CISPR 17:2011

Methods of measurement of the suppression characteristics of passive EMC filtering devices

CISPR 17:2011 specifies methods to measure the radio interference suppression characteristics of passive EMC filtering devices used in power and signal lines, and in other circuits. The defined methods may also be applied to combinations of over-voltage protection devices and EMC filtering devices. The measurement method covers the frequency range from 9 kHz to several GHz depending on the device and test circuit. The standard describes procedures for laboratory tests (type tests) as well as factory tests. The suppression characteristics of EMC filters and components used for the suppression of EM disturbances, are a function of numerous variables such as impedance of the circuits to which they connect, operating voltage and current, and ambient temperature. This standard specifies uniform test methods that will enable comparison of filtering and suppression characteristics determined by test laboratories or specified by manufacturers. Measurement procedures are provided for unbiased and bias conditions. Measurements under bias conditions are performed to determine potential non-linear behaviour of the EMC filtering devices such as saturation effects in inductors with magnetic cores. This testing serves to show the usability in a specific application (such as frequency converters that produce high amplitudes of common mode pulse current and thus may drive inductors into saturation). Measurement under bias conditions may be omitted if the non-linear behaviour can be determined by other methods (e.g. separate saturation measurement of the inductors used). The first edition of CISPR 17 (1981) prescribed the measurement methods of insertion loss mainly for power-line filters. Today, however, many types of sophisticated EMC filters and suppression components can be found in various electronic devices. Those filters need to be characterized using standardized measurement methods. New methods for measurement of impedance and S-parameters for such EMI devices are included in this second edition.

Méthodes de mesure des caractéristiques d'antiparasitage des dispositifs de filtrage CEM passifs

La CISPR 17:2011 spécifie les méthodes de mesure des caractéristiques d'antiparasitage des perturbations radioélectriques des dispositifs de filtrage CEM passifs utilisés dans les lignes électriques et de transmission de signaux et dans d'autres circuits. Les méthodes définies peuvent également s'appliquer aux combinaisons de dispositifs de protection contre les surtensions et les dispositifs de filtrage CEM. La méthode de mesure décrite couvre la gamme de fréquences comprise entre 9 kHz et plusieurs GHz, en fonction du dispositif et du circuit d'essai. La norme décrit des méthodes applicables aux essais en laboratoire (essais de type) et aux essais en usine. Des méthodes d'essai avec et sans conditions de polarisation sont définies. Les caractéristiques d'antiparasitage des filtres et éléments CEM utilisés pour la réduction des perturbations CEM sont fonction de nombreuses variables telles que l'impédance des circuits auxquels elles sont associées, la tension et le courant d'utilisation et la température ambiante. La présente norme spécifie des méthodes d'essai uniformes qui permettent de comparer les caractéristiques de filtrage et d'antiparasitage déterminées par les laboratoires d'essai ou précisées par les constructeurs. Des méthodes de mesure sont fournies pour des conditions avec et sans polarisation. Les mesures effectuées dans des conditions de polarisation permettent de déterminer le comportement non linéaire potentiel des dispositifs de filtrage CEM, comme les effets de saturation exercés sur les inductances à noyaux magnétiques. Ces essais permettent de montrer la facilité d'emploi dans une application spécifique (telle que dans les cas de convertisseurs de fréquence qui produisent de grandes amplitudes de courant de choc de mode commun, et peuvent ainsi entraîner la saturation des inductances). Il n'est pas nécessaire d'effectuer des mesures dans des conditions de polarisation si le comportement non linéaire peut être déterminé par d'autres méthodes (par exemple, mesure séparée de la saturation des inductances utilisées). La première édition du document CISPR 17 (1981) spécifiait les méthodes de mesure de l'affaiblissement d'insertion principalement pour les filtres réseau. Aujourd'hui, divers dispositifs électroniques comportent toutefois de nombreux types de filtres et d'éléments d'antiparasitage CEM complexes. Ces filtres doivent être caractérisés au moyen de méthodes de mesure normalisées. Cette seconde édition comporte les nouvelles méthodes de mesure de l'impédance et des paramètres S pour ce type de dispositifs EMI.

General Information

• Status: Published
• Publication Date: 09-Jun-2011
• ICS: 01 - GENERALITIES. TERMINOLOGY. STANDARDIZATION. DOCUMENTATION
• ICS: 33.100.01 - Electromagnetic compatibility in general
• Technical Committee: CIS/A - Radio-interference measurements and statistical methods
• Current Stage: PPUB - Publication issued
• Start Date: 30-Jun-2011
• Completion Date: 10-Jun-2011

Relations

• Revises: CISPR 17:1981 - Methods of measurement of the suppression characteristics of passive radio interference filters and suppression components
• Effective Date: 05-Sep-2023

Standards Content (Sample)

CISPR 17 ®
Edition 2.0 2011-06
INTERNATIONAL
STANDARD
NORME
INTERNATIONALE
colour
inside
INTERNATIONAL SPECIAL COMMITTEE ON RADIO INTERFERENCE
COMITÉ INTERNATIONAL SPÉCIAL DES PERTURBATIONS RADIOÉLECTRIQUES

Methods of measurement of the suppression characteristics of passive EMC
filtering devices
Méthodes de mesure des caractéristiques d’antiparasitage des dispositifs de
filtrage CEM passifs
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Methods of measurement of the suppression characteristics of passive EMC
filtering devices
Méthodes de mesure des caractéristiques d’antiparasitage des dispositifs de
filtrage CEM passifs
INTERNATIONAL
ELECTROTECHNICAL
COMMISSION
COMMISSION
ELECTROTECHNIQUE
PRICE CODE
INTERNATIONALE
CODE PRIX XB
ICS 33.100.01 ISBN 978-2-88912-526-5

– 2 – CISPR 17  IEC:2011
CONTENTS
FOREWORD . 6
INTRODUCTION . 8
1 Scope . 9
2 Normative references . 9
3 Terms, definitions and abbreviations . 9
3.1 Terms and definitions . 9
3.2 Abbreviations . 12
4 Classification of EMC filtering devices . 12
4.1 Insertion loss . 14
4.1.1 Insertion loss calculation . 14
4.1.2 Asymmetrical (common) mode . 14
4.1.3 Symmetrical (differential) mode . 14
4.1.4 Unsymmetrical mode . 14
4.2 Impedance . 14
4.3 S-parameters . 15
4.3.1 General . 15
4.3.2 Two-port S-parameters . 15
4.3.3 Four-port S-parameters . 16
5 Insertion loss measurement . 17
5.1 General . 17
5.2 Measurement set-up . 18
5.2.1 General . 18
5.2.2 Test equipment . 18
5.2.3 Asymmetrical (common mode) test circuit . 19
5.2.4 Symmetrical (differential mode) test circuit . 19
5.2.5 Unsymmetrical test circuit . 20
5.3 Measurement methods (procedure) . 21
5.3.1 General . 21
5.3.2 Measurement without bias . 22
5.3.3 Measurement with bias . 22
5.4 Calibration and verification . 23
5.4.1 General . 23
5.4.2 Validation of test set-up without bias . 23
5.4.3 Validation of test set-up with bias . 24
5.5 Uncertainty . 26
6 Impedance measurement . 26
6.1 General . 26
6.2 Direct method . 26
6.2.1 Measurement set-up and procedure . 26
6.2.2 Calibrations of the test set-up . 27
6.2.3 Measurement uncertainty . 27
6.3 Indirect method . 27
6.3.1 Measurement set-up and procedure . 27
6.3.2 Calibration of the test set-up . 29
6.3.3 Measurement uncertainty . 29
7 S-parameter measurement . 30

CISPR 17  IEC:2011 – 3 –
7.1 Measurement set-up and procedure . 30
7.1.1 General . 30
7.1.2 Test fixture . 31
7.2 Calibration of test set-up . 36
7.3 Measurement uncertainties . 36
8 Presentation of results . 36
8.1 General . 36
8.2 Insertion loss . 37
8.3 Impedance . 37
8.4 S-parameters . 37
Annex A (normative) Uncertainty estimation for the measurement of the suppression
characteristics of EMC filtering devices . 38
Annex B (informative) Examples of test boxes for insertion loss measurement . 43
Annex C (informative) Insertion loss test methods with non-50 Ω systems . 47
Annex D (informative) Realization of the buffer-network for insertion loss
measurement . 49
Annex E (informative) Insertion loss measurement – General discussion . 51
Annex F (informative) Set-up for impedance measurement . 54
Annex G (informative) S-parameter measurement of common-mode choke coils . 59
Annex H (informative) Measurement set-up for S-parameters of a DUT without wire
leads . 64
Bibliography . 66

Figure 1 – Measurement arrangement for S-parameters of a two-terminal device . 15
Figure 2 – Measurement arrangement for S-parameters of a three-terminal device . 15
Figure 3 – Measurement arrangement for four-port S-parameters . 16
Figure 4 – Test circuit for insertion loss measurement (example: 4-line-filter) . 18
Figure 5 – Test circuit for asymmetrical insertion loss measurement (example:
4-line-filter) . 19
Figure 6 – Test circuit for symmetrical insertion loss measurement (example: 4-line-
filter) . 20
Figure 7 – Test circuit for unsymmetrical insertion loss measurement (example:
4-line filter) . 21
Figure 8 – Test circuit for inse
...