IEC 60404-3:1992/AMD1:2002
(Amendment)Amendment 1 - Magnetic materials - Part 3: Methods of measurement of the magnetic properties of magnetic sheet and strip by means of a single sheet tester
Amendment 1 - Magnetic materials - Part 3: Methods of measurement of the magnetic properties of magnetic sheet and strip by means of a single sheet tester
Amendement 1 - Matériaux magnétiques - Partie 3: Méthodes de mesure des caractéristiques magnétiques des tôles et feuillards magnétiques à l'aide de l'essai sur tôle unique
General Information
Relations
Standards Content (Sample)
NORME CEI
INTERNATIONALE IEC
60404-3
INTERNATIONAL
STANDARD
AMENDEMENT 1
AMENDMENT 1
2002-09
Amendement 1
Matériaux magnétiques –
Partie 3:
Méthodes de mesure des caractéristiques
magnétiques des tôles et feuillards magnétiques
à l'aide de l'essai sur tôle unique
Amendment 1
Magnetic materials –
Part 3:
Methods of measurement of the magnetic
properties of magnetic sheet and strip by means
of a single sheet tester
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CODE PRIX
G
Commission Electrotechnique Internationale
PRICE CODE
International Electrotechnical Commission
Международная Электротехническая Комиссия
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– 2 – 60404-3 amend. 1 CEI:2002
AVANT-PROPOS
Le présent amendement a été préparé par le comité d'études 68 de la CEI: Aciers et alliages
magnétiques.
Le texte de cet amendement est issu des documents suivants:
FDIS Rapport de vote
68/258/FDIS 68/263/RVD
Le rapport de vote indiqué dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant
abouti à l'approbation de cet amendement.
Le comité a décidé que le contenu de la publication de base et de ses amendements ne sera
pas modifié avant 2009. A cette date, la publication sera
• reconduite;
• supprimée;
• remplacée par une édition révisée, ou
• amendée.
_____________
Page 8
2 Références normatives
Remplacer les deux références existantes par ce qui suit:
CEI 60050(221):1990, Vocabulaire Electrotechnique International. Chapitre 221: Matériaux et
composants magnétiques
CEI 60404-2:1996, Matériaux magnétiques – Partie 2: Méthodes de mesure des propriétés
magnétiques des tôles et bandes magnétiques au moyen d'un cadre Epstein
60404-3 Amend. 1 IEC:2002 – 3 –
FOREWORD
This amendment has been prepared by IEC technical committee 68: Magnetic alloys and steels.
The text of this amendment is based on the following documents:
FDIS Report on voting
68/258/FDIS 68/263/RVD
Full information on the voting for the approval of this amendment can be found in the report
on voting indicated in the above table.
The committee has decided that the contents of the base publication and its amendments will
remain unchanged until 2009. At this date, the publication will be
• reconfirmed,
• withdrawn,
• replaced by a revised edition, or
• amended.
_____________
Page 9
2 Normative references
Replace the two existing references by the following:
IEC 60050(221):1990, International Electrotechnical Vocabulary – Chapter 221: Magnetic
materials and components
IEC 60404-2:1996, Magnetic materials – Part 2: Methods of measurement of the magnetic
properties of electrical steel sheet and strip by means of an Epstein frame
– 4 – 60404-3 amend. 1 CEI:2002
Page 34
Ajouter, après l'annexe B, la nouvelle annexe suivante:
Annexe C
(informative)
Relation Epstein-SST pour les tôles d'acier à grains orientés
NOTE La présente annexe ne fait pas partie des prescriptions de la norme. Elle est incluse à titre d'information
pour ceux qui souhaitent convertir les valeurs SST en valeurs Epstein et vice versa. Il existe deux différences
significatives par rapport à la procédure de l'annexe B, comme suit:
– l'annexe B prescrit le mode opératoire d'étalonnage d'un SST au moyen de longues bandes Epstein. Elle donne
une valeur exacte pour le facteur d'étalonnage Epstein-SST pour l'échantillon individuel considéré;
– en coupant les tôles en bandes, le mode opératoire de l'annexe B donne un facteur d'étalonnage Epstein-SST
qui se rapporte à un échantillon de tôle détensionné qui est constitué à partir des bandes Epstein recuites. En
utilisant ce mode opératoire d'étalonnage, les valeurs des pertes totales spécifiques déterminées sur les
éprouvettes de tôles seront en meilleur accord avec celles déterminées en utilisant les éprouvettes Epstein
correspondantes, si les éprouvettes de tôle sont détensionnées et s'écarteront plus des valeurs Epstein si les
tôles ne sont pas détensionnées.
Par ailleurs, l'annexe C décrit la conversion de valeurs SST en valeurs Epstein et vice versa, de manière générale,
c'est-à-dire dans le cas où seulement une des deux méthodes de mesure a été utilisée. L'annexe C se limite au
matériau à grains orientés. Bien sûr, la validité générale des relations présentées est sujette à la plus grande
incertitude de la conversion, parce que la dispersion statistique due aux contraintes internes, etc., de l'échantillon
de tôle individuel est considérable. Elle s'élève à environ ±2 % (pour tout l'intervalle de J) pour les pertes totales
spécifiques, P, se situe environ entre ±3 % (pour J = 1,3 T) et ±10 % (pour 1,7 T) pour les intensités du champ
magnétique, H, et environ entre ±5 % (à 1,3 T) et ±20 % (à 1,7 T) pour la puissance apparente spécifique, S [1]
et [2] .
Les relations ont été établies sur la base de mesures Epstein et SST sur environ 750 échantillons des nuances à
grains orientés les plus significatives, livrées par huit producteurs différents et prélevés au cours de séquences de
production différentes. Pour plus de détails, voir [1] et [2]. Cette étude n'a pas porté sur des matériaux à domaine
affiné. Toutefois, la décision d'appliquer l'Annexe C aux matériaux à domaine affiné relève de l'utilisateur de la
présente norme.
La relation entre les résultats Epstein et les résultats SST peut être décrite par un facteur δP
(pour les pertes totales spécifiques, P) et δHS (pour l'intensité du champ magnétique, H et la
puissance apparente spécifique, S). La conversion des résultats Epstein, P , H et
s,EPS EPS
S , en résultats SST, P , H et S , peut être opérée comme suit:
s,EPS s,SST SST s,SST
P = P × (1 + δP / 100) (C.1a)
s,SST s,EPS
H = H × (1 + δHS / 100) (C.1b)
SST EPS
S = S × (1 + δHS / 100) (C.1c)
s,SST s,EPS
De manière correspondante, la conversion inverse peut être réalisée comme suit:
P = P / (1 + δP / 100) (C.2a)
s,EPS s,SST
H = H / (1 + δHS / 100) (C.2b)
EPS SST
S = S / (1 + δHS / 100) (C.2c)
s,EPS s,SST
___________
Les références entre crochets renvoient à la bibliographie.
60404-3 Amend. 1 IEC:2002 – 5 –
Page 35
Add, after annex B, the following new annex:
Annex C
(informative)
Epstein to SST relationship for grain-oriented sheet steel
NOTE This annex does not form part of the requirements of the standard. It is included for information for those
who wish to convert SST values into Epstein values and vice versa. There are two significant differences from the
procedure in annex B as follows:
– annex B prescribes the procedure of the calibration of an SST by means of long Epstein strips. It yields an
exact value for the Epstein/SST calibration factor for the individual sample under consideration;
– by cutting the sheets into strips, the procedure of annex B yields an Epstein/SST calibration factor which refers
to a stress-free sheet sample which is formed from the annealed Epstein strips. When using this calibration
procedure, specific total loss values determined for sheet specimens will agree more closely with those
determined using corresponding Epstein specimens if the sheet specimens are stress free, and will differ more
from Epstein values if th
...
Questions, Comments and Discussion
Ask us and Technical Secretary will try to provide an answer. You can facilitate discussion about the standard in here.