IEC 61000-4-6:2013

Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-6: Testing and measurement techniques - Immunity to conducted disturbances, induced by radio-frequency fields

IEC 61000-4-6:2013 relates to the conducted immunity requirements of electrical and electronic equipment to electromagnetic disturbances coming from intended radio-frequency (RF) transmitters in the frequency range 150 kHz up to 80 MHz. Equipment not having at least one conducting wire and/or cable (such as mains supply, signal line or earth connection) which can couple the equipment to the disturbing RF fields is excluded from the scope of this publication. The object of this standard is to establish a common reference for evaluating the functional immunity of electrical and electronic equipment when subjected to conducted disturbances induced by RF fields. The test method documented in IEC 61000-4-6:2013 describes a consistent method to assess the immunity of an equipment or system against a defined phenomenon. This fourth edition cancels and replaces the third edition published in 2008 and constitutes a technical revision. It includes the following significant technical changes with respect to the previous edition:
- use of the CDNs;
- calibration of the clamps;
- reorganization of Clause 7 on test setup and injection methods;
- Annex A which is now dedicated to EM and decoupling clamps;
- Annex G which now addresses the measurement uncertainty of the voltage test level;
- and informative Annexes H, I and J which are new. The contents of the corrigendum of June 2015 have been included in this copy.

Compatibilité électromagnétique (CEM) - Partie 4-6: Techniques d'essai et de mesure - Immunité aux perturbations conduites, induites par les champs radioélectriques

La CEI 61000-4-6:2013 se rapporte aux exigences relatives à l'immunité en conduction des matériels électriques et électroniques aux perturbations électromagnétiques provoquées par des émetteurs destinés à des radiofréquences (RF), dans la gamme de fréquences de 150 kHz à 80 MHz. Les matériels n'ayant pas au moins un câble conducteur (par exemple, cordons d'alimentation, lignes de transmission de signaux ou connexions de mise à la terre) capable de coupler les matériels aux champs RF perturbateurs ne sont pas concernés par la présente norme. Cette norme a pour objet d'établir une référence commune dans le but d'évaluer l'immunité fonctionnelle des matériels électriques et électroniques, quand ils sont soumis aux perturbations conduites induites par les champs radiofréquence. La méthode d'essai documentée dans cette norme décrit une méthode cohérente ayant pour but d'évaluer l'immunité d'un matériel ou d'un système vis-à-vis d'un phénomène défini. Cette quatrième édition annule et remplace la troisième édition publiée en 2008 et constitue une révision technique. Elle inclut les modifications techniques majeures suivantes par rapport à l'édition précédente:
- utilisation des RCD;
- étalonnage des pinces;
- réorganisation de l'Article 7 sur les montages d'essai et les méthodes d'injection;
- l'Annexe A qui est dédiée maintenant aux pinces EM et de découplage;
- l'Annexe G qui traite maintenant l'incertitude de mesure relative au niveau de tension d'essai;
- et les annexes informatives H, I et J qui sont nouvelles. Le contenu du corrigendum de juin 2015 a été pris en considération dans cet exemplaire.

General Information

• Status: Published
• Publication Date: 22-Oct-2013
• ICS: 01 - GENERALITIES. TERMINOLOGY. STANDARDIZATION. DOCUMENTATION
• ICS: 33.100.20 - Immunity
• Technical Committee: SC 77B - High frequency phenomena
• Drafting Committee: WG 10 - TC 77/SC 77B/WG 10
• Current Stage: DELPUB - Deleted Publication
• Start Date: 31-Jul-2020
• Completion Date: 06-Jun-2023

Relations

• Corrected By: IEC 61000-4-6:2013/COR1:2015 - Corrigendum 1 - Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-6: Testing and measurement techniques - Immunity to conducted disturbances, induced by radio-frequency fields
• Effective Date: 05-Sep-2023
• Revises: IEC 61000-4-6:2008 - Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-6: Testing and measurement techniques - Immunity to conducted disturbances, induced by radio-frequency fields
• Effective Date: 05-Sep-2023
• Revised: IEC 61000-4-6:2023 - Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-6: Testing and measurement techniques - Immunity to conducted disturbances, induced by radio-frequency fields
• Effective Date: 05-Sep-2023

Standards Content (Sample)

IEC 61000-4-6 ®
Edition 4.0 2013-10
INTERNATIONAL
STANDARD
NORME
INTERNATIONALE
colour
inside
BASIC EMC PUBLICATION
PUBLICATION FONDAMENTALE EN CEM
Electromagnetic compatibility (EMC) –
Part 4-6: Testing and measurement techniques – Immunity to conducted
disturbances, induced by radio-frequency fields

Compatibilité électromagnétique (CEM) –
Partie 4-6: Techniques d'essai et de mesure – Immunité aux perturbations
conduites, induites par les champs radioélectriques

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Edition 4.0 2013-10
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STANDARD
NORME
INTERNATIONALE
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BASIC EMC PUBLICATION
PUBLICATION FONDAMENTALE EN CEM

Electromagnetic compatibility (EMC) –

Part 4-6: Testing and measurement techniques – Immunity to conducted

disturbances, induced by radio-frequency fields

Compatibilité électromagnétique (CEM) –

Partie 4-6: Techniques d'essai et de mesure – Immunité aux perturbations

conduites, induites par les champs radioélectriques

INTERNATIONAL
ELECTROTECHNICAL
COMMISSION
COMMISSION
ELECTROTECHNIQUE
PRICE CODE
INTERNATIONALE
CODE PRIX XC
ICS 33.100.20 ISBN 978-2-8322-1176-2

– 2 – 61000-4-6 © IEC:2013
CONTENTS
FOREWORD . 5
INTRODUCTION . 7
1 Scope . 8
2 Normative references . 8
3 Terms and definitions . 8
4 General . 10
5 Test levels . 12
6 Test equipment and level adjustment procedures . 13
6.1 Test generator . 13
6.2 Coupling and decoupling devices . 15
6.2.1 General . 15
6.2.2 Coupling/decoupling networks (CDNs) . 18
6.2.3 Clamp injection devices . 20
6.2.4 Direct injection devices . 22
6.2.5 Decoupling networks . 22
6.3 Verification of the common mode impedance at the EUT port of coupling
and decoupling devices . 23
6.3.1 General . 23
6.3.2 Insertion loss of the 150 Ω to 50 Ω adapters . 23
6.4 Setting of the test generator . 25
6.4.1 General . 25
6.4.2 Setting of the output level at the EUT port of the coupling
device . 26
7 Test setup and injection methods . 28
7.1 Test setup . 28
7.2 EUT comprising a single unit . 28
7.3 EUT comprising several units . 29
7.4 Rules for selecting injection methods and test points . 30
7.4.1 General . 30
7.4.2 Injection method . 30
7.4.3 Ports to be tested . 31
7.5 CDN injection application . 32
7.6 Clamp injection application when the common mode impedance
requirements can be met. 33
7.7 Clamp injection application when the common mode impedance
requirements cannot be met . 35
7.8 Direct injection application . 35
8 Test procedure . 36
9 Evaluation of the test results . 37
10 Test report . 37
Annex A (normative) EM and decoupling clamps . 39
Annex B (informative) Selection criteria for the frequency range of application . 49
Annex C (informative) Guide for selecting test levels . 51
Annex D (informative) Information on coupling and decoupling networks . 52
Annex E (informative) Information for the test generator specification . 57
Annex F (informative) Test setup for large EUTs . 58

61000-4-6 © IEC:2013 – 3 –
Annex G (informative) Measurement uncertainty of the voltage test level . 61
Annex H (informative) Measurement of AE impedance . 72
Annex I (informative) Port to port injection . 76
Annex J (informative) Amplifier compression and non-linearity . 78
Bibliography . 83

Figure 1 – Immunity test to RF conducted disturbances . 12
Figure 2 – Open circuit waveforms at the EUT port of a coupling device for test level 1 . 13
Figure 3 – Test generator setup . 15
Figure 4 – Principle of coupling and decoupling . 18
Figure 5 – Principle of coupling and decoupling according to the clamp injection
method . 20
Figure 6 – Example of circuit for level setting setup in a 150 Ω test jig . 21
Figure 7 – Example circuit for evaluating the performance of the current clamp . 22
Figure 8 – Details of setups and components to verify the essential characteristics of
coupling and decoupling devices and the 150 Ω to 50 Ω adapters . 25
Figure 9 – Setup for level setting . 27
Figure 10 – Example of test setup with a single unit EUT (top view) . 29
Figure 11 – Example of a test setup with a multi-unit EUT (top view) . 30
Figure 12 – Rules for selecting the injection method . 31
Figure 13 – Immunity test to 2-port EUT (when only one CDN can be used) . 33
Figure 14 – General principle of a test setup using clamp injection devices . 34
Figure 15 – Example of the test unit locations on the ground plane when using
injection clamps (top view) . 35
Figure A.1 – Example: Construction details of the EM clamp . 40
Figure A.2 – Example: Concept of the EM clamp . 41
Figure A.3 – Dimension of a reference plane . 42
Figure A.4 – Test jig . 42
Figure A.5 – Test jig with inserted clamp . 42
Figure A.6 – Impedance / decoupling factor measurement setup . 43
Figure A.7 – Typical examples for clamp impedance, 3 typical clamps . 44
Figure A.8 – Typical examples for decoupling factors, 3 typical clamps . 45
Figure A.9 – Normalization setup for coupling factor measurement . 45
Figure A.10 – S coupling factor m
...