qu’il réponde aussi aux exigences
concernant les autres fonctions.
Cette norme ne s’applique pas aux appareils de surveillance ou de mesure des rayonnements
conçus pour mesurer ou détecter des bêta d'énergie E < 60 keV.
max
L’objet de cette norme est d’établir des exigences standards et de donner des exemples de
méthodes acceptables, ainsi que de spécifier les caractéristiques générales, les conditions
générales d’essai, les caractéristiques relatives aux rayonnements, à la sécurité électrique, à
l’environnement, et les exigences concernant le certificat d’identification pour les contamina-
mètres et moniteurs de contamination alpha, bêta et alpha/bêta.
2 Références normatives
Les documents de référence suivants sont indispensables pour l'application du présent
document. Pour les références datées, seule l'édition citée s'applique. Pour les références
non datées, la dernière édition du document de référence s'applique (y compris les éventuels
amendements).
CEI 60038:1983, Tensions normales de la CEI
CEI 60050-151:2001, Vocabulaire Electrotechnique International (VEI) – Partie 151:
Dispositifs électriques et magnétiques
CEI 60050(393):1996, Vocabulaire Electrotechnique International (VEI) – Chapitre 393:
Instrumentation nucléaire: Phénomènes physiques et notions fondamentales
CEI 60050(394):1995, Vocabulaire Electrotechnique International (VEI) – Chapitre 394:
Instrumentation nucléaire: Instruments
CEI 60068 (toutes les parties), Essais d'environnement
CEI 61000-4-2:1995, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4: Techniques d'essai
et de mesure – Section 2: Essais d'immunité aux décharges électrostatiques
CEI 61000-4-3:1995, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4: Techniques d'essai
et de mesure – Section 3: Essai d'immunité aux champs électromagnétiques rayonnés aux
fréquences radioélectriques
CEI 61000-4-4:1995, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4: Techniques d'essai
et de mesure – Section 4: Essais d'immunité aux transitoires électriques rapides en salves
CEI 61000-4-5:1995, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4: Techniques d'essai
et de mesure – Section 5: Essai d'immunité aux ondes de choc
CEI 61000-4-6:1996, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4: Techniques d'essai
et de mesure – Section 6: Immunité aux perturbations conduites, induites par les champs
radioélectriques
CEI 61000-4-11:1994, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4: Techniques d'essai
et de mesure – Section 11: Essais d'immunité aux creux de tension, coupures brèves et
variations de tension
60325  IEC:2002 – 11 –
If an assembly has been designed to carry out combined functions, it must comply with the
requirements pertaining to these different functions. If, on the other hand, it has been
designed to perform one function, and, in addition, it is also capable of carrying out other
functions, then it must comply with the requirements for the first function, and it would be
desirable for it to comply with requirements pertaining to the others.
This standard is not applicable to radiation monitors or meters designed to measure or detect
beta particles with E < 60 keV.
max
The object of this standard is to lay down standard requirements and to give examples of
acceptable methods, and also to specify general characteristics, general test conditions,
radiation characteristics, electrical safety, environmental characteristics, and the requirements
of the identification certificate for alpha, beta and alpha-beta contamination meters and
monitors.
2 Normative references
The following referenced documents are indispensable for the application of this document.
For dated references, only the edition cited applies. For undated references, the latest edition
of the referenced document (including any amendments) applies.
IEC 60038:1983, IEC standard voltages
IEC 60050-151:2001, International Electrotechnical Vocabulary – Part 151: Electrical and
magnetic devices
IEC 60050(393):1996, International Electrotechnical Vocabulary (IEV) – Chapter 393: Nuclear
instrumentation: Physical phenomena and basic concepts
IEC 60050(394):1995, International Electrotechnical Vocabulary (IEV) – Chapter 394: Nuclear
instrumentation: Instruments
IEC 60068 (all parts): Environmental testing
IEC 61000-4-2:1995, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4: Testing and measuring
techniques – Section 2: Electrostatic discharge immunity test
IEC 61000-4-3:1995, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4: Testing and measurement
techniques – Section 3: Radiated, radio-frequency, electromagnetic field immunity test
IEC 61000-4-4:1995, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4: Testing and measurement
techniques – Section 4: Electrical fast transient/burst immunity test
IEC 61000-4-5:1995, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4: Testing and measurement
techniques – Section 5: Surge immunity test
IEC 61000-4-6:1996, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4: Testing and measurement
techniques – Section 6: Immunity to conducted disturbances, induced by radio-frequency
fields
IEC 61000-4-11:1994, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4: Testing and measurement
techniques – Section 11: Voltage dips, short interruptions and voltage variations immunity
tests
– 12 – 60325  CEI:2002
CEI 61187:1993, Equipement de mesures électriques et électroniques – Documentation
ISO 7503 (toutes les parties), Evaluation de la contamination de surface
ISO 8769:1988, Sources de référence pour l'étalonnage des moniteurs de contamination de
surface – Emetteurs bêta (énergie bêta maximale supérieure à 0,15 MeV) et émetteurs alpha
ISO 11929-1:2000, Détermination de la limite de détection et du seuil de décision des
mesurages des rayonnements ionisants – Partie 1: Principes fondamentaux et application aux
mesurages par comptage, sans l'influence du traitement de l'échantillon
3 Termes et définitions
La terminologie générale concernant la détection et la mesure des rayonnements ionisants et
l’instrumentation nucléaire est indiquée dans la CEI 60050(393) et la CEI 60050(394).
Pour les besoins de la présente Norme internationale, les définitions suivantes s’appliquent:
3.1
étendue de mesure
étendue des valeurs de la grandeur à mesurer dans laquelle les performances d’un
contaminamètre ou d’un moniteur satisfont aux exigences de la présente norme
3.2
taux d’émission surfacique d’une source, q/2ππππ
nombre de particules d’un type donné et d’énergie supérieure à un seuil donné, sortant de la
surface d’une source par unité de temps
3.3
rendement d’une source, εε
εε
s
rapport entre le nombre de particules d'un type donné sortant de la face avant de la source ou
de sa fenêtre avec une énergie supérieure à une énergie donnée par unité de temps (taux
d’émission surfacique) et le nombre de particules du même type crées ou libérées par la
source par unité de temps dans l’épaisseur de la source (cas d’une source mince) ou dans
l’épaisseur de sa couche de saturation (cas d’une source épaisse)
3.4
source de rendement élevé
source pour laquelle le rendement des particules d’énergie supérieure à 5,9 keV, y compris
les particules rétrodiffusées, est supérieur à 0,25. (Cette définition s’applique aux émetteurs
bêta dont l’énergie maximale est >150 keV).
3.5
source de petite surface
source dont la plus grande dimension linéaire de la surface active n’excède pas 1 cm
3.6
réponse en taux d'émission surfacique (rendement de l'appareil)
dans des conditions définies précisées par le constructeur (surface sensible du détecteur,
surface sensible de la source et distance entre la source et le détecteur), la réponse en taux
d'émission surfacique (rendement) du détecteur utilisé conjointement avec l'appareil est le
rapport d'un nombre de particules détectées (par exemple le nombre de coups par unité de
temps, corrigé du bruit de fond) au nombre de particules de même type émises par la source
de rayonnement dans le même intervalle de temps (taux d'émission surfacique convention-
nellement vrai)
60325  IEC:2002 – 13 –
IEC 61187:1993, Electrical and electronic measuring equipment – Documentation
ISO 7503 (all parts), Evaluation of surface contamination
ISO 8769:1988, Reference sources for the calibration or surface contamination monitors –
Beta-emitters (maximum beta energy greater than 0,15 MeV) and alpha-emitters
ISO 11929-1:2000, Determination of the detection limit and decision threshold for ionizing
radiation measurements – Part 1: Fundamentals and application to counting measurements
without the influence of sample treatment
3 Terms and definitions
The general terminology concerning the detection and measurement of ionizing radiation and
nuclear instrumentation is given in IEC 60050(393) and IEC 60050(394).
For the purposes of this International Standard, the following definitions apply:
3.1
effective range of measurement
range of values of the quantity to be measured over which the performance of a meter or
monitor meets the requirements of this standard
3.2
surface emission rate of a source, q/2ππππ
number of particles of a given type above a given energy emerging from the front face of the
source per unit time.
3.3
source efficiency, εε
εε
s
ratio between the number of particles of a given type above a given energy emerging from the
front face of a source or its window per unit time (surface emission rate) and the number of
particles of the same type created or released within the source (for a thin source) or its
saturation layer thickness (for a thick source) per unit time
3.4
high efficiency source
source in which the efficiency for particles with an energy greater than 5,9 keV is greater than
0,25, including backscattered particles. (This definition applies to beta emitters with a
maximum energy >150 keV).
3.5
small area source
source whose active surface area has a maximum linear dimension not exceeding 1 cm
3.6
surface emission rate response (instrument efficiency)
under stated conditions specified by the manufacturer (sensitive area of the detector,
sensitive area of the source and the distance between source and detector), the surface
emission rate response (efficiency) of the detector used in conjunction with the assemblies is
the ratio of the number of detected particles (for instance counts per unit time, corrected for
background) to the number of particles of the same type emitted by the radiation source in the
same interval of time (conventionally true surface emission rate)

– 14 – 60325  CEI:2002
3.7
temps de réponse (d'un appareil de mesure)
temps nécessaire après une variation brusque de la grandeur à mesurer pour que la variation
du signal de sortie atteigne pour la première fois un pourcentage donné, en général 90 %, de
sa valeur finale
[VEI 394-19-09]
NOTE Pour les ensembles de mesure intégrateurs, le temps de réponse est pris à 90 % de la valeur à l’équilibre
de la première dérivée ou de la pente de l’indication.
3.8
surface utile du détecteur
surface du détecteur, définie par le constructeur, dans laquelle le rendement pour une source
de petite surface est supérieur à 50 % du rendement maximal
3.9
épaisseur totale équivalente
épaisseur, généralement exprimée en masse par unité de surface, que traverse une particule
(alpha ou bêta) émise normalement à la surface contaminée, pour atteindre le volume
sensible du détecteur
NOTE L'épaisseur est généralement exprimée en masse par unité de surface.
NOTE Cette épaisseur inclut la distance parcourue dans l’air et l’épaisseur de la fenêtre du détecteur, et, parfois,
l’épaisseur de l’écran interposé devant la fenêtre du détecteur pour la protéger de la contamination.
3.10
erreur d’indication
différence entre la valeur M de la quantité affichée au point de mesure et la valeur
i
conventionnellement vraie M de cette quantité. Elle se note M – M
t i t.
3.11
réponse R
la réponse d’un moniteur ou d’un contaminamètre est le rapport entre la valeur indiquée et la
valeur conventionnellement vraie
M
i
R =
M
t
3.12
erreur relative de l’indication I
quotient de l’erreur d’indication d’une grandeur mesurée par la valeur conventionnellement
vraie de cette grandeur. Il peut être exprimé en pourcentage
M − M
i t
I = × 100
M
t
3.13
erreur relative intrinsèque
erreur relative sur l'affichage d’un appareil, pour une quantité donnée, lorsqu’il est exposé à
un rayonnement de référence et dans des conditions de référence spécifiées
3.14
coefficient de variation V
rapport (V) entre l’écart type (s) et la valeur moyenne arithmétique ( x ) d’une série de n
mesures (x ) donné par la formule suivante:
i
n
s 1 1
V = = (x − x)
i
∑
x x n − 1
i =1
60325  IEC:2002 – 15 –
3.7
response time (of a measuring assembly)
the time required after a step variation in the measured quantity for the output signal variation
to reach a given percentage, usually 90 %, of its final value for the first time
[IEV 394-19-09]
NOTE For integrating measuring assemblies the response time is 90 % of the equilibrium value of the first
derivative or slope of the indication.
3.8
sensitive area of the detector:
the area of the detector, defined by the manufacturer, where the efficiency for a small area
source is greater than 50 % of the maximum efficiency
3.9
total equivalent thickness
the thickness, generally expressed in mass per unit area that a particle (alpha or beta),
emitted normally from the contaminated surface crosses in order to reach the sensitive
volume of the detector
NOTE The thickness is generally expressed in terms of mass per unit area.
NOTE This thickness includes the distance in the air plus the d
...