IEC 60749-27:2006/AMD1:2012
(Amendment)Amendment 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)
Amendment 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)
Defines the services provided by a telecontrol specific application-service-element - the Telecontrol Application Service Element No. 1 (TASE.1) - for the exchange of process data in telecontrol systems.
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Amendement 1 - Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 27: Essai de sensibilité aux décharges électrostatiques (DES) - Modèle de machine (MM)
Définit les services d'un élément de service d'application: TASE.1 (Telecontrol Application Service Element = élément de service d'application de téléconduite) pour les échanges de données de processus dans les systèmes de téléconduite.
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Standards Content (Sample)
IEC 60749-27 ®
Edition 2.0 2012-09
INTERNATIONAL
STANDARD
NORME
INTERNATIONALE
AMENDMENT 1
AMENDEMENT 1
Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods –
Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing – Machine model (MM)
Dispositifs à semiconducteurs – Méthodes d'essais mécaniques et climatiques –
Partie 27: Essai de sensibilité aux décharges électrostatiques (DES) – Modèle de
machine (MM)
IEC 60749-27:2006/A1:2012
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Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods –
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Dispositifs à semiconducteurs – Méth
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