Semiconductor devices - Discrete devices - Part 7: Bipolar transistors

IEC 60747-7:2010 gives the requirements applicable to the following sub-categories of bipolar transistors excluding microwave transistors.
- Small signal transistors (excluding switching and microwave applications);
- Linear power transistors (excluding switching, high-frequency, and microwave applications);
- High-frequency power transistors for amplifier and oscillator applications;
- Switching transistors for high speed switching and power switching applications;
- Resistor biased transistors. The main changes with respect to previous edition are listed below.
a) Clause 1 was amended by adding an item that should be included.
b) Clauses 3, 4, 5, 6 and 7 were amended by adding terms, definitions, suitable additions and deletions those should be included.
c) The text of the second edition was combined with that of IEC 60747-7-5.
This publication is to be read in conjunction with IEC 60747-1:2006.

Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs discrets - Partie 7: Transistors bipolaires

La CEI 60747-7:2010 donne les exigences applicables aux sous-catégories suivantes de transistors bipolaires, à l'exclusion des transistors micro-ondes.
- Transistors petits signaux (à l'exclusion des applications en commutation et en micro-ondes);
- Transistors de puissance linéaire (à l'exclusion des applications en commutation, à haute fréquence et en micro-ondes);
- Transistors de puissance haute fréquence pour applications en amplificateurs et en oscillateurs;
- Transistors de commutation pour applications en commutation à grande vitesse et en commutation de puissance;
- Transistors à résistances de polarisation. Les principaux changements par rapport à l'édition précédente sont énumérés ci-dessous.
a) L'article 1 a été amendé par l'ajout d'un élément qu'il convient d'inclure.
b) Les articles 3, 4, 5, 6 et 7 ont été amendés en ajoutant des termes et des définitions, ainsi que des ajouts et suppressions adaptés qu'il convient d'inclure.
c) Le texte de la deuxième édition a été combiné à la CEI 60747-7-5.
Cette publication doit être lue conjointement avec la CEI 60747-1:2006.

General Information

Status
Published
Publication Date
15-Dec-2010
Current Stage
PPUB - Publication issued
Start Date
15-Jan-2011
Completion Date
16-Dec-2010
Ref Project

Relations

Buy Standard

Standard
IEC 60747-7:2010 - Semiconductor devices - Discrete devices - Part 7: Bipolar transistors
English and French language
209 pages
sale 15% off
Preview
sale 15% off
Preview
Standard
IEC 60747-7:2010+AMD1:2019 CSV - Semiconductor devices - Discrete devices - Part 7: Bipolar transistors Released:9/23/2019 Isbn:9782832274309
English and French language
418 pages
sale 15% off
Preview
sale 15% off
Preview

Standards Content (Sample)


IEC 60747-7 ®
Edition 3.0 2010-12
INTERNATIONAL
STANDARD
NORME
INTERNATIONALE
Semiconductor devices – Discrete devices –
Part 7: Bipolar transistors
Dispositifs à semiconducteurs – Dispositifs discrets –
Partie 7: Transistors bipolaires

All rights reserved. Unless otherwise specified, no part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by
any means, electronic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing from either IEC or
IEC's member National Committee in the country of the requester.
If you have any questions about IEC copyright or have an enquiry about obtaining additional rights to this publication,
please contact the address below or your local IEC member National Committee for further information.

Droits de reproduction réservés. Sauf indication contraire, aucune partie de cette publication ne peut être reproduite
ni utilisée sous quelque forme que ce soit et par aucun procédé, électronique ou mécanique, y compris la photocopie
et les microfilms, sans l'accord écrit de la CEI ou du Comité national de la CEI du pays du demandeur.
Si vous avez des questions sur le copyright de la CEI ou si vous désirez obtenir des droits supplémentaires sur cette
publication, utilisez les coordonnées ci-après ou contactez le Comité national de la CEI de votre pays de résidence.

IEC Central Office
3, rue de Varembé
CH-1211 Geneva 20
Switzerland
Email: inmail@iec.ch
Web: www.iec.ch
About the IEC
The International Electrotechnical Commission (IEC) is the leading global organization that prepares and publishes
International Standards for all electrical, electronic and related technologies.

About IEC publications
The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC. Please make sure that you have the
latest edition, a corrigenda or an amendment might have been published.
§ Catalogue of IEC publications: www.iec.ch/searchpub
The IEC on-line Catalogue enables you to search by a variety of criteria (reference number, text, technical committee,…).
It also gives information on projects, withdrawn and replaced publications.
§ IEC Just Published: www.iec.ch/online_news/justpub
Stay up to date on all new IEC publications. Just Published details twice a month all new publications released. Available
on-line and also by email.
§ Electropedia: www.electropedia.org
The world's leading online dictionary of electronic and electrical terms containing more than 20 000 terms and definitions
in English and French, with equivalent terms in additional languages. Also known as the International Electrotechnical
Vocabulary online.
§ Customer Service Centre: www.iec.ch/webstore/custserv
If you wish to give us your feedback on this publication or need further assistance, please visit the Customer Service
Centre FAQ or contact us:
Email: csc@iec.ch
Tel.: +41 22 919 02 11
Fax: +41 22 919 03 00
A propos de la CEI
La Commission Electrotechnique Internationale (CEI) est la première organisation mondiale qui élabore et publie des
normes internationales pour tout ce qui a trait à l'électricité, à l'électronique et aux technologies apparentées.

A propos des publications CEI
Le contenu technique des publications de la CEI est constamment revu. Veuillez vous assurer que vous possédez
l’édition la plus récente, un corrigendum ou amendement peut avoir été publié.
§ Catalogue des publications de la CEI: www.iec.ch/searchpub/cur_fut-f.htm
Le Catalogue en-ligne de la CEI vous permet d’effectuer des recherches en utilisant différents critères (numéro de référence,
texte, comité d’études,…). Il donne aussi des informations sur les projets et les publications retirées ou remplacées.
§ Just Published CEI: www.iec.ch/online_news/justpub
Restez informé sur les nouvelles publications de la CEI. Just Published détaille deux fois par mois les nouvelles
publications parues. Disponible en-ligne et aussi par email.
§ Electropedia: www.electropedia.org
Le premier dictionnaire en ligne au monde de termes électroniques et électriques. Il contient plus de 20 000 termes et
définitions en anglais et en français, ainsi que les termes équivalents dans les langues additionnelles. Egalement appelé
Vocabulaire Electrotechnique International en ligne.
§ Service Clients: www.iec.ch/webstore/custserv/custserv_entry-f.htm
Si vous désirez nous donner des commentaires sur cette publication ou si vous avez des questions, visitez le FAQ du
Service clients ou contactez-nous:
Email: csc@iec.ch
Tél.: +41 22 919 02 11
Fax: +41 22 919 03 00
IEC 60747-7 ®
Edition 3.0 2010-12
INTERNATIONAL
STANDARD
NORME
INTERNATIONALE
Semiconductor devices – Discrete devices –
Part 7: Bipolar transistors
Dispositifs à semiconducteurs – Dispositifs discrets –
Partie 7: Transistors bipolaires

INTERNATIONAL
ELECTROTECHNICAL
COMMISSION
COMMISSION
ELECTROTECHNIQUE
PRICE CODE
INTERNATIONALE
XD
CODE PRIX
ICS 31.080.30 ISBN 978-2-88912-311-7
– 2 – 60747-7 Ó IEC:2010
CONTENTS
FOREW ORD . 6
1 Sc o pe . 8
2 Normative references . 8
3 Terms and definitions . 8
3.1 Specific functional regions . 8
3.2 Resistor biased transistor . 9
3.3 Terms related to ratings and characteristics . 10
4 Letter symbols . 13
4.1 General . 13
4.2 Additional subscripts . 13
4.3 List of letter symbols . 13
4.3.1 General . 13
4.3.2 Voltages . 14
4.3.3 Currents . 15
4.3.4 Powers. 15
4.3.5 Electrical parameters . 15
4.3.6 Frequency parameters . 19
4.3.7 Switching parameters . 20
4.3.8 Energies . 21
4.3.9 Sundry quantities . 21
4.3.10 Matched-pair bipolar transistors . 22
4.3.11 Resistor biased transistor. 22
5 Essential ratings and characteristics . 22
5.1 General . 22
5.2 Small signal transistors . 22
5.2.1 Ratings (limiting values) . 22
5.2.2 Characteristics . 23
5.3 Linear power transistors . 24
5.3.1 Ratings (limiting values) . 24
5.3.2 Characteristics . 25
5.4 High-frequency power transistors for amplifier and oscillator applications . 26
5.4.1 Ratings (limiting values) . 26
5.4.2 Characteristics . 27
5.5 Switching transistors . 29
5.5.1 Ratings (limiting values) . 29
5.5.2 Characteristics . 31
5.6 Resistor biased transistors . 33
5.6.1 Ratings . 33
5.6.2 Characteristics . 34
6 Measuring methods . 34
6.1 General . 34
6.2 Verification of ratings (limiting values) . 35
6.2.1 Acceptance criteria . 35
6.2.2 Collector current . 35
6.2.3 Peak collector current . 36
6.2.4 Base current . 36

60747-7 Ó IEC:2010 – 3 –
6.2.5 Peak base current . 37
6.2.6 Collector-base voltage . 38
6.2.7 Collector-emitter voltage, output voltage . 39
6.2.8 Emitter-base voltage, Input voltage . 39
6.2.9 Safe operating area (SOA) . 40
6.2.10 Output current (I ) . 43
O
6.2.11 Collector-emitter sustaining voltage . 44
6.3 Methods of measurement . 46
6.3.1 Turn-on time intervals and turn-on energy with inductive road . 46
6.3.2 Turn-off time intervals and turn-off energy with inductive road . 47
6.3.3 Collector-emitter cut-off currents (d.c. method) . 49
6.3.4 Collector-base cut-off current (d.c. method) . 49
6.3.5 Emitter-base cut-off current (d.c. method) . 50
6.3.6 Collector-emitter saturation voltage . 50
6.3.7 Base-emitter saturation voltage . 52
6.3.8 Base-emitter voltage (d.c. method) . 53
6.3.9 Capacitances . 54
6.3.10 Hybrid parameters (small-signal and large-signal) . 57
6.3.11 Thermal resistance . 64
6.3.12 Switching times with resistive road . 69
6.3.13 High-frequency parameters (f , y.e, s.). 71
T
6.3.14 Noise (F) . 81
6.3.15 Measuring methods for matched-pair bipolar transistors . 87
6.3.16 Measuring Methods for resistor biased transistors . 90
7 Acceptance and reliability . 94
7.1 General requirements . 94
7.2 Specific requirements . 94
7.2.1 List of endurance tests. 94
7.2.2 Conditions for endurance tests . 94
7.2.3 Acceptance-defining characteristics and acceptance criteria for
reliability tests . 94
7.3 Endurance and reliability test methods . 95
7.3.1 High temperature blocking (HTRB) . 95
7.3.2 Intermittent operating life . 96
7.4 Type tests and routine tests . 97
7.4.1 Type tests . 97
7.4.2 Routine tests . 97
Annex A (informative) Determination of the SOA . 99

Figure 1 – Resistor biased transistor graphical symbol . 9
Figure 2 – Modified hybrid p equivalent circuit .
...


IEC 60747-7 ®
Edition 3.1 2019-09
CONSOLIDATED VERSION
INTERNATIONAL
STANDARD
NORME
INTERNATIONALE
colour
inside
Semiconductor devices – Discrete devices –
Part 7: Bipolar transistors
Dispositifs à semiconducteurs – Dispositifs discrets –
Partie 7: Transistors bipolaires

All rights reserved. Unless otherwise specified, no part of this publication may be reproduced or utilized in any form
or by any means, electronic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing from
either IEC or IEC's member National Committee in the country of the requester. If you have any questions about IEC
copyright or have an enquiry about obtaining additional rights to this publication, please contact the address below or
your local IEC member National Committee for further information.

Droits de reproduction réservés. Sauf indication contraire, aucune partie de cette publication ne peut être reproduite
ni utilisée sous quelque forme que ce soit et par aucun procédé, électronique ou mécanique, y compris la photocopie
et les microfilms, sans l'accord écrit de l'IEC ou du Comité national de l'IEC du pays du demandeur. Si vous avez des
questions sur le copyright de l'IEC ou si vous désirez obtenir des droits supplémentaires sur cette publication, utilisez
les coordonnées ci-après ou contactez le Comité national de l'IEC de votre pays de résidence.

IEC Central Office Tel.: +41 22 919 02 11
3, rue de Varembé info@iec.ch
CH-1211 Geneva 20 www.iec.ch
Switzerland
About the IEC
The International Electrotechnical Commission (IEC) is the leading global organization that prepares and publishes
International Standards for all electrical, electronic and related technologies.

About IEC publications
The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC. Please make sure that you have the
latest edition, a corrigendum or an amendment might have been published.

IEC publications search - webstore.iec.ch/advsearchform Electropedia - www.electropedia.org
The advanced search enables to find IEC publications by a The world's leading online dictionary on electrotechnology,
variety of criteria (reference number, text, technical containing more than 22 000 terminological entries in English
committee,…). It also gives information on projects, replaced and French, with equivalent terms in 16 additional languages.
and withdrawn publications. Also known as the International Electrotechnical Vocabulary

(IEV) online.
IEC Just Published - webstore.iec.ch/justpublished
Stay up to date on all new IEC publications. Just Published IEC Glossary - std.iec.ch/glossary
details all new publications released. Available online and 67 000 electrotechnical terminology entries in English and
once a month by email. French extracted from the Terms and Definitions clause of
IEC publications issued since 2002. Some entries have been
IEC Customer Service Centre - webstore.iec.ch/csc collected from earlier publications of IEC TC 37, 77, 86 and
If you wish to give us your feedback on this publication or CISPR.

need further assistance, please contact the Customer Service

Centre: sales@iec.ch.
A propos de l'IEC
La Commission Electrotechnique Internationale (IEC) est la première organisation mondiale qui élabore et publie des
Normes internationales pour tout ce qui a trait à l'électricité, à l'électronique et aux technologies apparentées.

A propos des publications IEC
Le contenu technique des publications IEC est constamment revu. Veuillez vous assurer que vous possédez l’édition la
plus récente, un corrigendum ou amendement peut avoir été publié.

Recherche de publications IEC - Electropedia - www.electropedia.org
webstore.iec.ch/advsearchform Le premier dictionnaire d'électrotechnologie en ligne au
La recherche avancée permet de trouver des publications IEC monde, avec plus de 22 000 articles terminologiques en
en utilisant différents critères (numéro de référence, texte, anglais et en français, ainsi que les termes équivalents dans
comité d’études,…). Elle donne aussi des informations sur les 16 langues additionnelles. Egalement appelé Vocabulaire
projets et les publications remplacées ou retirées. Electrotechnique International (IEV) en ligne.

IEC Just Published - webstore.iec.ch/justpublished Glossaire IEC - std.iec.ch/glossary
Restez informé sur les nouvelles publications IEC. Just 67 000 entrées terminologiques électrotechniques, en anglais
Published détaille les nouvelles publications parues. et en français, extraites des articles Termes et Définitions des
Disponible en ligne et une fois par mois par email. publications IEC parues depuis 2002. Plus certaines entrées
antérieures extraites des publications des CE 37, 77, 86 et
Service Clients - webstore.iec.ch/csc CISPR de l'IEC.

Si vous désirez nous donner des commentaires sur cette
publication ou si vous avez des questions contactez-nous:
sales@iec.ch.
IEC 60747-7 ®
Edition 3.1 2019-09
CONSOLIDATED VERSION
INTERNATIONAL
STANDARD
NORME
INTERNATIONALE
colour
inside
Semiconductor devices – Discrete devices –

Part 7: Bipolar transistors
Dispositifs à semiconducteurs – Dispositifs discrets –

Partie 7: Transistors bipolaires

INTERNATIONAL
ELECTROTECHNICAL
COMMISSION
COMMISSION
ELECTROTECHNIQUE
INTERNATIONALE
ICS 31.080.30 ISBN 978-2-8322-7430-9

IEC 60747-7 ®
Edition 3.1 2019-09
CONSOLIDATED VERSION
REDLINE VERSION
VERSION REDLINE
colour
inside
Semiconductor devices – Discrete devices –
Part 7: Bipolar transistors
Dispositifs à semiconducteurs – Dispositifs discrets –
Partie 7: Transistors bipolaires

– 2 – IEC 60747-7:2010+AMD1:2019 CSV
 IEC 2019
CONTENTS
FOREWORD . 6
1 Scope . 8
2 Normative references . 8
3 Terms and definitions . 8
3.1 Specific functional regions . 8
3.2 Resistor biased transistor . 9
3.3 Terms related to ratings and characteristics . 10
4 Letter symbols . 13
4.1 General . 13
4.2 Additional subscripts . 13
4.3 List of letter symbols . 13
4.3.1 General . 13
4.3.2 Voltages . 14
4.3.3 Currents . 15
4.3.4 Powers . 15
4.3.5 Electrical parameters . 15
4.3.6 Frequency parameters . 19
4.3.7 Switching parameters . 20
4.3.8 Energies . 21
4.3.9 Sundry quantities . 21
4.3.10 Matched-pair bipolar transistors. 22
4.3.11 Resistor biased transistor . 22
5 Essential ratings and characteristics . 22
5.1 General . 22
5.2 Small signal transistors . 22
5.2.1 Ratings (limiting values) . 22
5.2.2 Characteristics . 23
5.3 Linear power transistors . 24
5.3.1 Ratings (limiting values) . 24
5.3.2 Characteristics . 25
5.4 High-frequency power transistors for amplifier and oscillator applications . 26
5.4.1 Ratings (limiting values) . 26
5.4.2 Characteristics . 27
5.5 Switching transistors . 29
5.5.1 Ratings (limiting values) . 29
5.5.2 Characteristics . 31
5.6 Resistor biased transistors . 33
5.6.1 Ratings . 33
5.6.2 Characteristics . 34
6 Measuring methods . 34
6.1 General . 34
6.2 Verification of ratings (limiting values) . 35
6.2.1 Acceptance criteria . 35
6.2.2 Collector current . 35
6.2.3 Peak collector current . 36
6.2.4 Base current . 36

 IEC 2019
6.2.5 Peak base current . 37
6.2.6 Collector-base voltage . 38
6.2.7 Collector-emitter voltage, output voltage . 39
6.2.8 Emitter-base voltage, Input voltage . 39
6.2.9 Safe operating area (SOA) . 40
6.2.10 Output current (I ) . 44
O
6.2.11 Collector-emitter sustaining voltage . 44
6.3 Methods of measurement . 46
6.3.1 Turn-on time intervals and turn-on energy with inductive road . 46
6.3.2 Turn-off time intervals and turn-off energy with inductive road . 48
6.3.3 Collector-emitter cut-off currents (d.c. method) . 49
6.3.4 Collector-base cut-off current (d.c. method) . 50
6.3.5 Emitter-base cut-off current (d.c. method). 50
6.3.6 Collector-emitter saturation voltage . 50
6.3.7 Base-emitter saturation voltage . 52
6.3.8 Base-emitter voltage (d.c. method) . 54
6.3.9 Capacitances . 54
6.3.10 Hybrid parameters (small-signal and large-signal) . 57
6.3.11 Thermal resistance . 64
6.3.12 Switching times with resistive road . 69
6.3.13 High-frequency parameters (f , y.e, s.) . 71
T
6.3.14 Noise (F) . 81
6.3.15 Measuring methods for matched-pair bipolar transistors . 87
6.3.16 Measuring Methods for resistor biased transistors . 90
7 Acceptance and reliability . 94
7.1 General requirements .
...

Questions, Comments and Discussion

Ask us and Technical Secretary will try to provide an answer. You can facilitate discussion about the standard in here.