IEC 62493:2015
(Main)Assessment of lighting equipment related to human exposure to electromagnetic fields
Assessment of lighting equipment related to human exposure to electromagnetic fields
IEC 62493:2015 applies to the assessment of lighting equipment related to human exposure to electromagnetic fields. The assessment consists of the induced internal electric field for frequencies from 20 kHz to 10 MHz and the specific absorption rate (SAR) for frequencies from 100 kHz to 300 MHz around lighting equipment. This second edition cancels and replaces the first edition published in 2009. This edition constitutes a technical revision. This edition includes the following significant technical changes with respect to the previous edition:
a) identification of lighting product types deemed to comply with the standard without the need for test;
b) deletion of the need for CISPR-15-compliance as a prerequisite for IEC 62493 compliance;
c) inclusion of the consequences of the ICNIPR 2010 guidelines for (up to 100 kHz);
d) adding some guidance to the Van der Hoofden test head method to improve reproducibility of results;
e) inclusion of compliance demonstration method for products having intentional radiators.
Évaluation d'un équipement d'éclairage relativement à l'exposition humaine aux champs électromagnétiques
L'IEC 62439:2015 traite de l'évaluation d'un équipement d'éclairage relativement à l'exposition humaine aux champs électromagnétiques. L'évaluation comprend le champ électrique interne induit pour les fréquences comprises entre 20 kHz et 10 MHz et le débit d'absorption spécifique (DAS) pour les fréquences comprises entre 100 kHz et 300 MHz autour de l'équipement d'éclairage. Cette deuxième édition annule et remplace la première édition, parue en 2009. Cette édition constitue une révision technique. La présente édition inclut les modifications techniques significatives suivantes par rapport à l'édition précédente:
a) identification des types de produits d'éclairage considérés comme satisfaisant à la norme sans qu'il soit nécessaire de procéder à des essais;
b) suppression de la condition préalable consistant à se conformer à la norme CISPR 15 pour satisfaire aux exigences de l'IEC 62493;
c) inclusion des conséquences des lignes directrices de l'ICNIPR 2010 (jusqu'à 100 kHz);
d) ajout de recommandations pour la "méthode de la tête d'essai de Van der Hoofden" afin d'améliorer la reproductibilité des résultats;
e) inclusion de la méthode de démonstration de conformité des produits dotés d'éléments rayonnants intentionnels.
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Edition 2.0 2015-03
INTERNATIONAL
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Assessment of lighting equipment related to human exposure to electromagnetic
field
Évaluation d’un équipement d’éclairage relativement à l'exposition humaine aux
champs électromagnétiques
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ELECTROTECHNICAL
COMMISSION
COMMISSION
ELECTROTECHNIQUE
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ICS 29.020, 29.140 ISBN 978-2-8322-2348-2
– 2 – IEC 62493:2015 © IEC 2015
CONTENTS
FOREWORD . 6
INTRODUCTION . 8
1 Scope . 9
2 Normative references . 9
3 Terms, definitions, physical quantities, units and abbreviations . 10
3.1 Terms and definitions . 10
3.2 Physical quantities and units . 12
3.3 Abbreviations . 13
4 Limits . 13
4.1 General . 13
4.2 Unintentional radiating part of lighting equipment . 14
4.2.1 General . 14
4.2.2 Lighting equipment deemed to comply with the Van der Hoofden test
without testing . 14
4.2.3 Application of limits. 14
4.3 Intentional radiating part of lighting equipment . 14
5 General requirements Van der Hoofden test . 15
5.1 Measurand . 15
5.2 Supply voltage and frequency . 15
5.3 Measurement frequency range . 16
5.4 Ambient temperature. 16
5.5 Measurement equipment requirements. 16
5.6 Measurement instrumentation uncertainty . 17
5.7 Test report . 17
5.8 Evaluation of results . 18
6 Measurement procedure for the Van der Hoofden test . 18
6.1 General . 18
6.2 Operating conditions . 18
6.2.1 Operating conditions for lighting equipment . 18
6.2.2 Operating conditions for specific lighting equipment . 18
6.2.3 Operating conditions for lighting equipment with intentional radiators . 19
6.3 Measurement distance . 19
6.4 Measurement set-up . 19
6.4.1 General . 19
6.4.2 Measurement set-up for specific lighting equipment . 20
6.5 Location of measurement test head . 20
6.6 Calculation of the results . 20
7 Assessment procedure intentional radiators. 20
7.1 General . 20
7.2 Low-power exclusion method . 20
7.2.1 General . 20
7.2.2 Determination of the total radiated power . 21
7.2.3 Determination of the low-power exclusion level . 21
7.2.4 Summation of multiple transmitters . 21
7.3 Application of the EMF product standard for body worn-equipment . 21
7.4 Application of the EMF product standard for base stations . 21
7.5 Application of another EMF standard . 21
Annex A (normative) Measurement distances . 23
Annex B (informative) Location of measurement test head . 24
Annex C (informative) Exposure limits . 29
C.1 General . 29
C.2 ICNIRP . 29
C.2.1 ICNIRP 1998 . 29
C.2.2 ICNIRP 2010 . 29
C.3 IEEE . 29
Annex D (informative) Rationale measurement and assessment method . 31
D.1 General . 31
D.2 Induced internal electric field . 31
D.2.1 General . 31
D.2.2 Induced electric field due to the magnetic field; E (f ,d ) . 33
eddy i loop
D.2.3 Induced electric field due to the electric field; E (f ,d) . 38
cap i
D.3 Thermal effects from 100 kHz to 300 GHz . 41
D.3.1 General . 41
D.3.2 The 100 kHz to 30 MHz contribution to the thermal effects . 42
D.3.3 The 30 MHz to 300 MHz contribution to the thermal effects . 43
D.3.4 Overall conclusion for the contribution to thermal effects . 44
Annex E (normative) Practical internal electric-field measurement and assessment
method . 45
E.1 Measurement of induced internal electric field. 45
E.2 Calculation program .
...
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Edition 2.1 2022-06
CONSOLIDATED VERSION
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Assessment of lighting equipment related to human exposure to
electromagnetic fields
Évaluation d’un équipement d’éclairage relativement à l’exposition humaine
aux champs électromagnétiques
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Évaluation d’un équipement d’éclairage relativement à l’exposition humaine
aux champs électromagnétiques
– 2 – IEC 62493:2015+AMD1:2022 CSV
© IEC 2022
CONTENTS
FOREWORD . 6
INTRODUCTION . 8
1 Scope . 9
2 Normative references . 9
3 Terms, definitions, physical quantities, units and abbreviations . 10
3.1 Terms and definitions . 10
3.2 Physical quantities and units . 12
3.3 Abbreviations . 13
4 Limits . 13
4.1 General . 13
4.2 Unintentional radiating part of lighting equipment . 13
4.2.1 General . 13
4.2.2 Lighting equipment deemed to comply with the Van der Hoofden test
without testing . 14
4.2.3 Application of limits. 14
4.3 Intentional radiating part of lighting equipment . 14
5 General requirements Van der Hoofden test . 15
5.1 Measurand . 15
5.2 Supply voltage and frequency . 15
5.3 Measurement frequency range . 16
5.4 Ambient temperature. 16
5.5 Measurement equipment requirements. 16
5.6 Measurement instrumentation uncertainty . 18
5.7 Test report . 18
5.8 Evaluation of results . 18
6 Measurement procedure for the Van der Hoofden test . 18
6.1 General . 18
6.2 Operating conditions . 19
6.2.1 Operating conditions for lighting equipment . 19
6.2.2 Operating conditions for specific lighting equipment . 19
6.2.3 Operating conditions for lighting equipment with intentional radiators . 19
6.3 Measurement distance . 19
6.4 Measurement set-up . 19
6.4.1 General . 19
6.4.2 Measurement set-up for specific lighting equipment . 20
6.5 Location of measurement test head . 20
6.6 Calculation of the results . 21
7 Assessment procedure intentional radiators. 21
7.1 General . 21
7.2 Low-power exclusion method . 21
7.2.1 General . 21
7.2.2 Determination of the total radiated power . 21
7.2.3 Determination of the low-power exclusion level . 21
7.2.4 Summation of multiple transmitters . 22
7.3 Application of the EMF product standard for body worn-equipment . 22
7.4 Application of the EMF product standard for base stations . 22
© IEC 2022
7.5 Application of another EMF standard . 22
Annex A (normative) Measurement distances . 24
Annex B (informative) Location of measurement test head . 25
Annex C (informative) Exposure limits . 30
C.1 General . 30
C.2 ICNIRP basic restrictions . 30
C.2.1 ICNIRP 1998 Basic restrictions - SAR . 30
C.2.2 ICNIRP 2010 Basic restrictions – Internal electric field . 30
C.2.3 Changes introduced by ICNIRP 2020 with respect to ICNIRP 1998 and
ICNIRP 2010 . 30
C.3 IEEE . 31
Annex D (informative) Rationale measurement and assessment method . 32
D.1 General . 32
D.2 Induced internal electric field . 32
D.2.1 General . 32
D.2.2 Induced electric field due to the magnetic field; E (f ,d ) . 34
eddy i loop
D.2.3 Induced electric field due to the electric field; E (f ,d) . 39
cap i
D.3 Thermal effects from 100 kHz to 300 GHz . 42
D.3.1 General . 42
D.3.2 The 100 kHz to 30 MHz contribution to the thermal effects . 43
D.3.3 The 30 MHz to 300 MHz contribution to the thermal effects . 44
D.3.4 Overall conclusion for the contribution to thermal effects . 45
Annex E (normative) Practical internal electric-field measurement and assessment
method . 46
E.1 Measurement of induced internal electric field. 46
E.2 Calculation program . 46
E.3 Compliance criterion for the Van der Hoofden head test . 47
Annex F (normati
...
Questions, Comments and Discussion
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