IEC 61000-4-4:2004
(Main)Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-4: Testing and measurement techniques - Electrical fast transient/burst immunity test
Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-4: Testing and measurement techniques - Electrical fast transient/burst immunity test
Establishes a common and reproducible reference for evaluating the immunity of electrical and electronic equipment when subjected to electrical fast transient/bursts on supply, signal, control and earth ports. The test method documented in this part of IEC 61000-4 describes a consistent method to assess the immunity of an equipment or system against a defined phenomenon. The standard defines: - test voltage waveform; - range of test levels; - test equipment; - verification procedures of test equipment; - test set-up; - test procedure. The standard gives specifications for laboratory and post-installation tests. The contents of the corrigenda of August 2006 and June 2007 have been included in this copy.
Compatibilité électromagnétique (CEM) - Partie 4-4: Techniques d'essai et de mesure - Essais d'immunité aux transitoires électriques rapides en salves
Etablit une référence commune et reproductible dans le but d'évaluer l'immunité des matériels électriques et électroniques, quand ils sont soumis aux transitoires électriques rapides en salves sur les accès d'alimentation, de signal, de commande et de terre. La méthode d'essai documentée dans cette partie de la CEI 61000-4 décrit une méthode cohérente dans le but d'évaluer l'immunité d'un matériel ou système vis-à-vis d'un phénomène défini. Cette norme définit: - la forme d'onde de l'essai en tension; - la gamme des niveaux d'essais; - le matériel d'essai; - les procédures de vérification du matériel d'essai; - l'installation d'essai; - la procédure d'essai. Cette norme donne des spécifications pour les essais menés en laboratoire et les essais in situ réalisés sur le matériel dans l'installation finale. Le contenu des corrigenda d'août 2006 et juin 2007 a été pris en considération dans cet exemplaire. -
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INTERNATIONAL IEC
STANDARD 61000-4-4
Second edition
2004-07
BASIC EMC PUBLICATION
Electromagnetic compatibility (EMC) –
Part 4-4:
Testing and measurement techniques –
Electrical fast transient/burst immunity test
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Reference number
Publication numbering
As from 1 January 1997 all IEC publications are issued with a designation in the
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Consolidated editions
The IEC is now publishing consolidated versions of its publications. For example,
edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to the base publication, the
base publication incorporating amendment 1 and the base publication incorporating
amendments 1 and 2.
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The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC,
thus ensuring that the content reflects current technology. Information relating to
this publication, including its validity, is available in the IEC Catalogue of
publications (see below) in addition to new editions, amendments and corrigenda.
Information on the subjects under consideration and work in progress undertaken
by the technical committee which has prepared this publication, as well as the list
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• Catalogue of IEC publications
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search by a variety of criteria including text searches, technical committees
and date of publication. On-line information is also available on recently issued
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• IEC Just Published
This summary of recently issued publications (www.iec.ch/online_news/ justpub)
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STANDARD 61000-4-4
Second edition
2004-07
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Electromagnetic compatibility (EMC) –
Part 4-4:
Testing and measurement techniques –
Electrical fast transient/burst immunity test
” IEC 2004 Copyright - all rights reserved
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61000-4-4 © IEC:2004 – 3 –
CONTENTS
FOREWORD.7
INTRODUCTION.11
1 Scope.13
2 Normative references.13
3 Terms and definitions .15
4 General.19
5 Test levels.19
6 Test equipment.19
6.1 Burst generator.21
6.2 Coupling/decoupling network for a.c./d.c. mains supply port.23
6.3 Capacitive coupling clamp.27
7 Test set-up.27
7.1 Test equipment.29
7.2 Test set-up for type tests performed in laboratories.29
7.3 Test set-up for post-installation tests .33
8 Test procedure.35
8.1 Laboratory reference conditions .35
8.2 Execution of the test.37
9 Evaluation of test results .37
10 Test report.39
Annex A (informative) Information on the electrical fast transients.55
Annex B (informative) Selection of the test levels.59
Bibliography.63
Figure 1 – Simplified circuit diagram of a fast transient/burst generator .41
Figure 2 – General graph of a fast transient/burst .41
Figure 3 – Waveshape of a single pulse into a 50 Ω load .43
Figure 4 – Coupling/decoupling network for a.c./d.c. power mains supply
ports/terminals.43
Figure 5 – Construction of the capacitive coupling clamp .45
Figure 6 – Block diagram for electrical fast transient/burst immunity test .45
Figure 7 − General test set-up for laboratory type tests.47
Figure 8 – Example of a test set-up for rack mounted equipment .47
Figure 9 – Example of a test set-up for direct coupling of the test voltage to a a.c./d.c.
power supply ports/terminal for laboratory purposes .49
Figure 10 – Example of test set-up for application of the test voltage by the capacitive
coupling clamp for laboratory test purposes .49
61000-4-4 © IEC:2004 – 5 –
Figure 11 – Example for post-installation test on a.c./d.c. power supply ports and
protective earth terminals for stationary, floor-mounted EUT .51
Figure 12 – Example for post-installation test on a.c. mains supply port and protective
earth terminals for non-stationary mounted EUT .53
Figure 13 – Example of post-installation test on communications and I/O ports without
the capacitive coupling clamp .53
Figure 14 – Verification of the waveform at the common mode output of the
coupling/decoupling network .25
Table 1 – Test levels.19
Table 2 – Output voltage peak values and repetition rates .23
61000-4-4 © IEC:2004 – 7 –
INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION
___________
ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY (EMC) –
Part 4-4: Testing and measurement techniques –
Electrical fast transient/burst immunity test
FOREWORD
1) The International Electrotechnical Commission (IEC) is a worldwide organization for standardization comprising
all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of IEC is to promote
international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To
this end and in addition to other activities, IEC publishes International Standards, Technical Specifications,
Technical Reports, Publicly Available Specifications (PAS) and Guides (hereafter referred to as “IEC
Publication(s)”). Their preparation is entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested
in the subject dealt with may participate in this preparatory work. International, governmental and non-
governmental organizations liaising with the IEC also participate in this preparation. IEC collaborates closely
with the International Organization for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by
agreement between the two organizations.
2) The formal decisions or agreements of IEC on technical matters express, as nearly as possible, an international
consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representation from all
interested IEC National Committees.
3) IEC Publications have the form of recommendations for international use and are accepted by IEC National
Committees in that sense. While all reasonable efforts are made to ensure that the technical content of IEC
Publications is accurate, IEC cannot be held responsible for the way in which they are used or for any
misinterpretation by any end user.
4) In order to promote international uniformity, IEC National Committees undertake to apply IEC Publications
transparently to the maximum extent possible in their national and regional publications. Any divergence
between any IEC Publication and the corresponding national or regional publication shall be clearly indicated in
the latter.
5) IEC provides no marking procedure to indicate its approval and cannot be rendered responsible for any
equipment declared to be in conformity with an IEC Publication.
6) All users should ensure that they have the latest edition of this publication.
7) No liability shall attach to IEC or its directors, employees, servants or agents including individual experts and
members of its technical committees and IEC National Committees for any personal injury, property damage or
other damage of any nature whatsoever, whether direct or indirect, or for costs (including legal fees) and
expenses arising out of the publication, use of, or reliance upon, this IEC Publication or any other IEC
Publications.
8) Attention is drawn to the Normative references cited in this publication. Use of the referenced publications is
indispensable for the correct application of this publication.
9) Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this IEC Publication may be the subject of
patent rights. IEC shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights.
International Standard IEC 61000-4-4 has been prepared by sub-committee 77B: High
frequency phenomena, of IEC technical committee 77: Electromagnetic compatibility.
It forms Part 4-4 of IEC 61000. It has the status of a basic EMC publication in accordance
with IEC Guide 107, Electromagnetic compatibility – Guide to the drafting of electromagnetic
compatibility publications.
This second edition cancels and replaces the first edition published in 1995 and its amend-
ments 1 (2000) and 2 (2001) and constitutes a technical revision.
This second edition improves and clarifies simulator specifications, test criteria and test set-
ups. Only common mode injection is required.
61000-4-4 © IEC:2004 – 9 –
The text of this standard is based on the following documents:
FDIS Report on voting
77B/419/FDIS 77B/424/RVD
Full information on the voting for the approval of this standard can be found in the report on
voting indicated in the above table.
This publication has been drafted in accordance with the ISO/IEC Directives, Part 2.
The committee has decided that the contents of this publication will remain unchanged until
the maintenance result date indicated on the IEC web site under "http://webstore.iec.ch" in
the data related to the specific publication. At this date, the publication will be
• reconfirmed;
• withdrawn;
• replaced by a revised edition, or
• amended.
The contents of the corrigendum of August 2006 and June 2007 have been included in this
copy.
61000-4-4 © IEC:2004 – 11 –
INTRODUCTION
IEC 61000 is published in separate parts, according to the following structure:
Part 1: General
General considerations (introduction, fundamental principles)
Definitions, terminology
Part 2: Environment
Description of the environment
Classification of the environment
Compatibility levels
Part 3: Limits
Emission limits
Immunity limits (in so far as they do not fall under the responsibility of the product
committees)
Part 4: Testing and measurement techniques
Measurement techniques
Testing techniques
Part 5: Installation and mitigation guidelines
Installation guidelines
Mitigation methods and devices
Part 6: Generic standards
Part 9: Miscellaneous
Each part is further subdivided into several parts, published either as international standards
or as technical specifications or technical reports, some of which have already been published
as sections. Others will be pub
...
NORME CEI
INTERNATIONALE 61000-4-4
Deuxième édition
2004-07
PUBLICATION FONDAMENTALE EN CEM
Compatibilité électromagnétique (CEM) –
Partie 4-4:
Techniques d'essai et de mesure –
Essais d’immunité aux transitoires
électriques rapides en salves
Cette version française découle de la publication d’origine
bilingue dont les pages anglaises ont été supprimées.
Les numéros de page manquants sont ceux des pages
supprimées.
Numéro de référence
CEI 61000-4-4:2004(F)
Numérotation des publications
Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI sont numérotées à partir de
60000. Ainsi, la CEI 34-1 devient la CEI 60034-1.
Editions consolidées
Les versions consolidées de certaines publications de la CEI incorporant les
amendements sont disponibles. Par exemple, les numéros d’édition 1.0, 1.1 et 1.2
indiquent respectivement la publication de base, la publication de base incorporant
l’amendement 1, et la publication de base incorporant les amendements 1 et 2.
Informations supplémentaires
sur les publications de la CEI
Le contenu technique des publications de la CEI est constamment revu par la CEI afin
qu'il reflète l'état actuel de la technique. Des renseignements relatifs à cette
publication, y compris sa validité, sont disponibles dans le Catalogue des publications
de la CEI (voir ci-dessous) en plus des nouvelles éditions, amendements et corrigenda.
Des informations sur les sujets à l’étude et l’avancement des travaux entrepris par le
comité d’études qui a élaboré cette publication, ainsi que la liste des publications
parues, sont également disponibles par l’intermédiaire de:
• Site web de la CEI (www.iec.ch)
• Catalogue des publications de la CEI
Le catalogue en ligne sur le site web de la CEI (http://www.iec.ch/searchpub/cur_fut.htm)
vous permet de faire des recherches en utilisant de nombreux critères, comprenant des
recherches textuelles, par comité d’études ou date de publication. Des informations en
ligne sont également disponibles sur les nouvelles publications, les publications rem-
placées ou retirées, ainsi que sur les corrigenda.
• IEC Just Published
Ce résumé des dernières publications parues (http://www.iec.ch/online_news/
justpub/jp_entry.htm) est aussi disponible par courrier électronique. Veuillez
prendre contact avec le Service client (voir ci-dessous) pour plus d’informations.
• Service clients
Si vous avez des questions au sujet de cette publication ou avez besoin de
renseignements supplémentaires, prenez contact avec le Service clients:
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INTERNATIONALE 61000-4-4
Deuxième édition
2004-07
PUBLICATION FONDAMENTALE EN CEM
Compatibilité électromagnétique (CEM) –
Partie 4-4:
Techniques d'essai et de mesure –
Essais d’immunité aux transitoires
électriques rapides en salves
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procédé, électronique ou mécanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans l'accord écrit de l'éditeur.
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– 2 – 61000-4-4 © CEI:2004
SOMMAIRE
AVANT-PROPOS.6
INTRODUCTION.10
1 Domaine d'application .12
2 Références normatives.12
3 Termes et définitions .14
4 Généralités.18
5 Niveaux d'essai .18
6 Matériel d'essai .18
6.1 Générateur de salves .20
6.2 Réseau de couplage/découplage pour accès d'alimentation en courant
alternatif et continu.22
6.3 Pince de couplage capacitive .26
7 Montage d'essai .26
7.1 Matériel d'essai .28
7.2 Montage d'essai pour les essais de type en laboratoire .28
7.3 Montage d'essai pour les essais sur site .32
8 Procédure d'essai.34
8.1 Conditions de référence en laboratoire .34
8.2 Exécution de l'essai.36
9 Evaluation des résultats d’essai .36
10 Rapport d’essai .38
Annexe A (informative) Information sur les transitoires électriques rapides .54
Annexe B (informative) Sélection des niveaux d’essai.58
Bibliographie.62
Figure 1 − Schéma simplifié d’un générateur de transitoires rapides en salves .40
Figure 2 − Allure générale d’un transitoire rapide en salve.40
Figure 3 − Forme d’onde d’une impulsion unique sur une charge de 50 Ω.42
Figure 4 – Réseau de couplage/découplage pour accès et bornes d'alimentation en
courant alternatif ou en courant continu .42
Figure 5 – Construction de la pince de couplage capacitive .44
Figure 6 – Diagramme synoptique de l'essai d'immunité de transitoires électriques
rapides en salves.44
Figure 7 – Montage général d'essai pour les essais de type en laboratoire .46
Figure 8 – Exemple de dispositif d’essai pour un équipement monté en rack .46
Figure 9 – Exemple de montage d'essai pour le couplage direct de la tension d'essai
aux accès ou aux bornes d'alimentation en courant alternatif ou en courant continu
pour les essais en laboratoire .48
Figure 10 – Exemple de montage d'essai pour l'application de la tension d'essai au
moyen de la pince de couplage capacitive pour les essais en laboratoire .48
– 4 – 61000-4-4 © CEI:2004
Figure 11 – Exemple d'essai sur site sur les accès d'alimentation en courant alternatif
ou en courant continu sur les bornes de terre de protection pour des EST fixes
montés sur le sol .50
Figure 12 – Exemple d'essai sur site sur l'accès d'alimentation en courant alternatif et
sur les bornes de terre de protection pour des EST mobiles .52
Figure 13 – Exemple d'essai sur site sur les accès de communication et d'entrée/sortie
sans la pince de couplage capacitive .52
Figure 14 – Vérification de la forme d’onde à la sortie de mode commun du réseau de
couplage/découplage.24
Tableau 1 – Niveaux d'essai .18
Tableau 2 – Fréquences de répétition des impulsions et valeurs de crête des tensions
de sortie .22
– 6 – 61000-4-4 © CEI:2004
COMMISSION ÉLECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE
____________
COMPATIBILITÉ ÉLECTROMAGNÉTIQUE (CEM) –
Partie 4-4: Techniques d'essai et de mesure –
Essais d'immunité aux transitoires électriques
rapides en salves
AVANT-PROPOS
1) La Commission Electrotechnique Internationale (CEI) est une organisation mondiale de normalisation
composée de l'ensemble des comités électrotechniques nationaux (Comités nationaux de la CEI). La CEI a
pour objet de favoriser la coopération internationale pour toutes les questions de normalisation dans les
domaines de l'électricité et de l'électronique. A cet effet, la CEI – entre autres activités – publie des Normes
internationales, des Spécifications techniques, des Rapports techniques, des Spécifications accessibles au
public (PAS) et des Guides (ci-après dénommés "Publication(s) de la CEI"). Leur élaboration est confiée à des
comités d'études, aux travaux desquels tout Comité national intéressé par le sujet traité peut participer. Les
organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent
également aux travaux. La CEI collabore étroitement avec l'Organisation Internationale de Normalisation (ISO),
selon des conditions fixées par accord entre les deux organisations.
2) Les décisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques représentent, dans la mesure
du possible, un accord international sur les sujets étudiés, étant donné que les Comités nationaux de la CEI
intéressés sont représentés dans chaque comité d’études.
3) Les Publications de la CEI se présentent sous la forme de recommandations internationales et sont agréées
comme telles par les Comités nationaux de la CEI. Tous les efforts raisonnables sont entrepris afin que la CEI
s'assure de l'exactitude du contenu technique de ses publications; la CEI ne peut pas être tenue responsable
de l'éventuelle mauvaise utilisation ou interprétation qui en est faite par un quelconque utilisateur final.
4) Dans le but d'encourager l'uniformité internationale, les Comités nationaux de la CEI s'engagent, dans toute la
mesure possible, à appliquer de façon transparente les Publications de la CEI dans leurs publications
nationales et régionales. Toutes divergences entre toutes Publications de la CEI et toutes publications
nationales ou régionales correspondantes doivent être indiquées en termes clairs dans ces dernières.
5) La CEI n’a prévu aucune procédure de marquage valant indication d’approbation et n'engage pas sa
responsabilité pour les équipements déclarés conformes à une de ses Publications.
6) Tous les utilisateurs doivent s'assurer qu'ils sont en possession de la dernière édition de cette publication.
7) Aucune responsabilité ne doit être imputée à la CEI, à ses administrateurs, employés, auxiliaires ou
mandataires, y compris ses experts particuliers et les membres de ses comités d'études et des Comités
nationaux de la CEI, pour tout préjudice causé en cas de dommages corporels et matériels, ou de tout autre
dommage de quelque nature que ce soit, directe ou indirecte, ou pour supporter les coûts (y compris les frais
de justice) et les dépenses découlant de la publication ou de l'utilisation de cette Publication de la CEI ou de
toute autre Publication de la CEI, ou au crédit qui lui est accordé.
8) L'attention est attirée sur les références normatives citées dans cette publication. L'utilisation de publications
référencées est obligatoire pour une application correcte de la présente publication.
9) L’attention est attirée sur le fait que certains des éléments de la présente Publication de la CEI peuvent faire
l’objet de droits de propriété intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait être tenue pour
responsable de ne pas avoir identifié de tels droits de propriété et de ne pas avoir signalé leur existence.
La Norme internationale CEI 61000-4-4 a été établie par le sous-comité 77B: Phénomènes
haute fréquence, du comité d'études 77 de la CEI: Compatibilité électromagnétique.
Elle constitue la Partie 4-4 de la CEI 61000. Elle a le statut de publication fondamentale en
CEM en accord avec le Guide 107 de la CEI, Compatibilité électromagnétique – Guide pour la
rédaction des publications sur la compatibilité électromagnétique.
Cette deuxième édition annule et remplace la première édition, parue en 1995, et ses
amendements 1 (2000) et 2 (2001). Cette deuxième édition constitue une révision technique.
Cette deuxième édition améliore et clarifie les spécifications du simulateur, les critères de test
et les montages d'essai. Seule l'injection en mode commun est demandée.
– 8 – 61000-4-4 © CEI:2004
Le texte de cette norme est issu des documents suivants:
FDIS Rapport de vote
77B/419/FDIS 77B/424/RVD
Le rapport de vote indiqué dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant
abouti à l'approbation de cette norme.
Cette publication a été rédigée selon les Directives ISO/CEI, Partie 2.
Le comité a décidé que le contenu de cette publication ne sera pas modifié avant la dat
...
IEC 61000-4-4
Edition 2.0 2004-07
INTERNATIONAL
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NORME
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BASIC EMC PUBLICATION
PUBLICATION FONDAMENTALE EN CEM
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IEC's member National Committee in the country of the requester.
If you have any questions about IEC copyright or have an enquiry about obtaining additional rights to this publication,
please contact the address below or your local IEC member National Committee for further information.
Droits de reproduction réservés. Sauf indication contraire, aucune partie de cette publication ne peut être reproduite
ni utilisée sous quelque forme que ce soit et par aucun procédé, électronique ou mécanique, y compris la photocopie
et les microfilms, sans l'accord écrit de la CEI ou du Comité national de la CEI du pays du demandeur.
Si vous avez des questions sur le copyright de la CEI ou si vous désirez obtenir des droits supplémentaires sur cette
publication, utilisez les coordonnées ci-après ou contactez le Comité national de la CEI de votre pays de résidence.
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About the IEC
The International Electrotechnical Commission (IEC) is the leading global organization that prepares and publishes
International Standards for all electrical, electronic and related technologies.
About IEC publications
The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC. Please make sure that you have the
latest edition, a corrigenda or an amendment might have been published.
ƒ Catalogue of IEC publications: www.iec.ch/searchpub
The IEC on-line Catalogue enables you to search by a variety of criteria (reference number, text, technical committee,…).
It also gives information on projects, withdrawn and replaced publications.
ƒ IEC Just Published: www.iec.ch/online_news/justpub
Stay up to date on all new IEC publications. Just Published details twice a month all new publications released. Available
on-line and also by email.
ƒ Electropedia: www.electropedia.org
The world's leading online dictionary of electronic and electrical terms containing more than 20 000 terms and definitions
in English and French, with equivalent terms in additional languages. Also known as the International Electrotechnical
Vocabulary online.
ƒ Customer Service Centre: www.iec.ch/webstore/custserv
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A propos de la CEI
La Commission Electrotechnique Internationale (CEI) est la première organisation mondiale qui élabore et publie des
normes internationales pour tout ce qui a trait à l'électricité, à l'électronique et aux technologies apparentées.
A propos des publications CEI
Le contenu technique des publications de la CEI est constamment revu. Veuillez vous assurer que vous possédez
l’édition la plus récente, un corrigendum ou amendement peut avoir été publié.
ƒ Catalogue des publications de la CEI: www.iec.ch/searchpub/cur_fut-f.htm
Le Catalogue en-ligne de la CEI vous permet d’effectuer des recherches en utilisant différents critères (numéro de référence,
texte, comité d’études,…). Il donne aussi des informations sur les projets et les publications retirées ou remplacées.
ƒ Just Published CEI: www.iec.ch/online_news/justpub
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publications parues. Disponible en-ligne et aussi par email.
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définitions en anglais et en français, ainsi que les termes équivalents dans les langues additionnelles. Egalement appelé
Vocabulaire Electrotechnique International en ligne.
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transitoires
électriques rapides en salves
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CONTENTS
FOREWORD.4
INTRODUCTION.6
1 Scope.7
2 Normative references.7
3 Terms and definitions .8
4 General.10
5 Test levels.10
6 Test equipment.10
6.1 Burst generator.11
6.2 Coupling/decoupling network for a.c./d.c. mains supply port .12
6.3 Capacitive coupling clamp .14
7 Test set-up.14
7.1 Test equipment.15
7.2 Test set-up for type tests performed in laboratories .15
7.3 Test set-up for post-installation tests.17
8 Test procedure.18
8.1 Laboratory reference conditions .18
8.2 Execution of the test .19
9 Evaluation of test results .19
10 Test report.20
Annex A (informative) Information on the electrical fast transients .28
Annex B (informative) Selection of the test levels.30
Bibliography .63
Figure 1 – Simplified circuit diagram of a fast transient/burst generator.21
Figure 2 – General graph of a fast transient/burst .21
Figure 3 – Waveshape of a single pulse into a 50 Ω load .22
Figure 4 – Coupling/decoupling network for a.c./d.c. power mains supply
ports/terminals.22
Figure 5 – Construction of the capacitive coupling clamp .23
Figure 6 – Block diagram for electrical fast transient/burst immunity test .23
Figure 7 − General test set-up for laboratory type tests.24
Figure 8 – Example of a test set-up for rack mounted equipment .24
Figure 9 – Example of a test set-up for direct coupling of the test voltage to a a.c./d.c.
power supply ports/terminal for laboratory purposes .25
Figure 10 – Example of test set-up for application of the test voltage by the capacitive
coupling clamp for laboratory test purposes.25
61000-4-4 © IEC:2004 – 3 –
Figure 11 – Example for post-installation test on a.c./d.c. power supply ports and
protective earth terminals for stationary, floor-mounted EUT .26
Figure 12 – Example for post-installation test on a.c. mains supply port and protective
earth terminals for non-stationary mounted EUT .27
Figure 13 – Example of post-installation test on communications and I/O ports without
the capacitive coupling clamp .27
Figure 14 – Verification of the waveform at the common mode output of the
coupling/decoupling network .13
Table 1 – Test levels.10
Table 2 – Output voltage peak values and repetition rates .12
– 4 – 61000-4-4 © IEC:2004
INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION
___________
ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY (EMC) –
Part 4-4: Testing and measurement techniques –
Electrical fast transient/burst immunity test
FOREWORD
1) The International Electrotechnical Commission (IEC) is a worldwide organization for standardization comprising
all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of IEC is to promote
international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To
this end and in addition to other activities, IEC publishes International Standards, Technical Specifications,
Technical Reports, Publicly Available Specifications (PAS) and Guides (hereafter referred to as “IEC
Publication(s)”). Their preparation is entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested
in the subject dealt with may participate in this preparatory work. International, governmental and non-
governmental organizations liaising with the IEC also participate in this preparation. IEC collaborates closely
with the International Organization for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by
agreement between the two organizations.
2) The formal decisions or agreements of IEC on technical matters express, as nearly as possible, an international
consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representation from all
interested IEC National Committees.
3) IEC Publications have the form of recommendations for international use and are accepted by IEC National
Committees in that sense. While all reasonable efforts are made to ensure that the technical content of IEC
Publications is accurate, IEC cannot be held responsible for the way in which they are used or for any
misinterpretation by any end user.
4) In order to promote international uniformity, IEC National Committees undertake to apply IEC Publications
transparently to the maximum extent possible in their national and regional publications. Any divergence
between any IEC Publication and the corresponding national or regional publication shall be clearly indicated in
the latter.
5) IEC provides no marking procedure to indicate its approval and cannot be rendered responsible for any
equipment declared to be in conformity with an IEC Publication.
6) All users should ensure that they have the latest edition of this publication.
7) No liability shall attach to IEC or its directors, employees, servants or agents including individual experts and
members of its technical committees and IEC National Committees for any personal injury, property damage or
other damage of any nature whatsoever, whether direct or indirect, or for costs (including legal fees) and
expenses arising out of the publication, use of, or reliance upon, this IEC Publication or any other IEC
Publications.
8) Attention is drawn to the Normative references cited in this publication. Use of the referenced publications is
indispensable for the correct application of this publication.
9) Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this IEC Publication may be the subject of
patent rights. IEC shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights.
International Standard IEC 61000-4-4 has been prepared by sub-committee 77B: High
frequency phenomena, of IEC technical committee 77: Electromagnetic compatibility.
It forms Part 4-4 of IEC 61000. It has the status of a basic EMC publication in accordance
with IEC Guide 107, Electromagnetic compatibility – Guide to the drafting of electromagnetic
compatibility publications.
This second edition cancels and replaces the first edition published in 1995 and its amend-
ments 1 (2000) and 2
...
IEC 61000-4-4 ®
Edition 2.1 2011-03
INTERNATIONAL
STANDARD
NORME
INTERNATIONALE
colour
inside
BASIC EMC PUBLICATION
PUBLICATION FONDAMENTALE EN CEM
Electromagnetic compatibility (EMC) –
Part 4-4: Testing and measurement techniques – Electrical fast transient/burst
immunity test
Compatibilité électromagnétique (CEM) –
Partie 4-4: Techniques d'essai et de mesure – Essais d'immunité aux transitoires
électriques rapides en salves
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IEC's member National Committee in the country of the requester.
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définitions en anglais et en français, ainsi que les termes équivalents dans les langues additionnelles. Egalement appelé
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Edition 2.1 2011-03
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PUBLICATION FONDAMENTALE EN CEM
Electromagnetic compatibility (EMC) –
Part 4-4: Testing and measurement techniques – Electrical fast transient/burst
immunity test
Compatibilité électromagnétique (CEM) –
Partie 4-4: Techniques d'essai et de mesure – Essais d'immunité aux transitoires
électriques rapides en salves
INTERNATIONAL
ELECTROTECHNICAL
COMMISSION
COMMISSION
ELECTROTECHNIQUE
PRICE CODE
INTERNATIONALE
CODE PRIX CL
ICS 33.100.20 ISBN 978-2-88912-412-1
– 2 – 61000-4-4 IEC:2004+A1:2010
CONTENTS
FOREWORD . 4
INTRODUCTION . 6
1 Scope . 7
2 Normative references . 7
3 Terms and definitions . 8
4 General . 10
5 Test levels . 10
6 Test equipment . 10
6.1 Burst generator . 11
6.2 Coupling/decoupling network for a.c./d.c. mains supply port . 12
6.3 Capacitive coupling clamp . 15
7 Test set-up . 15
7.1 Test equipment . 15
7.2 Test set-up for type tests performed in laboratories . 16
7.3 Test set-up for post-installation tests . 17
8 Test procedure . 19
8.1 Laboratory reference conditions . 19
8.2 Execution of the test . 19
9 Evaluation of test results . 20
10 Test report. 20
Annex A (informative) Information on the electrical fast transients. 28
Annex B (informative) Selection of the test levels . 30
Bibliography . 32
Figure 1 – Simplified circuit diagram of a fast transient/burst generator . 21
Figure 2 – General graph of a fast transient/burst . 21
Figure 3 – Waveshape of a single pulse into a 50 Ω load . 22
Figure 4 – Coupling/decoupling network for a.c./d.c. power mains supply
ports/terminals . 22
Figure 5 – Construction of the capacitive coupling clamp . 23
Figure 6 – Block diagram for electrical fast transient/burst immunity test . 23
Figure 7 − General test set-up for laboratory type tests . 24
Figure 8 – Example of a test set-up for rack mounted equipment . 24
Figure 9 – Example of a test set-up for direct coupling of the test voltage to a a.c./d.c.
power supply ports/terminal for laboratory purposes . 25
Figure 10 – Example of test set-up for application of the test voltage by the capacitive
coupling clamp for laboratory test purposes . 25
61000-4-4 IEC:2004+A1:2010 – 3 –
Figure 11 – Example for post-installation test on a.c./d.c. power supply ports and
protective earth terminals for stationary, floor-mounted EUT . 26
Figure 12 – Example for post-installation test on a.c. mains supply port and protective
earth terminals for non-stationary mounted EUT . 27
Figure 13 – Example of post-installation test on communications and I/O ports without
the capacitive coupling clamp . 27
Figure 14 – Verification of the waveform at the common mode output of the
coupling/decoupling network . 13
Figure 14 – Verification of the waveform at the output of the coupling/decoupling
network . 14
Table 1 – Test levels. 10
Table 2 – Output voltage peak values and repetition rates . 12
– 4 – 61000-4-4 IEC:2004+A1:2010
INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION
___________
ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY (EMC) –
Part 4-4: Testing and measurement techniques –
Electrical fast transient/burst immunity test
FOREWORD
1) The International Electrotechnical Commission (IEC) is a worldwide organization for standardization comprising
all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of IEC is to promote
international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To
this end and in addition to other activities, IEC publishes International Standards, Technical Specifications,
Technical Reports, Publicly Available Specifications (PAS) and Guides (hereafter referred to as “IEC
Publication(s)”). Their preparation is entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested
in the subject dealt with may participate in this preparatory work. International, governmental and non-
governmental organizations liaising with the IEC also participate in this preparation. IEC collaborates closely
with the International Organization for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by
agreement between the two organizations.
2) The formal decisions or agreements of IEC on technical matters express, as nearly as possible, an international
consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representation from all
interested IEC National Committees.
3) IEC Publications have the form of recommendations for international use and are accepted by IEC National
Committees in that sense. While all reasonable efforts are made to ensure that the technical content of IEC
Publications is accurate, IEC cannot be held responsible for the way in which they are used or for any
misinterpretation by any end user.
4) In order to promote international uniformity, IEC National Committees undertake to apply IEC Publications
transparently to the maximum extent possible in their national and regional publications. Any divergence
between any IEC Publication and the corresponding national or regional publication shall be clearly indicated in
the latter.
5) IEC itself does not provide any attestation of conformity. Independent certification bodies provide conformity
assessment services and, in some areas, access to IEC marks of conformity. IEC is not responsible for any
services carried out by independent certification bodies.
6) All users should ensure that they have the latest edition of this publication.
7) No liability shall attach to IEC or its directors, employees, servants or agents including individual experts and
members of its technical committees and IEC National Committees for any personal injury, property damage or
other damage of any nature whatsoever, whether direct or indirect, or for costs (including legal fees) and
expenses arising out of the publication, use of, or reliance upon, this IEC Publication or any other IEC
Publications.
8) Attention is drawn to the Normative references cited in this publication. Use of the referenced publications is
indispensable for the correct application of this publication.
9) Attention is drawn
...
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