IEC 61336:1996

Nuclear instrumentation - Thickness measurement systems utilizingionizing radiation - Definitions and test methods

Describes test methods and procedures for ionizing radiation measurement systems designed for either continuous or discrete measurements and checks of mass per unit of surface, mass per unit of length, or thickness of materials produced in industrial processes.

Instrumentation nucléaire - Systèmes de mesure d'épaisseur parrayonnement ionisant - Définitions et méthodes d'essai

Décrit les méthodes d'essai et les procédures applicables aux systèmes de mesure d'épaisseur par rayonnement ionisant destinés à effectuer des mesures et des vérifications continues ou discontinues de l'épaisseur, de la masse par unité de surface, ou de la masse par unité de longueur des matériaux produits par l'industrie.

General Information

• Status: Published
• Publication Date: 27-Nov-1996
• ICS: 01 - GENERALITIES. TERMINOLOGY. STANDARDIZATION. DOCUMENTATION
• ICS: 17.240 - Radiation measurements
• Technical Committee: TC 45 - Nuclear instrumentation
• Drafting Committee: WG 6 - TC 45/WG 6
• Current Stage: PPUB - Publication issued
• Start Date: 31-Dec-1996
• Completion Date: 28-Nov-1996

Standards Content (Sample)

NORME
CEI
INTERNATIONALE
IEC
INTERNATIONAL
Première édition
STANDARD
First edition
1996-11
Instrumentation nucléaire –
Systèmes de mesure d’épaisseur
par rayonnement ionisant –
Définitions et méthodes d’essai
Nuclear instrumentation –
Thickness measurement systems
utilizing ionizing radiation –
Definitions and test methods
Numéro de référence
Reference number
CEI/IEC 1336: 1996
Validité de la présente publication Validity of this publication
Le contenu technique des publications de la CEI est cons- The technical content of IEC publications is kept under
tamment revu par la CEI afin qu'il reflète l'état actuel de constant review by the IEC, thus ensuring that the content
la technique. reflects current technology.
Des renseignements relatifs à la date de reconfirmation de Information relating to the date of the reconfirmation of the
la publication sont disponibles auprès du Bureau Central de publication is available from the IEC Central Office.
la CEI.
Les renseignements relatifs à ces révisions, à l'établis- Information on the revision work, the issue of revised
sement des éditions révisées et aux amendements peuvent editions and amendments may be obtained from IEC
être obtenus auprès des Comités nationaux de la CEI et National Committees and from the following IEC
dans les documents ci-dessous: sources:
• Bulletin de la CEI • IEC Bulletin
• Annuaire de la CEI • IEC Yearbook
Publié annuellement Published yearly
• Catalogue des publications de la CEI • Catalogue of IEC publications
Publié annuellement et mis à jour régulièrement Published yearly with regular updates
Terminologie Terminology
En ce qui concerne la terminologie générale, le lecteur se For general terminology, readers are referred to IEC 50:
reportera à la CEI 50: Vocabulaire Electrotechnique Inter- International Electrotechnical Vocabulary (IEV), which is
national (VEI), qui se présente sous forme de chapitres issued in the form of separate chapters each dealing
séparés traitant chacun d'un sujet défini. Des détails with a specific field. Full details of the IEV will be
complets sur le VEI peuvent être obtenus sur demande. supplied on request. See also the IEC Multilingual
Voir également le dictionnaire multilingue de la CEI. Dictionary.
Les termes et définitions figurant dans la présente publi- The terms and definitions contained in the present publi-
cation ont été soit tirés du VEI, soit spécifiquement cation have either been taken from the IEV or have been
approuvés aux fins de cette publication. specifically approved for the purpose of this publication.
Symboles graphiques et littéraux Graphical and letter symbols
Pour les symboles graphiques, les symboles littéraux et les For graphical symbols, and letter symbols and signs
signes d'usage général approuvés par la CEI, le lecteur approved by the IEC for general use, readers are referred to
consultera: publications:
– la CEI 27: Symboles littéraux à utiliser en – IEC 27: Letter symbols to be used in electrical
électro-technique; technology;
– la CEI 417: Symboles graphiques utilisables – IEC 417: Graphical symbols for use on
sur le matériel. Index, relevé et compilation des equipment. Index, survey and compilation of the
feuilles individuelles; single sheets;
– la CEI 617: Symboles graphiques pour – IEC 617: Graphical symbols for diagrams;
schémas;
et pour les appareils électromédicaux, and for medical electrical equipment,
– la CEI 878: Symboles graphiques pour – IEC 878: Graphical symbols for electromedical
équipements électriques en pratique médicale. equipment in medical practice.
Les symboles et signes contenus dans la présente publi- The symbols and signs contained in the present publication
cation ont été soit tirés de la CEI 27, de la CEI 417, de la have either been taken from IEC 27, IEC 417, IEC 617
CEI 617 et/ou de la CEI 878, soit spécifiquement approuvés and/or IEC 878, or have been specifically approved for the
aux fins de cette publication. purpose of this publication.
Publications de la CEI établies par le IEC publications prepared by the same
même comité d'études technical committee
L'attention du lecteur est attirée sur les listes figurant à la fin The attention of readers is drawn to the end pages of this
de cette publication, qui énumèrent les publications de la publication which list the IEC publications issued by the
CEI préparées par le comité d'études qui a établi la technical committee which has prepared the present
présente publication. publication.

NORME
CEI
INTERNATIONALE
IEC
INTERNATIONAL
Première édition
STANDARD
First edition
1996-11
Instrumentation nucléaire –
Systèmes de mesure d’épaisseur
par rayonnement ionisant –
Définitions et méthodes d’essai
Nuclear instrumentation –
Thickness measurement systems
utilizing ionizing radiation –
Definitions and test methods
 CEI 1996  Droits de reproduction réservés  Copyright - all rights reserved
Aucune partie de cette publication ne peut être reproduite ni No part of this publication may be reproduced or utilized
utilisée sous quelque forme que ce soit et par aucun procédé, in any form or by any means, electronic or mechanical,
électronique ou mécanique, y compris la photocopie et les including photocopying and microfilm, without permission
microfilms, sans l'accord écrit de l'éditeur. in writing from the publisher
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Commission Electrotechnique Internationale
W
International Electrotechnical Commission PRICE CODE
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For price, see current catalogue

– 2 – 1336 © CEI:1996
SOMMAIRE
Pages
AVANT-PROPOS . 4
INTRODUCTION . 6
Articles
1 Généralités. 8
1.1 Domaine d'application et objet . 8
1.2 Références normatives. 10
1.3 Définitions. 10
2 Conditions d’essais. 26
2.1 Généralités. 26
2.2 Essais en laboratoire . 28
2.2.1 Essais de caractéristiques intrinsèques . 28
2.2.2 Grandeurs d'influence et essais. 48
2.2.3 Essais de système de mesure et d'analyse de la machine
et du processus. 58
2.3 Documentation concernant les résultats d'essais en laboratoire . 60
2.4 Essais sur site . 60
2.4.1 Essai concernant l'erreur de profil d'échantillon du système. 62
2.4.2 Essais de reproductibilité du système de profil et de balayage
moyen. 62
2.4.3 Essai de longueur de résolution géométrique. 66
Annexes
A Essais concernant la tension du réseau . 68
B Description généralisée d’un système de mesure. 70

1336  IEC:1996 – 3 –
CONTENTS
Page
FOREWORD. 5
INTRODUCTION . 7
Clause
1 General. 9
1.1 Scope and object. 9
1.2 Normative references. 11
1.3 Definitions. 11
2 Test requirements. 27
2.1 General. 27
2.2 Laboratory tests. 29
2.2.1 Intrinsic performance tests . 29
2.2.2 Influence quantities and tests . 49
2.2.3 Process and machine analysis and measurement system tests . 59
2.3 Laboratory test results documentation. 61
2.4 On-site tests. 61
2.4.1 System sample profile error test . 63
2.4.2 System profile and scan average reproducibility tests . 63
2.4.3 Geometrical resolution length test . 67
Annexes
A Mains supply voltage tests. 69
B Generalized measurement system description . 71

– 4 – 1336 © CEI:1996
COMMISSION ÉLECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE
_____________
INSTRUMENTATION NUCLÉAIRE –
Systèmes de mesure d’épaisseur par rayonnement ionisant –
Définitions et méthodes d’essai
AVANT-PROPOS
1) La CEI (Commission Electrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de normalisation
composée de l'ensemble des comités électrotechniques nationaux (Comités nationaux de la CEI). La CEI a
pour objet de favoriser la coopération internationale pour toutes les questions de normalisation dans les
domaines de l'électricité et de l'électronique. A cet effet, la CEI, entre autres activités, publie des Normes
Internationales. Leur élaboration est confiée à des comités d'études, aux travaux desquels tout Comité
national intéressé par le sujet traité peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et
non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent également aux travaux. La CEI collabore
étroitement avec l'Organisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixées par accord
entre les deux organisations.
2) Les décisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques, représentent, dans la
mesure du possible un accord international sur les sujets étudiés, étant donné que les Comités nationaux
intéressés sont représentés dans chaque comité d’études.
3) Les documents produits se présentent sous la forme de recommandations internationales. Ils sont publiés
comme normes, rapports techniques ou guides et agréés comme tels par les Comités nationaux.
4) Dans le but d'encourager l'unification internationale, les Comités nationaux de la CEI s'engagent à appliquer
de façon transparente, dans toute la mesure possible, les Normes internationales de la CEI dans leurs normes
nationales et régionales. Toute divergence entre la norme de la CEI et la norme nationale ou régionale
correspondante doit être indiquée en termes clairs dans cette dernière.
5) La CEI n’a fixé aucune procédure concernant le marquage comme indication d’approbation et sa
responsabilité n’est pas engagée quand un matériel est déclaré conforme à l’une de ses normes.
6) L’attention est attirée sur le fait que certains des éléments de la présente Norme internationale peuvent faire
l’objet de droits de propriété intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait être tenue pour
responsable de ne pas avoir identifié de tels droits de propriété et de ne pas avoir signalé leur existence.
La Norme internationale CEI 1336 a été établie par le comité d’études 45 de la CEI:
Instrumentation nucléaire.
Cette norme annule et remplace la CEI 769 publiée en 1983 et constitue une révision
technique.
Le texte de cette norme est issu des documents suivants:
FDIS Rapport de vote
45/388/FDIS 45/404/RVD
Le rapport de vote indiqué dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant
abouti à l'approbation de cette norme.
L’annexe A fait partie intégrante de cette norme.
L’annexe B est donnée uniquement à titre d’information.

1336  IEC:1996 – 5 –
INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION
_____________
NUCLEAR INSTRUMENTATION –
Thickness measurement systems utilizing ionizing radiation –
Definitions and test methods
FOREWORD
1) The IEC (International Electrotechnical Commission) is a worldwide organization for standardization
comprising all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of the IEC is to
promote international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic
fields. To this end and in addition to other activities, the IEC publishes International Standards. Their
preparation is entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt
with may participate in this preparatory work. International, governmental and non-governmental organizations
liaising with the IEC also participate in this preparation. The IEC collaborates closely with the International
Organization for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by agreement between the
two organizations.
2) The formal decisions or agreements of the IEC on technical matters express, as nearly as possible, an
international consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representation
from all interested National Committees.
3) The documents produced have the form of recommendations for international use and are published in the
form of standards, technical reports or guides and they a
...