SIST EN ISO 8785:2000

Geometrical product specification (GPS) - Surface imperfections - Terms, definitions and parameters (ISO 8785:1998)

Geometrische Produktspezifikation (GPS) - Oberflächenunvollkommenheiten - Begriffe, Definitionen und Kenngrößen (ISO 8785:1998)

Diese Internationale Norm definiert die Begriffe, die sich auf die Oberflächenunvolkommenheiten beziehen, um ein einheitliches Wörterbuch zu erarbeiten, das in technischen Zeichnungen, wissenschaftlichen Publikationen usw. angewendet werden sollte. Sie gibt an, in welchem Maße Oberflächenunvolkommenheiten erlaubt sind und hilft bei der Spezifikation von Verfahren zur Messung von Oberflächenunvolkommenheiten. Die in dieser Internationalen Norm definierten Oberflächenunvolkommenheiten beziehen sich nicht auf die Rauheit oder Welligkeit der Oberfläche.

Spécification géométrique des produits (GPS) - Imperfections de surface - Termes, définitions et parametres (ISO 8785:1998)

La présente Norme internationale définit les termes relatifs aux imperfections de surface. Elle vise à établir un vocabulaire commun à utiliser dans les documents techniques, les dessins techniques, les publications scientifiques, etc., pour spécifier les imperfections admissibles et les méthodes de mesurage.

Geometrical product specification (GPS) - Surface imperfections - Terms, definitions and parameters (ISO 8785:1998)

General Information

• Status: Published
• Publication Date: 30-Nov-2000
• ICS: 01.040.17 - Metrology and measurement. Physical phenomena (Vocabularies)
• ICS: 17.040.20 - Properties of surfaces
• ICS: 17.040.40 - Geometrical Product Specification (GPS)
• Technical Committee: SS SPL - Technical Board for the general field
• Current Stage: 6060 - National Implementation/Publication (Adopted Project)
• Start Date: 01-Dec-2000
• Due Date: 01-Dec-2000
• Completion Date: 01-Dec-2000
• Ref Project: EN ISO 8785:1999 - Geometrical product specification (GPS) - Surface imperfections - Terms, definitions and parameters (ISO 8785:1998)

Standards Content (Sample)

SLOVENSKI STANDARD
SIST EN ISO 8785:2000
01-december-2000
Geometrical product specification (GPS) - Surface imperfections - Terms,
definitions and parameters (ISO 8785:1998)

Geometrical product specification (GPS) - Surface imperfections - Terms, definitions and

parameters (ISO 8785:1998)

Geometrische Produktspezifikation (GPS) - Oberflächenunvollkommenheiten - Begriffe,

Definitionen und Kenngrößen (ISO 8785:1998)

Spécification géométrique des produits (GPS) - Imperfections de surface - Termes,

définitions et parametres (ISO 8785:1998)
Ta slovenski standard je istoveten z: EN ISO 8785:1999
ICS:
01.040.17 Meroslovje in merjenje. Metrology and measurement.
Fizikalni pojavi (Slovarji) Physical phenomena
(Vocabularies)
17.040.20 Lastnosti površin Properties of surfaces
SIST EN ISO 8785:2000 en

2003-01.Slovenski inštitut za standardizacijo. Razmnoževanje celote ali delov tega standarda ni dovoljeno.

---------------------- Page: 1 ----------------------
SIST EN ISO 8785:2000
---------------------- Page: 2 ----------------------
SIST EN ISO 8785:2000
---------------------- Page: 3 ----------------------
SIST EN ISO 8785:2000
---------------------- Page: 4 ----------------------
SIST EN ISO 8785:2000
INTERNATIONAL ISO
STANDARD 8785
NORME
First edition
Première édition
INTERNATIONALE
1998-07-15
Geometrical Product Specification (GPS) —
Surface imperfections — Terms, definitions
and parameters
Spécification géométrique des produits
(GPS) — Imperfections de surface —
Termes, définitions et paramètres
Reference number
A Numéro de référence
ISO 8785:1998(E/F)
---------------------- Page: 5 ----------------------
SIST EN ISO 8785:2000
ISO 8785:1998(E/F)
Foreword
ISO (the International Organization for Standardization) is a worldwide
federation of national standards bodies (ISO member bodies). The work of
preparing International Standards is normally carried out through ISO
technical committees. Each member body interested in a subject for which
a technical committee has been established has the right to be represented
on that committee. International organizations, governmental and non-
governmental, in liaison with ISO, also take part in the work. ISO
collaborates closely with the International Electrotechnical Commission
(IEC) on all matters of electrotechnical standardization.
Draft International Standards adopted by the technical committees are
circulated to the member bodies for voting. Publication as an International
Standard requires approval by at least 75 % of the member bodies casting
a vote.
International Standard ISO 8785 was prepared by Technical Committee
ISO/TC 213, Dimensional and geometrical product specifications and
verification.
Annexes A and B of this International Standard are for information only.
© ISO 1998

All rights reserved. Unless otherwise specified, no part of this publication may be reproduced

or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical, including photocopying and

microfilm, without permission in writing from the publisher. / Droits de reproduction réservés.

Sauf prescription différente, aucune partie de cette publication ne peut être reproduite ni

utilisée sous quelque forme que ce soit et par aucun procédé, électronique ou mécanique, y

compris la photocopie et les microfilms, sans l'accord écrit de l'éditeur.
International Organization for Standardization
Case postale 56 • CH-1211 Genève 20 • Switzerland
Internet [e-mail]
Printed in Switzerland/Imprimé en Suisse
---------------------- Page: 6 ----------------------
SIST EN ISO 8785:2000
ISO ISO 8785:1998(E/F)
Avant-propos
L'ISO (Organisation internationale de normalisation) est une fédération
mondiale d'organismes nationaux de normalisation (comités membres de
l'ISO). L'élaboration des Normes internationales est en général confiée aux
comités techniques de l'ISO. Chaque comité membre intéressé par une
étude a le droit de faire partie du comité technique créé à cet effet. Les
organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales,
en liaison avec l'ISO, participent également aux travaux. L'ISO collabore
étroitement avec la Commission électrotechnique internationale (CEI) en
ce qui concerne la normalisation électrotechnique.
Les projets de Normes internationales adoptés par les comités techniques
sont soumis aux comités membres pour vote. Leur publication comme
Normes internationales requiert l'approbation de 75 % au moins des
comités membres votants.
La Norme internationale ISO 8785 a été élaborée par le comité technique
ISO/TC 213, Spécifications et vérification dimensionnelles et géométriques
des produits.
Les annexes A et B de la présente Norme internationale sont données
uniquement à titre d’information.
iii
---------------------- Page: 7 ----------------------
SIST EN ISO 8785:2000
ISO 8785:1998(E/F) ISO
Introduction
This International Standard is a geometrical product specification (GPS)
standard and is to be regarded as a general GPS standard (see
ISO/TR 14638). It influences the chain links 1 and 2 of the chain of
standards for surface imperfections.
For more detailed information of the relation of this standard to other
standards and the GPS matrix mode, see annex A.
---------------------- Page: 8 ----------------------
SIST EN ISO 8785:2000
ISO ISO 8785:1998(E/F)
Introduction
La présente Norme internationale qui traite de la spécification géométrique
des produits (GPS) est considérée comme une norme GPS générale (voir
l'ISO/TR 14638). Elle influence les maillons 1 et 2 des chaînes de normes
relatives aux imperfections de surface.
Pour de plus amples informations sur la relation de la présente Norme
internationale avec les autres normes et la matrice GPS, voir l'annexe A.
---------------------- Page: 9 ----------------------
SIST EN ISO 8785:2000
---------------------- Page: 10 ----------------------
SIST EN ISO 8785:2000
INTERNATIONAL STANDARD
ISO ISO 8785:1998(E/F)
NORME INTERNATIONALE
Geometrical Product Spécification géométrique des
Specification (GPS) — Surface produits (GPS) —
imperfections — Terms, Imperfections de surface —
definitions and parameters Termes, définitions
et paramètres
1 Scope 1 Domaine d'application

This International Standard defines terms relating to La présente Norme internationale définit les termes

surface imperfections in order to establish a common relatifs aux imperfections de surface. Elle vise à établir

vocabulary to be used in technical documents, un vocabulaire commun à utiliser dans les documents

technical drawings, scientific publications, etc. to techniques, les dessins techniques, les publications

specify to what extent surface imperfections are scientifiques, etc., pour spécifier les imperfections

allowed and to aid in the specification of methods of admissibles et les méthodes de mesurage.

measuring surface imperfections.
Les imperfections de surface définies dans la présente

The surface imperfections defined in this International Norme internationale ne sont pas à prendre en compte

1) 1)

Standard are not related to surface roughness or dans la rugosité ou l'ondulation de surface.

surface waviness.
Elle ne spécifie pas leur caractère acceptable ou non

It does not specify the desirability or undesirability acceptable qui dépend de l'application ou de la

of surface imperfections, which depend on the fonction de la surface en question.

application or function of the surface.
D'autres termes et définitions peuvent être

For specific applications and manufacturing nécessaires pour des applications spéciales ou des

processes, additional terms and definitions may be procédés de fabrication particuliers. Ils seront traités

necessary. Such terms and definitions will be specified dans les Normes internationales correspondantes.

in relevant International Standards.
Certains types d'imperfections de surface spécifiques

Some types of specific surface imperfections are sont définis également dans d'autres Normes inter-

defined in other International Standards as well. nationales.
___________ ___________
1) See for example ISO 4287. 1) Voir, par exemple, l'ISO 4287.
---------------------- Page: 11 ----------------------
SIST EN ISO 8785:2000
ISO 8785:1998(E/F) ISO
2 General 2 Termes généraux
2.1 2.1
reference surface surface de référence, f

surface, having the form of a geometrical surface, surface ayant la forme de la surface géométrique, à

from which the parameters of surface imperfections partir de laquelle on évalue les paramètres des

are assessed imperfections de surface
NOTES NOTES
1 La surface de référence passe par les saillies les plus
1 The reference surface passes through the highest peak
hautes de la surface réelle, sans tenir compte des
of the real surface excluding the imperfections, and is
imperfections, et elle est équidistante de la surface
equidistant from the mean surface determined by the least-
moyenne déterminée par la méthode des moindres carrés.
squares method.
2 La surface de référence est déterminée sur une aire
2 The reference surface is determined over a specified
spécifiée ou sur une portion de surface limitée dépendant
surface area, or over a limited part of the surface area
de la taille (dimension) d'une imperfection isolée, la
related to the size (dimensions) of a single imperfection,
dimension de cette aire étant suffisante pour permettre à la
the size of the area being sufficient to assess the
fois d'évaluer l'imperfection et d'éliminer toute influence
imperfection while suppressing the influence of form
des écarts de forme sur l'évaluation.
deviation on the assessment.
3 La surface de référence coïncide en pratique avec la
3 The reference surface coincides in practice with the
surface de la zone adjacente à l'imperfection.
surface of the area adjacent to the imperfection.
2.2 2.2
surface imperfection evaluation area surface d'évaluation des imperfections, f
A A

portion of the real surface or the whole real surface of tout ou partie de la surface réelle sur laquelle les

a workpiece on which surface imperfections are imperfections de surface sont spécifiées et

specified and inspected contrôlées
2.3 2.3
surface texture état de surface, m

repetitive or random deviations from the geometrical écarts répétitifs ou aléatoires par rapport à la surface

surface which form the three-dimensional topography géométrique formant la topographie tridimensionnelle

of the surface d'une surface

NOTE — Surface texture includes roughness, waviness, NOTE — L'état de surface comprend la rugosité,

lay, imperfections and form deviations over a limited l'ondulation, la direction des irrégularités, les imperfections

surface area. et les écarts de forme sur une zone limitée.
2.4 2.4
surface imperfection imperfection de surface, f
SIM SIM

element, irregularity or group of elements and élément, irrégularité ou groupe d'éléments ou

irregularities of the real surface unintentionally or d'irrégularités de la surface réelle résultant d'actions

accidentally caused during manufacture, storage or involontaires ou occasionnelles pendant la fabrication,

use of the surface le stockage ou l'utilisation de la surface
NOTES NOTES

1 It is recommended not to use the term "surface defect" 1 Il est recommandé de ne pas utiliser le terme «défaut

for the meaning defined here (see definition of "defect" in de surface» pour la définition donnée dans ce paragraphe

ISO 8402) (voir la définition de «défaut» dans l'ISO 8402).

2 Such types of elements or irregularities differ 2 Ce type d'irrégularité diffère profondément des

considerably from those constituting a rough surface. irrégularités constituant la rugosité de la surface.

3 The presence of imperfection on the real surface does 3 La présence d'une imperfection sur la surface réelle

not necessarily mean that the given surface is unsuitable n'implique pas nécessairement que la surface sera inapte à

for use. The acceptability of an imperfection is dependent l'emploi. Le caractère acceptable d'une imperfection

on the application or function of the surface and is specified dépend de la fonction de la surface et doit être spécifié en

in appropriate terms, e.g. length, depth, width, height, termes appropriés, par exemple longueur, profondeur,

number per unit area, etc. largeur, hauteur, nombre par unité de surface, etc.
---------------------- Page: 12 ----------------------
SIST EN ISO 8785:2000
ISO ISO 8785:1998(E/F)
3 Characteristics and parameters 3 Caractéristiques et paramètres
of surface imperfections des imperfections de surface

NOTE — The maximum value of parameters and NOTE — La valeur maximale des paramètres et des

characteristics of surface imperfections allowed on a caractéristiques des imperfections de surface admise pour

surface is that value applied for specification, i.e. the limit une surface est celle utilisée pour la spécification, c'est-

beyond which the component containing the imperfection à-dire la limite au-delà de laquelle l'élément est rebuté.

is rejected.
EXEMPLES
EXAMPLES
SIM = 60
SIM = 60
où SIM est le nombre d'imperfections de surface tel que
where SIM is the surface imperfection number as defined défini en 3.7
in 3.7
SIM /A = 60/1 m
SIM /A = 60/1 m
SIM /A = 10/50 mm
SIM /A = 10/50 mm
où A est la surface d'évaluation des imperfections telle que
where A is the surface imperfection evaluation area as définie en 2.2
defined in 2.2
3.1 3.1
surface imperfection length longueur de l'imperfection de surface, f
SIM SIM
e e

greatest dimension of the surface imperfection, plus grande dimension de l'imperfection de surface,

measured parallel to the reference surface mesurée parallèlement à la surface de référence

3.2 3.2
surface imperfection width largeur de l'imperfection de surface, f
SIM SIM
w w

greatest dimension of the surface imperfection, plus grande dimension de l'imperfection de surface,

measured normal to the surface imperfection length mesurée perpendiculairement à la longueur de

and parallel to the reference surface l'imperfection de surface et parallèlement à la surface

de référence
3.3 3.3
single surface imperfection depth profondeur de l'imperfection de surface
SIM isolée, f
greatest depth of the surface imperfection, measured SIM

from and perpendicular to the reference surface profondeur maximale de l'imperfection de surface,

mesurée à partir de, et perpendiculairement à la
surface de référence
3.3.1 3.3.1
combined surface imperfection depth profondeur de l'imperfection de surface
SIM composite, f
distance between the reference surface and the SIM

lowermost point of the surface imperfection, profondeur comprise entre la surface de référence et

measured from and perpendicular to the reference le point le plus bas de l'imperfection de surface,

surface mesurée à partir de, et perpendiculairement à la
surface de référence
3.4 3.4
single surface imperfection height
hauteur de l'imperfection de surface isolée, f
SIM SIM
sh sh
greatest height of the surface imperfection, measured
hauteur maximale de l'imperfection de surface

from and perpendicular to the reference surface mesurée à partir de, et perpendiculairement à la

surface de référence
---------------------- Page: 13 ----------------------
SIST EN ISO 8785:2000
ISO 8785:1998(E/F) ISO
3.4.1 3.4.1
combined surface imperfection height hauteur de l'imperfection de surface
SIM composite, f
distance between the reference surface and the SIM

uppermost point of the surface imperfection, hauteur comprise entre la surface de référence et le

measured from and perpendicular to the reference point le plus haut de l'imperfection de surface,

surface mesurée à partir de, et perpendiculairement à la
surface de référence
3.5 3.5
surface imperfection area aire d'une imperfection de surface, f
SIM SIM
a a

area of a single surface imperfection projected onto superficie d'une imperfection de surface isolée

the reference surface projetée sur la surface de référence
3.6 3.6
total surface imperfection area aire totale d'une imperfection de surface, f
SIM SIM
t t

area equal to the sum of the individual surface superficie égale à la somme des aires d'imperfection

imperfection areas, within the agreed limits of de surface isolée dans les limites de discrimination

discrimination convenues
NOTES NOTES

1 The total surface imperfections area is calculated as: 1 L'aire totale d'une imperfection de surface est calculée

comme suit:
SIM = SIM + SIM + ... +SIM
t a1 a2 an
SIM = SIM + SIM + ... +SIM
t a1 a2 an
2 When specifying the agreed limits of discrimination, the

dimensional criterion that should be used is the minimum 2 Pour la spécification des limites de discrimination

dimension of surface imperfection characteristic below convenues, il convient d'utiliser comme critère

which the surface imperfection is neglected when dimensionnel la dimension minimale de la caractéristique

determining the SIM and SIM values. de l'imperfection de surface au-dessous de laquelle

n t
l'imperfection de surface peut être négligée quand on
détermine les valeurs SIM et SIM .
n t
3.7 3.7
surface imperfection number nombre d'imperfections de surface, m
SIM SIM
n n

number of surface imperfections on the total real nombre d'imperfections de surface admises sur la

surface, within the agreed limits of discrimination surface réelle totale dans les limites de discrimination

convenues
3.8 3.8

number of surface imperfections per unit nombre d'imperfections de surface par unité

area de surface, m
SIM /A SIM /A
n n

number of surface imperfections on the specified nombre d'imperfections de surface admises sur la

surface imperfection evaluation area A surface d'évaluation des imperfections spécifiée, A

4 Specific types of surface imperfections 4 Types particuliers d'imperfections

de surface
4.1 4.1
recession défaut en creux, m
inwardly directed surface imperfection creux, m
imperfection de surface orientée vers l'intérieur
---------------------- Page: 14 ----------------------
SIST EN ISO 8785:2000
ISO ISO 8785:1998(E/F)
4.1.1 4.1.1
groove sillon, m

surface imperfection which is a longitudinal recession creux longitudinal à fond plat ou arrondi

with a rounded or flat bottom
Voir figure 1.
See figure 1.
Figure 1
4.1.2 4.1.2
scratch strie, f

surface imperfection which is a recession of irregular creux de forme irrégulière et d'orientation non

shape and unspecified direction spécifiée
See figure 2. Voir figure 2.
Figu
...