IEC 61300-3-23:1998
(Main)Fibre optic interconnecting devices and passive components - Basic test and measurement procedures - Part 3-23: Examination and measurements - Fibre position relative to ferrule endface
Fibre optic interconnecting devices and passive components - Basic test and measurement procedures - Part 3-23: Examination and measurements - Fibre position relative to ferrule endface
IEC 61300-3-23:1998 is to measure the fibre position relative to the ferrule endface of a spherically polished ferrule, that is a fibre undercut or a fibre protrusion.
Dispositifs d'interconnexion et composants passifs à fibres optiques - Méthodes fondamentales d'essais et de mesures - Partie 3-23: Examens et mesures - Position de la fibre par rapport à l'extrémité de l'embout
IEC 61300-3-23:1998 est destinée à mesurer la position de la fibre par rapport à une extrémité d'embout polie de manière sphérique, position qui correspond à un enfoncement ou à une protubérance de la fibre.
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Relations
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NORME
CEI
INTERNATIONALE
IEC
61300-3-23
INTERNATIONAL
Première édition
STANDARD
First edition
1998-04
Dispositifs d’interconnexion et composants
passifs à fibres optiques –
Méthodes fondamentales d’essais et de mesures –
Partie 3-23:
Examens et mesures –
Position de la fibre par rapport à l'extrémité
de l'embout
Fibre optic interconnecting devices
and passive components –
Basic test and measurement procedures –
Part 3-23:
Examination and measurements –
Fibre position relative to ferrule endface
Numéro de référence
Reference number
CEI/IEC 61300-3-23:1998
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Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI As from 1 January 1997 all IEC publications are issued
sont numérotées à partir de 60000. with a designation in the 60000 series.
Publications consolidées Consolidated publications
Les versions consolidées de certaines publications de Consolidated versions of some IEC publications
la CEI incorporant les amendements sont disponibles. including amendments are available. For example,
Par exemple, les numéros d’édition 1.0, 1.1 et 1.2 edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to
indiquent respectivement la publication de base, la the base publication, the base publication incorporating
publication de base incorporant l’amendement 1, et la amendment 1 and the base publication incorporating
publication de base incorporant les amendements 1 amendments 1 and 2.
et 2.
Validité de la présente publication Validity of this publication
Le contenu technique des publications de la CEI est The technical content of IEC publications is kept under
constamment revu par la CEI afin qu'il reflète l'état constant review by the IEC, thus ensuring that the
actuel de la technique. content reflects current technology.
Des renseignements relatifs à la date de reconfirmation Information relating to the date of the reconfirmation of
de la publication sont disponibles dans le Catalogue de the publication is available in the IEC catalogue.
la CEI.
Les renseignements relatifs à des questions à l’étude et Information on the subjects under consideration and
des travaux en cours entrepris par le comité technique work in progress undertaken by the technical
qui a établi cette publication, ainsi que la liste des committee which has prepared this publication, as well
publications établies, se trouvent dans les documents ci- as the list of publications issued, is to be found at the
dessous: following IEC sources:
• «Site web» de la CEI* • IEC web site*
• Catalogue des publications de la CEI • Catalogue of IEC publications
Publié annuellement et mis à jour régulièrement Published yearly with regular updates
(Catalogue en ligne)* (On-line catalogue)*
• Bulletin de la CEI • IEC Bulletin
Disponible à la fois au «site web» de la CEI* et Available both at the IEC web site* and as a
comme périodique imprimé printed periodical
Terminologie, symboles graphiques Terminology, graphical and letter
et littéraux symbols
En ce qui concerne la terminologie générale, le lecteur For general terminology, readers are referred to
se reportera à la CEI 60050: Vocabulaire Electro- IEC 60050: International Electrotechnical Vocabulary
technique International (VEI). (IEV).
Pour les symboles graphiques, les symboles littéraux et For graphical symbols, and letter symbols and signs
les signes d'usage général approuvés par la CEI, le approved by the IEC for general use, readers are
lecteur consultera la CEI 60027: Symboles littéraux à referred to publications IEC 60027: Letter symbols to
utiliser en électrotechnique, la CEI 60417: Symboles be used in electrical technology, IEC 60417: Graphical
graphiques utilisables sur le matériel. Index, relevé et symbols for use on equipment. Index, survey and
compilation des feuilles individuelles, et la CEI 60617: compilation of the single sheets and IEC 60617:
Symboles graphiques pour schémas. Graphical symbols for diagrams.
* Voir adresse «site web» sur la page de titre. * See web site address on title page.
NORME
CEI
INTERNATIONALE
IEC
61300-3-23
INTERNATIONAL
Première édition
STANDARD
First edition
1998-04
Dispositifs d’interconnexion et composants
passifs à fibres optiques –
Méthodes fondamentales d’essais et de mesures –
Partie 3-23:
Examens et mesures –
Position de la fibre par rapport à l'extrémité
de l'embout
Fibre optic interconnecting devices
and passive components –
Basic test and measurement procedures –
Part 3-23:
Examinations and measurements –
Fibre position relative to ferrule endface
IEC 1998 Droits de reproduction réservés Copyright - all rights reserved
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Commission Electrotechnique Internationale
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International Electrotechnical Commission
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– 2 – 61300-3-23 © CEI:1998
SOMMAIRE
Pages
AVANT-PROPOS . 4
Articles
1 Généralités. 6
1.1 Domaine d'application et objet. 6
1.2 Description générale . 6
2 Appareillage. 8
2.1 Méthode 1 – Analyse de surface deux dimensions. 8
2.2 Méthode 2 – Analyse de surface trois dimensions par système interférométrique 10
2.3 Méthode 3 – Analyse de surface deux dimensions par système interférométrique 12
3 Procédure. 16
3.1 Régions de mesure. 16
3.2 Méthode 1 – Analyse de surface deux dimensions. 18
3.3 Méthode 2 – Analyse de surface trois dimensions par système interférométrique 22
3.4 Méthode 3 – Analyse de surface deux dimensions par système interférométrique 26
4 Détails à spécifier. 30
4.1 Méthode 1 – Analyse de surface deux dimensions. 30
4.2 Méthode 2 – Analyse de surface trois dimensions par système interférométrique 30
4.3 Méthode 3 – Analyse de surface deux dimensions par système interférométrique 30
Figures
1 Enfoncement et protubérance de la fibre d'une extrémité d'embout polie de manière
sphérique. 6
2 Appareillage pour analyse de surface deux dimensions . 8
3 Appareillage pour analyse de surface trois dimensions par système interférométrique 12
4 Appareillage pour analyse de surface deux dimensions par système interférométrique 14
5 Extrémité de l'embout et régions de mesure . 16
6 Profil converti de l'extrémité de l'embout. 20
7 Types de profils convertis de l'extrémité de l'embout. 20
8 Surface de l'extrémité de l'embout. 24
9 Région de placement et région de moyenne de la surface de l'extrémité de l'embout . 24
10 Surface convertie de toute l'extrémité de l'embout (voir figure 8). 24
11 Surface convertie de l'extrémité de l'embout sans la région d’extraction (voir figure 9) 26
12 Image interférométrique du microscope et courbe lumineuse d'intensité acquise
pour la ligne choisie avec la fonction théorique de placement . 28
A.1 Profil d’embout acquis et profil rectifié . 34
Annexe A (informative) – Evaluation de l'enfoncement ou de la protubérance. 32
61300-3-23 © IEC:1998 – 3 –
CONTENTS
Page
FOREWORD . 5
Clause
1 General. 7
1.1 Scope and object . 7
1.2 General description. 7
2 Apparatus. 9
2.1 Method 1 – Two-dimensional surface analysis . 9
2.2 Method 2 – Three-dimensional surface analysis by interferometry system. 11
2.3 Method 3 – Two-dimensional surface analysis by interferometry system . 13
3 Procedure. 17
3.1 Measurement regions. 17
3.2 Method 1 – Two-dimensional surface analysis . 19
3.3 Method 2 – Three-dimensional surface analysis by interferometry system. 23
3.4 Method 3 – Two-dimensional surface analysis by interferometry system . 27
4 Details to be specified . 31
4.1 Method 1 – Two-dimensional surface analysis . 31
4.2 Method 2 – Three-dimensional interferometry analysis . 31
4.3 Method 3 – Two-dimensional surface analysis by interferometry system . 31
Figures
1 Fibre undercut and protrusion of spherically polished ferrule endface. 7
2 Apparatus for two-dimensional surface analysis. 9
3 Apparatus for three-dimensional surface analysis by interferometry system. 13
4 Apparatus for two-dimensional surface analysis by interferometry system . 15
5 Ferrule endface and measurement regions . 17
6 Converted ferrule endface profile. 21
7 Types of converted ferrule endface profile . 21
8 Ferrule endface surface . 25
9 Fitting region and averaging region of the ferrule endface surface. 25
10 Converted endface surface of the global ferrule (see figure 8) . 25
11 Converted ferrule endface surface subtracting the extracting region (see figure 9) . 27
12 Interferometry image from the microscope and the acquired intensity light
curve relevant to the selected row with the fitting theoretical function . 29
A.1 Acquired ferrule profile and rectified profile. 35
Annex A (informative) – Undercut or protrusion evaluation . 33
– 4 – 61300-3-23 © CEI:1998
COMMISSION ÉLECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE
–––––––––
DISPOSITIFS D'INTERCONNEXION ET COMPOSANTS PASSIFS
À FIBRES OPTIQUES –
MÉTHODES FONDAMENTALES D'ESSAIS ET DE MESURES –
Partie 3-23: Examens et mesures –
Position de la fibre par rapport à l'extrémité de l'embout
AVANT-PROPOS
1) La CEI (Commission Electrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de normalisation composée
de l'ensemble des comités électrotechniques nationaux (Comités nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de
favoriser la coopération internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de
l'électricité et de l'électronique. A cet effet, la CEI, entre autres activités, publie des Normes internationales.
Leur élaboration est confiée à des comités d'études, aux travaux desquels tout Comité national intéressé par le
sujet traité peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en
liaison avec la CEI, participent également aux travaux. La CEI collabore étroitement avec l'Organisation
Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixées par accord entre les deux organisations.
2) Les décisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques représentent, dans la mesure
du possible un accord international sur les sujets étudiés, étant donné que les Comités nationaux intéressés
sont représentés dans chaque comité d’études.
3) Les documents produits se présentent sous la forme de recommandations internationales. Ils sont publiés
comme normes, rapports techniques ou guides et agréés comme tels par les Comités nationaux.
4) Dans le but d'encourager l'unification internationale, les Comités nationaux de la CEI s'engagent à appliquer de
façon transparente, dans toute la mesure possible, les Normes internationales de la CEI dans leurs normes
nationales et régionales. Toute divergence entre la norme de la CEI et la norme nationale ou régionale
correspondante doit être indiquée en termes clairs dans cette dernière.
5) La CEI n’a fixé aucune procédure concernant le marquage comme indication d’approbation et sa responsabilité
n’est pas engagée quand un matériel est déclaré conforme à l’une de ses normes.
6) L’attention est attirée sur le fait que certains des éléments de la présente Norme internationale peuvent faire
l’objet de droits de propriété intellectuel
...
Questions, Comments and Discussion
Ask us and Technical Secretary will try to provide an answer. You can facilitate discussion about the standard in here.