Amendment 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)

Defines the services provided by a telecontrol specific application-service-element - the Telecontrol Application Service Element No. 1 (TASE.1) - for the exchange of process data in telecontrol systems.

This publication is of high relevance for Smart Grid.

Amendement 1 - Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 27: Essai de sensibilité aux décharges électrostatiques (DES) - Modèle de machine (MM)

Définit les services d'un élément de service d'application: TASE.1 (Telecontrol Application Service Element = élément de service d'application de téléconduite) pour les échanges de données de processus dans les systèmes de téléconduite.

General Information

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Published
Publication Date
24-Sep-2012
Technical Committee
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Current Stage
PPUB - Publication issued
Start Date
30-Sep-2012
Completion Date
25-Sep-2012
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IEC 60749-27:2006/AMD1:2012 - Amendment 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)
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IEC 60749-27 ®
Edition 2.0 2012-09
INTERNATIONAL
STANDARD
NORME
INTERNATIONALE
AMENDMENT 1
AMENDEMENT 1
Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods –
Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing – Machine model (MM)

Dispositifs à semiconducteurs – Méthodes d'essais mécaniques et climatiques –
Partie 27: Essai de sensibilité aux décharges électrostatiques (DES) – Modèle de
machine (MM)
IEC 60749-27:2006/A1:2012
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