International Electrotechnical Vocabulary - Part 521: Semiconductor devices and integrated circuits

This part of IEC 60050 gives the general terminology used in the fields of semiconductor
technology and semiconductor design and for types of semiconductors.
This terminology is of course consistent with the terminology developed in the other
specialized parts of the IEV.

Vocabulaire Electrotechnique International - Partie 521: Dispositifs à semiconducteurs et circuits intégrés

Elle a le statut d'une norme horizontale conformément au Guide 108 de la CEI.

Mednarodni elektrotehniški slovar - 521. del: Polprevodniški elementi in integrirana vezja

Ta del standarda IEC 60050 podaja splošno terminologijo na področju tehnologije in načrtovanja polprevodnikov ter njihovih vrst. Ta terminologija je skladna s terminologijo, razvito v drugih specializiranih delih mednarodnega tehniškega slovarja.

General Information

Status
Published
Publication Date
29-Jan-2017
Technical Committee
Current Stage
6100 - Translation of adopted SIST standards (Adopted Project)
Start Date
21-Dec-2016
Due Date
20-Dec-2017
Completion Date
27-Jun-2019

Buy Standard

Standard
SIST IEC 60050-521:2017
English and French language
210 pages
sale 10% off
Preview
sale 10% off
Preview
e-Library read for
1 day
Standard – translation
SIST IEC 60050-521:2017
Slovenian language
70 pages
sale 10% off
Preview
sale 10% off
Preview
e-Library read for
1 day

Standards Content (sample)

SLOVENSKI STANDARD
SIST IEC 60050-521:2017
01-marec-2017
Mednarodni elektrotehniški slovar - 521. del: Polprevodniški elementi in
integrirana vezja
International Electrotechnical Vocabulary - Part 521: Semiconductor devices and
integrated circuits

Vocabulaire Electrotechnique International - Partie 521: Dispositifs à semiconducteurs et

circuits intégrés
Ta slovenski standard je istoveten z: IEC 60050-521
ICS:
01.040.31 Elektronika (Slovarji) Electronics (Vocabularies)
31.080.01 Polprevodniški elementi Semiconductor devices in
(naprave) na splošno general
31.200 Integrirana vezja, Integrated circuits.
mikroelektronika Microelectronics
SIST IEC 60050-521:2017 en,fr

2003-01.Slovenski inštitut za standardizacijo. Razmnoževanje celote ali delov tega standarda ni dovoljeno.

---------------------- Page: 1 ----------------------
SIST IEC 60050-521:2017
---------------------- Page: 2 ----------------------
SIST IEC 60050-521:2017
NORME CEI
INTERNATIONALE IEC
60050-521
INTERNATIONAL
Deuxième édition
STANDARD
Second edition
2002-05
Vocabulaire Electrotechnique International
Partie 521 :
Dispositifs à semiconducteurs
et circuits intégrés
International Electrotechnical Vocabulary
Part 521:
Semiconductor devices
and integrated circuits
 IEC 2002 Droits de reproduction réservés  Copyright - all rights reserved

Aucune partie de cette publication ne peut être reproduite ni No part of this publication may be reproduced or utilized in any

utilisée sous quelque forme que ce soit et par aucun procédé, form or by any means, electronic or mechanical, including

électronique ou mécanique, y compris la photocopie et les photocopying and microfilm, without permission in writing from

microfilms, sans l'accord écrit de l'éditeur. the publisher.

International Electrotechnical Commission, 3, rue de Varembé, PO Box 131, CH-1211 Geneva 20, Switzerland

Telephone: +41 22 919 02 11 Telefax: +41 22 919 03 00 E-mail: inmail@iec.ch Web: www.iec.ch

CODE PRIX
PRICE CODE
Commission Electrotechnique Internationale
International Electrotechnical Commission
Международная Электротехническая Комиссия
Pour prix, voir catalogue en vigueur
For price, see current catalogue
---------------------- Page: 3 ----------------------
SIST IEC 60050-521:2017
– II – 60050-521  CEI:2002
SOMMAIRE

AVANT-PROPOS.................................................................................................................. IV

INTRODUCTION – Principes d'établissement et règles suivies ........................................... VIII

1 Domaine d'application ......................................................................................................1

2 Références normatives.....................................................................................................1

3 Termes et définitions ........................................................................................................3

Section 521-01 – Notions de physique atomique.....................................................................3

Section 521-02 – Propriétés des matériaux semiconducteurs................................................15

Section 521-03 – Traitement des matériaux semiconducteurs ...............................................44

Section 521-04 – Types de dispositifs à semiconducteurs.....................................................50

Section 521-05 – Termes généraux pour dispositifs à semiconducteurs ................................75

Section 521-06 – Termes particuliers aux diodes ..................................................................89

Section 521-07 – Termes particuliers aux transistors ............................................................91

Section 521-08 – Termes particuliers aux thyristors ............................................................100

Section 521-09 – Termes particuliers aux dispositifs à effet hall

et aux magnétoresistances .................................................................................................106

Section 521-10 – Termes particuliers aux circuits intégrés..................................................113

Section 521-11 – Termes particuliers aux circuits intégrés numériques...............................117

INDEX en français, anglais, chinois, allemand, espagnol, japonais, polonais,

portugais et suédois............................................................................................................ 126

---------------------- Page: 4 ----------------------
SIST IEC 60050-521:2017
60050-521  IEC:2002 – III –
CONTENTS

FOREWORD.......................................................................................................................... V

INTRODUCTION – Principles and rules followed .................................................................. IX

1 Scope...............................................................................................................................2

2 Normative references .......................................................................................................2

3 Terms and definitions .......................................................................................................3

Section 521-01 – Introduction to atomic physics .....................................................................3

Section 521-02 – Properties of semiconductor materials .......................................................15

Section 521-03 – Processing semiconductor materials..........................................................44

Section 521-04 – Types of semiconductor devices ................................................................50

Section 521-05 – General terms for semiconductor devices ..................................................75

Section 521-06 – Specific terms for diodes ...........................................................................89

Section 521-07 – Specific terms for transistors .....................................................................91

Section 521-08 – Specific terms for thyristors .....................................................................100

Section 521-09 – Specific terms for hall-effect devices and magnetoresistors .....................106

Section 521-10 – Specific terms for integrated circuits........................................................113

Section 521-11 – Specific terms for digital integrated circuits..............................................117

INDEX in French, English, Chinese, German, Spanish, Japanese, Polish,

Portuguese and Swedish .................................................................................................... 126

---------------------- Page: 5 ----------------------
SIST IEC 60050-521:2017
– IV – 60050-521  CEI:2002
COMMISSION ÉLECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE
____________
VOCABULAIRE ÉLECTROTECHNIQUE INTERNATIONAL
PARTIE 521 : DISPOSITIFS À SEMICONDUCTEURS
ET CIRCUITS INTÉGRÉS
AVANT-PROPOS

1) La CEI (Commission Électrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de normalisation

composée de l'ensemble des comités électrotechniques nationaux (Comités nationaux de la CEI). La CEI a

pour objet de favoriser la coopération internationale pour toutes les questions de normalisation dans les

domaines de l'électricité et de l'électronique. A cet effet, la CEI, entre autres activités, publie des Normes

internationales. Leur élaboration est confiée à des comités d'études, aux travaux desquels tout Comité national

intéressé par le sujet traité peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non

gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent également aux travaux. La CEI collabore étroitement

avec l'Organisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixées par accord entre les

deux organisations.

2) Les décisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques représentent, dans la mesure

du possible, un accord international sur les sujets étudiés, étant donné que les Comités nationaux intéressés

sont représentés dans chaque comité d’études.

3) Les documents produits se présentent sous la forme de recommandations internationales. Ils sont publiés

comme normes, spécifications techniques, rapports techniques ou guides et agréés comme tels par les

Comités nationaux.

4) Dans le but d'encourager l'unification internationale, les Comités nationaux de la CEI s'engagent à appliquer de

façon transparente, dans toute la mesure possible, les Normes internationales de la CEI dans leurs normes

nationales et régionales. Toute divergence entre la norme de la CEI et la norme nationale ou régionale

correspondante doit être indiquée en termes clairs dans cette dernière.

5) La CEI n’a fixé aucune procédure concernant le marquage comme indication d’approbation et sa responsabilité

n’est pas engagée quand un matériel est déclaré conforme à l’une de ses normes.

6) L’attention est attirée sur le fait que certains des éléments de la présente Norme internationale peuvent faire

l’objet de droits de propriété intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait être tenue pour

responsable de ne pas avoir identifié de tels droits de propriété et de ne pas avoir signalé leur existence.

La Norme internationale CEI 60050-521 a été établie par le Groupe de Travail 1 du Comité

d'études 47 : Dispositifs à semiconducteurs, sous la responsabilité du comité d'études 1 de la

CEI : Terminologie.
Le texte de cette norme est issu des documents suivants :
FDIS Rapport de vote
1/1830/FDIS 1/1835/RVD

Le rapport de vote indiqué dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant

abouti à l'approbation de cette norme.

Cette deuxième édition de la CEI 60050-521 est issue de l’édition originale de 1984 et des

termes nouveaux ou modifiés approuvés dans le FDIS en référence.
Cette publication a été rédigée selon les Directives ISO/CEI, Partie 3.

Dans la présente partie du VEI les termes et définitions sont donnés en français et en

anglais : de plus, les termes sont indiqués en chinois (cn), allemand (de), espagnol (es),

japonais (ja), polonais (pl), portugais (pt) et suédois (sv).
---------------------- Page: 6 ----------------------
SIST IEC 60050-521:2017
60050-521  IEC:2002 – V –
INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION
____________
INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL VOCABULARY
PART 521: SEMICONDUCTOR DEVICES
AND INTEGRATED CIRCUITS
FOREWORD

1) The IEC (International Electrotechnical Commission) is a worldwide organization for standardization comprising

all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of the IEC is to promote

international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To

this end and in addition to other activities, the IEC publishes International Standards. Their preparation is

entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt with may

participate in this preparatory work. International, governmental and non-governmental organizations liaising

with the IEC also participate in this preparation. The IEC collaborates closely with the International

Organization for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by agreement between the

two organizations.

2) The formal decisions or agreements of the IEC on technical matters express, as nearly as possible, an

international consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representation

from all interested National Committees.

3) The documents produced have the form of recommendations for international use and are published in the form

of standards, technical specifications, technical reports or guides and they are accepted by the National

Committees in that sense.

4) In order to promote international unification, IEC National Committees undertake to apply IEC International

Standards transparently to the maximum extent possible in their national and regional standards. Any

divergence between the IEC Standard and the corresponding national or regional standard shall be clearly

indicated in the latter.

5) The IEC provides no marking procedure to indicate its approval and cannot be rendered responsible for any

equipment declared to be in conformity with one of its standards.

6) Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this International Standard may be the subject

of patent rights. The IEC shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights.

International Standard IEC 60050-521 has been prepared by Working Group 1 of IEC technical

committee 47: Semiconductor devices, under the responsibility of IEC technical committee 1:

Terminology.
The text of this standard is based on the following documents:
FDIS Report on voting
1/1830/FDIS 1/1835/RVD

Full information on the voting for the approval of this standard can be found in the report on

voting indicated in the above table.

This second edition of IEC 60050-521 is based on 1984 edition and new or modified approved

terms in FDIS in reference.

This publication has been drafted in accordance with the ISO/IEC Directives, Part 3.

In this part of IEV, the terms and definitions are written in French and English; in addition the

terms are given in Chinese (cn), German (de), Spanish (es), Japanese (ja), Polish (pl),

Portuguese (pt) and Swedish (sv).
---------------------- Page: 7 ----------------------
SIST IEC 60050-521:2017
– VI – 60050-521  CEI:2002

Le comité a décidé que le contenu de cette publication ne sera pas modifié avant 2013.

A cette date, la publication sera
• reconduite ;
• supprimée ;
• remplacée par une édition révisée, ou
• amendée.
---------------------- Page: 8 ----------------------
SIST IEC 60050-521:2017
60050-521  IEC:2002 – VII –

The committee has decided that the contents of this publication will remain unchanged until 2013.

At this date, the publication will be
• reconfirmed;
• withdrawn;
• replaced by a revised edition, or
• amended.
---------------------- Page: 9 ----------------------
SIST IEC 60050-521:2017
– VIII – 60050-521  CEI:2002
INTRODUCTION
Principes d'établissement et règles suivies
Généralités

Le VEI (série CEI 60050) est un vocabulaire multilingue à usage général couvrant le champ

de l'électrotechnique, de l'électronique et des télécommunications. Il comprend environ

18 500 articles terminologiques correspondant chacun à une notion. Ces articles sont répartis

dans environ 80 parties, chacune correspondant à un domaine donné.
Exemples :
Partie 161 (CEI 60050-161) : Compatibilité électromagnétique
Partie 411 (CEI 60050-411) : Machines tournantes

Les articles suivent un schéma de classification hiérarchique Partie/Section/Notion, les

notions étant, au sein des sections, classées par ordre systématique.

Les termes, définitions et notes des articles sont donnés dans les trois langues officielles

de la CEI, c'est-à-dire français, anglais et russe (langues principales du VEI).

Dans chaque article, les termes seuls sont également donnés dans les langues additionnelles

du VEI (arabe, chinois, allemand, grec, espagnol, italien, japonais, polonais, portugais et

suédois).

De plus, chaque partie comprend un index alphabétique des termes inclus dans cette partie,

et ce pour chacune des langues du VEI.
NOTE – Certaines langues peuvent manquer.
Constitution d'un article terminologique
Chacun des articles correspond à une notion, et comprend :
–un numéro d'article,
– éventuellement un symbole littéral de grandeur ou d'unité,
puis, pour chaque langue principale du VEI :

– le terme désignant la notion, appelé « terme privilégié », éventuellement accompagné de

synonymes et d'abréviations,
–la définition de la notion,
– éventuellement la source,
– éventuellement des notes,
et enfin, pour les langues additionnelles du VEI, les termes seuls.
Numéro d'article
Le numéro d'article comprend trois éléments, séparés par des traits d'union :
– Numéro de partie : 3 chiffres,
– Numéro de section : 2 chiffres,
– Numéro de la notion : 2 chiffres (01 à 99).
Exemple : 151-13-82
---------------------- Page: 10 ----------------------
SIST IEC 60050-521:2017
60050-521  IEC:2002 – IX –
INTRODUCTION
Principles and rules followed
General

The IEV (IEC 60050 series) is a general-purpose multilingual vocabulary covering the field of

electrotechnology, electronics and telecommunication. It comprises about 18 500 termino-

logical entries, each corresponding to a concept. These entries are distributed among about

80 parts, each part corresponding to a given field.
Examples:
Part 161 (IEC 60050-161): Electromagnetic compatibility
Part 411 (IEC 60050-411): Rotating machines

The entries follow a hierarchical classification scheme Part/Section/Concept, the concepts

being, within the sections, organized in a systematic order.

The terms, definitions and notes in the entries are given in the three IEC official languages,

that is French, English and Russian (principal IEV languages).

In each entry the terms alone are also given in the additional IEV languages (Arabic, Chinese,

German, Greek, Spanish, Italian, Japanese, Polish, Portuguese and Swedish).

In addition, each part comprises an alphabetical index of the terms included in that part, for

each of the IEV languages.
NOTE – Some languages may be missing.
Organization of a terminological entry
Each of the entries corresponds to a concept, and comprises:
–an entry number,
– possibly a letter symbol for quantity or unit,
then, for each of the principal IEV languages:

– the term designating the concept, called "preferred term", possibly accompanied by

synonyms and abbreviations,
–the definition of the concept,
– possibly the source,
– possibly notes,
and finally, for the additional IEV languages, the terms alone.
Entry number
The entry number is comprised of three elements, separated by hyphens:
– Part number: 3 digits,
– Section number: 2 digits,
– Concept number: 2 digits (01 to 99).
Example: 151-13-82
---------------------- Page: 11 ----------------------
SIST IEC 60050-521:2017
– X – 60050-521  CEI:2002
Symboles littéraux de grandeurs et unités

Ces symboles, indépendants de la langue, sont donnés sur une ligne séparée suivant le

numéro d'article.
Exemple :
131-11-22
symb. : R
résistance, f
Terme privilégié et synonymes

Le terme privilégié est le terme qui figure en tête d'un article ; il peut être suivi de synonymes.

Il est imprimé en gras.
Synonymes :

Les synonymes sont imprimés sur des lignes séparées sous le terme privilégié : ils sont

également imprimés en gras, sauf les synonymes déconseillés, qui sont imprimés en maigre,

et suivis par l'attribut « (déconseillé) ».
Parties pouvant être omises :

Certaines parties d'un terme peuvent être omises, soit dans le domaine considéré, soit dans

un contexte approprié. Ces parties sont alors imprimées en gras, entre parenthèses :

Exemple: émission (électromagnétique)
Absence de terme approprié :

Lorsqu'il n'existe pas de terme approprié dans une langue, le terme privilégié est remplacé

par cinq points, comme ceci :
.....
« » (et il n'y a alors bien entendu pas de synonymes).
Attributs

Chaque terme (ou synonyme) peut être suivi d'attributs donnant des informations supplé-

mentaires ; ces attributs sont imprimés en maigre, à la suite de ce terme, et sur la même

ligne.
Exemples d'attributs :
– spécificité d'utilisation du terme :
rang (d'un harmonique)
– variante nationale :
unité de traitement CA
– catégorie grammaticale :
électronique, adj
électronique, f
– abréviation : CEM (abréviation)
– déconseillé : déplacement (terme déconseillé)
---------------------- Page: 12 ----------------------
SIST IEC 60050-521:2017
60050-521  IEC:2002 – XI –
Letter symbols for quantities and units

These symbols, which are language independent, are given on a separate line following the

entry number.
Example:
131-11-22
symb. : R
resistance
Preferred term and synonyms

The preferred term is the term that heads a terminological entry; it may be followed by

synonyms. It is printed in boldface.
Synonyms:

The synonyms are printed on separate lines under the preferred term: they are also printed in

boldface, excepted for deprecated synonyms, which are printed in lightface, and followed by

the attribute "(deprecated)".
Parts that may be omitted:

Some parts of a term may be omitted, either in the field under consideration or in an

appropriate context. Such parts are printed in boldface type, and placed in parentheses:

Example: (electromagnetic) emission
Absence of an appropriate term:

When no adequate term exists in a given language, the preferred term is replaced by five

dots, like this:
.....
" " (and there are of course no synonyms).
Attributes

Each term (or synonym) may be followed by attributes giving additional information, and

printed on the same line as the corresponding term, following this term.
Examples of attributes:
– specific use of the term:
transmission line (in electric power systems)
– national variant: lift GB
– grammatical information:
thermoplastic, noun
AC, qualifier
– abbreviation: EMC (abbreviation)
– deprecated: choke (deprecated)
---------------------- Page: 13 ----------------------
SIST IEC 60050-521:2017
– XII – 60050-521  CEI:2002
Source

Dans certains cas il a été nécessaire d'inclure dans une partie du VEI une notion prise dans

une autre partie du VEI, ou dans un autre document de terminologie faisant autorité

(VIM, ISO/CEI 2382, etc.), dans les deux cas avec ou sans modification de la définition

(ou éventuellement du terme).

Ceci est indiqué par la mention de cette source, imprimée en maigre, et placée entre crochets

à la fin de la définition :
Exemple : [131-03-13 MOD]
(MOD indique que la définition a été modifiée)
Termes dans les langues additionnelles du VEI

Ces termes sont placés à la fin de l'article, sur des lignes séparées (une ligne par langue),

précédés par le code alpha-2 de la langue, défini dans l'ISO 639, et dans l'ordre alphabétique

de ce code. Les synonymes sont séparés par des points-virgules.
---------------------- Page: 14 ----------------------
SIST IEC 60050-521:2017
60050-521  IEC:2002 – XIII –
Source

In some cases, it has been necessary to include in an IEV part a concept taken from another

IEV part, or from another authoritative terminology document (VIM, ISO/IEC 2382, etc.), in

both cases with or without modification to the definition (and possibly to the term).

This is indicated by the mention of this source, printed in lightface, and placed between

square brackets at the end of the definition.
Example: [131-03-13 MOD]
(MOD indicates that the definition has been modified)
Terms in additional IEV languages

These terms are placed at the end of the entry, on separate lines (one single line for each

language), preceded by the alpha-2 code for the language defined in ISO 639, and in the

alphabetic order of this code. Synonyms are separated by semicolons.
---------------------- Page: 15 ----------------------
SIST IEC 60050-521:2017
– 1 – 60050-521  CEI:2002
VOCABULAIRE ÉLECTROTECHNIQUE INTERNATIONAL
PARTIE 521 : DISPOSITIFS À SEMICONDUCTEURS
ET CIRCUITS INTÉGRÉS
1 Domaine d'application

Cette partie de la norme CEI 60050 donne la terminologie générale utilisée dans les

domaines de la technologie des semiconducteurs, du développement des semiconducteurs et

pour les types de semiconducteurs.

Cette terminologie est naturellement en accord avec la terminologie figurant dans les autres

parties spécialisée du VEI.
2 Références normatives

Les références normatives se limitent essentiellement à la CEI 60050 Partie 151 : Dispositifs

électriques et magnétiques, en cours de révision.
---------------------- Page: 16 ----------------------
SIST IEC 60050-521:2017
60050-521  IEC:2002 – 2 –
INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL VOCABULARY
PART 521: SEMICONDUCTOR DEVICES
AND INTEGRATED CIRCUITS
1Scope

This part of IEC 60050 gives the general terminology used in the fields of semiconductor

technology and semiconductor design and for types of semiconductors.

This terminology is of course consistent with the terminology developed in the other

specialized parts of the IEV.
2 Normative references

Normative references are limited to IEC 60050 Part 151: Electric and magnetic devices, under

revision.
---------------------- Page: 17 ----------------------
SIST IEC 60050-521:2017
– 3 – 60050-521  CEI:2002
3 Termes et définitions
3 Terms and definitions
PARTIE 521 : DISPOSITIFS À SEMICONDUCTEURS
ET CIRCUITS INTÉGRÉS
PART 521: SEMICONDUCTOR DEVICES
AND INTEGRATED CIRCUITS
Section 521-01 – Notions de physique atomique
Section 521-01 – Introduction to atomic physics
521-01-01
système non quantifié (de particules), m

système de particules dont on suppose que les énergies sont susceptibles de varier de

manière continue. Le nombre des états microscopiques, défini par les positions et les vitesses

des particules à un instant donné, est alors non limité
non-quantized system (of particles)

system of particles whose energies are assumed to be capable of varying in a continuous

manner and in which the number of microscopic states defined by the positions and velocities

of the particles at a given instant is therefore unlimited
cn 非量子化系统非量子化系统非量子化系统非量子化系统(粒子的)
de nichtquantisiertes System (von Teilchen), n
es sistema no cualificado (de partículas)
ja (粒子の)非量子化系(粒子の)非量子化系(粒子の)非量子化系(粒子の)非量子化系
pl układ niekwantowany (cząstek)
pt sistema não quantificado (de partículas)
sv okvantiserat system
521-01-02
système quantifié (de particules), m

système de particules dont les énergies ne peuvent prendre que des valeurs discrètes

quantized system (of particles)
system of particles the energies of which can have discrete values only
cn 量子化系统量子化系统(粒子的量子化系统量子化系统 )
de quantisiertes System (von Teilchen), n
es sistema cuantificado (de partículas)
ja (粒子の)量子化系(粒子の)量子化系(粒子の)量子化系(粒子の)量子化系
pl układ kwantowany (cząstek)
pt sistema quantificado (de partículas)
sv kvantiserat system
---------------------- Page: 18 ----------------------
SIST IEC 60050-521:2017
60050-521  IEC:2002 – 4 –
521-01-03
statistique de Maxwell-Boltzmann, f

ensemble de probabilités des états macroscopiques d'un système non quantifié de particules

déterminé par les valeurs moyennes des coordonnées de positions, des vitesses ou de

l'énergie, dans un volume très petit, mais non nul du système
Maxwell-Boltzmann statistics

probability distribution of the macroscopic states of a non-quantized system of particles,

defined by the average values of the position, velocity or energy co-ordinates, in a very small,

but finite, volume of the system
麦克斯韦麦克斯韦--玻尔兹曼统计玻尔兹曼统计
cn 麦克斯韦麦克斯韦--玻尔兹曼统计玻尔兹曼统计
de Maxwell-Boltzmann-Statistik, f
es estadística de Maxwell-Boltzmann
ja マックスウェル‐マックスウェル‐マックスウェル‐マックスウェル‐ボルツマン統計ボルツマン統計ボルツマン統計ボルツマン統計
pl rozkład Maxwella-Boltzmanna
pt estatística de Maxwell-Boltzmann
sv Maxwell-Boltzmann-fördelning
521-01-04
relation de Boltzmann, f

relation exprimant que, à une constante additive près, l'entropie d'un système de particules

est égale au produit du logarithme népérien de la probabilité de son état macroscopique par

la constante de Boltzmann
Boltzmann relation

equation stating that, apart from an additive constant, the entropy of a system of particles is

equal to the product of the Napierian (natural) logarithm of the probability of its macroscopic

state and the Boltzmann constant
cn 玻尔兹曼关系玻尔兹曼关系玻尔兹曼关系玻尔兹曼关系
de Boltzmann-Beziehung, f
es relación de Boltzmann
ja ボルツマン関係ボルツマン関係ボルツマン関係ボルツマン関係
pl zależność Boltzmanna
pt relação de Boltzmann
sv Boltzmanns ekvation
---------------------- Page: 19 ----------------------
SIST IEC 60050-521:2017
– 5 – 60050-521  CEI:2002
521-01-05
loi de distribution des vitesses de Maxwell-Boltzmann, f

relation algébrique donnant le nombre dN de particules d'un système non quantifié dont les

composantes de vitesse sont comprises respectivement dans les intervalles (u, u + du), (v, v + dv),

(w, w + dw) :
2 2 2
 
− m (u + v + w )
d N = A ⋅ exp du ⋅ dv ⋅ d w
 
2 kT
 
 
3/2
 m 
A = N
 
(2 π ⋅ kT )
 
N désigne le nombre total de particules
m la masse d'une particule
T la température thermodynamique
k la constante de Boltzmann

NOTE – dN/N représente la probabilité pour qu'une particule ait ses composantes de vitesse

comprises dans les intervalles considérés.
Maxwell-Boltzmann velocity-distribution law

algebraic equation giving the number dN of particles of a non-quantized system, the

u, u + du), (v, v + dv), (w, w + dw
components of velocity of which are comprised in the intervals ( )
respectively:
2 2 2
 
− m (u + v + w )
d N = A ⋅ exp d u ⋅ d v ⋅ d w
 
2 kT
 
 
where
3/2
 
A = N
 
(2 π ⋅ kT )
 
N is the total number of particles
m is the mass of a particle
T is the thermodynamic temperature
k is the Boltzmann constant

NOTE – dN/N represents the probability that a particle has its components of velocity within the inter-

vals considered.
cn 麦克斯韦麦克斯韦麦克斯韦麦克斯韦----玻尔兹曼速度分布律玻尔兹曼速度分布律玻尔兹曼速度分布律玻尔兹曼速度分布律
de Maxwell-Boltzmann-Geschwindigkeitsverteilung, f
es ley de distribución de las velocidades de Maxwell-Boltzmann
ja マックスウェル‐マックスウェル‐マックスウェル‐マックスウェル‐ボルツマン速度分布則ボルツマン速度分布則ボルツマン速度分布則ボルツマン速度分布則
pl prawo rozkładu prędkości Maxwella-Boltzmanna
pt lei de distribuição das velocidades de Maxwell-Boltzmann
sv Maxwell-Boltzmanns hastighetsfördelning
---------------------- Page: 20 ----------------------
SIST IEC 60050-521:2017
60050-521  IEC:2002 – 6 –
521-01-06
atome de Bohr, m

modèle de l'atome fondé sur les conceptions de Bohr et de Sommerfeld, d'après lesquelles

les électrons d'un atome décriraient autour du noyau des orbites circulaires ou elliptiques

discrètes

NOTE – A chacun des degrés de liberté de l'atome correspond une série d'états énergétiques qui

déterminent les séries spectrales susceptibles d'être émises par l'atome.
Bohr atom

model of the atom based on the conception of Bohr and Sommerfeld, according to which the

electrons of an atom move
...

SLOVENSKI SIST IEC 60050-521
STANDARD
marec 2017
Mednarodni elektrotehniški slovar –
521. del: Polprevodniški elementi in integrirana vezja
International Electrotechnical Vocabulary –
Part 521: Semiconductor devices and integrated circuits
Vocabulaire Electrotechnique International –
Partie 521: Dispositifs à semiconducteurs et circuits intégrés
Internationales Elektrotechnisches Wörterbuch –
Teil 521: Halbleiterbauelemente und integrierte Schaltungen
Referenčna številka
ICS 01.040.31; 31.080.01; 31.200 SIST IEC 60050-521:2017 (sl)
Nadaljevanje na straneh od 2 do 71

© 2019-07. Slovenski inštitut za standardizacijo. Razmnoževanje celote ali delov tega standarda ni dovoljeno.

---------------------- Page: 1 ----------------------
SIST IEC 60050-521 : 2017
NACIONALNI UVOD

Standard SIST IEC 60050-521, Mednarodni elektrotehniški slovar – 521. del: Polprevodniški elementi

in integrirana vezja, 2017, ima status slovenskega standarda in je enakovreden mednarodnemu

standardu IEC 60050-521 (en), International Electrotechnical Vocabulary – Part 521: Semiconductor

devices and integrated circuits, 2002.
NACIONALNI PREDGOVOR

Mednarodni standard IEC 60050-521:2002 je pripravil tehnični odbor IEC/TC 47 Polprevodniški

elementi pri tehničnem odboru IEC/TC 1 Terminologija. Slovenski standard SIST IEC 60050-521:2017

je prevod mednarodnega standarda IEC 60050-521:2002. V primeru spora glede besedila

slovenskega prevoda v tem standardu je odločilen izvirni mednarodni standard. Slovensko izdajo

standarda je pripravil tehnični odbor SIST/TC Terminologija.

Prevod standarda SIST IEC 60050-521:2017 so opravili sodelavci Laboratorija za fotovoltaiko in

optoelektroniko v okviru Odbora za terminologijo Elektrotehniške zveze Slovenije, urednik prevajanja

je bil prof. dr. Franc Smole.

Odločitev za prevzem tega standarda je marca 2017 sprejel tehnični odbor SIST/TC Terminologija.

OSNOVA ZA IZDAJO STANDARDA
– prevod standarda IEC 60050-521:2002
OPOMBE
– Nacionalni uvod in nacionalni predgovor nista sestavni del standarda.
---------------------- Page: 2 ----------------------
SIST IEC 60050-521 : 2017
VSEBINA Stran

Predgovor ................................................................................................................................................. 4

521-01 Uvod v atomsko fiziko ................................................................................................................. 8

521-02 Lastnosti polprevodniških materialov ........................................................................................ 13

521-03 Obdelovanje polprevodniških materialov .................................................................................. 23

521-04 Vrste polprevodniških elementov .............................................................................................. 25

521-05 Splošni izrazi za polprevodniške elemente ............................................................................... 33

521-06 Izrazi, specifični za diode .......................................................................................................... 36

521-07 Izrazi, specifični za tranzistorje ................................................................................................. 40

521-08 Izrazi, specifični za tiristorje ...................................................................................................... 43

521-09 Izrazi, specifični za elemente s Hallovim pojavom in magnetoupore ........................................ 45

521-10 Izrazi, specifični za integrirana vezja ......................................................................................... 48

521-11 Izrazi, specifični za digitalna integrirana vezja .......................................................................... 50

Abecedni slovar slovenskih izrazov ........................................................................................................ 53

Abecedni slovar angleških izrazov ......................................................................................................... 58

Abecedni slovar v francoskih izrazov ..................................................................................................... 62

Abecedni slovar v nemških izrazov ........................................................................................................ 67

---------------------- Page: 3 ----------------------
SIST IEC 60050-521 : 2017
MEDNARODNA ELEKTROTEHNIŠKA KOMISIJA
Mednarodni elektrotehniški slovar –
521. del: Polprevodniški elementi in integrirana vezja
PREDGOVOR

1) IEC (Mednarodna elektrotehniška komisija) je svetovna organizacija za standardizacijo, ki združuje vse nacionalne

elektrotehnične komiteje (nacionalni komiteji IEC). Cilj IEC je pospeševati mednarodno sodelovanje v vseh vprašanjih

standardizacije s področja elektrotehnike in elektronike. V ta namen poleg drugih aktivnosti izdaja mednarodne standarde,

tehnične specifikacije, tehnična poročila, javno dostopne specifikacije in vodila (v nadaljevanju: publikacije IEC). Za njihovo

pripravo so odgovorni tehnični odbori (TC). Vsak nacionalni komite IEC, ki ga zanima obravnavana tema, lahko sodeluje v

tem pripravljalnem delu. Prav tako lahko v pripravi sodelujejo mednarodne organizacije ter vladne in nevladne ustanove, ki

so povezane z IEC. IEC deluje v tesni povezavi z mednarodno organizacijo za standardizacijo ISO skladno s pogoji,

določenimi v soglasju med obema organizacijama.

2) Uradne odločitve ali sporazumi IEC o tehničnih vprašanjih, pripravljeni v tehničnih odborih, v katerih so prisotni vsi

nacionalni komiteji, ki jih tema zanima, izražajo, kolikor je mogoče, mednarodno soglasje o obravnavani temi.

3) Izdani dokumenti imajo obliko priporočil za mednarodno uporabo in so objavljeni v obliki standardov, tehničnih poročil ali

navodil in v tem smislu jih sprejemajo nacionalni komiteji.

4) Da bi pospeševali mednarodno poenotenje, so se nacionalni komiteji IEC zavezali, da bodo v svojih nacionalnih in

regionalnih standardih čim pregledneje uporabljali mednarodne standarde. Vsako odstopanje med standardom IEC in

ustreznim nacionalnim ali regionalnim standardom je treba v slednjem jasno označiti.

5) IEC ni določil nobenega postopka označevanja, ki bi kazal na njegovo potrditev in ne more biti odgovoren za katero koli

opremo, ki bi bila deklarirana kot skladna z eno od njegovih publikacij.

6) Opozoriti je treba na možnost, da bi lahko bil kateri od elementov tega mednarodnega standarda predmet patentnih pravic.

IEC ni odgovoren za identificiranje nobene od teh patentnih pravic.

Mednarodni standard IEC 60050-521 je pripravila delovna skupina 1 pri tehničnem odboru IEC/TC 47

Polprevodniški elementi pod odgovornostjo tehničnega odbora IEC/TC 1 Terminologija.

Besedilo tega standarda temelji na naslednjih dokumentih:
FDIS Poročilo glasovanju
1/1830/FDIS 1/1835/RVD

Celovita informacija o glasovanju za odobritev tega standarda je na voljo v poročilu o glasovanju,

navedenem v gornji preglednici.

Ta druga izdaja IEC 60050-521 temelji na izdaji iz leta 1984 ter novih in spremenjenih izrazih iz

navedenega FDIS.

Ta publikacija je bila pripravljena v skladu z dokumentom ISO/IEC Directives, Del 3.

V tem delu IEV so izrazi in definicije podani v francoščini in angleščini, dodani pa so še izrazi v

japonščini (ja), kitajščini (cn), nemščini (de), poljščini (pl), portugalščini (pt), španščini (es) in švedščini

(sv).

Tehnični odbor je sklenil, da bo vsebina tega standarda ostala nespremenjena do leta 2013. Po tem

datumu bo publikacija:
– ponovno potrjena,
– razveljavljena,
– zamenjana z novo izdajo ali
– dopolnjena.
---------------------- Page: 4 ----------------------
SIST IEC 60050-521 : 2017
UVOD
Načela in upoštevana pravila
Splošno

IEV (skupina standardov 60050) je splošni večjezični slovar za področje elektrotehnike, elektronike in

telekomunikacij. Sestavljen je iz okoli 18 500 terminoloških vnosov, ki pripadajo določeni temi. Vnosi

so razdeljeni v 80 delov, ki predstavljajo posamezna področja.
Primera:
161. del (IEC 60050-161): Elektromagnetna združljivost
411. del (IEC 60050-411): Rotacijski stroji

Vnosi sledijo hierarhični klasifikacijski shemi: del/razdelek/tema. Tudi teme so znotraj razdelka

organizirane sistematično.

Izrazi, definicije in opombe v vnosih so navedeni v treh uradnih jezikih IEC, to je v angleščini,

francoščini in ruščini (osnovnih jezikih IEC).

Izrazi v posameznem vnosu so, kjer je to mogoče, navedeni tudi v dodatnih jezikih IEV: arabščini,

kitajščini, nemščini, grščini, španščini, italijanščini, japonščini, poljščini, portugalščini in švedščini.

Dodatno vsak del vsebuje abecedne sezname vključenih izrazov za vsak jezik IEV.
OPOMBA: Kateri od jezikov lahko manjka.
Organizacija terminološkega vnosa
Vsak vnos pripada določeni temi in je sestavljen iz:
– številke vnosa
– in po potrebi iz črkovnega simbola za veličino ali enoto,
ki mu za vsakega od osnovnih jezikov IEV sledi:

– izraz s področja teme, imenovan »osnovni izraz«, ki mu lahko sledijo tudi sinonimi in okrajšave,

– definicija koncepta,
– vir, če obstaja,
– opombe, če so potrebne,
in na koncu samo izrazi v dodatnih jezikih IEV.
Številka vnosa
Številko vnosa sestavljajo trije elementi, ločeni z vezaji:
– številka dela: 3 mesta,
– številka razdelka: 2 mesti,
– številka teme: 2 mesti (01 do 99).
Primer: 151-13-82
---------------------- Page: 5 ----------------------
SIST IEC 60050-521 : 2017
Črkovni simboli za veličine in enote

Ti simboli, ki so neodvisni od jezika, so zapisani v ločeni vrstici za številko vnosa.

Primer:
131-11-22
simbol: R
upor
Osnovni izraz in sinonimi

Osnovni izraz je izraz, ki začenja terminološki vnos; sledijo mu lahko sinonimi. Izpisan je s krepkimi

črkami.
Sinonimi:

Sinonimi so zapisani v posebni vrstici pod osnovnim izrazom. Tudi ti so zapisani krepko, razen

nedovoljenih sinonimov, ki so pisani navadno in jim sledi oznaka »(ni dovoljeno)«.

Deli, ki so lahko opuščeni:

Posamezne dele izraza je mogoče opustiti, kadar je področje še v presojanju ali pa pri uporabi v

ustreznem kontekstu. Ti deli so zapisani krepko in v oklepaju:
Primer: oddajanje (elektromagnetnih) motenj
Manjkajoči izrazi:

Kadar v katerem od jezikov ne obstaja ustrezen izraz, se osnovni izraz nadomesti s petimi pikami:

».....« (in seveda v tem primeru ni sinonimov).
Oznake

Vsakemu izrazu (ali sinonimu) lahko sledijo oznake, ki podajajo dodatne podatke. Pisane so v isti

vrstici za izrazom.
Primeri oznak:
– specifična raba izraza:
prenosni vod (v elektroenergetskemu sistemu)
– nacionalna variacija izraza: lift GB
– slovnični podatki:
plastomer, samostalnik
AC, določilo
– okrajšava: EMC (okrajšava)
– nedovoljeni izrazi: mašiti (ni dovoljeno)
Vir

V nekaterih primerih je bilo nujno v določen del IEV vključiti teme iz drugih delov IEV ali iz drugih

primernih terminoloških dokumentov (VIM, ISO/IEC 2382 itd.) s spremembami izrazov ali definicij ali

brez njih.
---------------------- Page: 6 ----------------------
SIST IEC 60050-521 : 2017

To je označeno na koncu definicije; navedba vira je pisana z navadno pisavo, v oglatih oklepajih.

Primer: [131-03-13 MOD]
(MOD označuje, da je definicija spremenjena.)
Izrazi v dodatnih jezikih IEV

Izrazi v dodatnih jezikih IEV so v posameznih vrsticah na koncu zapisa. Vsakemu jeziku je namenjena

ena vrstica. Izrazu sledi dvočrkovna oznaka jezika v skladu z ISO 639, po abecednem redu teh oznak.

Sinonimi so ločeni s podpičjem.
---------------------- Page: 7 ----------------------
SIST IEC 60050-521 : 2017
Mednarodni elektrotehniški slovar –
521. del: Polprevodniški elementi in integrirana vezja
1 Področje uporabe

V tem delu IEC 60050 so podani splošni izrazi s področij polprevodniške tehnologije in zasnove

poprevodnikov ter vrst polprevodnikov.
2 Zveze s standardi

Normativno sklicevanje je omejeno na IEC 60050-151, Električne in magnetne naprave, ki je v reviziji.

3 Izrazi in definicije
Razdelek 521-01: Uvod v atomsko fiziko
Izraz v slovenščini
Izraz v angleščini
Zap. št. Definicija
Izraz v francoščini
Izraz v nemščini

521-01-01 – nekvantizirani sistem (delcev) Sistem delcev z energijami, za katere se

– non-quantized system predpostavlja, da se lahko spreminjajo
(of particles) zvezno, in je zato v danem trenutku
– système non quantifié število mikroskopskih stanj delcev,
(de particules) definiranih z legami in hitrostmi,
– nichtquantisiertes System neomejeno.
(von Teilchen)
521-01-02 – kvantizirani sistem (delcev) Sistem delcev, katerih energije imajo
– quantized system lahko samo diskretne vrednosti.
(of particles)
– système quantifié
(de particules)
– quantisiertes System
(von Teilchen)

521-01-03 – Maxwell-Boltzmannova statistika Verjetnost porazdelitve makroskopskih

– Maxwell-Boltzmann statistics stanj nekvantiziranega sistema delcev, ki
– statistique de Maxwell-Boltzmann ga določajo srednje vrednosti koordinat
– Maxwell-Boltzmann-Statistik lege, hitrosti ali energije v zelo majhnem,
vendar končnem volumnu sistema.
521-01-04 – Boltzmannova enačba Enačba, ki do aditivne konstante
– Boltzmann relation natančno določa, da je entropija sistema
– relation de Boltzmann delcev enaka zmnožku Neperjevega
– Boltzmann-Beziehung (naravnega) logaritma verjetnosti
makroskopskega stanja sistema in
Boltzmannove konstante.
---------------------- Page: 8 ----------------------
SIST IEC 60050-521 : 2017
Izraz v slovenščini
Izraz v angleščini
Zap. št. Definicija
Izraz v francoščini
Izraz v nemščini
521-01-05 – Maxwell-Boltzmannov zakon o Algebrska enačba Maxwell-
porazdelitvi hitrosti Boltzmannovega zakona o porazdelitvi
– Maxwell-Boltzmann velocity- hitrosti, ki podaja število delcev dN v
distribution law nekvantiziranem sistemu, ki ima

– loi de distribution des vitesses de komponente hitrosti v intervalih (u, u + du),

Maxwell-Boltzmann (v, v + dv), (w, w + dw):
– Maxwell-Boltzmann-
Geschwindigkeitsverteilung
kjer je:
N skupno število delcev
m masa delca
T termodinamična temperatura
k Boltzmannova konstanta
OPOMBA: dN/N pomeni verjetnost, da ima
delec svoje hitrostne komponente
znotraj obravnavanih intervalov.
521-01-06 – Bohrov model atoma Model atoma, ki temelji na ideji Bohra in
– Bohr atom Sommerfelda, po kateri se elektroni
– atome de Bohr atoma gibljejo okoli jedra po točno
– Bohr-Atommodell določenih krožnih ali eliptičnih tirih.
OPOMBA: Vsaki prostostni stopnji atoma
ustreza vrsta energijskih stanj, ki
določajo spektralne črte, ki jih lahko
atom izseva.

521-01-07 – kvantno število (elektrona v danem Vsako od števil, ki opredeljuje prostostno

atomu) stopnjo elektrona v danem atomu:
– quantum number (of an electron in a
– glavno kvantno število n,
given atom)
– nombre quantique (d'un électron – tirno kvantno število l,
dans un atome donné)
– spinsko kvantno število s,
– Quantenzahl (eines Elektrons in
einem gegebenen Atom)
– kvantno število polne vrtilne količine
Pozitivno celo število, ki opredeljuje
521-01-08 – glavno kvantno število
simbol: n diskretne spremembe energijskih nivojev
– principal quantum number, first elektronov v atomu.
quantum number
OPOMBA: Glede na Bohrov model atoma lahko
– nombre quantique principal
glavno kvantno število predstavlja
– Hauptquantenzahl
mero velikosti tira elektrona.
---------------------- Page: 9 ----------------------
SIST IEC 60050-521 : 2017
Izraz v slovenščini
Izraz v angleščini
Zap. št. Definicija
Izraz v francoščini
Izraz v nemščini
521-01-09 – tirno kvantno število Kvantno število, ki lahko zajema vsa cela
simbol: l števila med nič in n–1, pri čemer je n
– orbital quantum number, second glavno kvantno število.
quantum number
OPOMBA: Glede na Bohrov model atoma lahko
– nombre quantique secondaire,
tirno kvantno število predstavlja
nombre quantique orbital
mero vrtilne količine elektrona v
– Bahndrehimpulsquanten-zahl
njegovem gibanju po tiru okrog
jedra.

521-01-10 – spin, spinsko kvantno število Kvantno število, ki ustreza vrtilni količini

simbol: s elektrona, obravnavanega v obliki majhne
– spin (quantum number) nabite kroglice, ki se vrti okrog svoje osi.
– (nombre quantique de) spin
OPOMBA: Spin lahko zajame dve diskretni
– Spinquantenzahl
vrednosti: +1/2 ali –1/2.

521-01-11 – kvantno število polne vrtilne Kvantno število, ki ustreza polni vrtilni

količine količini kot vsoti vrtilne količine zaradi
simbol: j tirnega gibanja elektrona in njegove
– total angular momentum quantum lastne vrtilne količine – spina.
number
– nombre quantique interne OPOMBA: Vrednosti tega števila j tvorijo
množico celih in pol-celih vrednosti.
– Gesamtdrehimpulsquanten-zahl
521-01-12 – energijski nivo (delca) Energija, vezana na kvantno stanje
– energy level (of a particle) fizikalnega sistema.
– niveau d'énergie
– Energieniveau (eines Teilchens)
521-01-13 – diagram energijskih nivojev Diagram, ki ponazarja energijske nivoje
– energy-level diagram delcev kvantiziranega sistema v obliki
– diagramme énergétique vodoravnih črt; na ordinatni osi je energija
– Energieniveau-Diagramm teh delcev.

521-01-14 – Pauli-Fermijevo izključitveno Načelo, ki pravi, da vsak energijski nivo

načelo, Paulijev princip kvantiziranega sistema lahko vključuje
– Pauli-Fermi exclusion principle, nič, enega ali največ dva delca.
Pauli principle
OPOMBA: Če nivo zasedata dva elektrona,
– principe d'exclusion de Pauli-Fermi
morata imeti nasprotna spina.
– Pauli-Prinzip
521-01-15 – Fermi-Diracova statistika, Množica verjetnosti makroskopskih stanj
kvantiziranega sistema delcev, ki
Fermijeva statistika

– Fermi-Dirac statistics, Fermi statistics zajemajo zgolj diskretne energijske nivoje

– statistique de Fermi-Dirac, statistique in se podrejajo Pauli-Fermijevemu
de Fermi izključitvenemu načelu.
– Fermi-Dirac-Statistik, Fermi-Statistik
---------------------- Page: 10 ----------------------
SIST IEC 60050-521 : 2017
Izraz v slovenščini
Izraz v angleščini
Zap. št. Definicija
Izraz v francoščini
Izraz v nemščini
521-01-16 – Fermi-Diracova funkcija Funkcija, ki izraža verjetnost P(E), da bo
– Fermi-Dirac function delec, ki se podreja Fermijevi statistiki,
– fonction de Fermi-Dirac zasedel dovoljen energijski nivo (E)
– Fermi-Dirac-Funktion
kjer so:
k Boltzmannova konstanta
T termodinamična temperatura
EF Fermijev nivo
in kjer je ta nivo kvantiziran in ga lahko
zaseda nič, eden ali dva elektrona.
521-01-17 – Fermijev nivo Energijski nivo v trdni snovi, ki ločuje
– Fermi level zasedena stanja od nezasedenih pri
– niveau de Fermi temperaturi nič kelvinov.
– Fermi-Niveau
OPOMBA: Če zasedena in nezasedena stanja
ločuje prepovedani pas, leži
Fermijev nivo na sredini
prepovedanega pasu.
521-01-18 – samski elektron Elektron, ki obstaja sam na določenem
– lone electron energijskem nivoju.
– électron célibataire
– Einzelelektron
---------------------- Page: 11 ----------------------
SIST IEC 60050-521 : 2017
Izraz v slovenščini
Izraz v angleščini
Zap. št. Definicija
Izraz v francoščini
Izraz v nemščini
521-01-19 – Fermi-Dirac-Sommerfeldov zakon Algebrska enačba, ki podaja število
porazdelitve hitrosti delcev dN kvantiziranega sistema v
– Fermi-Dirac-Sommerfeld velocity ravnotežju, ki ima komponente hitrosti v
distribution law intervalih (u, u + du), (v, v + dv), (w, w +
– loi de distribution des vitesses de dw):
Fermi-Dirac-Sommerfeld
– Fermi-Dirac-Sommerfeld-
Geschwindigkeitsverteilung
kjer so:
N število delcev
m masa delca
T termodinamična temperatura
k Boltzmannova konstanta
h Planckova konstanta
E kinetična energija delca
EM notranje izstopno delo
dN/N verjetnost, da ima delec svoje
komponente znotraj obravnavanih
intervalov
521-01-20 – fotoelektrični pojav Električni pojav, ki nastane z absorpcijo
– photoelectric effect fotonov.
– effet photoélectrique
– photoelektrischer Effekt, Photoeffekt
521-01-21 – fotonapetostni pojav Fotoelektrični pojav, pri katerem
– photovoltaic effect generatorska napetost nastane z
– effet photovoltaïque absorpcijo fotonov.
– Sperrschicht-Photoeffekt,
photovoltaischer Effekt
521-01-22 – fotoprevodnostni pojav Fotoelektrični pojav, ki ga opredeljuje
– photoconductive effect spreminjanje električne prevodnosti.
– effet photoconductif
– Photoleiteffekt
521-01-23 – fotoelektromagnetni pojav V polprevodniku, izpostavljenem
– photoelectromagnetic effect magnetnemu polju in elektromagnetnemu
– effet photoélectromagnétique sevanju, vzpostavitev električnega polja,
– photoelektromagnetischer Effekt orientiranega pravokotno na magnetno
polje, in difuzijskega toka nosilcev naboja,
ki jih generira fotoelektrični pojav v
polprevodniku.
---------------------- Page: 12 ----------------------
SIST IEC 60050-521 : 2017
Razdelek 521-02: Lastnosti polprevodniških materialov
Izraz v slovenščini
Izraz v angleščini
Zap. št. Definicija
Izraz v francoščini
Izraz v nemščini
Snov, katere celotna prevodnost se zaradi
521-02-01 – polprevodnik
– semiconductor nosilcev naboja obeh predznakov
– semiconducteur navadno giblje v območju med prevodniki
– Halbleiter in izolanti in v kateri se lahko gostota
nosilcev naboja spreminja s pomočjo
zunanjih virov.
521-02-02 – enoelementni polprevodnik Polprevodnik, ki ga v njegovem čistem
– single-element semiconductor stanju sestavlja en sam element.
– semiconducteur élémentaire
– Einzelelement-Halbleiter
521-02-03 – spojinski polprevodnik Polprevodnik, ki ga v njegovem čistem
– compound semiconductor stanju sestavlja več elementov v
– semiconducteur composé razmerjih blizu stehiometrijski sestavi.
– Verbindungshalbleiter
521-02-04 – nečistota Tuji atomi v enoelementnem polpre-
– impurity vodniku.
– impureté
– Störstelle Tuji atomi oziroma presežek ali primanj-
kljaj atomov glede na stehiometrijsko
sestavo v spojinskem polprevodniku.
521-02-05 – aktivacijska energija nečistote Razlika med vmesnim energijskim
– impurity activation energy nivojem zaradi nečistote in bližnjim
– énergie d'activation des impuretés energijskim pasom.
– Störstellen-Aktivierungsenergie
Polprevodnik, v katerem prevodnost
521-02-06 – ionski polprevodnik
– ionic semiconductor zaradi gibanja ionov prevladuje nad
– semiconducteur ionique prevodnostjo zaradi gibanja elektronov in
– Ionenhalbleiter vrzeli.
521-02-07 – čisti polprevodnik, Skoraj povsem čist in idealen
intrinzični polprevodnik polprevodnik, v katerem sta koncentraciji
– intrinsic semiconductor gibljivih elektronov in vrzeli v termičnem
– semiconducteur intrinsèque ravnovesju skoraj enaki.
– Eigenhalbleiter
521-02-08 – nečisti polprevodnik, Polprevodnik, v katerem je koncentracija
ekstrinzični polprevodnik nosilcev naboja odvisna od nečistot in
– extrinsic semiconductor drugih nepravilnosti.
– semiconducteur extrinsèque
– Störstellen-Halbleiter
521-02-09 – polprevodnik tipa N Ekstrinzični polprevodnik, v katerem
– N-type semiconductor koncentracija gibljivih elektronov presega
– semiconducteur type N koncentracijo vrzeli.
– N-Halbleiter
521-02-10 – polprevodnik tipa P Ekstrinzični polprevodnik, v katerem
– P-type semiconductor koncentracija vrzeli presega koncentracijo
– semiconducteur type P gibljivih elektronov.
– P-Halbleiter
---------------------- Page: 13 ----------------------
SIST IEC 60050-521 : 2017
Izraz v slovenščini
Izraz v angleščini
Zap. št. Definicija
Izraz v francoščini
Izraz v nemščini
521-02-11 – kompenzirani polprevodnik Polprevodnik, v katerem vplivi nečistot
– compensated semiconductor danega tipa na koncentracijo nosilcev
– semiconducteur compensé naboja delno ali v celoti izničujejo vplive
– Kompensations-Halbleiter nečistot drugega tipa.
521-02-12 – nedegeneriran polprevodnik Polprevodnik, v katerem je Fermijev nivo
– non-degenerate semiconductor od robov energijske reže oddaljen za vsaj
– semiconducteur non dégénéré dvakrat tolikšno razdaljo, kot je zmnožek
– nichtentarteter Halbleiter Boltzmannove konstante in termo-
dinamične temperature.
OPOMBA: Nosilce naboja v nedegeneriranem
polprevodniku opredeljuje Maxwell-
Boltzmannova statistika.
521-02-13 – degeneriran polprevodnik Polprevodnik, v katerem leži Fermijev
– degenerate semiconductor nivo v prevodnem pasu, v valenčnem
– semiconducteur dégénéré pasu ali pa znotraj energijske reže, pri
– entarteter Halbleiter čemer je od robov energijske reže
oddaljen za manj kot dvakrat tolikšno
razdaljo, kot je zmnožek Boltzmannove
konstante in termodinamične temperature.
OPOMBA: Nosilce naboja v degeneriranem
polprevodniku opredeljuje Fermi-
Diracova statistika
521-02-14 – prevodni elektron, Elektron v prevodnem pasu polprevo-
konduktivni elektron dnika, ki se lahko prosto premika pod
– conduction electron vplivom električnega polja.
– électron de conduction
– Leitungselektron
521-02-15 – prevodni tok, konduktivni tok Usmerjeno gibanje prostih nosilcev
– conduction current naboja v snovi pod vplivom električnega
– courant de conduction polja.
– Leitungsstrom
521-02-16 – prevodnik Snov, ki vsebuje proste nosilce naboja, ki
– conductor jih je mogoče premikati pod vplivom
– conducteur električnega polja.
– Leiter (in der Halbleitertechnik)
521-02-17 – vrzel Prosto mesto, ki se pojavi v sicer
– hole zapolnjenem energijskem pasu in ga je
– trou pod vplivom električnega polja mogoče
– Loch, Defektelektron premikati kot osnovni pozitivni naboj.
521-02-18 – prevajanje z vrzelmi Prevajanje električnega toka v kristalni
– hole conduction mreži polprevodnika, po kateri se vrzeli
– conduction par trous gibljejo pod vplivom električnega polja.
– Löcherleitung
521-02-19 – prevajanje z elektroni Prevajanje električnega toka v kristalni
– electron conduction mreži polprevodnika, po kateri se
– conduction par électrons elektroni gibljejo pod vplivom električnega
– Elektronenleitung polja.
---------------------- Page: 14 ----------------------
SIST IEC 60050-521 : 2017
Izraz v slovenščini
Izraz v angleščini
Zap. št. Definicija
Izraz v francoščini
Izraz v nemščini
521-02-20 – lastno prevajanje, Prevajanje električnega toka v
intrinzično prevajanje polprevodniku zaradi gibanja vrzeli in
– intrinsic conduction prevodnih elektronov, ki jih vzbujajo
– conduction intrinsèque termične generacije parov nosilcev
– Eigenleitung naboja.
521-02-21 – ionsko prevajanje Prevajanje električnega toka, ki ga
– ionic conduction povzroča neposredno gibanje nabojev
– conduction ionique zaradi premika ionov ob trajni prisotnosti
– Ionenleitung zunanjega vira energije.
521-02-22 – prevodni pas Dovoljeni energijski pas, delno zaseden z
– conduction band elektroni, ki se lahko pod vplivom
– bande de conduction zunanjega električnega polja prosto
– Leitungsband gibljejo.
521-02-23 – valenčni pas Dovoljeni pas, ki ga zasedajo valenčni
– valence band elektroni.
– bande de valence
OPOMBA: Valenčni pas v idealnem kristalu je
– Valenzband
popolnoma zaseden pri temperaturi
nič kelvinov.
OPOMBA: Elektroni, ki manjkajo na valenčnem
pasu, vzbujajo prevodne vrzeli v
valenčnem pasu in prevodne
elektrone v prevodnem pasu.
521-02-24 – energijska reža Razmik med spodnjim nivojem
– energy gap prevodnega pasu in zgornjim nivojem
– écart énergétique valenčnega pasu.
– Energielücke

521-02-25 – energijski pas, Blochov pas Navidezno zvezni niz energijskih nivojev v

– energy band, Bloch band snovi.
– bande d'énergie (1), bande de Bloch
– Bloch-Energieband
521-02-26 – energijski pas (v polprevodniku) Območje možnih energijskih nivojev
– energy band (in a semiconductor) elektronov v polprevodniku, omejeno z
– bande d'énergie (dans un najmanjšimi in največjimi vrednostmi
semiconducteur) (2) energij.
– Energieband (in einem Halbleiter)
521-02-27 – delno zasedeni pas Energijski pas, v katerem vsi nivoji niso
– partially occupied band zasedeni s po dvema elektronoma
– bande partiellement occupée nasprotnih spinov.
– teilweise besetztes Band
521-02-28 – vzbujalni pas Energijski pas z območjem sosednjih
– excitation band energijskih nivojev, ki ustrezajo možnim
– bande d'excitation vzbujenim stanjem elektronov v snovi.
– Anregungsband
521-02-29 – dovoljeni pas Energijski pas, v katerem lahko elektroni
– permitted band zasedajo vsak nivo.
– bande permise
– erlaubtes Band
---------------------- Page: 15 ----------------------
SIST IEC 60050-521 : 2017
Izraz v slovenščini
Izraz v angleščini
Zap. št. Definicija
Izraz v francoščini
Izraz v nemščini
521-02-30 – prepovedani pas Energijski pas, ki ga ne morejo zasedati
– forbidden band elektroni.
– bande interdite
– verbotenes Band
521-02-31 – izolant Snov, v kateri je valenčni pas napolnjen in
– insulant ločen od prvega vzbujalnega pasu s tako
– isolant širokim prepovedanim pasom, da je
– isolierendes Medium energija, potrebna za vzbujanje
(in der Halbleitertechnik) elektronov iz valenčnega pasu v prevodni
pas, tako velika, da bi poškodovala to
snov.
521-02-32 – napolnjeni pas Dovoljeni pas, v katerem pri temperaturi
– filled band nič kelvinov elektroni zasedajo vse
– bande pleine energijske nivoje.
– gefülltes Band
521-02-33 – prazni pas Dovoljeni pas, v katerem pri temperaturi
– empty band nič kelvinov elektroni ne zasedajo
– bande vide nobenega energijskega nivoja.
– leeres Band
521-02-34 – površinski pas Dovoljeni pas, ki ga tvorijo površinski
– surface band nivoji kristala.
– bande de surface
– Oberflächenb
...

Questions, Comments and Discussion

Ask us and Technical Secretary will try to provide an answer. You can facilitate discussion about the standard in here.