IEC 61580-4:1997

Methods of measurement for waveguides - Part 4: Attenuation of waveguide and waveguide assemblies

Is applicable to attenuation of wavegides and waveguides assemblies. The objective of the given test procedures is to characterize the attenuation. The contents of the corrigendum of July 2006 have been included in this copy.

Méthodes de mesure appliquées aux guides d'ondes - Partie 4: Atténuation des guides d'ondes et des ensembles de guide d'ondes

Est applicable à l'atténuation des guides d'ondes et des ensembles de guides d'ondes. L'objectif de ces procédures d'essai est de caractériser cette atténuation. Le contenu du corrigendum de juillet 2006 a été pris en considération dans cet exemplaire.

General Information

• Status: Published
• Publication Date: 05-Aug-1997
• ICS: 17.220.20 - Measurement of electrical and magnetic quantities
• ICS: 33.120.10 - Coaxial cables. Waveguides
• Technical Committee: SC 46F - RF and microwave passive components
• Drafting Committee: WG 1 - TC 46/SC 46F/WG 1
• Current Stage: PPUB - Publication issued
• Start Date: 06-Aug-1997
• Completion Date: 31-Jul-1997

Relations

• Corrected By: IEC 61580-4:1997/COR1:2006 - Corrigendum 1 - Methods of measurement for waveguides - Part 4: Attenuation of waveguide and waveguide assemblies
• Effective Date: 05-Sep-2023

Overview

IEC 61580-4:1997 is an international standard developed by the International Electrotechnical Commission (IEC) that defines methods of measurement for waveguides, specifically focusing on the attenuation of waveguides and waveguide assemblies. This part of the IEC 61580 series provides standardized test procedures to accurately characterize attenuation, which is a critical parameter affecting waveguide performance in electrical and electronic communications systems.

The standard includes four distinct measurement methods tailored for various practical scenarios, ensuring flexibility and precision in attenuation testing. The latest consolidated edition incorporates the corrigendum issued in July 2006, reflecting current best practices and technical updates.

Key Topics

• Scope and Purpose
  Applicable to both individual waveguides and assemblies, IEC 61580-4 establishes test methodologies aimed at quantifying attenuation. These procedures help engineers ensure system reliability by verifying that signal losses remain within acceptable limits.

• Measurement Methods
  The standard details four measurement techniques designed to accommodate different testing environments based on waveguide access and attenuation levels:

  • Method 1: Insertion method using swept frequency – Commonly used for general purposes with access to both ends.
  • Method 2: Reflection method using swept frequency – Suitable when only one end of the waveguide is accessible, with some limitations on measurable insertion losses.
  • Method 3: Reflection method using discrete frequencies – Intended for low attenuation scenarios with access restricted to one end.
  • Method 4: Automatic network analyzer method – Employs automatic network analyzers, particularly effective for long waveguide sections but requires careful frequency sweep settings to avoid smoothing out sharp amplitude variations.

• Test Equipment
  Essential test equipment includes:

  • Sweep RF generators with slow sweep rates to ensure accurate peak value capture.
  • Isolators or attenuators to prevent reflected waves from influencing the generator’s output.
  • Filters to eliminate unwanted frequencies, improving measurement reliability.

• Accuracy and Requirements
  The document addresses precision aspects, particularly when using network analyzers, detailing accuracy expectations and calibration standards. Measurement procedures ensure consistent, repeatable results critical for quality assurance.

Applications

IEC 61580-4:1997 is vital for industries and professionals working with microwave communications, radar, satellite, and high-frequency transmission systems where waveguides are employed. Practical applications include:

• Waveguide Quality Control
  Manufacturers use these standardized methods to test and certify waveguide components and assemblies, ensuring they meet specified performance criteria for attenuation.

• System Installation and Maintenance
  Field engineers employ these measurement techniques during installation or routine maintenance to detect degradation or faults in waveguide networks, enabling timely corrective actions.

• Research and Development
  R&D teams use the standard to benchmark attenuation characteristics while developing new waveguide designs or materials.

• Compliance and Certification
  Adhering to IEC 61580-4 facilitates global acceptance of waveguide products and systems, supporting compliance with international regulations and customer requirements.

Related Standards

• IEC 60050 (International Electrotechnical Vocabulary)
  Provides general terminology relevant to electrical and electronic standards, including waveguide measurement terms.

• IEC 60027 (Letter Symbols to be used in Electrical Technology)
  Offers standardized letter symbols which support clear documentation and communication alongside IEC 61580-4.

• IEC 60417 (Graphical Symbols for Use on Equipment) and IEC 60617 (Graphical Symbols for Diagrams)
  These standards provide graphical notation for equipment and diagram representations, which may be referenced in waveguide documentation and test setups.

By following IEC 61580-4:1997, professionals ensure consistent and accurate assessment of waveguide attenuation, leading to enhanced performance, reliability, and interoperability of high-frequency transmission systems worldwide.

Standards Content (Sample)

NORME
CEI
INTERNATIONALE
IEC
61580-4
INTERNATIONAL
Première édition
STANDARD
First edition
1997-08
Méthodes de mesure appliquées
aux guides d’ondes –
Partie 4:
Atténuation des guides d’ondes
et des ensembles de guides d’ondes
Methods of measurement for waveguides –
Part 4:
Attenuation of waveguide and
waveguide assemblies
Numéro de référence
Reference number
CEI/IEC 61580-4: 1997
Numéros des publications Numbering
Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI As from the 1st January 1997 all IEC publications are
sont numérotées à partir de 60000. issued with a designation in the 60000 series.
Publications consolidées Consolidated publications
Les versions consolidées de certaines publications de Consolidated versions of some IEC publications
la CEI incorporant les amendements sont disponibles. including amendments are available. For example,
Par exemple, les numéros d’édition 1.0, 1.1 et 1.2 edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to
indiquent respectivement la publication de base, la the base publication, the base publication
publication de base incorporant l’amendement 1, et la incorporating amendment 1 and the base publication
publication de base incorporant les amendements 1 incorporating amendments 1 and 2.
et 2.
Validité de la présente publication Validity of this publication
Le contenu technique des publications de la CEI est The technical content of IEC publications is kept under
constamment revu par la CEI afin qu'il reflète l'état constant review by the IEC, thus ensuring that the
actuel de la technique. content reflects current technology.
Des renseignements relatifs à la date de Information relating to the date of the reconfirmation of
reconfirmation de la publication sont disponibles dans the publication is available in the IEC catalogue.
le Catalogue de la CEI.
Les renseignements relatifs à ces révisions, à l'établis- Information on the revision work, the issue of revised
sement des éditions révisées et aux amendements editions and amendments may be obtained from
peuvent être obtenus auprès des Comités nationaux de IEC National Committees and from the following
la CEI et dans les documents ci-dessous: IEC sources:
• Bulletin de la CEI • IEC Bulletin
• Annuaire de la CEI • IEC Yearbook
Accès en ligne* On-line access*
• Catalogue des publications de la CEI • Catalogue of IEC publications
Publié annuellement et mis à jour régulièrement Published yearly with regular updates
(Accès en ligne)* (On-line access)*
Terminologie, symboles graphiques Terminology, graphical and letter
et littéraux symbols
En ce qui concerne la terminologie générale, le lecteur For general terminology, readers are referred to
se reportera à la CEI 60050: Vocabulaire Electro- IEC 60050: International Electrotechnical Vocabulary
technique International (VEI). (IEV).
Pour les symboles graphiques, les symboles littéraux For graphical symbols, and letter symbols and signs
et les signes d'usage général approuvés par la CEI, le approved by the IEC for general use, readers are
lecteur consultera la CEI 60027: Symboles littéraux à referred to publications IEC 60027: Letter symbols to
utiliser en électrotechnique, la CEI 60417: Symboles be used in electrical technology, IEC 60417: Graphical
symbols for use on equipment. Index, survey and
graphiques utilisables sur le matériel. Index, relevé et
compilation des feuilles individuelles, et la CEI 60617: compilation of the single sheets and IEC 60617:
Symboles graphiques pour schémas. Graphical symbols for diagrams.
Publications de la CEI établies par IEC publications prepared by the same
le même comité d'études technical committee
L'attention du lecteur est attirée sur les listes figurant The attention of readers is drawn to the end pages of
à la fin de cette publication, qui énumèrent les this publication which list the IEC publications issued
publications de la CEI préparées par le comité by the technical committee which has prepared the
d'études qui a établi la présente publication. present publication.
* Voir adresse «site web» sur la page de titre. * See web site address on title page.

NORME
CEI
INTERNATIONALE
IEC
61580-4
INTERNATIONAL
Première édition
STANDARD
First edition
1997-08
Méthodes de mesure appliquées
aux guides d’ondes –
Partie 4:
Atténuation des guides d’ondes
et des ensembles de guides d’ondes
Methods of measurement for waveguides –
Part 4:
Attenuation of waveguide and
waveguide assemblies
 IEC 1997 Droits de reproduction réservés  Copyright - all rights reserved
Aucune partie de cette publication ne peut être reproduite ni No part of this publication may be reproduced or utilized in
utilisée sous quelque forme que ce soit et par aucun any form or by any means, electronic or mechanical,
procédé, électronique ou mécanique, y compris la photo- including photocopying and microfilm, without permission in
copie et les microfilms, sans l'accord écrit de l'éditeur. writing from the publisher.
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Telefax: [phone] e-mail: [e-mail] IEC web site http: //www.iec.ch
CODE PRIX
Commission Electrotechnique Internationale
L
PRICE CODE
International Electrotechnical Commission
Pour prix, voir catalogue en vigueur
For price, see current catalogue

– 2 – 61580-4 © CEI:1997
SOMMAIRE
Pages
AVANT-PROPOS . 4
Articles
1 Domaine d’application et objet . 6
2 Généralités. 6
3 Equipement d'essai . 6
3.1 Méthode 1 . 8
3.2 Méthode 2 . 10
3.3 Méthode 3 . 12
3.4 Montage d'essai pour la méthode 4. 14
4 Procédure. 16
4.1 Méthode 1 . 16
4.2 Méthode 2 . 16
4.3 Méthode 3 . 16
4.4 Méthode 4 . 16
5 Précision . 18
5.1 Précision des mesurages effectués avec des analyseurs de réseaux. 18
6 Exigences. 18

61580-4 © IEC:1997 – 3 –
CONTENTS
Page
FOREWORD . 5
Clause
1 Scope and object. 7
2 General . 7
3 Test equipment. 7
3.1 Method 1 . 9
3.2 Method 2 . 11
3.3 Method 3 . 13
3.4 Test set-up for method 4. 15
4 Procedure. 17
4.1 Method 1 . 17
4.2 Method 2 . 17
4.3 Method 3 . 17
4.4 Method 4 . 17
5 Accuracy . 19
5.1 Measurement accuracy with network analysers . 19
6 Requirements . 19

– 4 – 61580-4 © CEI:1997
COMMISSION ÉLECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE
_________
MÉTHODES DE MESURE APPLIQUÉES AUX GUIDES D'ONDES –

Partie 4: Atténuation des guides d'ondes
et des ensembles de guides d'ondes

AVANT-PROPOS
1) La CEI (Commission Electrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de normalisation composée
de l'ensemble des comités électrotechniques nationaux (Comités nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de
favoriser la coopération internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de
l'électricité et de l'électronique. A cet effet, la CEI, entre autres activités, publie des Normes internationales.
Leur élaboration est confiée à des comités d'études, aux travaux desquels tout Comité national intéressé par le
sujet traité peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en
liaison avec la CEI, participent également aux travaux. La CEI collabore étroitement avec l'Organisation
Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixées par accord entre les deux organisations.
2) Les décisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques représentent, dans la mesure
du possible un accord international sur les sujets étudiés, étant donné que les Comités nationaux intéressés
sont représentés dans chaque comité d’études.
3) Les documents produits se présentent sous la forme de recommandations internationales. Ils sont publiés
comme normes, rapports techniques ou guides et agréés comme tels par les Comités nationaux.
4) Dans le but d'encourager l'unification internationale, les Comités nationaux de la CEI s'engagent à appliquer de
façon transparente, dans toute la mesure possible, les Normes internationales de la CEI dans leurs normes
nationales et régionales. Toute divergence entre la norme de la CEI et la norme nationale ou régionale
correspondante doit être indiquée en termes clairs dans cette dernière.
5) La CEI n’a fixé aucune procédure concernant le marquage comme indication d’approbation et sa responsabilité
n’est pas engagée quand un matériel est déclaré conforme à l’une de ses normes.
6) L’attention est attirée sur le fait que certains des éléments de la présente Norme internationale peuvent faire
l’objet de droits de propriété intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait être tenue pour
responsable de ne pas avoir identifié de tels droits de propriété et de ne pas avoir signalé leur existence.
La Norme internationale CEI 61580-4 a été établie par le sous-comité 46B: Guides d'ondes et
dispositifs accessoires, du comité d'études 46 de la CEI: Câbles, fils, guides d'ondes,
connecteurs et accessoires pour communications et signalisation.
Le texte de cette norme est issu des documents suivants:
FDIS Rapport de vote
46B/225/FDIS 46B/228/RVD
Le rapport de vote indiqué dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant
abouti à l'approbation de cette norme.
Le contenu du corrigendum de juillet 2006 a été pris en considération dans cet exemplaire.

61580-4 © IEC:1997 – 5 –
INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION
_________
METHODS OF MEASUREMENT FOR WAVEGUIDES –

Part 4: Attenuation of waveguide and
waveguide assemblies
FOREWORD
1) The IEC (International Electrotechnical Commission) is a worldwide organization for standardization comprising
all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of the IEC is to promote
international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To
this end and in addition to other activities, the IEC publishes International Standards. Their preparation is
entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt with may
participate in this preparatory work. International, governmental and non-governmental organizations liaising
with the IEC also participate in this preparation. The IEC collaborates closely with the International Organization
for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by agreement between the two
organizations.
2) The formal decisions or agreements of the IEC on technical matters express, as nearly as possible, an
international consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representation
from all interested National Committees.
3) The documents produced have the form of recommendations for international use and are published in the form
of standards, technical reports or guides and they are accepted by the National Committees in that sense.
4) In order to promote international unification, IEC National Committees undertake to apply IEC International
Standards transparently to the maximum extent possible in their national and regional standards. Any
divergence between the IEC Standard and the corresponding national or regional standard shall be clearly
indicated in the latter.
5) The IEC provides no marking procedure to indicate its approval and cannot be rendered responsible for any
equipment declared to be in conformity with one of its standards.
6) Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this International Standard may be the subject
of patent rights. The IEC shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights.
International Standard IEC 61580-4 has been prepared by subcommittee 46B: Waveguides and
their accessories, of IEC technical committee 46: Cables, wires, waveguides, R.F. connectors
and accessories for communication and signalling.
The text of this standard is based on the following documents:
FDIS Report on voting
46B/225/FDIS 46B/228/RVD
Full information on the voting for the approval of this standard can be found in the report on
voting indicated in the above table.
The contents of the corrigendum of July 2006 have been included in this copy.

– 6 – 61580-4 © CEI:1997
MÉTHODES DE MESURE APPLIQUÉES AUX GUIDES D’ONDES –
Partie 4: Atténuation des guides d'ondes
et des ensembles de guides d'ondes
1 Domaine d’application et objet
Cette partie de la CEI 61580 est applicable à l'atténuation des guides d'ondes et des
ensembles de guides d'ondes. L'objectif des procédures d'essai données ci-dessous est de
caractériser cette atténuation.
2 Généralités
La méthode de balayage en fréquence peut être utilisée afin de déterminer l'atténuation.
Les conditions pour les mesures d'atténuation des guides d'ondes sont caractérisées par
l'accès à une seule extrémité ou bien des pertes très faibles ou encore les deux à la fois.
Quatre méthodes sont présentées ci-après de manière à couvrir tous les cas:
Méthode 1: méthode par insertion utilisant le balayage de fréquence. Elle est utilisée dans les
cas généraux.
Méthode 2: méthode par réflexion utilisant le balayage en fréquence. Elle est utilisée lorsque
seulement une extrémité est accessible mais il peut y avoir des limitations sur les valeurs de
pertes d’insertion qui peuvent être mesurées.
Méthode 3: méthode par réflexion utilisant des fréquences discrètes. Elle est utilisée lorsque
l'atténuation à mesurer est faible et qu'une seule extrémité est accessible.
Méthode 4: utilise un analyseur de réseaux automatique. L’utilisation d’un analyseur de réseau
automatique requiert, pour la mesure sur de grandes longueurs de guides, qu’une attention
particulière soit portée au nombre de fréquences et à la fréquence de balayage choisie. Des
précautions doivent être prises pour assurer qu’aucun «pic» ou «trou» dans la réponse en
amplitude ne soit effectivement lissé pour donner un résultat erroné.
3 Equipement d'essai
Des montages d'essai convenables sont représentés aux figures 1, 2 et 3. D'autres montages
équivalents peuvent être utilisés après accord entre le client et le fournisseur.
a) Générateur à balayage de fréquence: il convient que la vitesse de balayage soit
suffisamment basse pour permettre à l'enregistreur ou au traceur de reproduire fidèlement
les valeurs crêtes.
b) un isolateur ou un atténuateur est inséré afin de prévenir un effet de l'onde
Isolateur:
réfléchie sur le niveau de sortie du générateur.

61580-4 © IEC:1997 – 7 –
METHODS OF MEASUREMENT FOR WAVEGUIDES –
Part 4: Attenuation of waveguide and
waveguide assemblies
1 Scope and object
This part of IEC 61580 is applicable to attenuation of waveguides and waveguides assemblies.
The objective of the test procedures given below is to characterize the attenuation.
2 General
The swept frequency method may be used to determine the attenuation.
The conditions for attenuation measurements on waveguides are characterized by access to
only one end or a very low loss to be measured or else by both together.
Four methods are presented hereinafter in order to cover each case:
Method 1: insertion method using swept frequency. It is used for general purposes.
Method 2: reflection method using swept frequency. It is used when only one end is available
but there may be some limitations on the insertion loss values that may be measured.
Method 3
...