ISO 3274:1975

Instruments for the measurement of surface roughness by the profile method — Contact (stylus) instruments of consecutive profile transformation — Contact profile meters, system M

Instruments de mesurage de la rugosité des surfaces par la méthode du profil — Instruments à palpeur-aiguille, à transformation progressive du profil — Profilomètres à contact du système M

General Information

• Status: Withdrawn
• Publication Date: 30-Jun-1975
• Withdrawal Date: 30-Jun-1975
• ICS: 17.040.30 - Measuring instruments
• Technical Committee: ISO/TC 213 - Dimensional and geometrical product specifications and verification
• Drafting Committee: ISO/TC 213 - Dimensional and geometrical product specifications and verification
• Current Stage: 9599 - Withdrawal of International Standard
• Completion Date: 05-Dec-1996

Relations

• Revised: SIST ISO 3274:2001 - Geometrical Product Specifications (GPS) -- Surface texture: Profile method -- Nominal characteristics of contact (stylus) instruments
• Effective Date: 12-May-2008
• Revised: ISO 3274:1996 - Geometrical Product Specifications (GPS) — Surface texture: Profile method — Nominal characteristics of contact (stylus) instruments
• Effective Date: 15-Apr-2008

Standards Content (Sample)

INTERNATIONAL STANDARD @ ‘ai!!@ 3274
INTERNATIONAL ORGANIZATION FOR STANDARDIZATION .ME)KAYHAPOAHAII OPTAHMSAUMII IT0 CTAH&APTW3AUHM *ORGANISATION INTERNATIONALE DE NORMALISATION
Instruments for the measurement of surface roughness by the
.I)
profile method - Contact (stylus) instruments of consecutive
profile transformation - Contact profile meters, system M
Instruments de mesurage de la rugosité des surfaces par la méthode du profil - Instruments à palpeur-aiguille, à
transformation progressive du profil - Pro filomètres à contact du système M
First edition - 1975-07-15
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Descriptors : surface condition, roughness, measuring instruments, profile meters.
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Price based on 7 pages

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FOREWORD
IS0 (the International Organization for Standardization) is a worldwide federation
(IS0 Member Bodies). The work of developing
of national standards institutes
International Standards is carried out through IS0 Technical Committees. Every
Member Body interested in a subject for which a Technical Committee has been set
up has the right to be represented on that Committee. International organizations,
governmental and non-governmental, in liaison with ISO, also take part in the work.
Draft International Standards adopted by the Technical Committees are circulated
to the Member Bodies for approval before their acceptance as International
Standards by the IS0 Council.
International Standard IS0 3274 was drawn up by Technical Committee
lSO/TC 57, Metrology and properties of surfaces, and circulated to the Member
Bodies in April 1974.
It has been approved by the Member Bodies of the following countries :
Austria Italy Sweden
Belgium Japan Switzerland
I
Bulgaria Mexico Turkey
Netherlands United Kingdom
Canada
Poland U.S.A.
Chile
Germany Romania U.S.S.R.
Hungary South Africa, Rep. of Yugoslavia
India Spain
The Member Body of the following country expressed disapproval of the document
on technical grounds :
France
1
O International Organization for Standardization, 1975

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INTERNATIONAL STANDARD IS0 3274-1975 (E)
Instruments for the measurement of surface roughness by the
profile method - Contact (stylus) instruments of consecutive
profile transformation - Contact profile meters, system M
1 SCOPE AND FIELD OF APPLICATION 3.5 profile meter with predetermined traversing length : A
profile meter in which the length used for measurement has
This 'International Standard defines the basic terms relating
a defined beginning and end determined by switches or
to system M profile meters, gives the basic parameters of
other instrumental means.
these instruments and their numerical values and specifies
their metrological characteristics. NOTE - These profile meters generally indicate and hold the
reading of the measured parameter obtained at the end of the stated
NOTE - Similar International Standards relating to profile meters measuring length.
in other reference systems that may be accepted in future will be
considered separately.
3.6 profile meter with "running" traversing length (giving
a "running" average) : A profile meter in which the length
used for measurement results from the time constant of the
profile meter and moves with a pick-up along the traversing
2 REFERENCES
length.
ISOIR 468, Surface roughness.
NOTE - In these profile meters the reading may fluctuate according
to local variations of the profile.
IS0 1879, Instruments for the measurement of surface
roughness by the profile method - Vocabulary.
3.7 static measuring force: The force which the stylus
exerts along its axis on the examined surface without taking
into account the dynamic components that arise from the
3 DEFINITIONS traversing of the surface by a stylus.
For a certain number of general terms used in this
3.8 rate of change of the static measuring force: The
International Standard, the definitions are given in
change of the static measuring force per unit displacement
ISO/R 468 and IS0 1879. The definitions of terms specific
of the stylus along its axis.
to this International Standard are given below.
3.9 cut-off, h, : The value of the wavelength h
3.1 profile meter : An instrument used for the
numerically equal to the sampling length and
0'
measurement of surface roughness parameters.
conventionally taken as the upper limit of transmission of
the profile meter.
3.2 contact profile meter, system M : A contact (stylus)
instrument of consecutive profile transformation used for NOTE - The given upper limit conventionally separates the
nominally transmitted components of the effective profile spectrum
the measurement of surface roughness according to
from those that are nominally suppressed.
system M.
3.10 basic error of a profile meter reading : The difference
3.3 modified profile : The effective profile defined by the
between the profile meter reading and the value of the
combination of a stylus and profile meter filter, the latter
surface roughness parameter that is determined by the
being used for selecting a part of the spectrum of the real
defined nominal response of a profile meter, expressed in
profile to be taken into consideration in the measurement
percent.
of surface roughness parameters.
3.11 method divergence of a profile meter reading : The
3.4 measuring traversing length : The length of the
difference between the value of a surface roughness
modified profile used for the measurement of surface
parameter that is determined by the defined nominal
roughness parameters.
response of a profile meter and the value of the parameter
determined according to ISO/R 468, expressed in
NOTE - The measuring traversing length comprises one or several
sampling lengths.
percent.' )
1) This definition is provisional. It may be dealt with later in a separate document.
1

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4.4 Load exerted by the pick-up skid on the surface to be
4 BASIC PARAMETERS
measured
4.1 Stylus angle
The load exerted by the pick-up on the surface to be
ominal value of the stylus angle, in radians (degrees), measured shall not exceed 0,5 N (50 gf) for hard materials.
shall be one of the following :
For soft materials the load exerted shall be lower.
1 ,O5 (60); 1,57 (90)
NOTE - The value of the load exerted by the skid may be
amended.
4.2 Tip radius of the stylus
The nominal value of the tip radius of the stylus, in
4.5 Tip radius of the skid, p
micrometres, shall be one of the following :
When employing one skid (figure I), or two skids disposed
2; 5; 10
on a straight line normal to the direction of the pick-up
movement (figure 2), the radius p of the skid in pla
...

NORME INTERNATIONALE 3274
INTERNATIONAL ORGANIZATION FOR STANDARDJZATION .MEXAYHAPOP(HAR OPïAHM3AUUR no CTAHJIAFTHJAUUM .ORGANISATION INTERNATIONALE DE NORMALISATION
Instruments de mesurage de la rugosité des surfaces par la
méthode du profil - Instruments a palpeur-aiguille,
a transformation progressive du profil - Profilomètres
à contact du système M
Instruments for the measurement of surface roughness by the profile method - Contact (stylus) instruments
of consecutive profile transformation - Contact profile meters, system M
Première édition - 1975-07-15
-
K
-
CDU 621.9.015 : 681.2 Réf. no : IS0 3274-1975 (FI
2
4!
Descripteurs : état de surface, rugosité, instrument de mesurage, profilomètre.
x
%
8
Prix bas6 sur 7 pages

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AVANT-PROPOS
L'ISO (Organisation Internationale de Normalisation) est une fédération mondiale
d'organismes nationaux de normalisation (Comités Membres SO). L'élaboration de
Normes Internationales est confiée aux Comités Techniques ISO. Chaque Comité
Membre intéressé par une étude a le droit de faire partie du Comité Technique
correspondant. Les organisations internationales, gouvernementales et non
avec I'ISO, participent également aux travaux.
gouvernementales, en liaison
Les Projets de Normes Internationales adoptés par les Comités Techniques sont
soumis aux Comités Membres pour approbation, avant leur acceptation comme
Normes Internationales par le Conseil de I'ISO.
La Norme Internationale IS0 3274 a été établie par le Comité Technique
ISO/TC 57, Métrologie et propriétés des surfaces, et soumise aux Comités Membres
en avril 1974.
Elle a été approuvée par les Comités Membres des pays suivants :
Afrique du Sud, Rép. d' Hongrie Royaume-Uni
Al lemagne Inde Suède
Autriche Italie Suisse
Belgique Japon Turquie
Bulgarie Mexique U.R.S.S.
Pays-Bas U.S.A.
Canada
Chili Pologne Yougoslavie
Espagne Roumanie
Le Comité Membre du pays suivant a désapprouvé le document pour des raisons
techniques :
France
O Organisation Internationale de Normalisation, 1975
Imprimé en Suisse

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IS0 3274-1975 (F)
NORME INTERNATIONALE
Instruments de mesurage de la rugosité des surfaces par la
méthode du profil - Instruments à palpeur-aiguille,
profil - Profilomètres
à transformation progressive du
à contact du système M
1 OBJET ET DOMAINE D'APPLICATION 3.5 profilomètre à longueur d'exploration constante :
Profilomètre dans lequel le début et la fin de la longueur
La présente Norme Internationale définit les termes
utilisée pour le mesurage sont fixés par des limiteurs ou
principaux se rapportant aux profilomètres du système M,
autres dispositifs.
fixe les paramètres principaux de ces instruments et leurs
et spécifie leurs caractéristiques
valeurs numériques, NOTE - Les profiIomètres de ce type indiquent et retiennent
métrologiques. généralement la valeur du paramètre mesuré obtenue à la fin de la
longueur d'exploration indiquée.
NOTE - Des Normes Internationales analogues, relatives aux
0
profilomètres d'autres systèmes de référence qui pourraient être
3.6 profilomètre à longueur d'exploration glissante
acceptés à l'avenir, seront envisagées séparément.
(donnant une moyenne ((glissante))) : Profilomètre dans
lequel la longueur utilisée pour le mesurage résulte de la
2 REFERENCES
constante de temps de l'instrument, et se déplace le long de
la longueur d'exploration d'une manière synchrone au
I SO/ R 468, Rugosité de surface.
déplacement relatif du capteur.
IS0 1879, Instruments de mesurage de la rugosité des
NOTE - Les indications des profilomètres de ce type peuvent varier
surfaces par la méthode du profil - Vocabulaire.
en fonction des variations locales du profil.
3.7 effort statique de mesurage : Force exercée par le
3 TERMES ET DÉFINITIONS
palpeur, le long de son axe, sur la surface à mesurer,
abstraction faite des composantes dynamiques qui
Pour un certain nombre de termes généraux utilisés dans la
apparaissent au cours du palpage de la surface.
présente Norme Internationale, les définitions sont données
dans I'iSO/R 468 et I'ISO 1879. Les définitions des termes
3.8 taux de variation de l'effort statique de mesurage :
spécifiques à la présente Norme Internationale sont données
Variation de l'effort statique de mesurage par unité de
ci-après.
longueur de déplacement du palpeur le long de son axe.
3.1 profilomètre : Instrument servant à mesurer des
3.9 longueur d'onde de coupure A, : Valeur de la
paramètres de rugosité de surface.
longueur d'onde A égale à la valeur numérique de la
lpngueur de base et prise conventionnellement comme
3.2 profilomètre à contact du système M : Instrument à
limite supérieure de transmission du profilomètre.
contact à palpeur-aiguille, à transformation progressive du
NOTE - La limite supérieure indiquée sépare conventionnellement
profil, servant à mesurer la rugosité de surface selon le
les composantes transmises de celles supprimées du spectre effectif
système M.
du profil.
3.3 profil modifié : Profil effectif obtenu avec une
3.10 erreur de base des indications du profilomètre :
et d'un filtre, ce dernier étant
combinaison d'un palpeur
Différence exprimée en pourcentage entre une indication du
employé pour séparer une partie du spectre du profil réel,
profilomètre et la valeur du paramètre de la rugosité de
qui doit être prise en considération lors du mesurage de la
surface définie aux caractéristiques nominales du
rugosité de surface.
prof i lomètre.
3.4 longueur d'exploration : Longueur du profil modifié
3.1 1 erreur de méthode des indications du profilomètre :
le mesurage des paramètres de la rugosité de
utilisée pour
Différence exprimée en pourcentage entre la valeur du
surface.
paramètre de la rugosité de surface définie aux caractéris-
tiques nominales de l'appareil et la valeur du paramètre
NOTE - La longueur d'exploration comprend une ou plusieurs
défini conformément à I'ISO/R 468.')
longueurs de base.
1) Cette définition est provisoire. Un document séparé reprendra éventuellement ce paragraphe.
1

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IS0 3274-1975 (F)
4 PARAMÈTRES PRINCIPAUX
4.4 Force d'appui du patin sur la surface à mesurer
La force d'appui du patin sur la surface à mesurer ne doit
4.1 Angle du palpeur
pas dépasser 0,5 N (50 gf) pour un matériau dur.
La valeur nominale, en radians (en degrés, de l'angle du
Pour un matériau déformable, la force d'appui doit être
palpeur doit être l'une des suivantes :
plus faible.
1 ,O5 (60); 1,57 (90)
NOTE - La valeur de la force d'appui peut être modifiée.
4.2 Rayon de courbure de la pointe du palpeur
La valeur nominale, en micromètres, du rayon de courbure
4.5 Rayon de courbure du patin, p
de la pointe du palpeur, doit être l'une des suivantes :
Lorsqu'on utilise un capteur à un (figure 1) ou à deux
2; 5; 10
patins situés dans un plan perpendiculaire à la direction du
déplacement du capteur (figure 21, le rayon de courbure p
4.3 Effort statique de mesurage
du patin dans le plan A-A et dans les plans parallèles à ce
L'effort statique de mesurage doit assurer un contact
plan (figures 1 et 2) doit être au moins égal à 50 fois la
permanent entre le palpeur et la surface à mesurer.
longueur d'onde de cou
...