IEC 61000-4-17:1999
(Main)Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-17: Testing and measurement techniques - Ripple on d.c. input power port immunity test
Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-17: Testing and measurement techniques - Ripple on d.c. input power port immunity test
Defines test methods for immunity to ripple at the d.c. input power port of electrical or electronic equipment. Applies to low-voltage d.c. power ports of equipment supplied by external rectifier systems, or batteries which are being charged. This standard defines - test voltage waveform; - range of test levels; - test generator; - test set-up; - test procedure.
Compatibilité électromagnétique (CEM) - Partie 4-17: Techniques d'essai et de mesure - Essai d'immunité à l'ondulation résiduelle sur entrée de puissance à courant continu
Définit les méthodes d'essai d'immunité aux ondulations résiduelles appliquées à l'entrée de l'alimentation en courant continu des matériels électriques ou électroniques. S'applique aux entrées de puissance en courant continu basse tension des matériels alimentés par des systèmes redresseurs externes ou par des batteries qui sont en charge. Cette norme définit - la forme d'onde de la tension d'essai; - une gamme de niveaux d'essai; - le générateur d'essai; - l'installation d'essai; - la procédure d'essai.
General Information
Relations
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NORME CEI
INTERNATIONALE IEC
61000-4-17
INTERNATIONAL
Première édition
STANDARD
First edition
1999-06
PUBLICATION FONDAMENTALE EN CEM
BASIC EMC PUBLICATION
Compatibilité électromagnétique (CEM) –
Partie 4-17:
Techniques d'essai et de mesure –
Essai d'immunité à l'ondulation résiduelle
sur entrée de puissance à courant continu
Electromagnetic compatibility (EMC) –
Part 4-17:
Testing and measurement techniques –
Ripple on d.c. input power port immunity test
Numéro de référence
Reference number
CEI/IEC 61000-4-17:1999
Numéros des publications Numbering
Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI As from 1 January 1997 all IEC publications are
sont numérotées à partir de 60000. issued with a designation in the 60000 series.
Publications consolidées Consolidated publications
Les versions consolidées de certaines publications de Consolidated versions of some IEC publications
la CEI incorporant les amendements sont disponibles. including amendments are available. For example,
Par exemple, les numéros d’édition 1.0, 1.1 et 1.2 edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to
indiquent respectivement la publication de base, la the base publication, the base publication incor-
publication de base incorporant l’amendement 1, et la porating amendment 1 and the base publication
publication de base incorporant les amendements 1 incorporating amendments 1 and 2.
et 2.
Validité de la présente publication Validity of this publication
Le contenu technique des publications de la CEI est The technical content of IEC publications is kept
constamment revu par la CEI afin qu'il reflète l'état under constant review by the IEC, thus ensuring that
actuel de la technique. the content reflects current technology.
Des renseignements relatifs à la date de reconfir- Information relating to the date of the reconfirmation
mation de la publication sont disponibles dans le of the publication is available in the IEC catalogue.
Catalogue de la CEI.
Les renseignements relatifs à des questions à l’étude et Information on the subjects under consideration and
des travaux en cours entrepris par le comité technique work in progress undertaken by the technical
qui a établi cette publication, ainsi que la liste des committee which has prepared this publication, as well
publications établies, se trouvent dans les documents ci- as the list of publications issued, is to be found at the
dessous: following IEC sources:
• «Site web» de la CEI* • IEC web site*
• Catalogue des publications de la CEI • Catalogue of IEC publications
Publié annuellement et mis à jour Published yearly with regular updates
(On-line catalogue)*
régulièrement
(Catalogue en ligne)*
• IEC Bulletin
• Bulletin de la CEI Available both at the IEC web site* and
Disponible à la fois au «site web» de la CEI* as a printed periodical
et comme périodique imprimé
Terminology, graphical and letter
Terminologie, symboles graphiques
symbols
et littéraux
For general terminology, readers are referred to
En ce qui concerne la terminologie générale, le lecteur IEC 60050: International Electrotechnical Vocabulary
se reportera à la CEI 60050: Vocabulaire Electro- (IEV).
technique International (VEI).
For graphical symbols, and letter symbols and signs
Pour les symboles graphiques, les symboles littéraux approved by the IEC for general use, readers are
et les signes d'usage général approuvés par la CEI, le referred to publications IEC 60027: Letter symbols to
lecteur consultera la CEI 60027: Symboles littéraux à be used in electrical technology, IEC 60417: Graphical
utiliser en électrotechnique, la CEI 60417: Symboles symbols for use on equipment. Index, survey and
graphiques utilisables sur le matériel. Index, relevé et compilation of the single sheets and IEC 60617:
compilation des feuilles individuelles, et la CEI 60617: Graphical symbols for diagrams.
Symboles graphiques pour schémas.
* See web site address on title page.
* Voir adresse «site web» sur la page de titre.
NORME CEI
INTERNATIONALE IEC
61000-4-17
INTERNATIONAL
Première édition
STANDARD
First edition
1999-06
PUBLICATION FONDAMENTALE EN CEM
BASIC EMC PUBLICATION
Compatibilité électromagnétique (CEM) –
Partie 4-17:
Techniques d'essai et de mesure –
Essai d'immunité à l'ondulation résiduelle
sur entrée de puissance à courant continu
Electromagnetic compatibility (EMC) –
Part 4-17:
Testing and measurement techniques –
Ripple on d.c. input power port immunity test
IEC 1999 Droits de reproduction réservés Copyright - all rights reserved
Aucune partie de cette publication ne peut être reproduite ni No part of this publication may be reproduced or utilized in
utilisée sous quelque forme que ce soit et par aucun procédé, any form or by any means, electronic or mechanical,
électronique ou mécanique, y compris la photo-copie et les including photocopying and microfilm, without permission in
microfilms, sans l'accord écrit de l'éditeur. writing from the publisher.
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Telefax: +41 22 919 0300 e-mail: inmail@iec.ch IEC web site http://www.iec.ch
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Commission Electrotechnique Internationale
N
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International Electrotechnical Commission
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– 2 – 61000-4-17 CEI:1999
SOMMAIRE
Pages
AVANT-PROPOS . 4
INTRODUCTION .6
Articles
1 Domaine d’application . 8
2 Références normatives. 10
3 Généralités .10
4 Définitions. 10
5 Niveaux d’essai et forme d’onde. 12
6 Générateur d’essai. 14
6.1 Caractéristiques et performances du générateur. 14
6.2 Vérification des caractéristiques du générateur. 14
7 Installation d’essai. 16
8 Procédure d’essai . 16
8.1 Conditions de référence en laboratoire . 16
8.1.1 Conditions climatiques. 16
8.1.2 Conditions électromagnétiques. 16
8.2 Exécution de l’essai . 18
9 Résultats des essais et rapport d’essai. 18
Annexe A (informative) Informations sur le phénomène. 24
Figures
1 Exemples de formes d’onde de tension d’ondulation résiduelle . 22
A.1 Exemple de générateur basé sur un système redresseur . 26
A.2 Exemple de générateur basé sur une instrumentation programmable . 26
61000-4-17 IEC:1999 – 3 –
CONTENTS
Page
FOREWORD . 5
INTRODUCTION .7
Clause
1 Scope . 9
2 Normative references . 11
3 General. 11
4 Definitions. 11
5 Test levels and waveform . 13
6 Test generator . 15
6.1 Characteristics and performance of the generator. 15
6.2 Verification of the characteristics of the generator . 15
7 Test set-up. 17
8 Test procedure. 17
8.1 Laboratory reference conditions . 17
8.1.1 Climatic conditions . 17
8.1.2 Electromagnetic conditions. 17
8.2 Execution of the test . 19
9 Test results and test report. 19
Annex A (informative) Information on the phenomenon . 25
Figures
1 Examples of ripple voltage waveforms . 23
A.1 Example of generator based on a rectifier system . 27
A.2 Example of generator based on programmable instrumentation. 27
– 4 – 61000-4-17 CEI:1999
COMMISSION ÉLECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE
––––––––––––
COMPATIBILITÉ ÉLECTROMAGNÉTIQUE (CEM) –
Partie 4-17: Techniques d’essai et de mesure –
Essai d’immunité à l’ondulation résiduelle sur entrée de puissance
à courant continu
AVANT-PROPOS
1) La CEI (Commission Electrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de normalisation composée
de l'ensemble des comités électrotechniques nationaux (Comités nationaux de la CEI). La CEl a pour objet de
favoriser la coopération internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de
l'électricité et de l'électronique. A cet effet, la CEI, entre autres activités, publie des Normes internationales.
Leur élaboration est confiée à des comités d'études, aux travaux desquels tout Comité national intéressé par le
sujet traité peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en
liaison avec la CEI, participent également aux travaux. La CEI collabore étroitement avec l'Organisation
Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixées par accord entre les deux organisations.
2) Les décisions ou accords officiels de la CEI en ce qui concerne les questions techniques, préparés par les
comités d'études où sont représentés tous les Comités nationaux s'intéressant à ces questions, expriment dans
la plus grande mesure possible un accord international sur les sujets examinés.
3) Ces décisions constituent des recommandations internationales publiées sous forme de normes, de rapports
techniques ou de guides et agréées comme telles par les Comités nationaux.
4) Dans le but d'encourager l'unification internationale, les Comités nationaux de la CEI s'engagent à appliquer de
façon transparente, dans toute la mesure possible, les Normes internationales de la CEl dans leurs normes
nationales et régionales. Toute divergence entre la norme de la CEl et la norme nationale ou régionale
correspondante doit être indiquée en termes clairs dans cette dernière.
5) La CEI n’a fixé aucune procédure concernant le marquage comme indication d’approbation et sa responsabilité
n’est pas engagée quand un matériel est déclaré conforme à l’une de ses normes.
6) L’attention est attirée sur le fait que certains des éléments de la présente Norme internationale peuvent faire
l’objet de droits de propriété industrielle. La CEI ne saurait être tenue pour responsable de ne pas avoir identifié
de tels droits de propriété et de ne pas avoir signalé leur existence.
La Norme internationale CEI 61000-4-17 a été établie par le sous-comité 77A: Phénomènes
basse fréquence, du comité d'études 77 de la CEI: Compatibilité électromagnétique.
Elle constitue la partie 4-17 de la CEI 61000. Elle a le statut de publication fondamentale en
CEM conformément au Guide 107 de la CEI.
Le texte de cette norme est issu des documents suivants:
FDIS Rapport de vote
77A/271/FDIS 77A/280/RVD
Le rapport de vote indiqué dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant
abouti à l'approbation de cette norme.
L’annexe A est donnée uniquement à titre d'information.
61000-4-17 IEC:1999 – 5 –
INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION
–––––––––––
ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY (EMC) –
Part 4-17: Testing and measurement techniques –
Ripple on d.c. input power port immunity test
FOREWORD
1) The IEC (International Electrotechnical Commission) is a worldwide organization for standardization comprising
all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of the IEC is to promote
international cooperation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To
this end and in addition to other activities, the IEC publishes International Standards. Their preparation is
entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt with may
participate in this preparatory work. International, governmental and non-governmental organizations liaising
with the IEC also participate in this preparation. The IEC collaborates closely with the International Organization
for Standardization (ISO) in accordance with conditions determine
...
NORME CEI
INTERNATIONALE IEC
61000-4-17
INTERNATIONAL
Edition 1.1
STANDARD
2002-07
Edition 1:1999 consolidée par l'amendement 1:2001
Edition 1:1999 consolidated with amendment 1:2001
PUBLICATION FONDAMENTALE EN CEM
BASIC EMC PUBLICATION
Compatibilité électromagnétique (CEM) –
Partie 4-17:
Techniques d’essai et de mesure –
Essai d’immunité à l’ondulation résiduelle
sur entrée de puissance à courant continu
Electromagnetic compatibility (EMC) –
Part 4-17:
Testing and measurement techniques –
Ripple on d.c. input power port immunity test
Numéro de référence
Reference number
CEI/IEC 61000-4-17:1999+A1:2001
Numérotation des publications Publication numbering
Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI As from 1 January 1997 all IEC publications are
sont numérotées à partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1 issued with a designation in the 60000 series. For
devient la CEI 60034-1. example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1.
Editions consolidées Consolidated editions
Les versions consolidées de certaines publications de la The IEC is now publishing consolidated versions of its
CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par publications. For example, edition numbers 1.0, 1.1
exemple, les numéros d’édition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent and 1.2 refer, respectively, to the base publication,
respectivement la publication de base, la publication de the base publication incorporating amendment 1 and
base incorporant l’amendement 1, et la publication de the base publication incorporating amendments 1
base incorporant les amendements 1 et 2. and 2.
Informations supplémentaires Further information on IEC publications
sur les publications de la CEI
Le contenu technique des publications de la CEI est The technical content of IEC publications is kept
constamment revu par la CEI afin qu'il reflète l'état under constant review by the IEC, thus ensuring that
actuel de la technique. Des renseignements relatifs à the content reflects current technology. Information
cette publication, y compris sa validité, sont dispo- relating to this publication, including its validity, is
nibles dans le Catalogue des publications de la CEI available in the IEC Catalogue of publications
(voir ci-dessous) en plus des nouvelles éditions, (see below) in addition to new editions, amendments
amendements et corrigenda. Des informations sur les and corrigenda. Information on the subjects under
sujets à l’étude et l’avancement des travaux entrepris consideration and work in progress undertaken by the
par le comité d’études qui a élaboré cette publication, technical committee which has prepared this
ainsi que la liste des publications parues, sont publication, as well as the list of publications issued,
également disponibles par l’intermédiaire de: is also available from the following:
• Site web de la CEI (www.iec.ch) • IEC Web Site (www.iec.ch)
• Catalogue des publications de la CEI • Catalogue of IEC publications
Le catalogue en ligne sur le site web de la CEI The on-line catalogue on the IEC web site
(www.iec.ch/catlg-f.htm) vous permet de faire des (www.iec.ch/catlg-e.htm) enables you to search
recherches en utilisant de nombreux critères, by a variety of criteria including text searches,
comprenant des recherches textuelles, par comité technical committees and date of publication. On-
d’études ou date de publication. Des informations line information is also available on recently
en ligne sont également disponibles sur les issued publications, withdrawn and replaced
nouvelles publications, les publications rempla- publications, as well as corrigenda.
cées ou retirées, ainsi que sur les corrigenda.
• IEC Just Published
• IEC Just Published
Ce résumé des dernières publications parues
This summary of recently issued publications
(www.iec.ch/JP.htm) est aussi disponible par
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courrier électronique. Veuillez prendre contact
Please contact the Customer Service Centre (see
avec le Service client (voir ci-dessous) pour plus
below) for further information.
d’informations.
• Service clients
• Customer Service Centre
Si vous avez des questions au sujet de cette
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publication or need further assistance, please
supplémentaires, prenez contact avec le Service
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Email: custserv@iec.ch
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Fax: +41 22 919 03 00
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.
NORME CEI
INTERNATIONALE IEC
61000-4-17
INTERNATIONAL
Edition 1.1
STANDARD
2002-07
Edition 1:1999 consolidée par l'amendement 1:2001
Edition 1:1999 consolidated with amendment 1:2001
PUBLICATION FONDAMENTALE EN CEM
BASIC EMC PUBLICATION
Compatibilité électromagnétique (CEM) –
Partie 4-17:
Techniques d’essai et de mesure –
Essai d’immunité à l’ondulation résiduelle
sur entrée de puissance à courant continu
Electromagnetic compatibility (EMC) –
Part 4-17:
Testing and measurement techniques –
Ripple on d.c. input power port immunity test
IEC 2002 Droits de reproduction réservés Copyright - all rights reserved
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– 2 – 61000-4-17 © CEI:1999+A1:2001
SOMMAIRE
AVANT-PROPOS . 4
INTRODUCTION .6
1 Domaine d’application . 8
2 Références normatives .10
3 Généralités .10
4 Définitions.10
5 Niveaux d’essai et forme d’onde.12
6 Générateur d’essai.14
6.1 Caractéristiques et performances du générateur .14
6.2 Vérification des caractéristiques du générateur .14
7 Installation d’essai .16
8 Procédure d’essai .16
8.1 Conditions de référence en laboratoire .16
8.1.1 Conditions climatiques .16
8.1.2 Conditions électromagnétiques.16
8.2 Exécution de l’essai .16
9 Evaluation des résultats d’essai .18
10 Rapport d’essai.20
Annexe A (informative) Informations sur le phénomène.24
Figure 1 – Exemples de formes d’onde de tension d’ondulation résiduelle.22
Figure A.1 – Exemple de générateur basé sur un système redresseur.26
Figure A.2 – Exemple de générateur basé sur une instrumentation programmable .26
Tableau 1 – Niveaux d’essai .12
61000-4-17 © IEC:1999+A1:2001 – 3 –
CONTENTS
FOREWORD . 5
INTRODUCTION .7
1 Scope . 9
2 Normative references.11
3 General.11
4 Definitions.11
5 Test levels and waveform.13
6 Test generator .15
6.1 Characteristics and performance of the generator .15
6.2 Verification of the characteristics of the generator .15
7 Test set-up .17
8 Test procedure.17
8.1 Laboratory reference conditions .17
8.1.1 Climatic conditions .17
8.1.2 Electromagnetic conditions.17
8.2 Execution of the test .17
9 Evaluation of test results .19
10 Test report .21
Annex A (informative) Information on the phenomenon .25
Figure 1 – Examples of ripple voltage waveforms.23
Figure A.1 – Example of generator based on a rectifier system .27
Figure A.2 – Example of generator based on programmable instrumentation.27
Table 1 – Test levels .13
– 4 – 61000-4-17 © CEI:1999+A1:2001
COMMISSION ÉLECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE
____________
COMPATIBILITÉ ÉLECTROMAGNÉTIQUE (CEM) –
Partie 4-17: Techniques d’essai et de mesure –
Essai d’immunité à l’ondulation résiduelle sur entrée de puissance
à courant continu
AVANT-PROPOS
1) La CEI (Commission Electrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de normalisation composée
de l'ensemble des comités électrotechniques nationaux (Comités nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de
favoriser la coopération internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de
l'électricité et de l'électronique. A cet effet, la CEI, entre autres activités, publie des Normes internationales.
Leur élaboration est confiée à des comités d'études, aux travaux desquels tout Comité national intéressé par le
sujet traité peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en
liaison avec la CEI, participent également aux travaux. La CEI collabore étroitement avec l'Organisation
Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixées par accord entre les deux organisations.
2) Les décisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques représentent, dans la mesure
du possible, un accord international sur les sujets étudiés, étant donné que les Comités nationaux intéressés
sont représentés dans chaque comité d’études.
3) Les documents produits se présentent sous la forme de recommandations internationales. Ils sont publiés
comme normes, spécifications techniques, rapports techniques ou guides et agréés comme tels par les Comités
nationaux.
4) Dans le but d'encourager l'unification internationale, les Comités nationaux de la CEI s'engagent à appliquer de
façon transparente, dans toute la mesure possible, les Normes internationales de la CEI dans leurs normes
nationales et régionales. Toute divergence entre la norme de la CEI et la norme nationale ou régionale
correspondante doit être indiquée en termes clairs dans cette dernière.
5) La CEI n’a fixé aucune procédure concernant le marquage comme indication d’approbation et sa responsabilité
n’est pas engagée quand un matériel est déclaré conforme à l’une de ses normes.
6) L’attention est attirée sur le fait que certains des éléments de la présente Norme internationale peuvent faire
l’objet de droits de propriété intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait être tenue pour
responsable de ne pas avoir identifié de tels droits de propriété et de ne pas avoir signalé leur existence.
La Norme internationale CEI 61000-4-17 a été établie par le sous-comité 77A: Phénomènes
basse fréquence, du comité d'études 77 de la CEI: Compatibilité électromagnétique.
Elle constitue la partie 4-17 de la CEI 61000. Elle a le statut de publication fondamentale en
CEM conformément au Guide 107 de la CEI.
La présente version consolidée de la CEI 6
...
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Edition 1.2 2009-01
CONSOLIDATED VERSION
INTERNATIONAL
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NORME
INTERNATIONALE
BASIC EMC PUBLICATION
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Part 4-17: Testing and measurement techniques – Ripple on d.c. input power
port immunity test
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résiduelle sur entrée de puissance à courant continu
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port immunity test
Compatibilité électromagnétique (CEM) –
Partie 4-17: Techniques d'essai et de mesure – Essai d’immunité à l’ondulation
résiduelle sur entrée de puissance à courant continu
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ELECTROTECHNICAL
COMMISSION
COMMISSION
ELECTROTECHNIQUE
INTERNATIONALE
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– 2 – 61000-4-17 © IEC:1999+A1:2001
+A2:2008
CONTENTS
FOREWORD.3
INTRODUCTION.5
1 Scope.6
2 Normative references.7
3 General.7
4 Definitions.7
5 Test levels and waveform .8
6 Test generator.9
6.1 Characteristics and performance of the generator .9
6.2 Verification of the characteristics of the generator .9
7 Test set-up.10
8 Test procedure.10
8.1 Laboratory reference conditions .10
8.1.1 Climatic conditions.10
8.1.2 Electromagnetic conditions .10
8.2 Execution of the test .10
9 Evaluation of test results.11
10 Test report.12
Annex A (informative) Information on the phenomenon .
Figure 1 – Examples of ripple voltage waveforms .13
Figure A.1 – Example of generator based on a rectifier system .15
Figure A.2 – Example of generator based on programmable instrumentation .15
Table 1 – Test levels .8
61000-4-17 © IEC:1999+A1:2001 – 3 –
+A2:2008
INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION
____________
ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY (EMC) –
Part 4-17: Testing and measurement techniques –
Ripple on d.c. input power port immunity test
FOREWORD
1) The International Electrotechnical Commission (IEC) is a worldwide organization for standardization comprising
all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of IEC is to promote
international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To
this end and in addition to other activities, IEC publishes International Standards, Technical Specifications,
Technical Reports, Publicly Available Specifications (PAS) and Guides (hereafter referred to as “IEC
Publication(s)”). Their preparation is entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested
in the subject dealt with may participate in this preparatory work. International, governmental and non-
governmental organizations liaising with the IEC also participate in this preparation. IEC collaborates closely
with the International Organization for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by
agreement between the two organizations.
2) The formal decisions or agreements of IEC on technical matters express, as nearly as possible, an international
consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representation from all
interested IEC National Committees.
3) IEC Publications have the form of recommendations for international use and are accepted by IEC National
Committees in that sense. While all reasonable efforts are made to ensure that the technical content of IEC
Publications is accurate, IEC cannot be held responsible for the way in which they are used or for any
misinterpretation by any end user.
4) In order to promote international uniformity, IEC National Committees undertake to apply IEC Publications
transparently to the maximum extent possible in their national and regional publications. Any divergence
between any IEC Publication and the corresponding national or regional publication shall be clearly indicated in
the latter.
5) IEC provides no marking procedure to indicate its approval and cannot be rendered responsible for any
equipment declared to be in conformity with an IEC Publication.
6) All users should ensure that they have the latest edition of this publication.
7) No liability shall attach to IEC or its directors, employees, servants or agents including individual experts and
members of its technical committees and IEC National Committees for any personal injury, property damage or
other damage of any nature whatsoever, whether direct or indirect, or for costs (including legal fees) and
expenses arising out of the publication, use of, or reliance upon, this IEC Publication or any other IEC
Publications.
8) Attention is drawn to the Normative references cited in this publication. Use of the referenced publications is
indispensable for the correct application of this publication.
9) Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this IEC Publication may be the subject of
patent rights. IEC shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights.
This consolidated version of the official IEC Standard and its amendments has been
prepared for user convenience.
IEC 61000-4-17 edition 1.2 contains the first edition (1999) [documents 77A/271/FDIS and
77A/280/RVD], its amendment 1 (2001) [documents 77B/291+293/FDIS and 77B/298+300/
RVD] and its amendment 2 (2008) [documents 77A/632/CDV and 77A/652/RVC].
A vertical line in the margin shows where the base publication has been modified by
amendments 1 and 2.
International Standard IEC 61000-4-17 has been prepared by subcommittee 77A: Low-
frequency phenomena, of IEC technical committee 77: Electromagnetic compatibility.
It forms part 4-17 of IEC 61000. It has the status of a basic EMC publication in accordance with
IEC Guide 107.
– 4 – 61000-4-17 © IEC:1999+A1:2001
+A2:2008
Annex A is for information only.
The committee has decided that the contents of the base publication and its amendments will
remain unchanged until the maintenance result date indicated on the IEC web site under
"http://webstore.iec.ch" in the data related to the specific publication. At this date,
the publication will be
• reconfirmed,
• withdrawn,
• replaced by a revised edition, or
• amended.
61000-4-17 © IEC:1999+A1:2001 – 5 –
+A2:2008
INTRODUCTION
This standard is part of the IEC 61000 series, according to the following structure:
Part 1: General
General considerations (introduction, fundamental principles)
Definitions, terminology
Part 2: Environment
Description of the environment
Classification of the environment
Compatibility levels
Part 3: Limits
Emission limits
Immunity limits (in so far as they do not fall under the responsibility of the product committees)
Part 4: Testing and measurement techniques
Measurement techniques
Testing techniques
Part 5: Installation and mitigation guidelines
Installation guidelines
Mitigation methods and devices
Part 6: Generic standards
Part 9: Miscellaneous
Each part is further subdivided into several parts, published either as International Standards
or technical reports, some of which have already been published as sections. Others will be
published with the part numbe
...
Questions, Comments and Discussion
Ask us and Technical Secretary will try to provide an answer. You can facilitate discussion about the standard in here.